JPH0155415B2 - - Google Patents
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- JPH0155415B2 JPH0155415B2 JP56176818A JP17681881A JPH0155415B2 JP H0155415 B2 JPH0155415 B2 JP H0155415B2 JP 56176818 A JP56176818 A JP 56176818A JP 17681881 A JP17681881 A JP 17681881A JP H0155415 B2 JPH0155415 B2 JP H0155415B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspected
- marking
- metal wire
- output
- stop signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/048—Marking the faulty objects
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、通路中を搬送される被検査体から
例えば傷等の異状部分を検出し、その異常部分の
搬送方向前方側の一定長の部分に印を付けるマー
キング装置に関する。
例えば傷等の異状部分を検出し、その異常部分の
搬送方向前方側の一定長の部分に印を付けるマー
キング装置に関する。
この種のマーキング装置は、例えば金属線の製
造ラインにおける検査工程等においてその欠陥個
所を検出して印を付けるために用いられるもので
あり、その概略構成を第１図に示す。この第１図
に示すマーキング装置１は、伸線機２から引き出
された金属線３（製品すなわち被検査体）を巻取
機４によつて巻き取るものにおいて、伸線機２と
巻線機４との間の金属線３の通路に沿つて設けら
れるセンサ５によつて金属線３の傷等の異状個所
を検出し、もし異状個所があれば、センサ５の出
力に基づいて、このセンサ５から金属線３の搬送
方向（矢印Ａ方向）下流に設けられたマーカ６
（例えば塗料を吹き付ける装置、マーキング手段）
を駆動させて金属線３の前記異状個所に塗料等に
より印を付ける（マーキングする）ようにしたも
のである。
造ラインにおける検査工程等においてその欠陥個
所を検出して印を付けるために用いられるもので
あり、その概略構成を第１図に示す。この第１図
に示すマーキング装置１は、伸線機２から引き出
された金属線３（製品すなわち被検査体）を巻取
機４によつて巻き取るものにおいて、伸線機２と
巻線機４との間の金属線３の通路に沿つて設けら
れるセンサ５によつて金属線３の傷等の異状個所
を検出し、もし異状個所があれば、センサ５の出
力に基づいて、このセンサ５から金属線３の搬送
方向（矢印Ａ方向）下流に設けられたマーカ６
（例えば塗料を吹き付ける装置、マーキング手段）
を駆動させて金属線３の前記異状個所に塗料等に
より印を付ける（マーキングする）ようにしたも
のである。
ところで、従来のこの種のマーキング装置１に
おいては、センサ５が傷等を検出すると、タイマ
等の時間遅延装置（図示せず）が起動され、この
時間遅延装置の出力に基づいてマーカ６が駆動さ
れるようになつているものが一般的であつた。こ
の場合、マーカ６を前記傷等が検出された時点か
ら所定の一定時間（例えば金属線３上の１点がセ
ンサ５の位置からマーカ６の位置まで移動するに
要する時間）だけ駆動させる方法とか、あるいは
マーカ６を前記傷等が検出された時点から前記所
定の一定時間経た後の所定時間だけ駆動させる方
法等があるが、上記いずれの方法においても、金
属線３の搬送速度が一定である場合には正確なマ
ーキングを行なうことが可能であるものの、金属
線３の搬送速度が変化する場合にはマーキング位
置がその搬送速度に応じて搬送方向の前後にずれ
るため、正確なマーキングを行なえなくなるとい
う欠点がある。また第１図に示したような金属線
の製造ラインにおいては、金属線の搬送速度は一
般的に大きく変化するものである。
おいては、センサ５が傷等を検出すると、タイマ
等の時間遅延装置（図示せず）が起動され、この
時間遅延装置の出力に基づいてマーカ６が駆動さ
れるようになつているものが一般的であつた。こ
の場合、マーカ６を前記傷等が検出された時点か
ら所定の一定時間（例えば金属線３上の１点がセ
ンサ５の位置からマーカ６の位置まで移動するに
要する時間）だけ駆動させる方法とか、あるいは
マーカ６を前記傷等が検出された時点から前記所
定の一定時間経た後の所定時間だけ駆動させる方
法等があるが、上記いずれの方法においても、金
属線３の搬送速度が一定である場合には正確なマ
ーキングを行なうことが可能であるものの、金属
線３の搬送速度が変化する場合にはマーキング位
置がその搬送速度に応じて搬送方向の前後にずれ
るため、正確なマーキングを行なえなくなるとい
う欠点がある。また第１図に示したような金属線
の製造ラインにおいては、金属線の搬送速度は一
般的に大きく変化するものである。
このように従来のこの種のマーキング装置にお
いては、被検査体の搬送速度が変化すると、その
異状個所への正確なマーキングが行なえなくなる
という欠点があつた。
いては、被検査体の搬送速度が変化すると、その
異状個所への正確なマーキングが行なえなくなる
という欠点があつた。
この発明は以上のような事情に鑑みてなされた
もので、被検査体の搬送速度が変化しても、同被
検査体の異常個所に正確にマーキングを行なうこ
とができるマーキング装置を提供することを目的
としている。
もので、被検査体の搬送速度が変化しても、同被
検査体の異常個所に正確にマーキングを行なうこ
とができるマーキング装置を提供することを目的
としている。
以下、この発明の実施例を図面を参照して説明
する。
する。
第２図は、この発明を、金属線の製造ラインに
おける検査工程に適用した場合の一実施例の構成
を示すものであり、この図において第１図の各部
に対応する部分には同一の符号を付してその説明
を省略する。第２図において、５は渦流探傷コイ
ル（センサ）であり、この渦流探傷コイル５は、
同コイルの磁心部を貫通して搬送される金属線３
（被検査体）に傷等の異状個所があるとそのイン
ピーダンスが変化するものである。探傷回路７は
上記渦流探傷コイル５のインピーダンスの変化を
検出し、そのインピーダンスが変化した場合に
“１”のパルス信号を出力するように構成された
回路である。８は金属線３が搬送される距離を検
出するために設けられた搬送距離検出部である。
この搬送距離検出部８において、９はローラであ
り、このローラ９は、その外周面が金属線３に圧
接されると共に、金属線３が矢印Ａ方向に搬送さ
れる場合に、前記外周面と金属線３との間にスリ
ツプを発生せずに回転するように支持されてい
る。そしてこの場合このローラ９は、金属線３が
矢印Ａ方向に１ｍ搬送されると１回転するもので
ある。パルスゼネレータ１０はローラ９の回転量
をその回転量に対応するパルス数のパルス列信号
に変換するものであり、この場合、パルスゼネレ
ータ１０からはローラ９が１回転すると100パル
スのパルス列信号が出力される。次に１１は、渦
流探傷コイル５が金属線３に傷等の異状個所を検
出した時点から、同異常個所がマーカ６の近傍の
所定の個所まで到達する間、マーカ６を駆動する
ように構成された制御回路である。この制御回路
１１において、インバータ１２―０とJKフリツ
プフロツプ１２―１〜１２―２０とからなる部分
は20段のシフトレジスタ１２を構成している。こ
のシフトレジスタ１２の入力点ははJKフリツプ
フロツプ１２―１のセツト入力端子Ｊとインバー
タ１２―０の入力端子との接続点であり、この入
力点には前述した探傷回路７の出力信号が供給さ
れている。また従続接続された1/2分周器１３，
１４は前述したパルスゼネレータ１０の出力を分
周するための分周器であり、1/2分周器１４の出
力からは、パルスゼネレータ１０が出力するパル
スの数の1/4の数のパルスが出力される。そして
この1/2分周器１４が出力するパルス列信号は前
記シフトレジスタ１２へシフトパルスとして供給
されている。また１５はロータリー式の切換スイ
ツチであり、この切換スイツチ１５は、シフトレ
ジスタ１２におけるJKフリツプフロツプ１２―
１１〜１２―２０の各セツト出力端子Ｑに得られ
る信号を択一的に取り出すためのものである。ま
た１６はマーカ６の動作タイミングを決定する
SR型のフリツプフロツプであり、このフリツプ
フロツプ１６は、そのセツト入力端子Ｓに探傷回
路７から“１”信号が供給されるとセツトされ、
またそのリセツト入力端子Ｒに切換スイツチ１５
を介して“１”信号が供給されるとリセツトされ
る。そして、このフリツプフロツプ１６のセツト
出力端子Ｑの信号はゲート回路１７に供給されて
いる。一方、停止信号発生回路１８はパルスゼネ
レータ１０が所定時間内に予め設定された所定数
以上のパルスを出力している時にのみ、すなわち
金属線３が所定速度（下限速度）以上の速度で搬
送されている場合にのみ“１”信号を出力し、そ
れ以外の場合、すなわち金属線３が極めて低速で
搬送されている場合あるいは停止している場合、
は“０”信号を出力する回路である。そしてこの
停止信号発生回路１８の出力は前記ゲート回路１
７へ供給される。このゲート回路１７は、前記フ
リツプフロツプ１６の出力信号と停止信号発生回
路１８の出力信号とをアンドし、これらの信号が
共に“１”信号の場合にのみ“１”信号を出力す
るものである。そしてこのゲート回路１７が出力
する“１”信号によりマーカ６が駆動されるよう
になつている。
おける検査工程に適用した場合の一実施例の構成
を示すものであり、この図において第１図の各部
に対応する部分には同一の符号を付してその説明
を省略する。第２図において、５は渦流探傷コイ
ル（センサ）であり、この渦流探傷コイル５は、
同コイルの磁心部を貫通して搬送される金属線３
（被検査体）に傷等の異状個所があるとそのイン
ピーダンスが変化するものである。探傷回路７は
上記渦流探傷コイル５のインピーダンスの変化を
検出し、そのインピーダンスが変化した場合に
“１”のパルス信号を出力するように構成された
回路である。８は金属線３が搬送される距離を検
出するために設けられた搬送距離検出部である。
この搬送距離検出部８において、９はローラであ
り、このローラ９は、その外周面が金属線３に圧
接されると共に、金属線３が矢印Ａ方向に搬送さ
れる場合に、前記外周面と金属線３との間にスリ
ツプを発生せずに回転するように支持されてい
る。そしてこの場合このローラ９は、金属線３が
矢印Ａ方向に１ｍ搬送されると１回転するもので
ある。パルスゼネレータ１０はローラ９の回転量
をその回転量に対応するパルス数のパルス列信号
に変換するものであり、この場合、パルスゼネレ
ータ１０からはローラ９が１回転すると100パル
スのパルス列信号が出力される。次に１１は、渦
流探傷コイル５が金属線３に傷等の異状個所を検
出した時点から、同異常個所がマーカ６の近傍の
所定の個所まで到達する間、マーカ６を駆動する
ように構成された制御回路である。この制御回路
１１において、インバータ１２―０とJKフリツ
プフロツプ１２―１〜１２―２０とからなる部分
は20段のシフトレジスタ１２を構成している。こ
のシフトレジスタ１２の入力点ははJKフリツプ
フロツプ１２―１のセツト入力端子Ｊとインバー
タ１２―０の入力端子との接続点であり、この入
力点には前述した探傷回路７の出力信号が供給さ
れている。また従続接続された1/2分周器１３，
１４は前述したパルスゼネレータ１０の出力を分
周するための分周器であり、1/2分周器１４の出
力からは、パルスゼネレータ１０が出力するパル
スの数の1/4の数のパルスが出力される。そして
この1/2分周器１４が出力するパルス列信号は前
記シフトレジスタ１２へシフトパルスとして供給
されている。また１５はロータリー式の切換スイ
ツチであり、この切換スイツチ１５は、シフトレ
ジスタ１２におけるJKフリツプフロツプ１２―
１１〜１２―２０の各セツト出力端子Ｑに得られ
る信号を択一的に取り出すためのものである。ま
た１６はマーカ６の動作タイミングを決定する
SR型のフリツプフロツプであり、このフリツプ
フロツプ１６は、そのセツト入力端子Ｓに探傷回
路７から“１”信号が供給されるとセツトされ、
またそのリセツト入力端子Ｒに切換スイツチ１５
を介して“１”信号が供給されるとリセツトされ
る。そして、このフリツプフロツプ１６のセツト
出力端子Ｑの信号はゲート回路１７に供給されて
いる。一方、停止信号発生回路１８はパルスゼネ
レータ１０が所定時間内に予め設定された所定数
以上のパルスを出力している時にのみ、すなわち
金属線３が所定速度（下限速度）以上の速度で搬
送されている場合にのみ“１”信号を出力し、そ
れ以外の場合、すなわち金属線３が極めて低速で
搬送されている場合あるいは停止している場合、
は“０”信号を出力する回路である。そしてこの
停止信号発生回路１８の出力は前記ゲート回路１
７へ供給される。このゲート回路１７は、前記フ
リツプフロツプ１６の出力信号と停止信号発生回
路１８の出力信号とをアンドし、これらの信号が
共に“１”信号の場合にのみ“１”信号を出力す
るものである。そしてこのゲート回路１７が出力
する“１”信号によりマーカ６が駆動されるよう
になつている。
以上の構成におけるこの実施例の動作は次のよ
うになる。まず渦流探傷コイル５とマーカ６との
間の距離ｄが60cmに設定されているとし、また金
属線３は矢印Ａ方向に下限速度以上の速度で搬送
されているとする。この場合、パルスゼネレータ
１０からは金属線３が１ｍ搬送される毎に100パ
ルスが（すなわち１cm搬送される毎に１パルス
が）出力される。したがつて1/2分周器１４から
は金属線３が４cm搬送される毎に１パルスが出力
され、このパルス列信号がシフトレジスタ１２へ
シフトパルスとして供給される。またこの場合、
停止信号発生回路１８は“１”信号を出力してい
る。そして今、金属線３における渦流探傷コイル
５の磁心部を通過する部分に傷等の異状個所があ
つたとすると、探傷回路７は“１”のパルス信号
を出力する。この探傷回路７の出力はフリツプフ
ロツプ１６を直ちにセツトさせるので、ゲート回
路１７が“１”信号を出力するようになり、この
結果マーカ６は動作を開始する（すなわち金属線
３に塗料を吹き付けてマーキングを開始する）。
また探傷回路７が出力した前記“１”のパルス信
号はシフトレジスタ１２におけるJKフリツプフ
ロツプ１２―１にセツト条件を与え、1/2分周器
１４がパルス信号を出力した時点でこのJKフリ
ツプフロツプ１２―１をセツトさせる。このよう
にしてJKフリツプフロツプ１２―１に記憶され
た探傷回路７の出力は、1/2分周器１４がパルス
信号を出力する毎に、すなわち金属線３が４cm搬
送される毎に１ビツトずつシフトされてゆく。そ
して切換スイツチ１５により選択されているJK
フリツプフロツプの出力が“１”になると、その
出力によりフリツプフロツプ１６がリセツトさ
れ、この結果マーカ６の動作は停止される。以上
の動作において、選択スイツチ１５の設定位置
を、前記異状個所が渦流探傷コイル５からマーカ
６までの間（この間は前述したように60cmであ
る）を搬送される間に、シフトレジスタ１２が行
なうシフト数（60cm／４cm＝15）に対応させてJKフリ ツプフロツプ１２―１５のセツト出力端子Ｑとす
れば、マーカ６は、渦流探傷コイル５が前記異状
個所を検出した時点に動作開始し、この時点から
金属線３が略４cm×15＝60cm搬送された時点で動
作終了する。したがつてこの場合の金属線３への
マーキングは、第３図に示すごとくに、金属線３
における異状個所Ｂの同金属線３の搬送方向前方
60cm付近から、この異状個所Ｂまでの間で行なわ
れ、異状個所Ｂはこのマーキング部分の金属線３
の搬送方向に対して図のように後端部に位置す
る。そして、この実施例によれば、このマーキン
グ部分の異状個所Ｂに対する相対位置およびその
搬送方向に対する長さは、前述したようにシフト
レジスタ１２におけるシフト数により決まり、こ
のシフト数は金属線３の搬送距離にしか関係しな
いから、金属線３の搬送速度が変化しても全く変
化しない。またこの装置では、金属線３の搬送速
度が前記下限速度より遅い場合や、マーキング中
に金属線３の搬送速度が下限速度以下に低下また
は停止した場合に、停止信号発生回路１８が停止
信号を発し、この信号を受けてゲート回路１７が
マーカ６の作動を阻止する構成となつているの
で、マーカ６が長時間作動し続けてマーキング剤
を浪費したり、マーキング過剰により金属線３に
悪影響を及ぼす等のおそれを防ぐことができる。
うになる。まず渦流探傷コイル５とマーカ６との
間の距離ｄが60cmに設定されているとし、また金
属線３は矢印Ａ方向に下限速度以上の速度で搬送
されているとする。この場合、パルスゼネレータ
１０からは金属線３が１ｍ搬送される毎に100パ
ルスが（すなわち１cm搬送される毎に１パルス
が）出力される。したがつて1/2分周器１４から
は金属線３が４cm搬送される毎に１パルスが出力
され、このパルス列信号がシフトレジスタ１２へ
シフトパルスとして供給される。またこの場合、
停止信号発生回路１８は“１”信号を出力してい
る。そして今、金属線３における渦流探傷コイル
５の磁心部を通過する部分に傷等の異状個所があ
つたとすると、探傷回路７は“１”のパルス信号
を出力する。この探傷回路７の出力はフリツプフ
ロツプ１６を直ちにセツトさせるので、ゲート回
路１７が“１”信号を出力するようになり、この
結果マーカ６は動作を開始する（すなわち金属線
３に塗料を吹き付けてマーキングを開始する）。
また探傷回路７が出力した前記“１”のパルス信
号はシフトレジスタ１２におけるJKフリツプフ
ロツプ１２―１にセツト条件を与え、1/2分周器
１４がパルス信号を出力した時点でこのJKフリ
ツプフロツプ１２―１をセツトさせる。このよう
にしてJKフリツプフロツプ１２―１に記憶され
た探傷回路７の出力は、1/2分周器１４がパルス
信号を出力する毎に、すなわち金属線３が４cm搬
送される毎に１ビツトずつシフトされてゆく。そ
して切換スイツチ１５により選択されているJK
フリツプフロツプの出力が“１”になると、その
出力によりフリツプフロツプ１６がリセツトさ
れ、この結果マーカ６の動作は停止される。以上
の動作において、選択スイツチ１５の設定位置
を、前記異状個所が渦流探傷コイル５からマーカ
６までの間（この間は前述したように60cmであ
る）を搬送される間に、シフトレジスタ１２が行
なうシフト数（60cm／４cm＝15）に対応させてJKフリ ツプフロツプ１２―１５のセツト出力端子Ｑとす
れば、マーカ６は、渦流探傷コイル５が前記異状
個所を検出した時点に動作開始し、この時点から
金属線３が略４cm×15＝60cm搬送された時点で動
作終了する。したがつてこの場合の金属線３への
マーキングは、第３図に示すごとくに、金属線３
における異状個所Ｂの同金属線３の搬送方向前方
60cm付近から、この異状個所Ｂまでの間で行なわ
れ、異状個所Ｂはこのマーキング部分の金属線３
の搬送方向に対して図のように後端部に位置す
る。そして、この実施例によれば、このマーキン
グ部分の異状個所Ｂに対する相対位置およびその
搬送方向に対する長さは、前述したようにシフト
レジスタ１２におけるシフト数により決まり、こ
のシフト数は金属線３の搬送距離にしか関係しな
いから、金属線３の搬送速度が変化しても全く変
化しない。またこの装置では、金属線３の搬送速
度が前記下限速度より遅い場合や、マーキング中
に金属線３の搬送速度が下限速度以下に低下また
は停止した場合に、停止信号発生回路１８が停止
信号を発し、この信号を受けてゲート回路１７が
マーカ６の作動を阻止する構成となつているの
で、マーカ６が長時間作動し続けてマーキング剤
を浪費したり、マーキング過剰により金属線３に
悪影響を及ぼす等のおそれを防ぐことができる。
なお、この実施例においては、渦流探傷コイル
５とマーカ６との間の距離を60cmとしたが、この
距離は任意に設定してよい。ただし、この場合は
その設定距離に合わせて切換スイツチ１５を操作
しマーキング部分の長さを適切に設定する必要が
ある。またこの実施例においては被検査体を金属
線として説明したが、被検査体としては通路中を
搬送して検査を行ない得るものであれば如何なる
ものでもよい。またセンサとしては渦流探傷コイ
ルに限らず搬送される被検査体から異状部分を検
出することができるものであれば如何なるもので
もよい。また参考までに以上に説明したこの実施
例における制御部１１の正面図（操作パネル）を
第４図に示しておく。
５とマーカ６との間の距離を60cmとしたが、この
距離は任意に設定してよい。ただし、この場合は
その設定距離に合わせて切換スイツチ１５を操作
しマーキング部分の長さを適切に設定する必要が
ある。またこの実施例においては被検査体を金属
線として説明したが、被検査体としては通路中を
搬送して検査を行ない得るものであれば如何なる
ものでもよい。またセンサとしては渦流探傷コイ
ルに限らず搬送される被検査体から異状部分を検
出することができるものであれば如何なるもので
もよい。また参考までに以上に説明したこの実施
例における制御部１１の正面図（操作パネル）を
第４図に示しておく。
以上説明したように、この発明によるマーキン
グ装置は、通路を搬送される被検査体から異状部
分を検出するためのセンサと、センサの下流側に
設けられた被検査体に印を付けるためのマーキン
グ手段と、被検査体の搬送距離に対応するパルス
列信号を出力する搬送距離検出手段と、前記セン
サの出力と搬送距離検出手段の出力とに基づき被
検査体における異常部分を検出した時点でマーキ
ング手段を駆動開始するとともに異常部分がマー
キング手段の近傍に到達した時点でマーキング手
段を駆動停止される制御回路と、搬送速度検出手
段の出力に基づき被検査体の搬送速度が一定値以
下になると停止信号を出力する停止信号発生回路
と、この停止信号発生回路が停止信号を発生して
いる間はマーキング手段を駆動させないゲート回
路とを具備しているので、被検査体の搬送速度が
変化した場合にも被検査体の異常個所の前方側一
定長部分に正確にマーキングが行なえるうえ、被
検査体が線材のように細いものであつても、異常
部分にのみ局部的にマーキングする構成に比べて
マーキングを視認しやすく、このマーキングの終
端に位置する異常部分の確認が容易である。さら
にこの装置では、被検査体の搬送速度が所定の下
限速度より遅い場合や、マーキング中に被検査体
の搬送速度が下限速度以下に低下または停止した
場合に、停止信号発生回路が停止信号を発しゲー
ト回路がマーキング手段の作動を阻止する構成と
なつているので、マーキング手段が長時間作動し
続けてマーキング剤等を浪費したり、マーキング
過剰により被検査体に悪影響を及ぼす等のおそれ
がない。
グ装置は、通路を搬送される被検査体から異状部
分を検出するためのセンサと、センサの下流側に
設けられた被検査体に印を付けるためのマーキン
グ手段と、被検査体の搬送距離に対応するパルス
列信号を出力する搬送距離検出手段と、前記セン
サの出力と搬送距離検出手段の出力とに基づき被
検査体における異常部分を検出した時点でマーキ
ング手段を駆動開始するとともに異常部分がマー
キング手段の近傍に到達した時点でマーキング手
段を駆動停止される制御回路と、搬送速度検出手
段の出力に基づき被検査体の搬送速度が一定値以
下になると停止信号を出力する停止信号発生回路
と、この停止信号発生回路が停止信号を発生して
いる間はマーキング手段を駆動させないゲート回
路とを具備しているので、被検査体の搬送速度が
変化した場合にも被検査体の異常個所の前方側一
定長部分に正確にマーキングが行なえるうえ、被
検査体が線材のように細いものであつても、異常
部分にのみ局部的にマーキングする構成に比べて
マーキングを視認しやすく、このマーキングの終
端に位置する異常部分の確認が容易である。さら
にこの装置では、被検査体の搬送速度が所定の下
限速度より遅い場合や、マーキング中に被検査体
の搬送速度が下限速度以下に低下または停止した
場合に、停止信号発生回路が停止信号を発しゲー
ト回路がマーキング手段の作動を阻止する構成と
なつているので、マーキング手段が長時間作動し
続けてマーキング剤等を浪費したり、マーキング
過剰により被検査体に悪影響を及ぼす等のおそれ
がない。
第１図は金属線の検査工程に適用されたマーキ
ング装置の概略構成図、第２図はこの発明を金属
線の検査工程に適用した場合の構成を示すブロツ
ク図、第３図は同実施例におけるマーキング結果
を示す図、第４図は同実施例における制御部の正
面図である。 １……マーキング装置、３……被検査体（金属
線）、５……センサ（渦流探傷コイル）、６……マ
ーカ（マーキング手段）、８……搬送距離検出手
段、１１……制御回路、１７……ゲート回路、１
８……停止信号発生回路。
ング装置の概略構成図、第２図はこの発明を金属
線の検査工程に適用した場合の構成を示すブロツ
ク図、第３図は同実施例におけるマーキング結果
を示す図、第４図は同実施例における制御部の正
面図である。 １……マーキング装置、３……被検査体（金属
線）、５……センサ（渦流探傷コイル）、６……マ
ーカ（マーキング手段）、８……搬送距離検出手
段、１１……制御回路、１７……ゲート回路、１
８……停止信号発生回路。
Claims (1)
- １ 被検査体の通路に沿つて設けられ、この通路
を搬送される前記被検査体から同被検査体におけ
る異常部分を検出するためのセンサと、前記通路
に沿つて前記センサから前記被検査体の搬送方向
下流に設けられ、前記被検査体に印を付けるため
のマーキング手段と、前記被検査体が前記通路を
搬送された距離に対応するパルス数のパルス列信
号を出力する搬送距離検出手段と、前記センサの
出力と前記搬送距離検出手段の出力とに基づいて
前記被検査体における異常部分を検出した時点で
前記マーキング手段を駆動開始するとともに、前
記異常部分がマーキング手段の近傍に到達した時
点でマーキング手段を駆動停止させる制御回路
と、前記搬送速度検出手段の出力に基づき被検査
体の搬送速度が一定値以下になると停止信号を出
力する停止信号発生回路と、前記停止信号発生回
路が停止信号を発生している間はマーキング手段
を駆動させないゲート回路とを具備することを特
徴とするマーキング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56176818A JPS5877658A (ja) | 1981-11-04 | 1981-11-04 | マ−キング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56176818A JPS5877658A (ja) | 1981-11-04 | 1981-11-04 | マ−キング装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5877658A JPS5877658A (ja) | 1983-05-11 |
| JPH0155415B2 true JPH0155415B2 (ja) | 1989-11-24 |
Family
ID=16020375
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56176818A Granted JPS5877658A (ja) | 1981-11-04 | 1981-11-04 | マ−キング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5877658A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2629713B2 (ja) * | 1987-07-15 | 1997-07-16 | 大同特殊鋼株式会社 | 伸線材の疵検出マーキング装置 |
| KR100663006B1 (ko) * | 2006-02-17 | 2006-12-28 | 엘에스전선 주식회사 | 선재 마킹 장치, 그것을 이용한 마킹 방법 및 마킹겸 길이측정 방법 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5238893B2 (ja) * | 1973-02-21 | 1977-10-01 | ||
| JPS5334755B2 (ja) * | 1973-09-10 | 1978-09-22 |
-
1981
- 1981-11-04 JP JP56176818A patent/JPS5877658A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5877658A (ja) | 1983-05-11 |
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