JPH01308806A - 膜状超電導体の製造方法 - Google Patents
膜状超電導体の製造方法Info
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- JPH01308806A JPH01308806A JP13974788A JP13974788A JPH01308806A JP H01308806 A JPH01308806 A JP H01308806A JP 13974788 A JP13974788 A JP 13974788A JP 13974788 A JP13974788 A JP 13974788A JP H01308806 A JPH01308806 A JP H01308806A
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- superconductor
- fluorine
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- ligand
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- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Oxygen, Ozone, And Oxides In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明はCVD法による膜状超電導体の製造方法に間す
る。
る。
[従来の技術]
膜状超電導体を製造する方法としてはスクリーン印刷に
よる方法やスパッタリングによる方法が知られている。
よる方法やスパッタリングによる方法が知られている。
しかしながら、粉状原料を用いるスクリーン印刷による
方法にあっては、超電導体が低密度で無配向な多結晶体
となって高い臨界電流密度が期待できず、また、焼結の
ための高温処理が必要なためにIC化に適さないという
欠点があった。一方、スパッタリングによる方法にあっ
ては、超電導体の成膜速度が遅く且つ組成が不安定とな
り易く、また、真空中で成膜することから装置を大型化
することが困難であるという欠点があった。
方法にあっては、超電導体が低密度で無配向な多結晶体
となって高い臨界電流密度が期待できず、また、焼結の
ための高温処理が必要なためにIC化に適さないという
欠点があった。一方、スパッタリングによる方法にあっ
ては、超電導体の成膜速度が遅く且つ組成が不安定とな
り易く、また、真空中で成膜することから装置を大型化
することが困難であるという欠点があった。
ここで、薄膜の製造方法の一つとして組成、結晶の配向
性、母材との付着強度、成膜の制御等に優れたCVD法
があり、膜状超電導体の製造にこのCVD法を用いるこ
とが考えられている。
性、母材との付着強度、成膜の制御等に優れたCVD法
があり、膜状超電導体の製造にこのCVD法を用いるこ
とが考えられている。
[発明が解決しようとする課題]
膜状超電導体の製造にCVD法を用いる場合には、超電
導体の原料を気化させて反応チャンバ内に導き、気相反
応を生しさせて超電導膜を製造することとなる。
導体の原料を気化させて反応チャンバ内に導き、気相反
応を生しさせて超電導膜を製造することとなる。
このようなCVD法による膜状超電導体の製造を実現す
るためには次のような課題を解決する必要がある。すな
わち、成膜速度を速くするために超電導原料の蒸気圧を
高くするとともに、超電導体の組成に対応させて各原料
(原料ガス)の蒸気圧を制御する必要がある。
るためには次のような課題を解決する必要がある。すな
わち、成膜速度を速くするために超電導原料の蒸気圧を
高くするとともに、超電導体の組成に対応させて各原料
(原料ガス)の蒸気圧を制御する必要がある。
また、ある量のフッ素を含有させると、第1表に示すよ
うに超電導体の臨界温度Tcを高め、更には密度ρ及び
抗折力σを高められることが知られている(本願出願人
による特願昭63−19053号(昭和63年1月29
日出願)等参照)。
うに超電導体の臨界温度Tcを高め、更には密度ρ及び
抗折力σを高められることが知られている(本願出願人
による特願昭63−19053号(昭和63年1月29
日出願)等参照)。
このようなフッ素含有による優れた効果をCVD法によ
っても実現させたいという要求があった。
っても実現させたいという要求があった。
本発明は上記従来の事情に鑑みなされたもので、CVD
法による膜状超電導体の製造を実現すると共に超電導体
にフッ素を含有させることを目的とする。
法による膜状超電導体の製造を実現すると共に超電導体
にフッ素を含有させることを目的とする。
(以下余白)
第1表の1−1
第−表の1−2
第−表の1−3
第−表の1−4
第−表の1−5
第−表の1−6
第−表の2−1
第−表の2−2
第−表の2−3
第−表の2−4
第−表の2−5
第−表の2−6
[課題を解決するための手段及び作用コ上記課題を解決
してCVD法による膜状超電導体の製造を実現する本発
明は、複数種類の超電導原料のいずれかを金属錯体ガス
とする工程と、前記複数種類の超電導原料ガスをフッ素
源ガスと共に反応室に導入して化学反応を発生させて膜
状超電導体を形成する工程とを備えたことを特徴とする
。
してCVD法による膜状超電導体の製造を実現する本発
明は、複数種類の超電導原料のいずれかを金属錯体ガス
とする工程と、前記複数種類の超電導原料ガスをフッ素
源ガスと共に反応室に導入して化学反応を発生させて膜
状超電導体を形成する工程とを備えたことを特徴とする
。
すなわち、超電導原料の金属元素を錯体化することによ
り当該超電導原料を気相化したときの蒸気圧を高め、超
電導体の生成速度を速める。また、この錯体の配位子を
適宜選択することにより、その金属錯体ガスの蒸気圧を
適宜変更して最終生成物たる超電導物質の各構成元素の
組成比に応じた蒸気圧で反応させることができる。そし
て、超電導原料ガスを反応室で反応させるに際し、フッ
素源ガスを供給することにより生成される超電導体にフ
ッ素を含有させる。゛ また、上記課題を解決してCVD法による膜状超電導体
の製造を実現する本発明は、フッ素を含有する配位子を
用いて超電導原料を金属錯体ガスとする工程と、前記複
数種類の超電導原料ガスを反応室に導入して化学反応を
発生させて膜状超電導体を形成する工程とを備えたこと
を特徴とする。
り当該超電導原料を気相化したときの蒸気圧を高め、超
電導体の生成速度を速める。また、この錯体の配位子を
適宜選択することにより、その金属錯体ガスの蒸気圧を
適宜変更して最終生成物たる超電導物質の各構成元素の
組成比に応じた蒸気圧で反応させることができる。そし
て、超電導原料ガスを反応室で反応させるに際し、フッ
素源ガスを供給することにより生成される超電導体にフ
ッ素を含有させる。゛ また、上記課題を解決してCVD法による膜状超電導体
の製造を実現する本発明は、フッ素を含有する配位子を
用いて超電導原料を金属錯体ガスとする工程と、前記複
数種類の超電導原料ガスを反応室に導入して化学反応を
発生させて膜状超電導体を形成する工程とを備えたこと
を特徴とする。
すなわち、超電導原料の金属元素を錯体化す際にこれに
フッ素を含有させ、これら金属錯体ガスの反応室での反
応によりフッ素を含有した超電導体を生成する。なお、
フッ素を含有しない配位子の錯体をフッ素を含有した配
位子の雰囲気中で昇華させたり、或は、フッ素を含有し
ない配位子の錯体ガスをフッ素を含有した配位子ガスと
共に反応室へ搬送することにより、フッ素を含有しない
配位子をフッ素を含有した配位子に置換するようにして
もよい。
フッ素を含有させ、これら金属錯体ガスの反応室での反
応によりフッ素を含有した超電導体を生成する。なお、
フッ素を含有しない配位子の錯体をフッ素を含有した配
位子の雰囲気中で昇華させたり、或は、フッ素を含有し
ない配位子の錯体ガスをフッ素を含有した配位子ガスと
共に反応室へ搬送することにより、フッ素を含有しない
配位子をフッ素を含有した配位子に置換するようにして
もよい。
ここに、配位子(Ligand)は金属錯体の種類に応
じて選択され、フッ素を含有するものとしてはHFA
(Hexaf 1uoroacetylacetone
)等を用い、フッ素を含有しないものとしてはDPM
(D i p i va I oymethane)、
THF (Tetrahydrofuran)、DMF
(Dimethylformamide)、ジオキ
サン、ジエチルエーテル、ジメチルアセトアミド等を用
いる。また、フッ素源ガスとして例えば、F2、CF3
Br等を用いる。
じて選択され、フッ素を含有するものとしてはHFA
(Hexaf 1uoroacetylacetone
)等を用い、フッ素を含有しないものとしてはDPM
(D i p i va I oymethane)、
THF (Tetrahydrofuran)、DMF
(Dimethylformamide)、ジオキ
サン、ジエチルエーテル、ジメチルアセトアミド等を用
いる。また、フッ素源ガスとして例えば、F2、CF3
Br等を用いる。
[発明の効果コ
本発明の製造方法によれば、超電導原料を金属錯体ガス
とすることにより、比較的低温の条件下において超電導
原料ガスの蒸気圧を高めることを実現し、膜状超電導体
の生産性を向上することができる。更に、超電導原料ガ
スにフッ素を含有させる、若しくは、フッ素を反応室に
導入することにより、反応室で生成される超電導体にフ
ッ素を含有させることができ、超電導体の臨界温度の向
上、機械的強度の向上を図ることができる。
とすることにより、比較的低温の条件下において超電導
原料ガスの蒸気圧を高めることを実現し、膜状超電導体
の生産性を向上することができる。更に、超電導原料ガ
スにフッ素を含有させる、若しくは、フッ素を反応室に
導入することにより、反応室で生成される超電導体にフ
ッ素を含有させることができ、超電導体の臨界温度の向
上、機械的強度の向上を図ることができる。
[実施例コ
まず、本発明を実施するための装置の一例を第1図に基
づいて説明する。
づいて説明する。
同図において、1.2.3はそれぞれ超電導体原料とな
る金属元素若しくは金属錯体を収容した原料容器であり
、これら原料容器1.2.3の上流には蒸気状の配位子
を収容した配位子容器11.12.13が設けられ、こ
れら配位子容器11.12.13は原料容器1.2.3
にそれぞれ接続されている。なお、通常、超電導元素の
化合物に配位子を付加して錯体ガスを作るが、例えば、
Baメタルを直接配位子で錯体化し、金属錯体ガスを得
ることもできる。
る金属元素若しくは金属錯体を収容した原料容器であり
、これら原料容器1.2.3の上流には蒸気状の配位子
を収容した配位子容器11.12.13が設けられ、こ
れら配位子容器11.12.13は原料容器1.2.3
にそれぞれ接続されている。なお、通常、超電導元素の
化合物に配位子を付加して錯体ガスを作るが、例えば、
Baメタルを直接配位子で錯体化し、金属錯体ガスを得
ることもできる。
原料容器1.2.3の下流には反応容器5が設けられ、
原料容器1.2.3はそれぞれ反応容器5に接続されて
いる。そして、反応容器5には酸素供給源10が接続さ
れていると共に、トラップ6を介して真空ポンプ7が接
続されている。また、各原料容器1.2.3、反応容器
5及び原料容器1.2.3から反応容器5への管路には
ヒータ8が配設されている。
原料容器1.2.3はそれぞれ反応容器5に接続されて
いる。そして、反応容器5には酸素供給源10が接続さ
れていると共に、トラップ6を介して真空ポンプ7が接
続されている。また、各原料容器1.2.3、反応容器
5及び原料容器1.2.3から反応容器5への管路には
ヒータ8が配設されている。
上記構成のCVD装置において、反応容器5内に超電導
体を膜状に付着させる基板9を設置し、真空ポンプ7に
より反応容器5内を減圧すると共にヒータ8により加熱
して超電導体の生成を開始する。
体を膜状に付着させる基板9を設置し、真空ポンプ7に
より反応容器5内を減圧すると共にヒータ8により加熱
して超電導体の生成を開始する。
すなわち、フッ素含有配位子による金属錯体ガスを反応
室に導入する場合には、配位子容器11.12.13の
適宜のもの若しくは全てにフッ素を含有する配位子を収
容する。そして、配位子容器11.12.13の上流側
からキャリアガスとしてのアルゴンガスArを供給し、
配位子容器11.12.13内に収容されている配位子
ガスをArガスに乗せて原料容器1.2.3へ供給する
。そして、ヒータ8による加熱条件下で、原料容器1.
2.3内の超電導体原料をフッ素を含有する金属錯体ガ
ス(配位子の付加反応によるアダクツを含む)とし、こ
の金属錯体ガスをArガスに乗せて反応容器5へ供給す
る。なお、原料容器1.2.3から反応容器5への搬送
途中において、ヒータ8による加熱で金属錯体ガスの温
度が保持される。
室に導入する場合には、配位子容器11.12.13の
適宜のもの若しくは全てにフッ素を含有する配位子を収
容する。そして、配位子容器11.12.13の上流側
からキャリアガスとしてのアルゴンガスArを供給し、
配位子容器11.12.13内に収容されている配位子
ガスをArガスに乗せて原料容器1.2.3へ供給する
。そして、ヒータ8による加熱条件下で、原料容器1.
2.3内の超電導体原料をフッ素を含有する金属錯体ガ
ス(配位子の付加反応によるアダクツを含む)とし、こ
の金属錯体ガスをArガスに乗せて反応容器5へ供給す
る。なお、原料容器1.2.3から反応容器5への搬送
途中において、ヒータ8による加熱で金属錯体ガスの温
度が保持される。
このように、各原料容器1.2.3から金属錯体ガス(
例えば、原料容器1からBa錯体ガス、原料容器2から
Y錯体ガス、原料容器3からCu錯体ガス)を供給する
と共に酸素源から酸素02を供給して、反応容器5内で
化学反応を生じさせ、フッ素を含有した所定の超電導物
質を基板9上に降り積もらせて膜状の超電導体を生成す
る。
例えば、原料容器1からBa錯体ガス、原料容器2から
Y錯体ガス、原料容器3からCu錯体ガス)を供給する
と共に酸素源から酸素02を供給して、反応容器5内で
化学反応を生じさせ、フッ素を含有した所定の超電導物
質を基板9上に降り積もらせて膜状の超電導体を生成す
る。
ここで、原料容器に収容した原料がフッ素を含有しない
のものであっても、配位子容器から供給されたフッ素含
有配位子ガスのもとで昇華されたり或はフッ素含有配位
子ガスと混合して反応容器へ搬送したりすると、反応容
器にフッ素含有配位子による金属錯体ガス若しくはフッ
素含有配位子ガスと共存した金属錯体ガスを導入するこ
とができる。
のものであっても、配位子容器から供給されたフッ素含
有配位子ガスのもとで昇華されたり或はフッ素含有配位
子ガスと混合して反応容器へ搬送したりすると、反応容
器にフッ素含有配位子による金属錯体ガス若しくはフッ
素含有配位子ガスと共存した金属錯体ガスを導入するこ
とができる。
一方、超電導原料ガスをフッ素源ガスと共に反応室に導
入する場合には、配位子容器11.12.13に収容す
る配位子及び原料容器1.2.3に収容する原料はフッ
素を含有しないものでもよく、反応容器5に接続したフ
ッ素源15から反応容器5内にフッ素源ガスを導入して
フッ素を含有した超電導体生成することができる。。な
お、この場合にあっても、勿論、配位子若しくは原料に
フッ素を含有するものを用いてもよい。
入する場合には、配位子容器11.12.13に収容す
る配位子及び原料容器1.2.3に収容する原料はフッ
素を含有しないものでもよく、反応容器5に接続したフ
ッ素源15から反応容器5内にフッ素源ガスを導入して
フッ素を含有した超電導体生成することができる。。な
お、この場合にあっても、勿論、配位子若しくは原料に
フッ素を含有するものを用いてもよい。
なお、上記した装置はBa−Y−Cu−0系の超電導体
を生成する例であるが、B1−5r−Ca−Cu−0系
の超電導体を生成する場合には上記した装置に原料容器
受には配位子容器を備えた系を更に1系列増加させれば
良い。
を生成する例であるが、B1−5r−Ca−Cu−0系
の超電導体を生成する場合には上記した装置に原料容器
受には配位子容器を備えた系を更に1系列増加させれば
良い。
次いで、上記した装置により膜状超電導体を生成した実
施例を以下に説明する。
施例を以下に説明する。
〈実施例1〉
本実施例は、Ba−Y−Cu−0系の超電導体を生成す
る例である。
る例である。
超電導原料となる金属錯体ガスとして、Ba(HFA)
2ガス、 Y(HFA)3ガス、 Cu(HFA)2ガ
スを用い、配位子ガスとして、Ba(HFA)2に対し
てHFA、Y (HFA) 3に対してHFAを用いた
。なお、Cu(HFA)2は安定であるのて配位子容器
から原料容器へ供給する配位子は用いなかった。
2ガス、 Y(HFA)3ガス、 Cu(HFA)2ガ
スを用い、配位子ガスとして、Ba(HFA)2に対し
てHFA、Y (HFA) 3に対してHFAを用いた
。なお、Cu(HFA)2は安定であるのて配位子容器
から原料容器へ供給する配位子は用いなかった。
また、キャリアガスとしてArガスを用いた。
また、それぞれの原料容器において、200℃で蒸気圧
4mmHgのBa(HFA)2ガス、120℃で蒸気圧
2mmHgのY(HFA)3ガス、100℃で蒸気圧6
mmHgのCu(HFA)2ガスを得た。そして、これ
ら金属錯体ガスを02ガスと共に反応容器に導入して、
反応圧力10〜100Torr、反応温度350°Cで
化学反応させた。
4mmHgのBa(HFA)2ガス、120℃で蒸気圧
2mmHgのY(HFA)3ガス、100℃で蒸気圧6
mmHgのCu(HFA)2ガスを得た。そして、これ
ら金属錯体ガスを02ガスと共に反応容器に導入して、
反応圧力10〜100Torr、反応温度350°Cで
化学反応させた。
そして、反応後の試料を600℃の酸素雰囲気中で10
時間熱処理した結果、臨界温度Tc=95に級、臨界電
流密度J c=5X10’A/cm2のフッ素を含有し
た超電導体(YBa2Cu:+C)r−δ:F)の均一
な膜が生成できた。
時間熱処理した結果、臨界温度Tc=95に級、臨界電
流密度J c=5X10’A/cm2のフッ素を含有し
た超電導体(YBa2Cu:+C)r−δ:F)の均一
な膜が生成できた。
なお、上記Y(HFA)3に代えY(DPM)3を用い
たり、或は、Cu(HFA)2に代えてCu(DPM)
2を用いてもよく、この場合にあってもフッ素を含有す
る配位子により超電導体へのフッ素添加量を確保するこ
とができ、上記と同様な超電導体が得られた。また、キ
ャリアガスをArに代えてHeを用いてもよい。
たり、或は、Cu(HFA)2に代えてCu(DPM)
2を用いてもよく、この場合にあってもフッ素を含有す
る配位子により超電導体へのフッ素添加量を確保するこ
とができ、上記と同様な超電導体が得られた。また、キ
ャリアガスをArに代えてHeを用いてもよい。
〈実施例2〉
本実施例は、B 1−5r−Ca−Cu−0系の超電導
体を生成する例である。
体を生成する例である。
超電導原料となる金属錯体ガスとして、Bi(OC2H
5)3ガス、 5r(HFA)2ガス、Ca(HFA)
2ガス、Cu(HFA)2ガスを用い、配位子ガスとし
て、5r(HFA)2に対してHFA、Ca (HFA
)2に対してHFAを用いた。
5)3ガス、 5r(HFA)2ガス、Ca(HFA)
2ガス、Cu(HFA)2ガスを用い、配位子ガスとし
て、5r(HFA)2に対してHFA、Ca (HFA
)2に対してHFAを用いた。
また、キャリアガスとしてAr(またはHe)ガスを用
いた。
いた。
また、それぞれの原料容器において、120℃て蒸気圧
lmmHgのB i (OC2H5)3ガス、80°C
で蒸気圧lmmHgの5r(HFA)2ガス、80℃で
蒸気圧lmmHgのCa、(HFA)2ガス、150°
Cで蒸気圧1.5mmHgの Cu(HFA)2ガスを
得た。そして、これら金属錯体ガスを02ガスと共に反
応容器に導入して、反応圧力10〜100Torr、反
応温度350℃で化学反応させた。そして、反応後の試
料を750°Cの大気中で30時間熱処理した結果、臨
界温度Tc=100に級、臨界電流密度Jc=IX10
’A/cm2のフッ素を含有した超電導体(BiCaS
rCu20x: F)の均一な膜が生成できた。
lmmHgのB i (OC2H5)3ガス、80°C
で蒸気圧lmmHgの5r(HFA)2ガス、80℃で
蒸気圧lmmHgのCa、(HFA)2ガス、150°
Cで蒸気圧1.5mmHgの Cu(HFA)2ガスを
得た。そして、これら金属錯体ガスを02ガスと共に反
応容器に導入して、反応圧力10〜100Torr、反
応温度350℃で化学反応させた。そして、反応後の試
料を750°Cの大気中で30時間熱処理した結果、臨
界温度Tc=100に級、臨界電流密度Jc=IX10
’A/cm2のフッ素を含有した超電導体(BiCaS
rCu20x: F)の均一な膜が生成できた。
〈実施例3〉
本実施例は、Ba−Y−Cu−0系の超電導体を生成す
る例である。
る例である。
超電導原料として、BaはBa(AcAc)2、YはY
(ACAC)3、CuはCu(AcAc)2をそれぞれ
HFAガスのもとで加熱してガス化して用いた。
(ACAC)3、CuはCu(AcAc)2をそれぞれ
HFAガスのもとで加熱してガス化して用いた。
また、キャリアガスとしてAr(またはHe)ガスを用
いた。
いた。
また、それぞれの反応容器においてHFAと反応生成し
た 200℃で4mmHgのBa(HFA)2HFAガ
ス、120℃で2mmHgのY(HFA)3−HFAガ
ス、100℃で6mmHgのCu (HFA)2−HF
Aガスを得た。
た 200℃で4mmHgのBa(HFA)2HFAガ
ス、120℃で2mmHgのY(HFA)3−HFAガ
ス、100℃で6mmHgのCu (HFA)2−HF
Aガスを得た。
そして、これらの金属錯体ガスを02ガスと共に反応容
器に導入して、反応圧力10〜100T。
器に導入して、反応圧力10〜100T。
rr、反応温度350℃で化学反応させた。そして、反
応後の試料を600℃の酸素雰囲気中で10時間熱処理
した結果、フッ素を含有した超電導体(YBa2Cu3
07−δ:F)の均一な膜が生成できた。
応後の試料を600℃の酸素雰囲気中で10時間熱処理
した結果、フッ素を含有した超電導体(YBa2Cu3
07−δ:F)の均一な膜が生成できた。
〈実施例4〉
本実施例は、B 1−5r−Ca−Cu−0系の超電導
体を生成する例である。
体を生成する例である。
超電導原料として、Bi、CuはそれぞれBi(OC2
H5)3ガス、Cu (HFA)2ガスを用い、Sr、
Caはそれぞれの金属アルコキシド5r(OC2H5)
2、Ca (OC2H5)2をHFAガスのもとで加熱
してガス化して用いた。
H5)3ガス、Cu (HFA)2ガスを用い、Sr、
Caはそれぞれの金属アルコキシド5r(OC2H5)
2、Ca (OC2H5)2をHFAガスのもとで加熱
してガス化して用いた。
また、キャリアガスとしてAr(またはHe)ガスを用
いた。
いた。
また、Bi、Cuに関してはそれぞれの原料容器におい
て120℃で蒸気圧lmmHgのBi(OC2H5)3
ガス、150°Cて蒸気圧1.5mmHgのCu(HF
A)2ガスを、Sr、Caに関してはそれぞれ原料容器
においてHFAと反応生成した80℃で蒸気圧1 mm
H’ gの5r(HFA)2ガス、80℃で蒸気圧l
mmHgの(、a(HFA)2ガスを得た。
て120℃で蒸気圧lmmHgのBi(OC2H5)3
ガス、150°Cて蒸気圧1.5mmHgのCu(HF
A)2ガスを、Sr、Caに関してはそれぞれ原料容器
においてHFAと反応生成した80℃で蒸気圧1 mm
H’ gの5r(HFA)2ガス、80℃で蒸気圧l
mmHgの(、a(HFA)2ガスを得た。
そして、これら金属錯体ガスを02ガスと共に反応容器
に導入して、反応圧力10〜100Torr、反応温度
350℃で化学反応させた。そして、反応後の試料を7
50℃の大気中で30時間熱処理した結果、フッ素を含
有した超電導体(BiCaS r Cu20x: F)
の均一な膜が生成できた。
に導入して、反応圧力10〜100Torr、反応温度
350℃で化学反応させた。そして、反応後の試料を7
50℃の大気中で30時間熱処理した結果、フッ素を含
有した超電導体(BiCaS r Cu20x: F)
の均一な膜が生成できた。
第1図は本発明の一実施例に係る製造装置の構成図であ
る。 1.2.3は原料容器、 5は反応容器、 7は真空ポンプ、 9は基板、 10は酸素供給源、 11.12.13は配位子容器、 15はフッ素源ガス供給源である。 特許出願人 三菱金属株式会社
る。 1.2.3は原料容器、 5は反応容器、 7は真空ポンプ、 9は基板、 10は酸素供給源、 11.12.13は配位子容器、 15はフッ素源ガス供給源である。 特許出願人 三菱金属株式会社
Claims (2)
- (1)複数種類の超電導原料のいずれかを金属錯体ガス
とする工程と、前記複数種類の超電導原料ガスをフッ素
源ガスと共に反応室に導入して化学反応を発生させて膜
状超電導体を形成する工程とを備えたことを特徴とする
膜状超電導体の製造方法。 - (2)フッ素を含有する配位子を用いて超電導原料を金
属錯体ガスとする工程と、前記複数種類の超電導原料ガ
スを反応室に導入して化学反応を発生させて膜状超電導
体を形成する工程とを備えたことを特徴とする膜状超電
導体の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13974788A JPH01308806A (ja) | 1988-06-06 | 1988-06-06 | 膜状超電導体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13974788A JPH01308806A (ja) | 1988-06-06 | 1988-06-06 | 膜状超電導体の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01308806A true JPH01308806A (ja) | 1989-12-13 |
Family
ID=15252439
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13974788A Pending JPH01308806A (ja) | 1988-06-06 | 1988-06-06 | 膜状超電導体の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01308806A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US12497691B2 (en) | 2020-06-17 | 2025-12-16 | L'Air Liquide, Société Anonyme pour l'Etude et l'Exploitation des Procédés Georges Claude | Devices having a rare earth (oxy) fluoride coating for improved resistance to corrosive chemical environments and methods for making and using these devices |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63310515A (ja) * | 1987-06-12 | 1988-12-19 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 超伝導体薄膜の製造方法 |
| JPH01104774A (ja) * | 1987-10-14 | 1989-04-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 酸化物超伝導体薄膜の製造方法 |
| JPH01148798A (ja) * | 1987-12-07 | 1989-06-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 超電導薄膜の製造方法 |
| JPH01257194A (ja) * | 1988-04-06 | 1989-10-13 | Ube Ind Ltd | 単結晶薄膜の製造法 |
-
1988
- 1988-06-06 JP JP13974788A patent/JPH01308806A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JPH01148798A (ja) * | 1987-12-07 | 1989-06-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 超電導薄膜の製造方法 |
| JPH01257194A (ja) * | 1988-04-06 | 1989-10-13 | Ube Ind Ltd | 単結晶薄膜の製造法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US12497691B2 (en) | 2020-06-17 | 2025-12-16 | L'Air Liquide, Société Anonyme pour l'Etude et l'Exploitation des Procédés Georges Claude | Devices having a rare earth (oxy) fluoride coating for improved resistance to corrosive chemical environments and methods for making and using these devices |
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