JPH02103643A - デバッグ用割込発生回路 - Google Patents

デバッグ用割込発生回路

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JPH02103643A
JPH02103643A JP63255800A JP25580088A JPH02103643A JP H02103643 A JPH02103643 A JP H02103643A JP 63255800 A JP63255800 A JP 63255800A JP 25580088 A JP25580088 A JP 25580088A JP H02103643 A JPH02103643 A JP H02103643A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
address
microprogram
control
circuit
comparing
Prior art date
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Pending
Application number
JP63255800A
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English (en)
Inventor
Masaru Ito
勝 伊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はデバッグ用割込発生回路に関し、特に、マイク
ロプログラムの検証のために中央処理装置に設けられる
デバッグ用割込発生回路に関する。
〔従来の技術〕
従来、マイクロプログラムの検証方法として、このマイ
クロプログラムを実行させ、その実行中に外部から割込
信号を与えても所定の処理が間違いなく行なわれるかを
、験す方法をとっている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、上述した従来のマイクロプログラムの検
証方法においては、割込発生をマイクロプログラムの特
定の機能実行に同期して与えることが難しく、割込発生
の種々なタイミングに対応したマイクプログラムの検証
が得られにくいという問題点を有している。
本発明の目的は、マイクロプログラムの検証したい機能
ルーチンのアドレス範囲を予め指定する事により指定ア
ドレス範囲が実行された時点で割込みを発生することが
できるデバッグ用割込発生回路を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明によるデバッグ用割込発生回路は、制御記憶に格
納されているマイクロプログラムによって制御される処
理装置において、 制御記憶に供給される制御記憶アドレスと比較するため
のアドレスデータを第1及び第2のアドレスデータとし
て格納する第1および第2のコンベアアドレス格納手段
と、 マイクロプログラムの実行ごとに、前記制御記憶アドレ
スと前記第1のコンベアアドレス格納手段に格納されて
いる第1のアドレスデータとを比較する第1の比較手段
と、 マイクロプログラムの実行ごとに、前記制御記憶アドレ
スと前記第2のコンベアアドレス格納手段に格納されて
いる第2のアドレスデータとを比較する第2の比較手段
と、 前記第1の比較手段の出力と前記第2の比較手段の出力
とを演算し、その演算結果を割込要求信号として発生す
る演算手段と、 前記第1および第2の比較手段と前記演算手段とを制御
するための手段とを有する。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
第1図は本発明の一実施例の構成を示すプロ・ツク図で
ある。
本実施例によるデバッグ用割込発生回路は、制a :l
E憶1.命令レジスタ2.実行制御部3.コンベアアド
レスレジスタ5および6.比較回路7および8.演算回
路9.および制御回路10を有している。
マイクロプログラムは制御記憶1の中に格納されており
、この制御記憶1の中の、ライン310で指定されるア
ドレスにあるマイクロ命令が読出されて命令レジスタ2
に格納される。このように命令レジスタ2に読出された
命令は、実行制御部3に供給され、ここで命令がデコー
ドされて実行される。実行されるべき次の命令のアドレ
スは、実行制御部3で生成され、ライン310を介して
制御記憶1に与えられ、これによって再び次の命令が命
令レジスタ2に読出され、かくして制御記憶1に格納さ
れたマイクロプログラムの各命令はプログラムに従って
次々に読出されて実行されることになる。
さて、本実施例は3つの特有なモードを有している。
これらの各モードは、コンソール(図示せず)からライ
ン110を介して制御回路10に供給されるモード指定
信号により指定され、制御回路10はこの信号の指定に
より比較回路7.比較回路8.および演算回路9を以下
に示すように制御する。
まず比較回路7は、ライン310を介して制御記憶1に
供給される内容(これをCとする)とコンベアアドレス
レジスタ5の内容(これをA1とする)とを比較し、こ
の比較結果に従って“1”または“0”を出力するが、
この結果の与え方は制御回路10からの制御信号178
の指定により、モードによって第2図に示すように変化
する。
すなわち、第1モードのときは、ライン310を介して
制御記憶1に供給される内容Cと、コンベアアドレスレ
ジスタ5の内容A1とが等しいとき(C−AIのとき)
に論理“1”を出力し、等しくないとき(C≠A1のと
き)には論理“0”を出力する。また、第2のモードお
よび第3モードのときには、ライン310を介して制御
記憶1に供給される内容Cがコンベアアドレスレジスタ
5の内容A1よりも大きいかまたは等しいとき(C>A
 1のとき)に論理“1”を出力し、小さいとき(C<
AIのとき)には論理“0”を出力する。
同様に比較回路8は、ライン310を介して制御記憶1
に供給される内容とコンベアアドレスレジスタ6の内容
(これをA2とする)とを比較し、この比較結果に従っ
て、“1”または′0”を出力するがこの結果の与え方
は制御回路10からの制御信号178の指定によりモー
ドによって第2図に示すように変化する。すなわち、第
1モードのときには、C−A2のときに論理“1”を出
力し、C≠A2のときに論理“0′を出力する。また第
2モードおよび第3モードのときには、C<A2のとき
に論理“1”を出力し、C>A2のときに論理“0”を
出力する。
次に演算回路9は、比較回路7の出力(これをPとする
)と比較回路8の出力(これをQとする)とを論理合成
して割込発生要因信号930を生成するが、その論理合
成の仕方は制御回路10からの制御信号109の指定に
より各モードごとに第2図に示すように変化する。
すなわち、第1モードのときにはPとQのオア、第2の
モードのときにはPとQアンド、第3のモードのときに
はPとQのナンドの論理演算によって割込発生要因信号
を生成するように動作する。
以上より明らかなように、本実施例によると、コンソー
ルからライン110を介して第1モードが指定されると
、C−AlまたはC−A2が成立した場合に、また第2
モードが指定されると、AI<C<A2が成立した場合
に、さらに第3モードが指定されるとC<AIまたはC
>A2が成立した場合に、割込発生要因信号930が“
1″となる。
この割込発生要因信号930は、実行制御部3に供給さ
れ、この内部において、他の割込発生要因と論理和され
、これによって割込発生要因信号930が論理“1”に
なると割込みが発生される。
以上述べたように本実施例によると、コンベアアドレス
レジスタ5および6にそれぞれ必要なアドレスを格納し
、かつ制御回路10に必要なモードを指定することによ
って、従来行ない得なかったマイクロプログラムのアド
レス範囲条件さらに2点アドレス条件での割込発生が可
能となる。
〔発明の効果〕
以上のように本発明によるとマイクロプログラム実行中
に割込みが行なわれても、所定の動作が行なわれること
を試験するために、指定された2つのアドレスの範囲内
かまたは範囲外かによって、さらにそれぞれのいずれか
が実行された時点で割込みが発生でき、従来技術では行
ない得なかった強力なデバッグ手段の提供が可能となり
、デバ・ノブの効率化が達成される。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成を示すプロ・ンク図、
第2図は本実施例に使用されている回路の動作を説明す
るための図である。 1・・・制御記憶、2・・・命令レジスタ、3・・・実
行制御部、5,6・・・コンベアアドレスレジスタ、7
.8・・・比較回路、9・・・演算回路、10・・・制
御回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、制御記憶に格納されているマイクロプログラムによ
    って制御される処理装置において、前記制御記憶に供給
    される制御記憶アドレスと比較するためのアドレスデー
    タを第1及び第2のアドレスデータとして格納する第1
    および第2のコンベアアドレス格納手段と、マイクロプ
    ログラムの実行ごとに、前記制御記憶アドレスと前記第
    1のコンベアアドレス格納手段されている前記第1のア
    ドレスデータとを比較する第1の比較手段と、 マイクロプログラムの実行ごとに、前記制御記憶アドレ
    スと前記第2のコンベアアドレス格納手段に格納されて
    いる前記第2のアドレスデータとを比較する第2の比較
    手段と、 前記第1の比較手段の出力と前記第2の比較手段の出力
    とを演算し、その演算結果を割込要求信号として発生す
    る演算手段と、 前記第1および第2の比較手段と前記演算手段とを制御
    するための制御手段とを有する事を特徴とするデバッグ
    用割込発生回路。
JP63255800A 1988-10-13 1988-10-13 デバッグ用割込発生回路 Pending JPH02103643A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0849669A1 (en) * 1996-12-19 1998-06-24 STMicroelectronics Limited Diagnostic procedures in an integrated circuit device
EP0862115A1 (en) * 1997-02-27 1998-09-02 STMicroelectronics Limited Trigger sequencing controller

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US6430727B1 (en) 1996-12-19 2002-08-06 Sgs-Thomson Microelectronics Limited Diagnostic procedures in an integrated circuit device
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US6178525B1 (en) 1997-02-27 2001-01-23 Sgs-Thomson Microelectronics Limited Trigger sequencing controller

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