JPH01241815A - 半導体装置のチップ識別方法 - Google Patents

半導体装置のチップ識別方法

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Publication number
JPH01241815A
JPH01241815A JP63069984A JP6998488A JPH01241815A JP H01241815 A JPH01241815 A JP H01241815A JP 63069984 A JP63069984 A JP 63069984A JP 6998488 A JP6998488 A JP 6998488A JP H01241815 A JPH01241815 A JP H01241815A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chip
semiconductor device
wafer
discrimination
semiconductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63069984A
Other languages
English (en)
Inventor
Minoru Yokozawa
横澤 実
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP63069984A priority Critical patent/JPH01241815A/ja
Publication of JPH01241815A publication Critical patent/JPH01241815A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W46/00Marks applied to devices, e.g. for alignment or identification
    • H10W46/601Marks applied to devices, e.g. for alignment or identification for use after dicing
    • H10W46/603Formed on wafers or substrates before dicing and remaining on chips after dicing

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  • Dicing (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 半導体装置の製造管理に利用できる。
[従来の技術] 従来、半導体装置は、その製造工程において、ウェハー
工程を終了したウェハーは、既存の方法によりチップダ
イシングされ、パッケージング工程を経て半導体装置と
して完成する。
[発明が解決しようとする課題1 しかしながら、いったんチップダイシングされると、該
チップの元のウェハー及びウェハー内位置を完全に追跡
することは困難である。本発明はかかる不具合点を解決
すべく、チップダイシング後でも、該チップの履歴を容
易に認識できることを目的としている。
[課題を解決するための手段] 本発明は、半導体装置工程のウェハー工程−っまりチッ
プダイシング前の製造工程−において既存のフォトエツ
チング法あるいはレーザー処理法により、半導体装置毎
に固有の記号を付加することにより、チップダイシング
以後の該チップが識別できるものとする。
[実 施 例] 実施例1は、半導体基板ウェハーに既存の方法にて、成
膜、フォトエツチング、不純物拡散を繰り返して半導体
素子を形成する。次に、既存の方法にて電極配線を行な
い、その後保護膜を付け、フォトエツチングにより、電
極端子(pad)を形成する。該電極端子を形成するフ
ォトエツチングのフォト工程において、半導体チップ内
の半導体素子以外の領域に、固有記号を該半導体装置の
素子領域のパターンと同時、あるいは素子領域を露光し
た後露光し、現像後エツチングを行なう。
また実施例2は、既存の方法にて半導体基板ウェハーに
半導体装置を形成する。該形成工程途中あるいは形成後
、パワーレーザーにて半導体装置のチップ毎、半導体素
子以外の領域に、固有記号を付ける。
[発明の効果] 本発明を適用した場合、チップダイシング後のチップの
追跡が確実に出来る。そのため、パッケージング後の信
頼性試験結果の解析等で、ウェハー工程における要因−
たとえばウェハー内の位置。ロット中のウェハー−を、
容易かつ正確に知ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明を適用したウェハーを示す概略図。1
は、半導体基板ウェハー、2は、半導体装置のチップ、
3は、チップに付けた固有記号、固有記号21から12
7は省略しである。 以上 出願人 セイコーエプソン株式会社

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  半導体装置を構成する半導体基板に、半導体装置毎固
    有の記号を付けることを特徴とする半導体装置のチップ
    識別方法。
JP63069984A 1988-03-24 1988-03-24 半導体装置のチップ識別方法 Pending JPH01241815A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999047254A1 (en) * 1998-03-13 1999-09-23 Central Research Laboratories Limited Apparatus for, and method of, manufacturing a plurality of uniquely labelled articles

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999047254A1 (en) * 1998-03-13 1999-09-23 Central Research Laboratories Limited Apparatus for, and method of, manufacturing a plurality of uniquely labelled articles

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