JPH01257194A - 単結晶薄膜の製造法 - Google Patents

単結晶薄膜の製造法

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JPH01257194A
JPH01257194A JP63083093A JP8309388A JPH01257194A JP H01257194 A JPH01257194 A JP H01257194A JP 63083093 A JP63083093 A JP 63083093A JP 8309388 A JP8309388 A JP 8309388A JP H01257194 A JPH01257194 A JP H01257194A
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JP
Japan
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complex
compd
single crystal
formula
thin film
Prior art date
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Pending
Application number
JP63083093A
Other languages
English (en)
Inventor
Takumi Tsunoda
巧 角田
Koji Ishichi
浩二 石地
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ube Corp
Original Assignee
Ube Industries Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、新規な有機金属錯体を用いる単結晶薄膜の製
造法に関する。
〔従来技術及びその問題点〕
〔従来技術及びその問題点〕 従来、単結晶3膜の形成法としては種々の方法が知られ
ているが、有機金属の蒸気をガス同伴により熱分屑炉中
に送り基板上で熱分解させ薄膜を形成させる、いわゆる
有機金属化学的気相蒸着法(Metal Organi
c CheIlical Vapor Deposit
ion; MOCVD法)が薄膜形成速度の制御が容易
であり、また常圧近辺で製造することができ量産し易い
等の理由から一般によく用いられている。
従来昇華性有機金属錯体の有機部分(配位子)としてア
セチルアセトン、ヘキサフルオロアセチルアセトン、ジ
ピバロイルメタン、あるいはシクロペンタジェンが知ら
れている。しかし、前記配位子を用いる場合、合成、単
離が困罵であったり、あるいは分解等により有機金属錯
体自体の蒸気圧を有し得なかったり、蒸気圧が低く薄膜
形成速度が小さいといった問題点があった。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明者等は種々の有機金属錯体について検討した結果
、前記問題点を解決した単結晶薄膜の製遣法を見出じた
本発明は、宵機金属化学的気相藻着法によって単結晶薄
膜を製造するに際し、原料化合物として、下記一般式C
I)、 CH。
! R−C−CH2−C−C−CH3f:I):i    
   it  1 o      OCH。
〔式中、Rは炭素数1〜4のフッ素化低級アルキル基を
示す]で表される有機化合物と金属との錯体を用いるこ
とを特徴とする単結晶薄膜の製造法に関する。
一般式CI〕中のRとしてはトリフルオロメチル基(以
下、TPMと略記する)、ペンタフルオロエチル基(以
下、PPMと略記する)、ヘプタフルオロプロピル基(
以下、HPMと略記する)、等の炭素数1〜4のフッ素
化低板アルキル基を挙げることができる。
本発明の有機金属錯体の中心金、属としては特に1定さ
れず、例えばCa、Sr、Ba等の周期律表IIA族元
素、Y、ランタン系等の■B族元素、Cu、、Au等の
IB族元素、Bi等のVA族元素及びT1等のmA族元
素等を挙げることができる。
上記有機金属錯体の製造法としては通常の金属錯体の製
造法の技術を採用することができ、例えば弐〔I〕の有
機化合物と金属水酸化物、金属塩等の金属化合物との水
溶液からp HL%整により得られる粗結晶をエタノー
ル−水から再結晶化し、さらに乾燥させることにより容
易に得ることができる。
単結晶薄膜の製造は、通常のMOCVDの技術を採用す
ることができる。例えば、金属酸化物からなる単結晶薄
膜の製造は、原料の有機金属錯体が充填された供給用容
器にキャリアーガスを導入し、有機金属錯体を同伴させ
て熱分解炉内に導入させ、一方、加熱された単結晶薄膜
生成用の基板へ、基板付近に設けられたノズルから酸素
を供給し、熱分解炉内に導入された有機金属錯体を酸化
熱分解させることにより行うことができる。
以下に本発明による単結晶薄膜の製造法の一例であるY
−Ba−Cu−0系セラミツクス薄膜製造法について詳
述する。
下記一般弐(n)で表されるBaOPPMtf体、〔以
下、Ba(PPM)zと略記する〕、YのPPM錯体〔
以下、Y (PPM)、と略記する〕及びCuのPPM
RF体〔以下、Cu(PPM)zと略記する〕をそれぞ
れの供給用容器に充填し、各供給用容器の温度コントロ
ールと、キャリアーガス流量の制御により各有機金属錯
体の供給量を調節しながら基板が配設された分解炉内に
導入させ、一方、加熱された単結晶3膜生成用の基板へ
、基板付近に設けられたノズルから酸素を供給し、熱分
解炉内に導入された有機金属錯体を酸化熱分解させるこ
とによりY−Ba−Cu−0系セラミツクス薄膜を製造
することができる。
各供給用容器の温度の制御は原料有機金属錯体の種類等
により異なるが、原料の有機金属錯体の蒸気圧が比較的
低いことから実用的には80〜300°Cの温度にコン
トロールされる。キャリアーガスとしては不活性ガス、
例えばアルゴン、窒素等が使用される。そのガス流量と
しては、原料の種属によって適宜異なるが通常1〜50
0 m/minのガス流量が選択される。なお供給用容
器と熱分解炉までの配管は′a縮等の問題を避けるため
、保温することが好ましい。単結晶薄膜生成用の基板の
温度は通常300〜700°C程度にするのが好ましい
。また酸素の供給速度は、1〜100R1/minが好
ましい。
〔実施例〕
以下に実施例を示し本発明を更に詳しく説明する。
実施例I Y (P PM) s 、B a (P PM) z及
び Cu(PPM)2をそれぞれステンレス容器に充填
し、これらの有機金属錯体を同伴ガスとしてアルゴンガ
スを用い基板が配設された分解炉内に導入した。
基板としては5rTiOaの(100)面を用い、W線
ヒーターにより650°Cに加熱された基板に、基板の
両側2ケ所に酸素ガスの噴出ノズルを配置し、酸素ガス
を基板に直接吹きつけた。この時の酸素ガス流量は20
 af/rainとした。YSBa。
Cui体が入っている容器はそれぞれ、140°C12
20℃、10“0°Cに加熱し、アルゴン同伴ガスをそ
れぞれに100 rail / min流通させた。な
お熱分解炉までの途中のパスでの有機金属の凝縮をさけ
るため230 ”C程度に保温した。
このようにして得られた膜厚3000人の薄膜を酸素中
406℃で30分加熱すると90にで電気抵抗零を示し
た。X腺回折により分析した結果、(0041り面より
のピークのみが観測され、該薄膜が配向した単結晶3膜
であることが分かった。
実施ダ12 Ba(PPM)zの代わりにBa(TPM)zを使用し
た以外は実施例1と同様な方法により薄膜を製造した。
得られた薄膜は90にで電気抵抗零を示した。
実施例3 Ba(PPM)zの代わりにB a (HPM) zを
使用し、そのBa塩の同伴窒素ガス流量を140m/w
inとした以外は実施例1と同様な方法により薄膜を製
造した。得られた薄膜は90 Kで電気抵抗零を示した
[発明の効果] 本発明の有機金属錯体は、合成が容易であり、蒸気圧が
高いため、有機金属化学的気相蒸着法によって単結晶薄
膜を製造するに際し、原料化合物として用いた場合、薄
膜形成速度が大きく、再現性よく容易に単結晶薄膜を製
造することができる。
特許出願人  宇部興産株式会社 手続補正書(自発) 特許庁長官殿   昭和63年外月zf日昭和63年4
月6日提出の特許願 λ 発明の名称 単結晶薄膜の製造法 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 郵便番号755 山口県宇部市西本町1丁目12番32号明細書の発明の
詳細な説明の欄 5、補正の内容 (1)第6ページ第13〜15行の「なお供給用容器と
・・・・保温することが好ましい、」の記載を、「なお
供給用容器、熱分解炉までの配管および熱分解炉の内壁
を、原料有機金属錯体の凝縮等の問題を避けるため有機
金属錯体の分解温度より低い温度で保温することが好ま
しい。好ましい保温温度は、70〜250℃である。」
に補正する。
(2)第7ページ第15行の「途中のバス」と「での有
機金属」との間に、「および熱分解炉内壁」を加入する
以上

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  有機金属化学的気相蒸着法によって単結晶薄膜を製造
    するに際し、原料化合物として、下記一般式、 ▲数式、化学式、表等があります▼ 〔式中、Rは炭素数1〜4のフッ素化低級アルキル基を
    示す〕で表される有機化合物と金属との錯体を用いるこ
    とを特徴とする単結晶薄膜の製造法。
JP63083093A 1988-04-06 1988-04-06 単結晶薄膜の製造法 Pending JPH01257194A (ja)

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JP (1) JPH01257194A (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01308804A (ja) * 1988-06-06 1989-12-13 Mitsubishi Metal Corp 膜状超電導体の製造方法
JPH01308802A (ja) * 1988-06-06 1989-12-13 Mitsubishi Metal Corp 膜状超電導体の製造方法及びその装置
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JPH0472066A (ja) * 1990-07-11 1992-03-06 Dowa Mining Co Ltd 有機金属錯体を用いる薄膜の製造法
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KR100372844B1 (ko) * 2000-03-14 2003-02-25 학교법인 포항공과대학교 바륨 또는 스트론튬 착체

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