JPH0144015B2 - - Google Patents
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- JPH0144015B2 JPH0144015B2 JP57224572A JP22457282A JPH0144015B2 JP H0144015 B2 JPH0144015 B2 JP H0144015B2 JP 57224572 A JP57224572 A JP 57224572A JP 22457282 A JP22457282 A JP 22457282A JP H0144015 B2 JPH0144015 B2 JP H0144015B2
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- semiconductor device
- insulating film
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/90—Bond pads, in general
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W20/00—Interconnections in chips, wafers or substrates
- H10W20/40—Interconnections external to wafers or substrates, e.g. back-end-of-line [BEOL] metallisations or vias connecting to gate electrodes
- H10W20/482—Interconnections external to wafers or substrates, e.g. back-end-of-line [BEOL] metallisations or vias connecting to gate electrodes for individual devices provided for in groups H10D8/00 - H10D48/00, e.g. for power transistors
- H10W20/484—Interconnections having extended contours, e.g. pads having mesh shape or interconnections comprising connected parallel stripes
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
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- H10W72/075—Connecting or disconnecting of bond wires
- H10W72/07551—Connecting or disconnecting of bond wires characterised by changes in properties of the bond wires during the connecting
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- H10W72/884—Die-attach connectors and bond wires
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- H10W72/931—Shapes of bond pads
- H10W72/934—Cross-sectional shape, i.e. in side view
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、半導体装置に関し、特に露出領域
に金属膜を被着し、これにリードを結合したもの
において金属膜内に絶縁膜を設けたものに関す
る。
に金属膜を被着し、これにリードを結合したもの
において金属膜内に絶縁膜を設けたものに関す
る。
従来、上記の半導体装置には第1図に示すよう
なものがあつた。第1図において、1はコレクタ
領域、2はベース領域、3はエミツタ領域で、一
方の主表面4上におけるエミツダ領域3の中央に
は例えば酸化シリコン等の絶縁膜5が設けられ、
主表面4におけるエミツタ領域3と絶縁膜5とに
アルミニウム等の電極金属膜6が蒸着され、絶縁
膜5上の金属膜6にエミツタリード7が結合され
ている。なお8,9も絶縁膜、10も金属膜、1
1はベースリード、12は放熱板、13は半田層
である。
なものがあつた。第1図において、1はコレクタ
領域、2はベース領域、3はエミツタ領域で、一
方の主表面4上におけるエミツダ領域3の中央に
は例えば酸化シリコン等の絶縁膜5が設けられ、
主表面4におけるエミツタ領域3と絶縁膜5とに
アルミニウム等の電極金属膜6が蒸着され、絶縁
膜5上の金属膜6にエミツタリード7が結合され
ている。なお8,9も絶縁膜、10も金属膜、1
1はベースリード、12は放熱板、13は半田層
である。
このような半導体装置では、絶縁膜5を設けて
いるので、逆バイアス時にエミツタリード7の結
合部分の真下に電流が集中するのを緩和でき、逆
バイアスASO(動作安定領域)も拡大できる。し
かし、金属膜6とエミツタ領域3との境界には熱
処理によつて薄く合金属が形成されるので、強固
に結合されているが、金属膜6と絶縁膜5との境
界は単に金属膜6が絶縁膜5に付着しているだけ
であるので、エミツタリード7を金属膜6に結合
した際に、その結合部分の金属膜6が剥れること
があり、製造における歩留りが悪いという欠点が
あつた。
いるので、逆バイアス時にエミツタリード7の結
合部分の真下に電流が集中するのを緩和でき、逆
バイアスASO(動作安定領域)も拡大できる。し
かし、金属膜6とエミツタ領域3との境界には熱
処理によつて薄く合金属が形成されるので、強固
に結合されているが、金属膜6と絶縁膜5との境
界は単に金属膜6が絶縁膜5に付着しているだけ
であるので、エミツタリード7を金属膜6に結合
した際に、その結合部分の金属膜6が剥れること
があり、製造における歩留りが悪いという欠点が
あつた。
この発明は、逆バイアスASOを拡大できると
共に歩留りを向上させた半導体装置を提供するこ
とを目的とする。
共に歩留りを向上させた半導体装置を提供するこ
とを目的とする。
以下、この考案を第2図乃至第4図に示す1実
施例に基づいて説明する。この実施例は第2図に
示すようにエミツタ領域3の主表面4上に小さな
間隙15をおいて小絶縁膜群16を設けたもので
ある。これら小絶縁膜16はエミツタリード7の
結合位置の真下に設けられており、それぞれ従来
の絶縁膜5よりも幅寸法を小さくしたもので、第
3図乃至第5図に示すようにスリツト状16a、
点状16bまたは網状16cに構成したものであ
る。そして小絶縁膜群16間の各間隔15には金
属膜6が侵入している。
施例に基づいて説明する。この実施例は第2図に
示すようにエミツタ領域3の主表面4上に小さな
間隙15をおいて小絶縁膜群16を設けたもので
ある。これら小絶縁膜16はエミツタリード7の
結合位置の真下に設けられており、それぞれ従来
の絶縁膜5よりも幅寸法を小さくしたもので、第
3図乃至第5図に示すようにスリツト状16a、
点状16bまたは網状16cに構成したものであ
る。そして小絶縁膜群16間の各間隔15には金
属膜6が侵入している。
このように構成した半導体装置では、エミツタ
リード7の真下の金属膜6内に小絶縁膜群16を
形成しているので、逆バイアスASOを拡大する
ことができ、しかも各小絶縁膜群16間の間隔1
5に侵入した金属膜6とエミツタ領域3との境界
には熱処理によつて薄く合金層が形成され、両者
は強固に結合されるので、エミツタリード7を金
属膜6に結合した際にその結合部分の金属膜6が
剥れることがなく、製造時における歩留りを向上
させることができる。
リード7の真下の金属膜6内に小絶縁膜群16を
形成しているので、逆バイアスASOを拡大する
ことができ、しかも各小絶縁膜群16間の間隔1
5に侵入した金属膜6とエミツタ領域3との境界
には熱処理によつて薄く合金層が形成され、両者
は強固に結合されるので、エミツタリード7を金
属膜6に結合した際にその結合部分の金属膜6が
剥れることがなく、製造時における歩留りを向上
させることができる。
上記の実施例ではNPNのトランジスタのエミ
ツタ領域にこの考案を実施したが、PNPのトラ
ンジスタのエミツタ領域にも実施できるし、サイ
リスタのカソード領域にも実施できる。さらに小
絶縁膜群16の点状のもの16bはそれぞれ平面
形状を矩形としたが、円形のものとしてもよい。
ツタ領域にこの考案を実施したが、PNPのトラ
ンジスタのエミツタ領域にも実施できるし、サイ
リスタのカソード領域にも実施できる。さらに小
絶縁膜群16の点状のもの16bはそれぞれ平面
形状を矩形としたが、円形のものとしてもよい。
第1図は従来の半導体装置の縦断面図、第2図
はこの発明による半導体装置の縦断面図、第3図
乃至第5図はそれぞれ同半導体装置に用いる小絶
縁膜群の平面図である。 3……領域、4……一表面、6……電極金属
膜、7……リード、16……小絶縁膜群。
はこの発明による半導体装置の縦断面図、第3図
乃至第5図はそれぞれ同半導体装置に用いる小絶
縁膜群の平面図である。 3……領域、4……一表面、6……電極金属
膜、7……リード、16……小絶縁膜群。
Claims (1)
- 1 半導体の一表面上に導電形式を異にする複数
の領域を有し、この各領域上にそれぞれ電極金属
膜を被着した半導体装置において少くとも一部の
上記電極金属膜と上記半導体との間に、複数に分
断された絶縁膜群を介在させ、当該電極金属膜に
対するリードを上記分断された絶縁膜群の真上に
おいて結合したことを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57224572A JPS59113655A (ja) | 1982-12-20 | 1982-12-20 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57224572A JPS59113655A (ja) | 1982-12-20 | 1982-12-20 | 半導体装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59113655A JPS59113655A (ja) | 1984-06-30 |
| JPH0144015B2 true JPH0144015B2 (ja) | 1989-09-25 |
Family
ID=16815853
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57224572A Granted JPS59113655A (ja) | 1982-12-20 | 1982-12-20 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59113655A (ja) |
-
1982
- 1982-12-20 JP JP57224572A patent/JPS59113655A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59113655A (ja) | 1984-06-30 |
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