JPH01401A - Stm用微動素子着脱機構 - Google Patents
Stm用微動素子着脱機構Info
- Publication number
- JPH01401A JPH01401A JP62-133884A JP13388487A JPH01401A JP H01401 A JPH01401 A JP H01401A JP 13388487 A JP13388487 A JP 13388487A JP H01401 A JPH01401 A JP H01401A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- fine movement
- movement element
- stm
- probe
- detachment mechanism
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 17
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000005641 tunneling Effects 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明はSTM (走査型トンネル顕微鏡)において
微動素子の取付機構に関する。
微動素子の取付機構に関する。
この発明は微動素子に予め探針をセットしておき、この
状態でSTM本体にワンタッチで着脱可能としたもので
ある。
状態でSTM本体にワンタッチで着脱可能としたもので
ある。
試料表面と微動素子に固定された検出探針先端部間に流
れるトンネル電流が一定になるように試料表面と検出探
針先端部間を制御して原子像観察を行なう37M装置に
おいて、第3図に示す微動素子IはSTM本体に取付ら
れている微動素子ホルダー5に接着剤、もしくはネジ等
で固定し、探針2のみを必要都度微動素子1に取付けて
使用するのが一般的であった。
れるトンネル電流が一定になるように試料表面と検出探
針先端部間を制御して原子像観察を行なう37M装置に
おいて、第3図に示す微動素子IはSTM本体に取付ら
れている微動素子ホルダー5に接着剤、もしくはネジ等
で固定し、探針2のみを必要都度微動素子1に取付けて
使用するのが一般的であった。
以上に示した従来の方法において、第3図に示すように
探針2は微動素子1の針取付11に挿入され、バネ4で
交換可能なようにセットされるが、例えば、測定中に針
の不具合が発見されて交換する場合、又は先端径を変え
た針で測定したい場合は装置の隙間から作業する必要が
あった。この場合針先端径は0.1μm以下の掻めて鋭
利なものであるため取板いには注意を要するものであっ
た。
探針2は微動素子1の針取付11に挿入され、バネ4で
交換可能なようにセットされるが、例えば、測定中に針
の不具合が発見されて交換する場合、又は先端径を変え
た針で測定したい場合は装置の隙間から作業する必要が
あった。この場合針先端径は0.1μm以下の掻めて鋭
利なものであるため取板いには注意を要するものであっ
た。
又、針の長さiを正確に調整しないと測定条件が変化す
るためこれにも多大な時間を嬰していた。
るためこれにも多大な時間を嬰していた。
上記問題点を解決するために、この発明は微動素子に予
め探針を正確にセントしておき、探針がセットされた微
動素子をワンタッチでSTM装置本体に着脱可能とした
ものである。
め探針を正確にセントしておき、探針がセットされた微
動素子をワンタッチでSTM装置本体に着脱可能とした
ものである。
上記の方法によれば、例えば測定中に探針を交換する必
要がある時にはワンタッチで交換できるため針交換に多
大な労力を費やすことなく、スムーズに測定がw1続で
きる。
要がある時にはワンタッチで交換できるため針交換に多
大な労力を費やすことなく、スムーズに測定がw1続で
きる。
以下に本発明による実施例を図面に基づいて説明する。
第1図においてlは微動素子であり、2は探針である。
3..3□、33.3.は微動素子駆動用の電極(第1
図中、微動素子lに形成されたX。
図中、微動素子lに形成されたX。
y、z電極)と結ばれた端子である。
第2図は、微動素子1を保持するための微動素子ホルダ
ー6でこのホルダー6には端子71,7□。
ー6でこのホルダー6には端子71,7□。
73.74が設けられ、微動素子1を各端子31+ 3
L3s、34と接触するようになっている。さらに端
子71,7□、72.74は第2図(C1に示す如く、
バネ性を持ち、微動素子lを保持するよう形成されてい
る。又、3.は探針と結ばれた端子であり、第2図の微
動素子ホルダーの端子7.と接触するようになっている
。5は位置合わせ用の溝であり試料ホルダー6の位で合
わせ突起8と係合するようになっている。
L3s、34と接触するようになっている。さらに端
子71,7□、72.74は第2図(C1に示す如く、
バネ性を持ち、微動素子lを保持するよう形成されてい
る。又、3.は探針と結ばれた端子であり、第2図の微
動素子ホルダーの端子7.と接触するようになっている
。5は位置合わせ用の溝であり試料ホルダー6の位で合
わせ突起8と係合するようになっている。
第2図に示す微動素子ホルダー6は例えば第4図に示す
ような37M装置に取付けられている。
ような37M装置に取付けられている。
(発明の効果〕
従って、探計の交換が必要な時は微動素子ごと37M装
置に取付けられたホルダーにワンタッチで交換可能とな
った。さらに、探針は微動素子単体時点でセントできる
ため針の固定が確実に行えるようになった。
置に取付けられたホルダーにワンタッチで交換可能とな
った。さらに、探針は微動素子単体時点でセントできる
ため針の固定が確実に行えるようになった。
尚、この場合の微動素子は数個用意して使用済みのもの
は針を付は替えて繰り返し使用できるのでトータルのラ
ンニングコストは変わらない。
は針を付は替えて繰り返し使用できるのでトータルのラ
ンニングコストは変わらない。
又、本実施例では微動素子に円筒型を用いたがこれが、
例えばキュービックなような他の形状でも同様な考え方
で実施可能である。
例えばキュービックなような他の形状でも同様な考え方
で実施可能である。
第1図(a)は本実施例による微動素子の斜視図であり
、第1図(blはその平面図、第2図(alは本実施例
による微動素子ホルダーの斜視図であり、第2図中)は
その平面図、同図(C1は一部断面図、第3図は従来の
方式を示す斜視図であり、第4図は本実施例により37
M装置の側面図である。 l・・・・・・・・・・微動素子 2・・・・・・・・・・探針 31.3□、33,3..3%・・電極端子4・・・・
・・・・・・針押えバネ 5・・・・・・・・・・位置合わせ溝 6・・・・・・・・・・微動素子ホルダー71.7□、
1s、1−=1s・・電極端子8・・・・・・・・・・
位置合わせ用突起以上
、第1図(blはその平面図、第2図(alは本実施例
による微動素子ホルダーの斜視図であり、第2図中)は
その平面図、同図(C1は一部断面図、第3図は従来の
方式を示す斜視図であり、第4図は本実施例により37
M装置の側面図である。 l・・・・・・・・・・微動素子 2・・・・・・・・・・探針 31.3□、33,3..3%・・電極端子4・・・・
・・・・・・針押えバネ 5・・・・・・・・・・位置合わせ溝 6・・・・・・・・・・微動素子ホルダー71.7□、
1s、1−=1s・・電極端子8・・・・・・・・・・
位置合わせ用突起以上
Claims (1)
- 予め探針を装着した微動素子をワンタッチで交換可能に
した事を特徴とするSTM用微動素子着脱機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13388487A JPS64401A (en) | 1987-05-29 | 1987-05-29 | Mechanism for attaching and detaching fine adjustment element for stm |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13388487A JPS64401A (en) | 1987-05-29 | 1987-05-29 | Mechanism for attaching and detaching fine adjustment element for stm |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01401A true JPH01401A (ja) | 1989-01-05 |
| JPS64401A JPS64401A (en) | 1989-01-05 |
Family
ID=15115340
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13388487A Pending JPS64401A (en) | 1987-05-29 | 1987-05-29 | Mechanism for attaching and detaching fine adjustment element for stm |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS64401A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0626804Y2 (ja) * | 1989-02-23 | 1994-07-20 | 工業技術院長 | シールド付微動機構 |
| JP2575880B2 (ja) * | 1989-06-09 | 1997-01-29 | 日本電子株式会社 | 走査型トンネル顕微鏡による走査像判別方式 |
| JP3202646B2 (ja) * | 1997-04-09 | 2001-08-27 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | 走査型プローブ顕微鏡 |
| JP3553318B2 (ja) * | 1997-05-20 | 2004-08-11 | 日本電子株式会社 | ホルダ保持装置 |
| CN106124805A (zh) * | 2016-07-26 | 2016-11-16 | 苏州衡微仪器科技有限公司 | 一种扫描隧道显微镜的扫描结构 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CH643397A5 (de) * | 1979-09-20 | 1984-05-30 | Ibm | Raster-tunnelmikroskop. |
-
1987
- 1987-05-29 JP JP13388487A patent/JPS64401A/ja active Pending
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