JPH0181583U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0181583U JPH0181583U JP1987176907U JP17690787U JPH0181583U JP H0181583 U JPH0181583 U JP H0181583U JP 1987176907 U JP1987176907 U JP 1987176907U JP 17690787 U JP17690787 U JP 17690787U JP H0181583 U JPH0181583 U JP H0181583U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- continuity
- board
- inspected
- measuring device
- inspecting
- Prior art date
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- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
第１図は本考案の一実施例の構成を示す断面図
、第２図は第１図に示す実施例の動作時の状態を
示す断面図である。 図において、１はプローブベース板、２は可動
板、４は導通測定器、５はプローブ、６は被検査
基板、７はパターン、８は制御装置である。
、第２図は第１図に示す実施例の動作時の状態を
示す断面図である。 図において、１はプローブベース板、２は可動
板、４は導通測定器、５はプローブ、６は被検査
基板、７はパターン、８は制御装置である。
Claims (1)
- 被検査プリント基板の連続した導体パターンに
接触すべき複数のプローブ間の導通を検出する導
通測定器を含むことを特徴とする基板検査用フイ
クスチヤ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987176907U JPH0181583U (ja) | 1987-11-18 | 1987-11-18 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987176907U JPH0181583U (ja) | 1987-11-18 | 1987-11-18 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0181583U true JPH0181583U (ja) | 1989-05-31 |
Family
ID=31468602
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1987176907U Pending JPH0181583U (ja) | 1987-11-18 | 1987-11-18 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0181583U (ja) |
-
1987
- 1987-11-18 JP JP1987176907U patent/JPH0181583U/ja active Pending