JPH01212064A - 長尺接続イメージセンサ - Google Patents

長尺接続イメージセンサ

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Publication number
JPH01212064A
JPH01212064A JP63035045A JP3504588A JPH01212064A JP H01212064 A JPH01212064 A JP H01212064A JP 63035045 A JP63035045 A JP 63035045A JP 3504588 A JP3504588 A JP 3504588A JP H01212064 A JPH01212064 A JP H01212064A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sensor
glass
protective
long
image sensor
Prior art date
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Pending
Application number
JP63035045A
Other languages
English (en)
Inventor
Chikao Ikeda
周穂 池田
Hironori Murakami
裕紀 村上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Business Innovation Corp
Original Assignee
Fuji Xerox Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Xerox Co Ltd filed Critical Fuji Xerox Co Ltd
Priority to JP63035045A priority Critical patent/JPH01212064A/ja
Publication of JPH01212064A publication Critical patent/JPH01212064A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F39/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
    • H10F39/80Constructional details of image sensors
    • H10F39/804Containers or encapsulations

Landscapes

  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Facsimile Heads (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) ゛本発明は、原稿にほぼ密着して画像の読み取りを行な
う密着型イメージセンサに係り、特に大きな原稿を読み
取るためセンサ部を長尺とした長尺接続イメージセンサ
に関する。
(従来の技術) 密着型イメージセンサは、原稿とほぼ同一幅の光電変換
部をアモルファスシリコン(a−Si)等で形成してい
る。従って、原稿に描かれた画像を読み取る際、原稿と
光電変換部とをほぼ密着して用いることができ、縮小光
学系を必要としない大面積デバイスとしての使用が可能
となり、読み取り装置の小形化が実現できる点で注目さ
れている。
密着型イメージセンサは、例えば第4図にその平面図、
第5図に第4図のN−IV’線断面図を示すように、絶
縁基板11上に形成したセンサ部21と、このセンサ部
21の駆動を行なうICチ・1プ31と、このICチッ
プ31に制御信号等の供給を行なう外部接続用配線41
とによって構成される。
センサ部21は、絶縁基板11上にCrの着膜及びフォ
トリソエツチングプロセスにより複数の下部電極22と
してのクロムパターンを形成し、これらを覆うように光
電変換層23としてのアモルファスシリコン層パターン
を形成し、この光な・変換層23を覆うように上部電極
24としての酸化インジウム層パターンを形成した複数
のサンドイッチ型センサを並設して成る。
絶縁基板11上には、センサ部21の駆動を行なう複数
のICチップ31が実装されると共に、クロック用配線
やセンサ出力用配線等から成る外部接続用配線41が形
成されている。外部接続用配線41は、ICチップ31
に設けられそれぞれの外部接続用配線41に対応した入
力端子若しくは出力端子にそれぞれボンディングワイヤ
51を介して接続されている。また、前記センサ部21
の複数の下部電極22の端部もボンディングワイヤ51
を介してICチップ31にそれぞれ接続されている。
上述した密着型イメージセンサの製造に際し、ICチッ
プ31を実装できる絶縁基板11の長さは装置の制約上
最大でも約300mmであるため、−枚の絶縁基板で形
成できる密着型イメージセンサの長さには限界があった
そこで、図面等の特に大きな原稿(例えば、日本工業規
格A列0番)を読み取る密着型イメージセンサを製造す
るには、複数個の密着型イメージセンサを絶縁基板の数
倍の長さの長尺基板の上に互いに接続して配設すること
より成る接続センサとする必要があった。
(発明が解決しようとする問題点) 接続センサを製造する場合、複数個の密着イメージセン
サに形成されたセンサ部を湿気等の外的要因から保護す
るために、その上面に保護樹脂を塗布している。
しかしながら、保護樹脂を塗布する部分が長くなるため
、保護樹脂の性格上その上面が波打つ「うねり」が生じ
てしまい高精度な接続センサが得られないという問題点
があった。また、それぞれの密着イメージセンサの接続
部分において表面張力により保護樹脂が盛り上がってし
まい、そのためセンサ部に膜厚差が生じることにより光
路差が変化し、センサ部によって得られた像がぼけてし
まうという問題点があった。
本発明は上記実情に鑑みてなされたもので、センサ部の
膜厚の均一化を図り、センサ部の接続部分において高精
度な長尺接続イメージセンサを提供することを目的とす
る。
(問題点を解決するための手段) 上記従来例の問題点を解消するため本発明に係る長尺接
続イメージセンサは、接続センサを支持する支持板と、
この支持板上に設けた長尺ベースガラスと、この長尺ベ
ースガラス上に互いに接続して配設された複数のセンサ
基板と、この複数のセンサ基板上面に形成された各セン
サ部を保護樹脂を介して被覆する一枚の保護ガラスによ
って構成する。
(作用) 本発明によれば、センサ部上面に保護ガラスを配置した
ので、センサ部の保護樹脂の膜厚の均一イヒを図ること
ができる。
(実施例) 本発明の一実施例について図面を参照しながら説明する
この長尺接続イメージセンサは、第1図に平面図、第2
図に第1図の1−1′線断面図を示す如く、接続センサ
を支持する長さが1m程度の支持板101上に構成する
この支持板101上には、支持板101とほぼ同一長さ
を有しコーニング社製7059ガラスで形成する長尺ベ
ースガラス102が配置されており、この長尺ベースガ
ラス102上に互いに接続して配設された複数のセンサ
基板103が設けられている。
センサ基板103は、コーニング社製7059ガラスの
絶縁基板104上に光電変換部を形成するセンサ部10
5と、このセンサ部105を駆動するためのICチップ
106を複数配設するガラスエポキシ基板107と、こ
のガラスエポキシ基板107を前記センサ部105の側
方に配置させるためのベースガラス108から成る。
ベースガラス108は長尺ベースガラス102と同一素
材であるコーニング社製7059ガラスで形成され、そ
の中央部にセンサ部105を形成した絶縁基板104を
接着すると共に、センサ部105を挟持するようにガラ
スエポキシ基板107が配置している。ガラスエポキシ
基板107には、ICチップ106へ各種信号の供給を
行なう外部接続用配線が形成されている。またガラスエ
ポキシ基板107の一側には、開口部109と可撓性を
有する首部110とが長手方向に交互に形成されると共
に、開口部109とガラスエポキシ基板107の側辺と
を通じさせるスリット111を設け、このスリット11
1間に方形状のICチップ実装部112を形成している
。そして、このICチップ実装部112に複数のICチ
ップ106が実装される。ICチップ実装部112の下
面のみ前記ベースガラス108に接着することによりガ
ラスエポキシ基板107をセンサ部105の両側に位置
させている0以上のようにガラスエポキシ基板107に
開口部109及び首部110等を設けたこと及びガラス
エポキシ樹脂をICチ・yプ実装部112の下面のみに
限定したのは、センサ部105を形成したガラス製の絶
縁基板104とガラスエポキシ基板107との熱膨張係
数が異なるために生じる両者間の応力を吸収するためで
ある。
ICチップ106のセンサ側のパッド部は、ボンディン
グワイヤ113aを介してセンサ部105に接続される
と共に、ICチップ106の外側のパッド部は、ボンデ
ィングワイヤ113bを介してガラスエポキシ基板10
7に形成した外部接続用配線に接続されることによりセ
ンサ1105の駆動を行なっている。
支持板101上に並設されたセンサ基板103には、そ
の全てのセンサ部105を覆うように、コーニング社製
7059ガラスで形成し支持板101の長手方向に長い
一枚の保護ガラス114を、保護樹脂200を介して配
置している。保護ガラス114は、湿気等による外的要
因からセンサ部105が劣化しないよう設けたものであ
る。また、保護ガラス114があることにより保護樹脂
200がセンサ基板103の繋ぎ目部分で凸状になるの
を防止して保護樹脂200の膜厚の均一化を図っている
。その結果、複数のセンサ基板103を接続してセンサ
部105を長尺に形成したにもかかわらず、接続部にお
いても解像度が低下しないセンサ部を得ることができる
また、ICチップ106上には、ICチップ106を保
護するためのIC保護レジン115が装着されると共に
、センサ部105上にはセンサ保護レジン116が装着
されている。
センサ部105の両側に配設したガラスエポキシ基板1
07上には、それぞれ間隔をおいて角状のSlゴム11
7を配置し、一端が止め具118で支持板101に固定
されるステンレス製の押え板119により前記Slゴム
117を支持板101方向に押圧して、支持板101に
長尺ベースガラス102を圧着させている。
次に本発明に係る長尺接続イメージセンナの製造プロセ
スについて第3図(a>乃至(」)を参照しながら説明
する。
第3図(a)に示すコーニング社製7059ガ、 ラス
で形°成した絶縁基板104上に、蒸着法によってクロ
ム薄膜を着膜した後、フォトリソエツチングプロセスに
より二列に並んだ複数の下部電極22としてのCrパタ
ーンを形成する(第3図(b))。
絶縁基板104上のCrパターンを形成した面の両端部
分は、センサを製造する上で微細加工のできない部分な
ので、後に切断するため絶縁基板104の端部から適宜
距離の位置に、ガラス切断の際に用いられる超鋼ロール
でスクライブ溝120を設けておく(第3図(c))。
次に、下部電極22を覆うように光電変換層をアモルフ
ァスシリコンの着膜により形成し、更に光電変換層を覆
い前記下部電極22に対応する位置となるように透光性
の上部電極を酸化インジウム・スズの着膜及びフォトリ
ソエツチングプロセスにより形成する。そして、絶縁基
板104を分割してベースガラス108に接着する大き
さのセンサ部105を得る(第3図(d)’)。
上記のように得られた長方形状のセンサ部105を、コ
ーニング社製7059ガラスで形成した方形状のベース
ガラス108上にUV硬化法により接着する。接着する
に際し、絶縁基板104に設けた前記スクライブ溝12
0の部分がベースガラス108の両端より外側に位置す
るようになつている(第3図(e))。
センサ部105の両側面のベースガラス108上に・ガ
ラスエポキシ基板107を熱硬化性両面テープにより′
接着する。ベースガラス108とガラスエポキシ基板1
07の接着面は、上述したように、ガラスエポキシ基板
107のICチップ実装部112の下面のみとし、ガラ
スエポキシ基板107に生じる応力を開口部109で吸
収できるようにしている(第3図(f))。
次に、ガラスエポキシ基板107のICチップ実装部1
12に複数のICチップ106を実装して並設する。そ
して、絶縁基板i04の端部近傍に引き出された下部電
極22とICチップ106のパッド間及び、ガラスエポ
キシ基板107の外部接続用配線とICチップ106の
パッド間をボンディングワイヤにより接続し、ICチッ
プ106及びボンディングワイヤをIC保護用レジン1
15によって覆う(第3図(g))。
絶縁基板104の両端部を、センサ部105上面より突
出する「ばり」がでないように前記スクライブ溝120
に沿って切断する。以上のプロセスによって、長尺接続
イメージセンサの一片をなすセンサ基板103を得る(
第3図(h))。
このようにして得られた四枚のセンサ基板103を、コ
ーニング社製7059ガラスで形成した長尺ベースガラ
ス102上にセンサ部105上面が連続するようにUv
硬化法により接着する(第3図(i))。
長尺に連続したセンサ部105の上面にシリコン樹脂を
流し、その上にコーニング社製7059ガラスで形成し
た保護ガラス114を配置して、センサ部105と保護
ガラス114とを接着する。
そして、センサ基板103が接着された長尺ベースガラ
ス102を、アルミニウムで形成された支持板101上
に配置して接続センサを得る(第3図(j))。長尺ベ
ースガラス102と支持板101とは接着するのでなく
、センサ基板103のガラスエポキシ基板107上に設
けたStゴム117を、ステンレスで形成した押え板1
19で押圧することにより、長尺ベースガラス102を
支持板101に圧接している。
従って、温度変化によりアルミニウムで形成した支持板
101に対して長尺ベースガラス102が伸縮した場合
においても、長尺ベースガラス102は支持板101上
を滑るので、ストレスやそりを発生させない。
また、本実施例では長尺ベースガラス102、センサ基
板102、ベースガラス108、保護ガラス114をす
べて同一素材であるコーニング社製7059ガラスで形
成したので、周囲の熱変化に対して長尺ベースガラス1
02等が同じように膨張するので、センサ基板103の
接続部に応力が集中することがなくセンサ部105の端
画素が壊れることがない。
(発明の効果) 上述したように本発明は、複数のセンサ基板を接続して
支持板に配置する接続センサで、センサ基板に形成した
センサ部上面に保護ガラスを配置したので、保護樹脂の
膜厚の均一化を図ることができる。
従って、接続部分近傍のセンサ部においても池のセンサ
部分と同一の特性を維持することができ、高精、度な長
尺接続イメージセンサを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明実施例の長尺接続イメージセンサを示す
平面図、第2図は第1図の1−1′線断面図、第3図(
a)乃至(J)は実施例の長尺接続イメージセンサの製
造プロセスの説明図、第4図は従来の密着型イメージセ
ンサを示す平面図、第5図は第4図のIV−IV′線断
面図である。 101・・・・・・支持板 102・・・・・・長尺ベースガラス 103・・・・・・センサ基板 107・・・・・・ガラスエポキシ基板108・・・・
・・ベースガラス 114・・・・・・保護ガラス 117・・・・・・Siゴム 119・・・・・・押え板 200・・・・・・保護樹脂 第3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  支持板と、該支持板上に設けた長尺ベースガラスと、
    該長尺ベースガラス上に互いに接続して配設された複数
    のセンサ基板と、この複数のセンサ基板上面に形成され
    た各センサ部を保護樹脂を介して被覆する一枚の保護ガ
    ラスと、からなる長尺接続イメージセンサ。
JP63035045A 1988-02-19 1988-02-19 長尺接続イメージセンサ Pending JPH01212064A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63035045A JPH01212064A (ja) 1988-02-19 1988-02-19 長尺接続イメージセンサ

Applications Claiming Priority (1)

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JP63035045A JPH01212064A (ja) 1988-02-19 1988-02-19 長尺接続イメージセンサ

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JPH01212064A true JPH01212064A (ja) 1989-08-25

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ID=12431066

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JP63035045A Pending JPH01212064A (ja) 1988-02-19 1988-02-19 長尺接続イメージセンサ

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