JPH01152151A - エポキシ樹脂組成物 - Google Patents

エポキシ樹脂組成物

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JPH01152151A
JPH01152151A JP30965787A JP30965787A JPH01152151A JP H01152151 A JPH01152151 A JP H01152151A JP 30965787 A JP30965787 A JP 30965787A JP 30965787 A JP30965787 A JP 30965787A JP H01152151 A JPH01152151 A JP H01152151A
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JP
Japan
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epoxy resin
resin composition
filler
silica powder
sealing
Prior art date
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JP30965787A
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JPH0588904B2 (ja
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Koichi Tanaka
孝一 田中
Naoki Mogi
直樹 茂木
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Sumitomo Bakelite Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Bakelite Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、耐半田ストレス性に優れた、電子部品等の封
止用エポキシ樹脂組成物に関するものである。
(従来技術) 従来、ダイオード、トランジスタ、集積回路等の電子部
品を熱硬化性樹脂で封止しているが、特に集積回路では
耐熱性、耐湿性に優れたO−クレゾールノボラックエポ
キシ樹脂をノボラック型フェノール樹脂で硬化させたエ
ポキシ樹脂が用いられている。
ところが近年、集積回路の高集積化に伴いチップがだん
だん大型化し、かつパッケージは従来のDIPタイプか
ら表面実装化された小型、薄型のフラットパッケージ、
SOP、SOJ、PLCCに変わってきている。
即ち大型チップをコンパクトで薄いパッケージに封入す
ることになり、応力によるクラック発生、これらのクラ
ックによる耐湿性の低下等の問題が大きくクローズアッ
プされてきている。
特に半田づけの工程において急激に200℃以上の高温
にさらされることによりパッケージの割れや樹脂とチッ
プの剥離により耐湿性が劣化してしまうといった問題点
がでてきている。
これらの大型チップを封止するのに適した、信頼性の高
い封止用樹脂酸物の開発が望まれてきている。
(発明の目的) 本発明の目的とするところは、半田熱ストレスによるク
ラック発生をおさえ、耐湿性に優れた信頼性の高い封止
用樹脂組成物を提供するにある。
(発明の構成) 本発明は電子部品等の封止用エポキシ樹脂組成物におい
て充填剤として平均粒径が5〜40μmであり見掛は密
度が0.1〜0 、6 g/ccであり、かつ比表面積
が5〜20m27gである多孔質のシリカ粉末を充填剤
量の10〜100重量%のものを用いることを特徴とす
るエポキシ樹脂組成物に関するものである。
本発明のエポキシ樹脂組成物は従来の封止用樹脂組成物
に比べて非常に優れた耐半田熱ストレス性を有したもの
である。
本発明に用いるエポキシ樹脂としては、その分子中にエ
ポキシ基をすくなくとも2個以上有する化合物であれば
分子構造、分子量などは特に制限はなく、一般に封止用
材料として使用されているものであり、例えばノボラッ
ク系エポキシ樹脂、ビスフェノール型の芳香族系、シク
ロヘキサン誘導体の脂環式系、更には多官能系、シリコ
ン変性樹脂系があげられ、これらのエポキシ樹脂は1種
又は2種以上混合して用いられる。
又硬化剤としてはノボラック型フェノール樹脂系および
これらの変性樹脂であり、例えばフェノールノボラック
、0−クレゾールノボラックの他アルキル変性したフェ
ノールノボラック樹脂等があげられ、これらは単独もし
くは2種以上混合して使用しても差し支えがない。
エポキシ樹脂と硬化剤の配合比はエポキシ樹脂のエポキ
シ基と硬化剤の水酸基との当量比が0.5〜5の範囲内
に有ることが望ましい。
当量比が0.5未満又は5を越えたものは耐湿性、成形
作業性及び硬化物の電気特性が悪くなるので好ましくな
い。
本発明に使用される硬化促進剤はエポキシ基とフェノー
ル性水酸基との反応を促進するものであれン ばよく、一般に封止用材料に使用されているものを広く
使用態ることができ、例えばジアザビシクロウンデセン
(DBU)、)リフェニルホスフィン(TPP)、ジメ
チルベンジルアミン(BDMA)や2メチルイミダゾー
ル(2MZ)等が単独もしくは2種以上混合して用いら
れる。
本発明に用いられる充填剤としては、平均粒径が5〜4
0μmであり、見掛は密度が0.1〜0.6g/ccで
あり、かつ比表面積が5〜20m2/gである多孔質シ
リカ粉末を、使用する充填剤量の10〜100重量%の
範囲で使用する。
多孔質シリカ粉末は、その平均粒径が5μm未満、又は
40μmを越えると流動性が低下し、いずれの場合も好
ましくない。
又見掛は密度が0 、6 g/ccを越えると半田熱ス
トレスによるクラックが発生し易くなり、耐湿性が低下
してしまい好ましくない。
さらに比表面積が5 m2/g未満であると半田づけ工
程でクラックが発生し易く、耐湿性が低下してしまう。
又20m2/g以上となれば流動性がいちぢるしく低下
してしまい好ましくない。
さらに多孔質シリカ粉末が、使用充填剤の量の10重量
%以下であれば半田づけ工程でクラックが発生しやすく
なり、耐湿性が低下し、その目的とする特性が得なれな
い。
これらの充填剤は全体として樹脂組成物の50〜90重
量%配合する事が望ましい。その配合量が50%未満で
あれば耐熱性、機械的特性および耐湿性が劣り、90%
以上であれば流動性が低下し、成形性が悪くなり実用に
は適さない。
又、多孔質シリカ粉末以外の充填剤としては通常のシリ
カ粉末やアルミナ等があげられ、とくに熔融シリカ粉末
が好ましい。
本発明の封止用エポキシ樹脂組成物はエポキシ樹脂、硬
化剤、硬化促進剤及び多孔質シリカ粉末充填剤を必須成
分とするが、これ以外に必要に応じてシランカップリン
グ剤、ブロム化エポキシ樹脂、三酸化アンチモン、ヘキ
サブロムベンゼン等の難燃剤、カーボンブラック、ベン
ガラ等の着色剤、天然ワックス、合成ワックス等の離型
剤及びシリコンオイル、ゴム等の低応力添加剤等の種々
の添加剤を適宜配合しても差し支え゛がない。
又、本発明の封止用エポキシ樹脂組成物を成形材料とし
て製造するには、エポキシ樹脂、硬化剤、硬化促進剤、
充填剤、その他の添加剤をミキサー等にようて十分に均
一に混合した後、さらに熱ロールまたはニーダ−等で熔
融混練し、冷却後粉砕して成形材料とすることができる
。これらの成形材料は電子部品あるいは電気部品の封止
、被覆、絶縁等に適用することができる。
(発明の効果) 本発明のエポキシ樹脂組成物は半田づけ工程による急激
な温度変化による熱ストレスを受けたときの耐クラツク
性に非常に優れ、耐湿性の良い組成物であり、電子、電
気部品の封止用、被覆用、絶縁用等に用いた場合、特に
表面実装パッケージに搭載された高集積大型チップIC
において信頼性が非常に高い製品を得ることができる。
(実施例) 実施例1 0−クレゾールノボラックエポキシ樹脂(軟化点65℃
、エポキシ当量200)100重量部 フェノールノボラック樹脂   50重量部トリフェニ
ルホスフィン     1重量部三酸化アンチモン粉末
     18重量部カルナバワックス       
 2重量部カーボンブラック        2重量部
熔融シリカ粉末       328重量部多孔質シリ
カ粉末   (平均粒径15μm、見掛は密度0 、3
 B7cc、比表面積7 m2/g)43重量部 γ−グリシドメトキシシラン   3重量部をリボンブ
レンダーで常温で混合し、70〜100℃で2軸ロール
により混練し、冷却後粉砕し成形材料とした。
得られた成形材料をタブレット化し、低圧トランスファ
ー成形機にて175°C170kg/cm2.120秒
の条件で半田クラック試験用として6X6mmのチップ
を52pパツケージに封止し、又半田耐湿性試験用とし
て3X6mmのチップを16pSOPパツケージに封止
しな。
封止したテスト用素子について下記の半田クラック試験
及び半田耐湿性試験をおこなった。
半田クラック試験:封止したテスト用素子を85℃、8
51RHの環境下で24tlrおよび48Hr処理し、
その後260℃の半田槽に10秒間浸漬後顕微鏡で外部
クラックを観察した。
半田耐湿性試験:封止したテスト用素子を85°C18
5%RHの環境下で72Hr処理し、その後260℃の
半田槽に10秒間浸浸漬後レッシャークツカー試験(1
25℃、100$R)りを行い回路のオープン不良を測
定した。
試験結果を第1表に示す。
実施例2〜4 第1表の処方に従って配合し、実施例1と同様にして成
形材料を得て、この成形材料で試験用の封止したものを
得た。この成形材料を用いて実施例1と同様にテスト用
素子を封止して半田クラ・ンク試験及び半田耐湿性試験
を行った。
試験結果を第1表に示す。
比較例1 実施例1において充填剤をすべて熔融シリカとした以外
はすべて実施例1と同様にし試験を行った結果を第1表
に示す。
比較例2 実施例4の充填剤を総て熔融シリカとし、あとは実施例
4と同様にし、試験を行った結果を第1表に示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. エポキシ樹脂、硬化剤、硬化促進剤及び充填剤からなる
    エポキシ樹脂組成物において、平均粒径が5〜40μm
    、見掛け密度が0.1〜0.6g/ccであり、かつ比
    表面積が5〜20m^2/gである多孔質のシリカ粉末
    を10〜100重量%含む充填剤を用いることを特徴と
    するエポキシ樹脂組成物。
JP30965787A 1987-12-09 1987-12-09 エポキシ樹脂組成物 Granted JPH01152151A (ja)

Priority Applications (1)

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JP30965787A JPH01152151A (ja) 1987-12-09 1987-12-09 エポキシ樹脂組成物

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JP30965787A JPH01152151A (ja) 1987-12-09 1987-12-09 エポキシ樹脂組成物

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01152151A true JPH01152151A (ja) 1989-06-14
JPH0588904B2 JPH0588904B2 (ja) 1993-12-24

Family

ID=17995693

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JP30965787A Granted JPH01152151A (ja) 1987-12-09 1987-12-09 エポキシ樹脂組成物

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JP (1) JPH01152151A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01268711A (ja) * 1988-04-20 1989-10-26 Sumitomo Bakelite Co Ltd 半導体封止用エポキシ樹脂組成物
JP2002363384A (ja) * 2001-06-13 2002-12-18 Sumitomo Bakelite Co Ltd エポキシ樹脂組成物及び半導体装置
US6525160B1 (en) * 1999-06-17 2003-02-25 Arakawa Chemical Industries Ltd. Epoxy resin composition and process for producing silane-modified epoxy resin
JP2007119547A (ja) * 2005-10-26 2007-05-17 Yoshikawa Kogyo Co Ltd エポキシ樹脂組成物、及び半導体装置用中空パッケージ、並びに半導体部品装置
DE112007002983T5 (de) 2006-12-06 2009-10-08 Nok Corp. Dichtung und Abdichtungssystem

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JP2007119547A (ja) * 2005-10-26 2007-05-17 Yoshikawa Kogyo Co Ltd エポキシ樹脂組成物、及び半導体装置用中空パッケージ、並びに半導体部品装置
DE112007002983T5 (de) 2006-12-06 2009-10-08 Nok Corp. Dichtung und Abdichtungssystem

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Publication number Publication date
JPH0588904B2 (ja) 1993-12-24

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