JPH0192365A - 真空蒸着又はスパッタ用酸化セリウム組成物 - Google Patents
真空蒸着又はスパッタ用酸化セリウム組成物Info
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- JPH0192365A JPH0192365A JP25029887A JP25029887A JPH0192365A JP H0192365 A JPH0192365 A JP H0192365A JP 25029887 A JP25029887 A JP 25029887A JP 25029887 A JP25029887 A JP 25029887A JP H0192365 A JPH0192365 A JP H0192365A
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- 229910000420 cerium oxide Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 26
- BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoceriooxy)cerium Chemical compound [Ce]=O.O=[Ce]=O BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 26
- 239000000203 mixture Substances 0.000 title claims abstract description 12
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 title claims abstract description 12
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 10
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 10
- 229910000416 bismuth oxide Inorganic materials 0.000 claims abstract description 6
- TYIXMATWDRGMPF-UHFFFAOYSA-N dibismuth;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Bi+3].[Bi+3] TYIXMATWDRGMPF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 6
- 238000002156 mixing Methods 0.000 claims abstract description 6
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 6
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 6
- 229910001928 zirconium oxide Inorganic materials 0.000 claims abstract description 6
- 229910000410 antimony oxide Inorganic materials 0.000 claims abstract description 5
- SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoyttriooxy)yttrium Chemical compound O=[Y]O[Y]=O SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 5
- VTRUBDSFZJNXHI-UHFFFAOYSA-N oxoantimony Chemical compound [Sb]=O VTRUBDSFZJNXHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 5
- ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L magnesium fluoride Chemical compound [F-].[F-].[Mg+2] ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims abstract description 4
- 229910001635 magnesium fluoride Inorganic materials 0.000 claims abstract description 4
- BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ta+5].[Ta+5] BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 4
- 229910001936 tantalum oxide Inorganic materials 0.000 claims abstract description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims abstract 2
- 239000008188 pellet Substances 0.000 claims description 11
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 claims description 6
- 239000000843 powder Substances 0.000 claims description 3
- 238000005477 sputtering target Methods 0.000 claims description 2
- 238000000465 moulding Methods 0.000 claims 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 claims 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 abstract description 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 12
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 9
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 7
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 5
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 3
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 2
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 2
- 235000010678 Paulownia tomentosa Nutrition 0.000 description 1
- 240000002834 Paulownia tomentosa Species 0.000 description 1
- 239000005083 Zinc sulfide Substances 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000975 co-precipitation Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000002309 gasification Methods 0.000 description 1
- 230000004313 glare Effects 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 239000008187 granular material Substances 0.000 description 1
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 230000003340 mental effect Effects 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000012788 optical film Substances 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
- 238000000859 sublimation Methods 0.000 description 1
- 230000008022 sublimation Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 229910052984 zinc sulfide Inorganic materials 0.000 description 1
- DRDVZXDWVBGGMH-UHFFFAOYSA-N zinc;sulfide Chemical compound [S-2].[Zn+2] DRDVZXDWVBGGMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、真空蒸着用及びスパッタ用酸化セリウム組成
物に関する。
物に関する。
元学、オプトエレクトロニクス等の分野で、化学的に安
定で可視域及び近赤外域で透明な高屈折率多層膜材料に
は酸化ジルコニウム、酸化チタン、酸化タンレμ、硫化
亜鉛等が使用さ九てきた。酸化セリウムの屈折率nは2
.1へ2.3(基板300°C)と高いにもかかわらず
、真空蒸着の際にガス化するとき強い昇華性のため蒸着
が不安定になったり、蒸着用ペレットが割nたりして高
品質膜が得にくかった。近年になって従来から多く行な
わnて来几ガラス基板への蒸着に加え、各種プラスチッ
クへの真空蒸着が行なわれるに至り友。各種プラスチッ
クへ光学多層膜を蒸着する場合、その構成膜に酸化セリ
ウムを用いるのは尚い屈折率と、蒸着時の加熱電力が少
なくて、蒸発物からの輻射熱が小さい等の利点があるた
め等の理由によるものである。
定で可視域及び近赤外域で透明な高屈折率多層膜材料に
は酸化ジルコニウム、酸化チタン、酸化タンレμ、硫化
亜鉛等が使用さ九てきた。酸化セリウムの屈折率nは2
.1へ2.3(基板300°C)と高いにもかかわらず
、真空蒸着の際にガス化するとき強い昇華性のため蒸着
が不安定になったり、蒸着用ペレットが割nたりして高
品質膜が得にくかった。近年になって従来から多く行な
わnて来几ガラス基板への蒸着に加え、各種プラスチッ
クへの真空蒸着が行なわれるに至り友。各種プラスチッ
クへ光学多層膜を蒸着する場合、その構成膜に酸化セリ
ウムを用いるのは尚い屈折率と、蒸着時の加熱電力が少
なくて、蒸発物からの輻射熱が小さい等の利点があるた
め等の理由によるものである。
しかし酸化セリウム単成分の蒸着用ペレットやグラニュ
ー金用いて真窒MNk行なう場合、突沸現象が生じる等
蒸発ガスが不安定で再現性も乏しいため良好なメヲ得に
くかった。
ー金用いて真窒MNk行なう場合、突沸現象が生じる等
蒸発ガスが不安定で再現性も乏しいため良好なメヲ得に
くかった。
又スパッタターゲットに酸化セリウム全屈いる場合には
、酸化セリウムが熱衝撃に弱い几め割nた9、ひびが入
つ九りすることがあり、ターゲット作成に特別の配λが
必要であった。
、酸化セリウムが熱衝撃に弱い几め割nた9、ひびが入
つ九りすることがあり、ターゲット作成に特別の配λが
必要であった。
本発明の目的は、こnらの欠点を改善した真空蒸着用又
はスパッタ用酸化セリウム組成物を提供することである
。
はスパッタ用酸化セリウム組成物を提供することである
。
本発明の特徴は酸化セリウムに含有する各種の蒸発物質
にある。そして酸化セリウムに酸化チタン、酸化イツト
リウム、酸化アルミニウム。
にある。そして酸化セリウムに酸化チタン、酸化イツト
リウム、酸化アルミニウム。
酸化メンタル、酸化アンチモン、7ツ化マグネンウム、
酸化ジルコニウム、酸化ビスマスの一種類或いは二種類
以上?混合し友ペレット又はスパッタターゲットを用い
、薄膜を形成することにある。
酸化ジルコニウム、酸化ビスマスの一種類或いは二種類
以上?混合し友ペレット又はスパッタターゲットを用い
、薄膜を形成することにある。
本発明において、真空蒸着用又はスパッタ用酸化セリウ
ム組成物の酸化チタン、酸化イツトリウム、酸化アルミ
ニウム、酸化タンタル、酸化アンチモン、フッ化マグネ
シウム、酸化ジルコニウム、酸化ビスマスの一種類又は
二種類以上を混合して用いる量は10重量%S50重量
■がi&も良好である。この範囲では真空蒸着用電子銃
の加熱電力も少なく丁み、良好な膜がイひられる。
ム組成物の酸化チタン、酸化イツトリウム、酸化アルミ
ニウム、酸化タンタル、酸化アンチモン、フッ化マグネ
シウム、酸化ジルコニウム、酸化ビスマスの一種類又は
二種類以上を混合して用いる量は10重量%S50重量
■がi&も良好である。この範囲では真空蒸着用電子銃
の加熱電力も少なく丁み、良好な膜がイひられる。
又混合して用いる量が0.51量%〜10重量%の範囲
でもほぼ同様の効果が認めらルる。
でもほぼ同様の効果が認めらルる。
本発明により酸化セリウムの持つ扁い屈折率を損なうこ
となく、より安定な再現性のある蒸着が可能になる。
となく、より安定な再現性のある蒸着が可能になる。
父本発明の酸化セリウム組成vlJを用いてスパッタを
行なうことによりスパッタターゲットは割れたり、ひび
が入ることなく安定し几条件で高い屈折率の高品質のF
A?形成できる。
行なうことによりスパッタターゲットは割れたり、ひび
が入ることなく安定し几条件で高い屈折率の高品質のF
A?形成できる。
〔実施例1〕
酸化セリウム(CeOz)に酸化チタンを25重量%添
加し、充分混合して200kg/dの圧力でプレス成形
した後約1300°Cで2時間焼結を行なって蒸着用ペ
レットを得た。電子銃加熱蒸着装置に装填して真空蒸着
2行なった。真空度1.5x 10torrになるまで
排気後背板ガラス(屈折率n=1.51)基板上に(基
板温度が300°C)酸素を注入しながら真空度8X1
0−5torご光学的膜厚nd(n=屈折率、d=膜厚
)が2/4(λ=520nm)となるまで蒸着した。こ
のとき加熱されたペレットは割れず、突沸現象を生じな
かった。又電子銃加熱出力電流も小さく、ガラス基板上
に蒸着され友蒸着膜の屈折率n” 2−25で吸収もな
く基板に対する付着力も大きかった。そして化学的に安
定で良好な蒸着膜が得らnた。
加し、充分混合して200kg/dの圧力でプレス成形
した後約1300°Cで2時間焼結を行なって蒸着用ペ
レットを得た。電子銃加熱蒸着装置に装填して真空蒸着
2行なった。真空度1.5x 10torrになるまで
排気後背板ガラス(屈折率n=1.51)基板上に(基
板温度が300°C)酸素を注入しながら真空度8X1
0−5torご光学的膜厚nd(n=屈折率、d=膜厚
)が2/4(λ=520nm)となるまで蒸着した。こ
のとき加熱されたペレットは割れず、突沸現象を生じな
かった。又電子銃加熱出力電流も小さく、ガラス基板上
に蒸着され友蒸着膜の屈折率n” 2−25で吸収もな
く基板に対する付着力も大きかった。そして化学的に安
定で良好な蒸着膜が得らnた。
〔実施例2〕
酸化セリウム(CeO2)に酸化タング/L’ k 4
0重量%添加し、前記実施例と同様な方法で直径100
mm、iみが5mmのスパッタターゲットを得た。
0重量%添加し、前記実施例と同様な方法で直径100
mm、iみが5mmのスパッタターゲットを得た。
そしてRFマグネトロンスパッタ装置を用いてスパッタ
を行なった。真空度がI X 10 torrまで排
気後、10分間のプレスパツタを行なった。
を行なった。真空度がI X 10 torrまで排
気後、10分間のプレスパツタを行なった。
そして青板ガラス基板上に、Arガスに25me1分及
び02ガスに2.5m11分の速度で注入しながら真空
度がI X 10 torrでスパッタを行なり几。
び02ガスに2.5m11分の速度で注入しながら真空
度がI X 10 torrでスパッタを行なり几。
RF小出力200Wで30分間スパッタを行なったとこ
ろ、ターゲットは側光たりひびを生ずることがなく、放
電も安定しており、良好な薄膜を形成した。膜の屈折率
は2.10で膜の強度も大きい高品質のスパッタ膜がで
きto 〔実施例3〕 酸化セリウムに酸化アルミニウム全25重量%添加し、
前記実施例と同様な方法で蒸着用ペレットを得た。約1
ミクロン5iOz薄IWコート済みのアクリμ基板に、
基板温度に60’cに加熱しながら実施例1−と同様の
方法で蒸着7行なった。
ろ、ターゲットは側光たりひびを生ずることがなく、放
電も安定しており、良好な薄膜を形成した。膜の屈折率
は2.10で膜の強度も大きい高品質のスパッタ膜がで
きto 〔実施例3〕 酸化セリウムに酸化アルミニウム全25重量%添加し、
前記実施例と同様な方法で蒸着用ペレットを得た。約1
ミクロン5iOz薄IWコート済みのアクリμ基板に、
基板温度に60’cに加熱しながら実施例1−と同様の
方法で蒸着7行なった。
加熱さルたペレットは蒸着中に割nず、突沸現象も生じ
なかつ次。膜の屈折率n=1.95で、基板に対する付
着力の大きな良好な薄膜ができた。
なかつ次。膜の屈折率n=1.95で、基板に対する付
着力の大きな良好な薄膜ができた。
また、酸化セリウムに酸化チタン、酸化、ビスマスの二
種類?そnぞ315重景重量つ混合して実施例1と同様
の方法で作成した蒸着用ペレット又はこni砕いてl
ヘ3 m Inのグラニュー状にし友ものを用いて蒸着
したところ、実施例1と同様な屈折率n=2.20の良
好な蒸着膜が得らnた。
種類?そnぞ315重景重量つ混合して実施例1と同様
の方法で作成した蒸着用ペレット又はこni砕いてl
ヘ3 m Inのグラニュー状にし友ものを用いて蒸着
したところ、実施例1と同様な屈折率n=2.20の良
好な蒸着膜が得らnた。
さらに、酸化セリウムに特許請求の範囲(1)項記載の
組成物を混合する方法は1、粉体同志を乾式又は湿式混
合する方法と、粉体を生成する前に液状で混合してから
粉体をつくる共沈法とを比較したがいづれも良好な結果
が得られた。
組成物を混合する方法は1、粉体同志を乾式又は湿式混
合する方法と、粉体を生成する前に液状で混合してから
粉体をつくる共沈法とを比較したがいづれも良好な結果
が得られた。
特許出願人 新日本金属化学株式会社
Claims (3)
- (1)酸化セリウムに酸化チタン、酸化イットリウム、
酸化アルミニウム、酸化タンタル、酸化アンチモン、フ
ッ化マグネシウム、酸化ジルコニウム、酸化ビスマスを
含有することを特徴とする真空蒸着又はスパッタ用酸化
セリウム組成物。 - (2)酸化セリウムに酸化チタン、酸化イットリウム、
酸化アルミニウム、酸化タンタル、酸化アンチモン、フ
ッ化マグネシウム、酸化ジルコニウム、酸化ビスマスを
一種類或いは二種類以上を混合してその含有量が0.5
重量%〜50重量%である特許請求の範囲(1)項記載
の真空蒸着用又はスパッタ用酸化セリウム組成物。 - (3)特許請求の範囲(2)項記載の組成物を混合或る
いは共沈法で得た粉体を成形し、焼結して真空蒸着用ペ
レット又はスパッタターゲットを製造する方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25029887A JPH0192365A (ja) | 1987-10-02 | 1987-10-02 | 真空蒸着又はスパッタ用酸化セリウム組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25029887A JPH0192365A (ja) | 1987-10-02 | 1987-10-02 | 真空蒸着又はスパッタ用酸化セリウム組成物 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0192365A true JPH0192365A (ja) | 1989-04-11 |
| JPH0158267B2 JPH0158267B2 (ja) | 1989-12-11 |
Family
ID=17205824
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25029887A Granted JPH0192365A (ja) | 1987-10-02 | 1987-10-02 | 真空蒸着又はスパッタ用酸化セリウム組成物 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0192365A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0339467A (ja) * | 1989-07-06 | 1991-02-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | スパッタ用ターゲットの製造方法 |
| US6921568B2 (en) | 2001-11-22 | 2005-07-26 | Tdk Corporation | Optical recording medium |
-
1987
- 1987-10-02 JP JP25029887A patent/JPH0192365A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0339467A (ja) * | 1989-07-06 | 1991-02-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | スパッタ用ターゲットの製造方法 |
| US6921568B2 (en) | 2001-11-22 | 2005-07-26 | Tdk Corporation | Optical recording medium |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0158267B2 (ja) | 1989-12-11 |
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