JPH02103131A - 複合体 - Google Patents
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- JPH02103131A JPH02103131A JP16112389A JP16112389A JPH02103131A JP H02103131 A JPH02103131 A JP H02103131A JP 16112389 A JP16112389 A JP 16112389A JP 16112389 A JP16112389 A JP 16112389A JP H02103131 A JPH02103131 A JP H02103131A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野〕
本発明は耐熱性の優れた複合体に関する。
現在、フレキシブル印刷配線板用の基板はポリイミドフ
ィル11と金属箔とを接着剤層を介して接着させてll
造している。
ィル11と金属箔とを接着剤層を介して接着させてll
造している。
そのため接着剤の耐熱性が十分でないのでポリイミドフ
ィル11の耐熱性を十分に発揮することが出来ず、基板
の半Ffl耐熱性は260℃程度である。
ィル11の耐熱性を十分に発揮することが出来ず、基板
の半Ffl耐熱性は260℃程度である。
また持分(l((39−348号公報にはピロメリット
酸なとのテ1−ラカルボン酸と4.4′−ジアミノジフ
ェニルエーテルなどの芳香族ジアミンから得られた芳香
族ポリアミド酸溶液を金属箔に塗布して基板とする方法
が記載されているが、得られた基板がカールする問題が
ある。
酸なとのテ1−ラカルボン酸と4.4′−ジアミノジフ
ェニルエーテルなどの芳香族ジアミンから得られた芳香
族ポリアミド酸溶液を金属箔に塗布して基板とする方法
が記載されているが、得られた基板がカールする問題が
ある。
一方、半導体a造に用いられているシリコンウェハやセ
ラミック基板にポリアミド酸をコートし、加熱してイミ
ド化するとポリイミド膜の厚さが薄い場合は全く問題な
いが、膜厚が厚くなると、シリコンウェハやセラミック
板にそりが発生し問題となる。これらは金訊、シリコン
、セラミックなどの無機材料とポリイミドの膨張係数の
不一致に基づくものである。
ラミック基板にポリアミド酸をコートし、加熱してイミ
ド化するとポリイミド膜の厚さが薄い場合は全く問題な
いが、膜厚が厚くなると、シリコンウェハやセラミック
板にそりが発生し問題となる。これらは金訊、シリコン
、セラミックなどの無機材料とポリイミドの膨張係数の
不一致に基づくものである。
本発明は特殊なジアミンを用いたポリアミド酸ワニスを
使用することにより耐熱性にすぐれ、カールしないフレ
キシブル印刷配線用基板、ポリイミドをコートしたそり
のないシリコンウェハやセラミック基板等の複合体を提
供することを[1的とする。
使用することにより耐熱性にすぐれ、カールしないフレ
キシブル印刷配線用基板、ポリイミドをコートしたそり
のないシリコンウェハやセラミック基板等の複合体を提
供することを[1的とする。
〔発明の構成]
すなわち、本発明は3,3′−ジメI・キシベンジジン
と4,4′−ジアミノジフェニルエーテルとのモル比が
50:50− 95:5から成るジアミン成分とピロメ
リト酸二無水物を50モル%以上含むテトラカルボンF
t11ブ、無水物成分とを重合してなるポリイミドの膜
を無機材料−1−に形成し又は該ポリイミドの膜とS機
材料若しくは無機材料を含む層とを一体化してなる複合
体に関する。
と4,4′−ジアミノジフェニルエーテルとのモル比が
50:50− 95:5から成るジアミン成分とピロメ
リト酸二無水物を50モル%以上含むテトラカルボンF
t11ブ、無水物成分とを重合してなるポリイミドの膜
を無機材料−1−に形成し又は該ポリイミドの膜とS機
材料若しくは無機材料を含む層とを一体化してなる複合
体に関する。
本発明に係る複合体は、前記芳香族ジアミン成分と前記
テトラカルボン酸二無水物成分とを非プロトン性極性溶
媒中で反応させて得られるポリアミド酸ワニスを無機材
料に塗布し、または該ポリアミド酸ワニスに無機材料を
粉状で添加した後適当な基材上に塗布し1次いで、イミ
ド化することによって製造することができる。なお、イ
ミド化の前にエツチング、もう一つの無機材料、ポリイ
ミドフィル!1等の有機材料などの積層等を行なっても
よい。
テトラカルボン酸二無水物成分とを非プロトン性極性溶
媒中で反応させて得られるポリアミド酸ワニスを無機材
料に塗布し、または該ポリアミド酸ワニスに無機材料を
粉状で添加した後適当な基材上に塗布し1次いで、イミ
ド化することによって製造することができる。なお、イ
ミド化の前にエツチング、もう一つの無機材料、ポリイ
ミドフィル!1等の有機材料などの積層等を行なっても
よい。
本発明において、3.3′−ジメトキシベンジジンと4
,4′−ジアミノジフェニルエーテルモル比は,前者/
後者が5 0 / 5 0〜9515であり、好ましく
は6 5 / 3 5〜90/10である。
,4′−ジアミノジフェニルエーテルモル比は,前者/
後者が5 0 / 5 0〜9515であり、好ましく
は6 5 / 3 5〜90/10である。
3、3′−ジメトキシベンジジンが50モル%より少な
いと複合体としたときカールやそりが発生する.また9
5モル%より多いともろくなる。
いと複合体としたときカールやそりが発生する.また9
5モル%より多いともろくなる。
本発明において用いられるピロメリト酸二無水物以外の
テトラカルボン酸二無水物成分としては3、3’ 、4
.4’ −ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物,
3.3’ 、4.4’ −ジフェニルエーテルテトラカ
ルボン醸二無水物、2,3。
テトラカルボン酸二無水物成分としては3、3’ 、4
.4’ −ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物,
3.3’ 、4.4’ −ジフェニルエーテルテトラカ
ルボン醸二無水物、2,3。
3’ 、4’ −ビフェニルテトラカルボン酸二無水物
,3.3’ 、4,/1’ −ビフェニルテトラカルボ
ン酸二無水物、2,3.6.7−ナフタリンテトラカル
ボン酸二無水物、1,2,5.6−ナフタリンテトラカ
ルボン酸二無水物、l,4,5。
,3.3’ 、4,/1’ −ビフェニルテトラカルボ
ン酸二無水物、2,3.6.7−ナフタリンテトラカル
ボン酸二無水物、1,2,5.6−ナフタリンテトラカ
ルボン酸二無水物、l,4,5。
8−ナフタリンテトラカルボン酸二無水物、ペリレンテ
トラカルボン酸二無水物、3,3,4。
トラカルボン酸二無水物、3,3,4。
4′−ジフェニルプロパンテトラカルボン酸二無水物、
3.3’ 、4.4’ −ジフェニルへキサフルオロプ
ロパンテトラカルボン階二無水物、3。
3.3’ 、4.4’ −ジフェニルへキサフルオロプ
ロパンテトラカルボン階二無水物、3。
3’ 、4.4’ −ジフェニルスルホンテトラカルボ
ン喝二無水物,ブタンテトラカルボン酸二無水物,シク
ロペンタンテ1ーラカルボン酸二無水物、エチレンビス
トリメリテートテj−ラカルボン酸二無水物などがあり
,これらの成分は50モル%以下使用するのがよい。
ン喝二無水物,ブタンテトラカルボン酸二無水物,シク
ロペンタンテ1ーラカルボン酸二無水物、エチレンビス
トリメリテートテj−ラカルボン酸二無水物などがあり
,これらの成分は50モル%以下使用するのがよい。
全アミン成分に対して5モル%以下ならば接着性を向上
させる目的でシロキサン含有ジアミンを添加することが
できる。
させる目的でシロキサン含有ジアミンを添加することが
できる。
前記非プロトン性極性溶媒としてはN−メチル−2−ピ
ロリドン、N,N−ジメチルアセトアミド、N,N−ジ
メチルネル11アミド、N,N−ジエチルホルムアミド
、ジメチルスルホキサイド、スルホラン、メチルスルホ
ラン、テl〜ラメチル尿素,ヘキサメチルホスホルアミ
ド、ブチルラフ1−ン等が好ましい,これらは2種以J
−.混合して用いてもよい.また、これらとキシレン、
トルエン。
ロリドン、N,N−ジメチルアセトアミド、N,N−ジ
メチルネル11アミド、N,N−ジエチルホルムアミド
、ジメチルスルホキサイド、スルホラン、メチルスルホ
ラン、テl〜ラメチル尿素,ヘキサメチルホスホルアミ
ド、ブチルラフ1−ン等が好ましい,これらは2種以J
−.混合して用いてもよい.また、これらとキシレン、
トルエン。
フェノール、アセトン、メチルエチルケl−ン,ジアセ
トンアルコール、セロソルブ類,セロソルブアセテート
類,カルピトール類,メチルイソブチルケ1−ン,クレ
ゾール、キシレノール、ジオキサン、シクロヘキサノン
、ヘキサフルオロイソプロパツール等の溶媒をポリアミ
ド酸が析出しない範囲で添加して使用することができる
。
トンアルコール、セロソルブ類,セロソルブアセテート
類,カルピトール類,メチルイソブチルケ1−ン,クレ
ゾール、キシレノール、ジオキサン、シクロヘキサノン
、ヘキサフルオロイソプロパツール等の溶媒をポリアミ
ド酸が析出しない範囲で添加して使用することができる
。
全ジアミン成分と全テトラカルボン酸二無水物成分との
モル比は等当量が好ましいが、いずれかー・方の成分が
5モル%以内で過不足であっても差しつかえない。
モル比は等当量が好ましいが、いずれかー・方の成分が
5モル%以内で過不足であっても差しつかえない。
ポリアミド酸ワニスの濃度は3〜25重量%の間が粘度
や加工性の点でよい。
や加工性の点でよい。
ポリアミド酸ワニスを得るための反応温度は0〜50℃
がよいが、最終的に粘度を調整する場合は一旦高粘度に
なった後,70〜80℃で反応させるのがよい。
がよいが、最終的に粘度を調整する場合は一旦高粘度に
なった後,70〜80℃で反応させるのがよい。
このようにして得られたポリアミド酸ワニスと無機材料
と組み合せて複合体とするのであるがその例としては以
下のものがある。
と組み合せて複合体とするのであるがその例としては以
下のものがある。
すなわち、
(1)銅、鉄、アルミ、ステンレス等の金属箔に塗布し
たFPC用基板基板モルファス太陽電池用基板、 (2)シリ゛コン、ガリウムヒ素等のチップ上に塗布し
多層配線層間絶縁膜として利用した多層配線LSI 、 (3)I、Slチップ」二に塗布し、パッシベーション
膜やα線じゃへい膜として利用する半導体装置。
たFPC用基板基板モルファス太陽電池用基板、 (2)シリ゛コン、ガリウムヒ素等のチップ上に塗布し
多層配線層間絶縁膜として利用した多層配線LSI 、 (3)I、Slチップ」二に塗布し、パッシベーション
膜やα線じゃへい膜として利用する半導体装置。
(4)銅、鉄、アルミ、ステンレス、ニッケル。
4270イ、アンバー等の金夙板と配線間の絶縁のため
に絶縁膜としてfl用する金X基板、(5)ガラス板上
に塗布して液晶配向膜として利用する液晶表示装置、 (6)アルミナ、炭化ケイ素、ジルコン、ベリリア。
に絶縁膜としてfl用する金X基板、(5)ガラス板上
に塗布して液晶配向膜として利用する液晶表示装置、 (6)アルミナ、炭化ケイ素、ジルコン、ベリリア。
サファイア等の基板1−にポリイミドをR4A縁膜とし
て塗布した多P基板、 (7)銅線等の導電膜の絶縁被覆材として利用するエナ
メル繰。
て塗布した多P基板、 (7)銅線等の導電膜の絶縁被覆材として利用するエナ
メル繰。
(8)ポリイミドフィル11上に蒸着またはスパッタリ
ングにより形成された薄膜を有する磁気記録媒体又はE
T、表示装置。
ングにより形成された薄膜を有する磁気記録媒体又はE
T、表示装置。
(9)ポリイミドフィルム上に磁粉を含んだフェスを塗
布してなる磁気テープ、磁気ディスク等である。
布してなる磁気テープ、磁気ディスク等である。
フレキシブル印刷配線板用に使用する場合には。
銅箔にコーター、ダイス等の手段で塗布し、加熱により
溶媒を除去すると共に閉環させてイミド化を行なう、イ
ミド化の際、金R箔の酸化を防ぐために不活性ガス中で
行なうのがよい。
溶媒を除去すると共に閉環させてイミド化を行なう、イ
ミド化の際、金R箔の酸化を防ぐために不活性ガス中で
行なうのがよい。
シリコンウェハ、セラミック板などヘコートする場合は
スピンナーによるコートがよい。
スピンナーによるコートがよい。
(実施例)
実施例1
温度計、攪拌機および塩化カルシウム管をつけた5Qの
四[」フラスコに3.3′−ジメトキシベンジジン20
7.4g 、4.4’ −ジアミノジフェニルエーテ
ル30g、N−メチルピロリドン2000g、N、N−
ジメチルアセトアミド2000gを入れて、内容物を攪
拌し、フラスコを氷冷する。ピロメリト酸二無水物21
8gを徐々に加え、10(で9時間反応させた。生成し
たポリアミド醗の還元粘度は1.85d 07g<溶媒
N−メチルピロリドン、濃度0.1g/100mj!
、温度25℃)″であった。このtRMを35μmの
圧延銅箔に塗布し、窒素雰囲気中で100℃で30分加
熱し、次に銅箔を固定して250℃10分、400℃、
10分熱処理し、塗膜厚25メ目nのフレキシブル印刷
配線板用の基板を得た。この基板は初期、エツチング後
共にカールしなかった。半田耐熱試験の結果350℃で
もふくれの発生はなかった。
四[」フラスコに3.3′−ジメトキシベンジジン20
7.4g 、4.4’ −ジアミノジフェニルエーテ
ル30g、N−メチルピロリドン2000g、N、N−
ジメチルアセトアミド2000gを入れて、内容物を攪
拌し、フラスコを氷冷する。ピロメリト酸二無水物21
8gを徐々に加え、10(で9時間反応させた。生成し
たポリアミド醗の還元粘度は1.85d 07g<溶媒
N−メチルピロリドン、濃度0.1g/100mj!
、温度25℃)″であった。このtRMを35μmの
圧延銅箔に塗布し、窒素雰囲気中で100℃で30分加
熱し、次に銅箔を固定して250℃10分、400℃、
10分熱処理し、塗膜厚25メ目nのフレキシブル印刷
配線板用の基板を得た。この基板は初期、エツチング後
共にカールしなかった。半田耐熱試験の結果350℃で
もふくれの発生はなかった。
実施例2
実施例1と同様の組成のポリアミド酸溶液(粘度20ポ
イズ)をシリコンウェハに繰り返しスピンコードした後
、熱処理して原さ20μmnのポリイミド皮膜を形成さ
せ、この上にアルミニウムをA、??し、エツチングし
て線幅100μmnのラインを作成し、さらに、この上
にポリアミド酸溶液を塗布し、20 /1 rn厚さの
ポリイミド膜を形成させ、ホトレジストを塗布後、さら
にアルミニウムを蒸着し、エツチングし、これをくりか
えすことにより、ポリイミドの厚さ200μmのモデル
基板を作製したが、従来のポリアミド酸溶液(4,4’
−ジアミノジフェニルエーテルとピロメリト酸二無水物
から得られるもの)を用いたものに比べそりがきわめて
すくなかった。
イズ)をシリコンウェハに繰り返しスピンコードした後
、熱処理して原さ20μmnのポリイミド皮膜を形成さ
せ、この上にアルミニウムをA、??し、エツチングし
て線幅100μmnのラインを作成し、さらに、この上
にポリアミド酸溶液を塗布し、20 /1 rn厚さの
ポリイミド膜を形成させ、ホトレジストを塗布後、さら
にアルミニウムを蒸着し、エツチングし、これをくりか
えすことにより、ポリイミドの厚さ200μmのモデル
基板を作製したが、従来のポリアミド酸溶液(4,4’
−ジアミノジフェニルエーテルとピロメリト酸二無水物
から得られるもの)を用いたものに比べそりがきわめて
すくなかった。
本発明により耐熱性に優れ、カールを防止し、そりが少
ない複合体が得られた。
ない複合体が得られた。
Claims (1)
- 1.3,3′−ジメトキシベンジジンと4,4′−ジア
ミノジフェニルエーテルとのモル比が50:50〜95
:5から成るジアミン成分とピロメリト酸二無水物を5
0モル%以上含むテトラカルボン酸二無水物成分とを重
合してなるポリイミドの膜を無機材料上に形成し又は該
ポリイミドの膜と無機材料若しくは無機材料を含む層と
を一体化してなる複合体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16112389A JPH02103131A (ja) | 1989-06-23 | 1989-06-23 | 複合体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16112389A JPH02103131A (ja) | 1989-06-23 | 1989-06-23 | 複合体 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7706284A Division JPS60221427A (ja) | 1984-04-17 | 1984-04-17 | 複合体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02103131A true JPH02103131A (ja) | 1990-04-16 |
Family
ID=15729041
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16112389A Pending JPH02103131A (ja) | 1989-06-23 | 1989-06-23 | 複合体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02103131A (ja) |
-
1989
- 1989-06-23 JP JP16112389A patent/JPH02103131A/ja active Pending
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