JPH0147730B2 - - Google Patents

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JPH0147730B2
JPH0147730B2 JP55084466A JP8446680A JPH0147730B2 JP H0147730 B2 JPH0147730 B2 JP H0147730B2 JP 55084466 A JP55084466 A JP 55084466A JP 8446680 A JP8446680 A JP 8446680A JP H0147730 B2 JPH0147730 B2 JP H0147730B2
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JP
Japan
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memory
particle
particle size
size distribution
read
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JP55084466A
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English (en)
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JPS5710437A (en
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Norihiro Okada
Masayoshi Hayashi
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Sysmex Corp
Original Assignee
Sysmex Corp
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Publication date
Application filed by Sysmex Corp filed Critical Sysmex Corp
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06MCOUNTING MECHANISMS; COUNTING OF OBJECTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G06M11/00Counting of objects distributed at random, e.g. on a surface
    • G06M11/02Counting of objects distributed at random, e.g. on a surface using an electron beam scanning a surface line by line, e.g. of blood cells on a substrate
    • G06M11/04Counting of objects distributed at random, e.g. on a surface using an electron beam scanning a surface line by line, e.g. of blood cells on a substrate with provision for distinguishing between different sizes of objects

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕 本発明は、血球などの粒子を分析する粒子分析
装置、詳しくは種々の粒子分布曲線の差異を明確
に表示および/または記録するようにし、異状な
検体または異状な測定値を明確かつ迅速に検知で
きるような異状項目表示、記録機能を備えた粒子
分析装置に関するものである。 〔従来の技術〕 従来、血球などの粒子のサイズ分布状態から病
気の診断をする必要が正じ、あるいは工業分野に
おける粉体の凝集などの判断をする必要が生じ、
従来、一般に用いられている電子式血球計数装置
の粒子検出信号の大きさが粒子のサイズに比例す
ることにより、多数の閾値を設けて粒子のサイズ
の分布状態を測定することができるようになつ
た。しかしながら現状においては、粒子の粒度分
布を記録するにとどまり、その後の多数試料間の
差異、正常な分布との相違などは、直接目で確認
するだけであり、あるいは分布曲線を得る以前の
数値データを統計演算し、この数値による比較で
あるので、その判断に熟練を要するものであつ
た。とくに病院の検査室などにおいては、赤血球
の粒度分布によつて大球性正色素性貧血、小球性
低色素性貧血などの症例が診断されることが可能
であるが、通常は平均的な値であるMCV(平均赤
血球体積)、MCH(平均赤血球ヘモグロビン量)、
MCHC(平均赤血球ヘモグロビン濃度)などの赤
血球恒数と称される血球のパラメータによつて診
断されることが多い。したがつて粒度分布曲線の
相違を適確に判断して診断の材料とすることは、
情報量が少ないから勘に頼ることが多く、適正な
方法であるとは言えない。 したがつて、上記の粒度分布曲線から得られる
ピークの位置や分布曲線の形状、幅などのパラメ
ータが正常のものからずれているや否かなどの判
定はさらに困難であり、これらの判定は種々の統
計演算またはグラフへのプロツトの後に始めて得
られるもので、多くの人手と時間を要するもので
あつた。 本発明者らは上記の点に鑑み、粒子検出装置
と、比較回路と、信号発生回路と、演算・制御回
路と、読出専用メモリと、読出書込メモリと、入
力装置と、表示装置と、記録装置とを組み合わ
せ、読出書込メモリ第一メモリ、第二メモリおよ
び第三メモリから構成した粒子分析装置を開発
し、特願昭54−165008号(特開昭56−87841号)
として特許出願している。 〔発明が解決しようとする問題点〕 しかしながら、上記の特願昭54−165008号の粒
子分析装置においては、第三メモリまでしかな
く、一回のスキヤンで目的とするグラフを記録、
表示することができないという問題点があつた。 本発明は上記の諸点に鑑みなされたもので、上
記問題点を解消して明確な粒度分布の差異を迅速
に表示および/または記録できるだけでなく、統
計演算結果が予め定められた粒度分布曲線の範囲
内にあるか否かを明確に判定できるように粒子分
析装置の提供を目的とするものである。 〔問題点を解決するための手段〕 本発明の粒子分析装置は、図面を参照して説明
すれば、粒子と粒子浮懸液との電気的差異または
光学的差異に基づいて粒子を検出し粒子の大きさ
に比例した信号を発生する粒子検出装置1と、こ
の粒子検出装置からの粒子信号に対して連続した
複数個の閾値を有する比較回路2と、この比較回
路の出力信号により粒子の大きさを表わす信号を
発生させる信号発生回路3と、この信号発生回路
に接続され統計演算処理を行う演算・制御回路4
と、この演算・制御回路に接続され演算や制御順
序が記憶された読出専用メモリ5と、前記演算・
制御回路に接続された読出書込メモリ14、入力
装置10、表示装置12および/または記録装置
13とを包含し、前記読出専用メモリ14は第一
メモリ6、第二メモリ7、第三メモリ8および第
四メモリ9からなり、第一メモリ6には累積粒度
分布または通常の粒度分布の個数分布が記憶さ
れ、第二メモリ7には%表示の粒度分布が記憶さ
れ、第三メモリ8には異なつた試料による粒度分
布間の差異、または同一試料を繰り返して測定し
た際の各種パラメータの偏差が記憶され、第四メ
モリ9には所定の正常値の幅を統計演算結果で指
定しかつ異状選択を行う項目が記憶され、統計演
算結果が正常値から外れた場合を検知して、正常
値から外れたことを表示または符号を付して誘度
分布曲線とともに表示および/または記録するよ
うにしてなることを特徴としている。 〔作用〕 粒子検出装置1の粒子信号が比較回路2に送ら
れると、その信号のピーク値またはピーク値まで
のコンパレータがオンし、つぎの回路にはコンパ
レータの数だけの出力端子で並列入力する。信号
発生回路3では、演算速度に合うように適当な分
周回路を端子数だけ並列接続するか、または一つ
のパルスについて演算中にはつぎの粒子信号の入
力を禁止するかにより、平均的な粒子パルス間隔
の比較信号とし、各端子についてスキヤン(走
査)して粒子のピーク値またはピーク値までのオ
ンしている回線を演算・制御回路4により、読出
専用メモリ5のプログラム順にしたがつて第一メ
モリ6に順次記憶させる。このとき粒子のピーク
値について記憶させたものは通常の粒度分布曲線
であり、ピーク値までのオンしている回線のすべ
てを各粒子について記憶させたものは累積の粒度
分布曲線となる。第一メモリ6の各番地は、粒子
サイズすなわち閾値に対応するものであり、各番
地には粒子の個数が記憶される。所定の粒子浮懸
液の体積あるいは所定の時間の測定が終了する
と、読出専用メモリ5の演算順序にしたがつて第
一メモリ6の各番地が順次呼び出され、(1)粒子の
総個数、(2)累積粒度分布の形で記憶されていると
きには隣接する番地間の粒子数の差、通常の粒度
分布のときはその番地における粒子数を読み出し
(1)の粒子の総個数で割り算を行い、(3)第二メモリ
7の対応する各番地に演算結果を記憶させる、と
いう操作が行われ、%表示の粒度分布曲線が得ら
れる。 〔実施例〕 以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明す
る。第1図は本発明の粒子分析装置の一実施例を
示す系統的説明図である。本例の粒子分析装置
は、粒子と粒子浮懸液との電気的差異または光学
的差異に基づいて粒子を検出し粒子の大きさに比
例した信号を発生する粒子検出装置1と、この粒
子検出装置1からの粒子信号に対して連続した複
数個、たとえば50個あるいは100個の閾値を有す
る比較回路2と、この比較回路2の出力信号によ
り粒子の大きさを表わす信号を発生させる信号発
生回路3と、この信号発生回路3に接続され統計
演算処理を行う演算・制御回路4と、この演算・
制御回路4に接続され演算や制御順序が記憶され
た読出専用メモリ5と、前記演算・制御回路4に
接続された読出書込メモリ、入力装置10、表示
装置12および/または記録装置13からなる出
力装置11とを包含している。前記読出書込メモ
リは第一メモリ6、第二メモリ7、第三メモリ8
および第四メモリ9からなり、第一メモリ6には
累積粒度分布または通常の粒度分布の個数分布を
記憶させ、第二メモリ7には%表示の粒度分布を
記憶させ、第三メモリ8には異なつた試料による
粒度分布間の差異、または同一試料を繰り返して
測定した際の各種パラメータの偏差を記憶させる
ようにしている。なお読出書込メモリは理解を容
易にするために別々に設けて図示しているが、一
個の読出書込メモリ14として第一メモリ6、第
二メモリ7、第三メモリ8および第四メモリ9を
各エリアに分割するように構成してもよい。 上記のように構成された粒子分析装置におい
て、粒子検出装置1の粒子信号が比較回路2に送
られると、その信号のピーク値またはピーク値ま
でのコンパレータがオンし、つぎの回路にはコン
パレータの数だけの出力端子で並列入力する。信
号発生回路3では、演算速度に合うように適当な
分周回路を端子数だけ並列接続するか、または一
つのパルスについて演算中にはつぎの粒子信号の
入力を禁止するかにより、平均的な粒子パルス間
隔の比較信号とし、各端子についてスキヤン(走
査)して粒子のピーク値またはピーク値までのオ
ンしている回線を演算・制御回路4により、読出
専用メモリ5のプログラム順にしたがつて第一メ
モリ6に順次記憶させる。このとき粒子のピーク
値について記憶させたものは通常の粒度分布曲線
であり、ピーク値までのオンしている回線のすべ
てを各粒子について記憶させたものは累積の粒度
分布曲線となる。第一メモリ6の各番地は、粒子
サイズすなわち閾値に対応するものであり、各番
地には粒子の個数が記憶される。所定の粒子浮懸
液の体積あるいは所定の時間の測定が終了する
と、読出専用メモリ5の演算順序にしたがつて第
一メモリ6の各番地が順次呼び出され、(1)粒子の
総個数、(2)累積粒度分布の形で記憶されていると
きには隣接する番地間の粒子数の差、通常の粒度
分布のときはその番地における粒子数を読み出し
(1)の粒子の総個数で割り算を行い、(3)第二メモリ
7の対応する各番地に演算結果を記憶させる、と
いう操作が行われ、%表示の粒度分布曲線が得ら
れる。 以上は一つの試料(一検体)についてである
が、各メモリ6,7の残りのスペースに他の試料
(検体)について同様の測定、演算を行うことに
より、10,20または数十の試料についてのデ
ータが記憶される。これらのデータは各々第2図
に示すような形で出力装置11の表示装置12お
よび/または記憶装置13によつて表示および/
または記憶することができる。また第3図のよう
な形で重ね合わせの表示および/または記録が可
能であるが、グラフ上の各点に対応する第三メモ
リ8に一度記憶させておかないと、記録させると
きに記録用紙(ペーパー)を何度かスキヤンさせ
る必要がある。表示のときも同様である(繰り返
し第三メモリ8をスキヤンすることによつて表示
が可能となる)。なお第2図および第3図におい
て、3001、3002、3003、3004は試料番号を示して
いる。 第四メモリ9は本発明の主要な動作のために用
いられる。本発明の装置は第1表のような数値を
演算処理し、記録および/または表示することが
できる。
【表】
【表】 この測定にあたつては、まず入力装置10から
演算処理する指令を入力させると、第2表に示す
ような表示が出力装置11の表示装置12になさ
れる。
【表】 第2表においては、MINは正常範囲の下限値、
MAXは正常範囲の上限値で、MINより小さくて
も、またはMAXより大きくても異状であること
を示している。また番号と項目との間のΓ印は、
入力装置10から選択を行つた項目についての表
示であり、さらに必要に応じて各項目の最小値
(MIN)および最大値(MAX)の値を変えるこ
とができる。本例では、1、3、4、18、19、
20、21、22、23の項目についての異状選択を行う
ことが指定され、第四メモリ9にその旨記憶され
る。続いて数十検体についての測定が行われ、第
二メモリ7には各検体の粒度分布曲線に関する情
報が記憶され、この情報に基づいて第四メモリ9
に記憶された項目についての演算が各検体につい
て行われ、同時に第四メモリ9内に記憶される。
なお第2表において、項目の19以降は第1表に説
明されていない項目であるが、血球パラメータと
して粒子検出装置1から線路15を通じ他の情報
を同時に第四メモリ9に記憶させたものである。
第2表において、WBCは白血球数、RBCは赤血
球数、HGBはヘモグロビン値、HCTはヘマトリ
ツト値、MCVは平均赤血球体積、MCHは平均
赤血球ヘモグロビン値、MCHCは平均赤血球ヘ
モグロビン濃度である。 さて以上のようにして行われた測定に対し、た
とえば予め指定した範囲を超える測定分だけを出
力し記録装置13でデータ用紙に記録させるに
は、その指令を入力装置10から行い、演算・制
御回路4によつて第四メモリ9内をスキヤンし、
予め定められた最大値、最小値を外れる検体を選
び出す。それらを順次記録装置13で記録する。
第4図は異状として選び出された検体の記録結果
の一例であり、記録する前に、一度第四メモリ9
に記録される形での情報が記憶され、記憶装置1
3のスキヤンニング順に従つて各プロツト点が呼
び出されてプロツトされる。勿論第4図の粒度分
布曲線は、第二メモリ7の記憶されているデータ
を演算・制御回路4によつて読み出し、第三メモ
リ8に一時記憶がなされる。なお記録と同時に表
示することも可能である。たとえば第4図の右上
に示すようなアブノーマル(abnormal)の表示
a、または項目が異状であるかを示す第3表のよ
うな表示も可能である。この第3表に示す表示
は、第4図に隣接して表示される。異状を表わす
表示はΓ印の外に赤色などで印字したり、その他
の符号(マーク)を付すようにしてもよい。
〔発明の効果〕
本発明は上記のように構成されているので、つ
ぎのように効果が奏せられる。すなわち、第2メ
モリに記憶されている複数の粒度分布を第3図の
ように重ね合わせて表示・記憶するときに、第2
メモリに記憶されているままでは、異なる粒度分
布を記録する度ごとに記録用紙をスキヤンさせな
ければならない。また表示するときも同様であ
る。しかるに、第3メモリには複数の粒度分布を
重ね合わせた結果が記憶されているので、一回の
スキヤンで第3図のようなグラフを記録・表示す
ることができる。このような第3メモリの機能は
前記の特願昭54−165008号の装置は、有していな
かつた。 また前記の第2表に示されるもののうち、いず
れの項目について異状選択を行うかが記憶され
る。この機能がないと、測定の度ごとにいずれの
項目について異状選択を行うかを指定しなければ
ならないか、またはこの装置で異状判定する項目
は固定され、変更できなくなる。最小値および最
大値の記憶についても同様である。また第4メモ
リに多検体の演算結果が記憶されているので、第
4メモリ内を一度スキヤンすると、正常値を外れ
る検体を容易に選びだすことができる。第4図の
ような異状として選び出された検体の情報も、記
録される前に第4メモリに記憶される。その結
果、第4メモリ内の該当記憶箇所を一回スキヤン
するだけで、第4図のようなグラフが記録・表示
される。これらも前記の特願昭54−165008号の装
置には無かつた機能である。 したがつて、本発明の粒子分析装置によれば、
必要な項目のみに予め正常値の範囲を設定するこ
とによつて、各項目があたかも粒度分布曲線の正
常値の幅を図上に設定したかのような効果が得ら
れ、このため粒度分布曲線そのものを見てある幅
から外れているかどうかを判定するよりもはるか
に正確かつ迅速、確実に異状を検出することがで
きる。 なお本発明の粒子分析装置は、血球に関する分
析の分野の外に、工業分野において応用すること
ができ、また排水の監視などにも利用することが
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の粒子分析装置の一実施例を示
す系統的説明図、第2図〜第4図は測定例を示す
グラフである。 1……粒子検出装置、2……比較回路、3……
信号発生回路、4……演算・制御回路、5……読
出専用メモリ、6……第一メモリ、7……第二メ
モリ、8……第三メモリ、9……第四メモリ、1
0……入力装置、11……出力装置、12……表
示装置、13……記録装置、14……読出書込メ
モリ、15……線路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 粒子と粒子浮懸液との電気的差異または光学
    的差異に基づいて粒子を検出し粒子の大きさに比
    例した信号を発生する粒子検出装置と、この粒子
    検出装置からの粒子信号に対して連続した複数個
    の閾値を有する比較回路と、この比較回路の出力
    信号により粒子の大きさを表わす信号を発生させ
    る信号発生回路と、この信号発生回路に接続され
    統計演算処理を行う演算・制御回路と、この演
    算・制御回路に接続され演算や制御順序が記憶さ
    れた読出専用メモリと、前記演算・制御回路に接
    続された読出書込メモリ、入力装置、表示装置お
    よび/または記録装置とを包含し、前記読出書込
    メモリは第一メモリ、第二メモリ、第三メモリお
    よび第四メモリからなり、第一メモリには累積粒
    度分布または通常の粒度分布の個数分布が記憶さ
    れ、第二メモリには%表示の粒度分布が記憶さ
    れ、第三メモリには異なつた試料による粒度分布
    間の差異、または同一試料を繰り返して測定した
    際の各種パラメータの偏差が記憶され、第四メモ
    リには所定の正常値の幅を統計演算結果で指定し
    かつ異状選択を行う項目が記憶され、統計演算結
    果が正常値から外れた場合を検知して、正常値か
    ら外れたことを表示または符号を付して粒度分布
    曲線とともに表示および/または記録するように
    してなることを特徴とする粒子分析装置。
JP8446680A 1980-06-20 1980-06-20 Particle analyzer Granted JPS5710437A (en)

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