JPH01236264A - エポキシ樹脂組成物 - Google Patents

エポキシ樹脂組成物

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JPH01236264A
JPH01236264A JP6189488A JP6189488A JPH01236264A JP H01236264 A JPH01236264 A JP H01236264A JP 6189488 A JP6189488 A JP 6189488A JP 6189488 A JP6189488 A JP 6189488A JP H01236264 A JPH01236264 A JP H01236264A
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epoxy resin
resin composition
filler
weight
silica powder
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Koichi Tanaka
孝一 田中
Naoki Mogi
直樹 茂木
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Sumitomo Bakelite Co Ltd
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Sumitomo Bakelite Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、耐半田ストレス性に優れた、電子部品等の封
止用エポキシ樹脂組成物に関するものである。
〔従来技術〕
従来、ダイオード、トランジスタ、集積回路等の電子部
品を熱硬化性樹脂で封止しているが、特に集積回路では
耐熱性、耐湿性に優れた0−タレゾールノボラックエポ
キシ樹脂をノボラック型フェノール樹脂で硬化させたエ
ポキシ樹脂が用いられている。
ところが近年、集積回路の高集積化に伴いチップがだん
だん大型化し、かつパッケージは従来のDIPタイプか
ら表面実装化された小型、薄型のフラットパッケージ、
SOP、SOJ、PLCCに変わってきている。
即ち大型チップを小型で薄いパッケージに封入すること
になり、応力によるクラック発生、これらのクラックに
よる耐湿性の低下等の問題が大きくクローズアップされ
てきている。
特に半田づけの工程において急激に200°C以上の高
温にさらされることによりパッケージの割れや樹脂とチ
ップの剥離により耐湿性が劣化してしまうといった問題
点がでてきている。
これらの大型チップを封止するのに適した、信鯨性の高
い封止用樹脂組成物の開発が望まれてきている。一方、
パッケージの複雑形状化、成形金型の大型化による流動
性の向上も望まれてきている。
〔発明の目的〕
本発明の目的とするところは、半田熱ストレスによるク
ランク発注をおさえ、耐湿性に優れた信頼性が高く、且
つ流動性に優れた封止用樹脂組成物を提供するにある。
〔発明の構成〕
本発明は電子部品等の封止用エポキシ樹脂組成物におい
て充填剤として平均粒径が5〜40μmであり見掛は密
度が0.1〜0.6 g / ccであり比表面積が5
〜1ord/gであり、かつ表面の一部又は全部をガラ
ス化した多孔質のシリカ粉末を10〜100重量%含む
充填剤を用いることを特徴とするエポキシ樹脂組成物に
関するものである。
本発明のエポキシ樹脂組成物は従来の封止用樹脂組成物
に比べて非常に優れた耐半田熱ストレス性を有するとと
もに、多孔質のシリカ粉末を10〜100重量%含む充
填剤を用いるエポキシ樹脂組成物を改良し、更に流動性
を大巾に向上させたものである。
すなわち多孔質シリカの表面層のみをガラス化すること
により、内部の多孔質構造を残しつつ、表面状態を通常
の熔融シリカ粉末に近づけ、耐半田熱ストレス性を維持
しつつ流動性を向上させんとしたものである。
本発明に用いるエポキシ樹脂としては、その分子中にエ
ポキシ基をすくなくとも2個以上有する化合物であれば
分子構造、分子量などは特に制限はなく、一般に封止用
材料として使用されているものであり、例えばノボラッ
ク系エポキシ樹脂、ビスフェノール型の芳香族系、シク
ロヘキサン誘導体の脂環式系、更には多官能系、シリコ
ン変性樹脂系があげられ、これらのエポキシ樹脂は1種
又は2種以上混合して用いられる。
又硬化剤としてはノボラック型フェノール樹脂系および
これらの変性樹脂であり、例えばフエノールノボラツク
、0−タレゾールノボラックの他アルキル変性したフェ
ノールノボラック樹脂等があげられ、これらは単独もし
くは2種以上混合して使用しても差し支えがない。
エポキシ樹脂と硬化剤の配合比はエポキシ樹脂のエポキ
シ基と硬化剤の水酸基との当量比が0.5〜5の範囲内
に有ることが望ましい。
当量比が0.5未満又は5を越えたものは耐湿性、成形
作業性及び硬化物の電気特性が悪くなるので好ましくな
い。
本発明に使用される硬化促進剤はエポキシ基とフェノー
ル性水酸基との反応を促進するものであればよ(、一般
に封止用材料に使用されているものを広く使用すること
ができ、例えばジアザビシクロウンデセン(DBU)、
)リフヱニルホスフィン(TPP)、ジメチルベンジル
アミン(BDMA)や2メチルイミダゾール(2MZ)
等が単独もしくは2種以上混合して用いられる。
本発明に用いられる充填剤としては、平均粒径が5〜4
0μmであり、見掛は密度が0.1〜0.6 g/ c
cで、かつ比表面積が5〜10r+f/gであり、表面
の一部又は全部をガラス化した多孔質シリカ粉末であり
、使用する充填剤量の10〜100重量%の範囲で使用
する。
表面をガラス化した多孔質シリカ粉末は、その平均粒径
が5μm未満、又は40 pmを越えると流動性の向上
が得られず、いずれの場合も好ましくない、特に好まし
くは10〜30μ謡であれば良い、又見掛は密度が0.
6 g / ccを越えると半田熱ストレスによるクラ
ックが発生し易くなり、耐湿性が低下してしまい好まし
くない。
さらに比表面積が5n′?/g未満であると半田づけ工
程でクランクが発生し易く、耐湿性が低下してしまう、
又10mm2/g以上となれば流動性の向上が得られず
好ましくない。
さらに多孔質シリカ粉末が、使用充填剤の量の10重量
%以下であれば半田づけ工程でクランクが発生しやすく
なり、耐湿性が低下し、その目的とする特性が得られな
い。
これらの充填剤は全体として樹脂組成物の50〜90重
量%配合する事が望ましい、その配合量が50%未満で
あれば耐熱性、機械的特性および■湿性が劣り、90%
以上であれば流動性が低下し、成形性が悪くなり実用に
は適さない。
又、多孔質シリカ粉末以外の充填剤としては通常のシリ
カ粉末やアルミナ等があげられ、とくに熔融シリカ粉末
が好ましい。
本発明の対土用エポキシ樹脂組成物はエポキシ樹脂、硬
化剤、硬化促進剤及び多孔質シリカ粉末を含む充填剤を
必須成分と、するが、これ以外に必要に応じてシランカ
ップリング剤、ブロム化エポキシ樹脂、二酸化アンチモ
ン、ヘキサブロムベンゼン等の難燃剤、カーボンブラッ
ク、ベンガラ等の着色剤、天然ワックス、合成ワ・ンク
ス等の離型剤及びシリコンオイル、ゴム等の低応力添加
剤等の種々の添加剤を適宜配合しても差し支えがない。
又、本発明の対土用エポキシ樹脂組成物を成形材料とし
て製造するには、エポキシ樹脂、硬化剤、硬化促進剤、
充填剤、その他の添加剤をミキサー等によって十分に均
一に混合した後、さらに熱ロールまたはニーダ−等で熔
融混練し、冷却後粉砕して成形材料とすることができる
。これらの成形材料は電子部品あるいは電子部品の封止
、被覆、絶縁等に適用することができる。
〔発明の効果〕
本発明のエポキシ樹脂組成物は半田づけ工程による急激
な温度変化による熱ストレスを受けたときの耐クラツク
性に非常に優れ、耐湿性の良い組成物であり、電子、電
子部品の対土用、被覆用、絶縁用等に用いた場合、特に
表面実装パッケージに搭載された高集積大型チップIC
において信頼性が非常に高い製品を得ることができる。
〔実施例〕
実施例1 0−タレゾールノボラックエポキシ樹脂(軟化点65℃
、エポキシ当量200)100重量部 フェノールノボラック樹脂     56重貴重ブロム
化ビスフェノールAエポキシ樹脂(Br含存量46%、
当1360)     15重量部トリフェニルホスフ
ィン       1重量部三酸化アンチモン粉末  
     10重量部カルナバワックス       
   2重量部カーボンブラック          
2重量部熔融シリカ粉末         400重量
部表面ガラス化多孔質シリカ (平均粒径15μ論、見掛は密度 0、3 g / cc、比表面積6ポ/g 50重量部
T−グリシドメトキシシラン     3重量部をヘン
シェルミキサーで常温で混合し、70〜100°Cで2
軸ロールにより混練し、冷却後粉砕し成形材料とした。
得られた成形材料をタブレット化し、低圧トランスファ
ー成形機にて175°C,70kg/eta。
120秒の条件で半田クランク試験用として6×6mの
チップを52pパツケージに封止し、又半田耐湿性試験
用として3×6鵬のチップを16pSOPパツケージに
封止した。
封止したテスト用素子について175°C,8時間ポス
トキュアー後、下記の半田クラック試験及び半田耐湿性
試験をおこなった。
半田クラック試験:封止したテスト用素子を85℃、8
5%RHの環境下で2411rおよび48Hr処理し、
その後260°Cの半田槽に10秒間浸漬後顕微鏡で外
部クラックを観察した。
半田耐湿性試験:封止したテスト用素子を85゛C18
5%R)lの環境下で72Hr処理し、その後260°
Cの半田槽に10秒間浸漬後プレッシャークツカー試験
(125°C,100%RH)を行い回路のオープン不
良を測定した。
試験結果を第1表に示す。
実施例2〜4 第1表の処方に従って配合し、実施例1と同様にして成
形材料を得て、この成形材料で試験用の封止したものを
得た。この成形材料を用いて実施例1と同様にテスト用
素子を封止して半田クランク試験及び半田耐湿性試験を
行った。
試験結果を第1表に示す。
比較例1 実施例1において充填剤をすべて熔融シリカとした以外
はすべて実施例1と同様にし試験を行った結果を第1表
に示す。
比較例2 実施例4の充填剤を総て熔融シリカとし、あとは実施例
4と同様にし、試験を行った結果を第1表に示す。
比較例3 実施例20表面ガラス化多孔質シリカを総てガラス化し
ていない多孔質シリカとし、あとは実施例2と同様にし
、試験を行った結果を第1表に示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)エポキシ樹脂、硬化剤、硬化促進剤及び充填剤か
    らなるエポキシ樹脂組成物において、平均粒径が5〜4
    0μm、見掛け密度が0.1〜0.6g/cc、比表面
    積が5〜10mm^2/gであり、かつ表面の一部又は
    全部をガラス化した多孔質シリカ粉末を10〜100重
    量%含む充填剤を用いることを特徴とするエポキシ樹脂
    組成物。
JP6189488A 1988-03-17 1988-03-17 エポキシ樹脂組成物 Expired - Fee Related JPH07107123B2 (ja)

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JPH01236264A true JPH01236264A (ja) 1989-09-21
JPH07107123B2 JPH07107123B2 (ja) 1995-11-15

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6495270B1 (en) 1998-02-19 2002-12-17 Hitachi Chemical Company, Ltd. Compounds, hardening accelerator, resin composition, and electronic part device
JP2005290191A (ja) * 2004-03-31 2005-10-20 Tdk Corp 樹脂組成物、電子部品、コイル体及びインダクタ
JP2007119547A (ja) * 2005-10-26 2007-05-17 Yoshikawa Kogyo Co Ltd エポキシ樹脂組成物、及び半導体装置用中空パッケージ、並びに半導体部品装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6495270B1 (en) 1998-02-19 2002-12-17 Hitachi Chemical Company, Ltd. Compounds, hardening accelerator, resin composition, and electronic part device
JP2005290191A (ja) * 2004-03-31 2005-10-20 Tdk Corp 樹脂組成物、電子部品、コイル体及びインダクタ
JP2007119547A (ja) * 2005-10-26 2007-05-17 Yoshikawa Kogyo Co Ltd エポキシ樹脂組成物、及び半導体装置用中空パッケージ、並びに半導体部品装置

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JPH07107123B2 (ja) 1995-11-15

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