JPH02127004A - 半導体チップの製造方法 - Google Patents
半導体チップの製造方法Info
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- JPH02127004A JPH02127004A JP63281583A JP28158388A JPH02127004A JP H02127004 A JPH02127004 A JP H02127004A JP 63281583 A JP63281583 A JP 63281583A JP 28158388 A JP28158388 A JP 28158388A JP H02127004 A JPH02127004 A JP H02127004A
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- chip
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、半導体チンプの製造方法に関する。
詳しくは、粘着性のあるダイシングシートを利用して半
導体ウェハを所定の寸法に裁断する方法に関する。
導体ウェハを所定の寸法に裁断する方法に関する。
現在、半導体ウェハを分割してダイスチップを得る方法
としては、粘着剤を表面塗布してなるシート材の粘着面
に半導体ウェハを固定して、このウェハをグイシングツ
−によって分割し、この後ウェハを貼りつけたのとは逆
の面からピンで半導体ウェハを突き上げ、ダイスチップ
を得るという方法が広く行われている。
としては、粘着剤を表面塗布してなるシート材の粘着面
に半導体ウェハを固定して、このウェハをグイシングツ
−によって分割し、この後ウェハを貼りつけたのとは逆
の面からピンで半導体ウェハを突き上げ、ダイスチップ
を得るという方法が広く行われている。
しかしウェハを分割する際に、微細なSt (シリコン
)片が生じ、ダイシング溝内に溜まることが多い。この
Si (シリコン)片がダイスチップの突き上げ工程で
、ダイシング溝内から飛び出して、ダイスチップ表面に
乗り、信顛性、あるいは歩留まりを低下させており、こ
のSi (シリコン)片がダイスチップ表面に乗らない
方法が模索されている。
)片が生じ、ダイシング溝内に溜まることが多い。この
Si (シリコン)片がダイスチップの突き上げ工程で
、ダイシング溝内から飛び出して、ダイスチップ表面に
乗り、信顛性、あるいは歩留まりを低下させており、こ
のSi (シリコン)片がダイスチップ表面に乗らない
方法が模索されている。
[従来の技術]
従来このような問題を解消しようとしてなされた方法の
うち、有効と思える方法(特開昭61−180442号
公報記載の発明)について紹介する。この方法は、前記
したダイシングシートと呼ばれる粘着シート表面に半導
体ウェハを固定後、半導体ウェハ表面にも接着性保護シ
ートを貼りつけておき、この後接着性保護シートととも
に半導体ウェハを分割しようというものである。
うち、有効と思える方法(特開昭61−180442号
公報記載の発明)について紹介する。この方法は、前記
したダイシングシートと呼ばれる粘着シート表面に半導
体ウェハを固定後、半導体ウェハ表面にも接着性保護シ
ートを貼りつけておき、この後接着性保護シートととも
に半導体ウェハを分割しようというものである。
この方法によれば、分割で得られる個々のダイスチップ
表面には接着性保護シートが貼られており、直接Si
(シリコン)片が乗ることはない。
表面には接着性保護シートが貼られており、直接Si
(シリコン)片が乗ることはない。
しかしこの方法によれば、分割で得られたダイスチップ
各々に付いた接着性保護シートを一枚づつ剥離しないと
半導体集積回路としては利用できないという欠点がある
。この点による不利益は大きく、極小領域であるダイス
チップ表面を傷つけることなくいかにしてこの接着性保
護シートを剥離するかを解決することが必須の課題とな
る他、いちいち−枚づつ剥がさねばならず生産性の低下
を招くという問題がある。
各々に付いた接着性保護シートを一枚づつ剥離しないと
半導体集積回路としては利用できないという欠点がある
。この点による不利益は大きく、極小領域であるダイス
チップ表面を傷つけることなくいかにしてこの接着性保
護シートを剥離するかを解決することが必須の課題とな
る他、いちいち−枚づつ剥がさねばならず生産性の低下
を招くという問題がある。
本発明はこのような従来技術の欠点を解決すべくなされ
たもので、ダイシング工程で生じたSt(シリコン)片
がダイスチップをピックアップする際に、半導体チップ
表面に乗ることのないような方法を採り、半導体集積回
路製造の歩留まりを向上させることを目的とする。
たもので、ダイシング工程で生じたSt(シリコン)片
がダイスチップをピックアップする際に、半導体チップ
表面に乗ることのないような方法を採り、半導体集積回
路製造の歩留まりを向上させることを目的とする。
本発明では、前記した欠点を解決するために、シート材
の表面に、粘着剤を有してなるダイシングシートの該粘
着剤表面に、半導体ウェハの裏面を貼りつけ固定する工
程と、該半導体ウェハ表面から、該シート材まで達する
ダイシング溝を形成し、該ダイシング溝によって該半導
体ウェハを完全に分割して、ダイスチップをつくる工程
と、前記分割により生じた該ダイシング溝内、及び前記
ダイスチップ表面に紫外線硬化性粘着剤を塗布する工程
と、該紫外線硬化性粘着剤表面上から紫外線を照射して
、該紫外線硬化性粘着剤を硬化させる工程と、該紫外線
硬化性粘着剤が硬化後、該紫外線硬化性粘着剤を該ダイ
スチップから剥離するとともに、前記ダイシング溝内の
該紫外線硬化性粘着剤は剥離せず残す工程と、前記シー
ト材表面の前記粘着剤を硬化させ、該ダイスチップへの
接着力を低下させる工程と、該シート材表面の該粘着剤
が硬化した後、該ダイスチップをダイシングシートから
剥離する工程とを手段として有する。
の表面に、粘着剤を有してなるダイシングシートの該粘
着剤表面に、半導体ウェハの裏面を貼りつけ固定する工
程と、該半導体ウェハ表面から、該シート材まで達する
ダイシング溝を形成し、該ダイシング溝によって該半導
体ウェハを完全に分割して、ダイスチップをつくる工程
と、前記分割により生じた該ダイシング溝内、及び前記
ダイスチップ表面に紫外線硬化性粘着剤を塗布する工程
と、該紫外線硬化性粘着剤表面上から紫外線を照射して
、該紫外線硬化性粘着剤を硬化させる工程と、該紫外線
硬化性粘着剤が硬化後、該紫外線硬化性粘着剤を該ダイ
スチップから剥離するとともに、前記ダイシング溝内の
該紫外線硬化性粘着剤は剥離せず残す工程と、前記シー
ト材表面の前記粘着剤を硬化させ、該ダイスチップへの
接着力を低下させる工程と、該シート材表面の該粘着剤
が硬化した後、該ダイスチップをダイシングシートから
剥離する工程とを手段として有する。
本発明では、ダイスチップを貼りつけ固定したダイシン
グシートの粘着剤を硬化させ接着力を低下させる前に、
ダイスチップ表面の紫外線硬化性粘着剤を硬化させる構
成をとる。一般に紫外線硬化性粘着剤は、紫外線の照射
を受は硬化して後、ダイスをなすSi (シリコン)等
、主に金属表面に対しての接着力は著しく低下する。こ
の硬化した紫外線硬化性粘着剤のダイスチップに対する
接着力は、ダイシングシートのダイスチップに対する接
着力よりもずっと低い。よってダイシングシート側の粘
着剤が未硬化であれば、ダイスチップ表面に塗布した紫
外線硬化性粘着剤は充分硬化した後容易に剥離が可能で
ある。
グシートの粘着剤を硬化させ接着力を低下させる前に、
ダイスチップ表面の紫外線硬化性粘着剤を硬化させる構
成をとる。一般に紫外線硬化性粘着剤は、紫外線の照射
を受は硬化して後、ダイスをなすSi (シリコン)等
、主に金属表面に対しての接着力は著しく低下する。こ
の硬化した紫外線硬化性粘着剤のダイスチップに対する
接着力は、ダイシングシートのダイスチップに対する接
着力よりもずっと低い。よってダイシングシート側の粘
着剤が未硬化であれば、ダイスチップ表面に塗布した紫
外線硬化性粘着剤は充分硬化した後容易に剥離が可能で
ある。
また本発明では、ダイスチップとダイシング溝表面とに
形成した紫外線硬化性粘着剤を硬化させると、ダイスチ
ップへの接着力は低下するもののシート材との接着力は
強い、このために硬化した紫外線硬化性粘着剤を剥ぎ取
ろうとすると、ダイシング溝の底部に溜まった紫外線硬
化性粘着剤は、ちぎれてそのまま残る。この部分の紫外
線硬化性粘着剤に問題となっているSi (シリコン)
片目体が包み込まれており、半導体チップの突き上げ工
程でもSi (シリコン)片が飛び出して、半導体チッ
プ表面に乗るという不具合は生じない。
形成した紫外線硬化性粘着剤を硬化させると、ダイスチ
ップへの接着力は低下するもののシート材との接着力は
強い、このために硬化した紫外線硬化性粘着剤を剥ぎ取
ろうとすると、ダイシング溝の底部に溜まった紫外線硬
化性粘着剤は、ちぎれてそのまま残る。この部分の紫外
線硬化性粘着剤に問題となっているSi (シリコン)
片目体が包み込まれており、半導体チップの突き上げ工
程でもSi (シリコン)片が飛び出して、半導体チッ
プ表面に乗るという不具合は生じない。
以下、本発明の実施例に関し、工程説明図である第1図
を参照しつつ説明する。
を参照しつつ説明する。
第1図(a)参照。
(a)はダイシングシート1の粘着面に、半導体ウェハ
2を貼りつけ固定する工程である。
2を貼りつけ固定する工程である。
ダイシングシートlはシート材11と粘着剤12とから
なる。シート材11には透明なポリエチレン樹脂を用い
た。粘着剤12には、硬化の工程や入手の容易さから、
アクリル系樹脂からなる紫外線硬化性粘着剤を選んだ。
なる。シート材11には透明なポリエチレン樹脂を用い
た。粘着剤12には、硬化の工程や入手の容易さから、
アクリル系樹脂からなる紫外線硬化性粘着剤を選んだ。
この粘着剤12は、シート材11表面に20amの厚さ
に塗布される。このダイシングシート1の粘着面に、半
導体ウェハ2を貼りつけ固定する。
に塗布される。このダイシングシート1の粘着面に、半
導体ウェハ2を貼りつけ固定する。
第1図(b)参照。
(b)は半導体ウェハ2を完全に分割する工程である。
工程(a)でダイシングシート1に固定された半導体ウ
ェハ2は、グイシングツ−を用いて約IC−程度の幅に
完全に切断され、ダイスチップ21となる。この際切断
で生じたダイシング溝25中の溝幅は70μmであり、
この溝内には30μm程度の大きさのSS (シリコン
)片20が残る。
ェハ2は、グイシングツ−を用いて約IC−程度の幅に
完全に切断され、ダイスチップ21となる。この際切断
で生じたダイシング溝25中の溝幅は70μmであり、
この溝内には30μm程度の大きさのSS (シリコン
)片20が残る。
第1図(C)参照。
(C)はダイシング溝25とダイスチップ21表面に紫
外線硬化性粘着剤3を塗布する工程である。
外線硬化性粘着剤3を塗布する工程である。
微小な幅のダイシング溝25中にも、紫外線硬化性粘着
剤3を満たさねばならないので、紫外線硬化性粘着剤3
には粘性の低いものを用いる。そこで、粘性が充分小さ
くなるように溶剤の割合を高めた紫外線硬化性粘着剤3
を、切断されてできたダイステップ21とダイシング溝
25の表面全体に塗布する。この塗布で、ダイシング溝
25の内部も紫外線硬化性粘着剤3で埋め尽くされ、問
題となっているSi (シリコン)片もこの紫外線硬化
性粘着剤3で固められてしまう。なお紫外線硬化性粘着
剤3が作る層の厚さは数IIIIである。
剤3を満たさねばならないので、紫外線硬化性粘着剤3
には粘性の低いものを用いる。そこで、粘性が充分小さ
くなるように溶剤の割合を高めた紫外線硬化性粘着剤3
を、切断されてできたダイステップ21とダイシング溝
25の表面全体に塗布する。この塗布で、ダイシング溝
25の内部も紫外線硬化性粘着剤3で埋め尽くされ、問
題となっているSi (シリコン)片もこの紫外線硬化
性粘着剤3で固められてしまう。なお紫外線硬化性粘着
剤3が作る層の厚さは数IIIIである。
第1図(d)参照。
(d)は紫外線硬化性粘着剤3を硬化させる工程である
。
。
紫輿線4を紫外線硬化性粘着剤3表面に全面照射する。
この紫外線照射は、紫外線硬化性粘着剤3が完全に硬化
するまで行なう。この際用いる光源としては、メタルハ
ライド・ランプか水銀ランプが適当である。前記メタル
ハライド・ランプによれば、例えば365nmの紫外線
が得られる。照度100mW/cm”で数分間照射すれ
ばよい。
するまで行なう。この際用いる光源としては、メタルハ
ライド・ランプか水銀ランプが適当である。前記メタル
ハライド・ランプによれば、例えば365nmの紫外線
が得られる。照度100mW/cm”で数分間照射すれ
ばよい。
第1図(e)参照。
(e)は硬化した紫外線硬化性粘着剤3をダイスチップ
21から剥離する工程である。
21から剥離する工程である。
紫外線硬化性粘着剤3とダイスチップ21との接着力が
低下し、剥がれやすくなっている。一方、紫外線硬化性
粘着剤3とシート材11との接着力は依然として良好で
ある。硬化した紫外線硬化性粘着剤3をダイスチップ2
1表面から剥ぎ取ると、ダイシング溝25中には、硬化
した紫外線硬化性粘着剤3がちぎれて残る。この中にS
i (シリコン)片が取り込まれたままになる。
低下し、剥がれやすくなっている。一方、紫外線硬化性
粘着剤3とシート材11との接着力は依然として良好で
ある。硬化した紫外線硬化性粘着剤3をダイスチップ2
1表面から剥ぎ取ると、ダイシング溝25中には、硬化
した紫外線硬化性粘着剤3がちぎれて残る。この中にS
i (シリコン)片が取り込まれたままになる。
第1図(f)参照。
(f)はダイスチップ21下面の粘着剤12を硬化させ
る工程である。
る工程である。
この後、ダイシングシートlの背面には、前記工程(d
)同様に、紫外線5を照射して粘着剤12を硬化させる
。ただし1秒間照射するだけで充分硬化する。硬化によ
り粘着剤12のダイスチップ21に対する接着力は低下
し、ダイスチップ21はダイシングシート1から容易に
剥離できることとなる。
)同様に、紫外線5を照射して粘着剤12を硬化させる
。ただし1秒間照射するだけで充分硬化する。硬化によ
り粘着剤12のダイスチップ21に対する接着力は低下
し、ダイスチップ21はダイシングシート1から容易に
剥離できることとなる。
第1図(g)参照。
(g)はダイステップ21をダイシングシートlから剥
離する工程である。
離する工程である。
ダイシングシート1の非粘着面側がらダイスチップ21
を狙って突き上げピン6で突き上げるとともに、ダイス
チップ21表面側から真空チャンク7を近づけてダイス
チップ2Iを取り出す。このときダイシング溝25内に
は、ちぎれた紫外線硬化性粘着剤3がSi (シリコン
)片を包みこんで残る。このためにダイスチップ21を
突き上げる際に、−・緒に飛び出すことはない。よって
Si (シリコン)片がダイスチップ表面に乗ることは
ない。
を狙って突き上げピン6で突き上げるとともに、ダイス
チップ21表面側から真空チャンク7を近づけてダイス
チップ2Iを取り出す。このときダイシング溝25内に
は、ちぎれた紫外線硬化性粘着剤3がSi (シリコン
)片を包みこんで残る。このためにダイスチップ21を
突き上げる際に、−・緒に飛び出すことはない。よって
Si (シリコン)片がダイスチップ表面に乗ることは
ない。
ところで、最近はダイシングシートlとしてダイスチッ
プ21を貼る位置に予め穴の開いたものを用いて、この
穴から空気を吹き込んでチップを剥離するような治具も
あるが、このような治具で突き上げピンを置き換えるこ
ともできる。
プ21を貼る位置に予め穴の開いたものを用いて、この
穴から空気を吹き込んでチップを剥離するような治具も
あるが、このような治具で突き上げピンを置き換えるこ
ともできる。
以上の工程を経て、ダイスチップ21は表面を汚染され
ることもなく取り出されることとなる。
ることもなく取り出されることとなる。
以上説明してきたように、本発明によれば従来のように
個々の表面保護シートを剥ぐ面倒もなく、Si (シリ
コン)片によるダイスチップ表面の損傷を防止できる。
個々の表面保護シートを剥ぐ面倒もなく、Si (シリ
コン)片によるダイスチップ表面の損傷を防止できる。
よって生産性を悪化させることなく、半導体集積回路製
造の歩留まりを向上させることができるという効果が得
られる。
造の歩留まりを向上させることができるという効果が得
られる。
第1図は、本発明の実施例に則した工程説明図(断面図
)である。 図中、 1・・・ダイシングシート、11・・・シート材、 1
2・・・粘着剤、2・・・半導体ウェハ、20・・・S
t (シリコン)片。 21・・・ダイスチップ、25・・・ダイシング溝、3
・・・紫外線硬化性粘着剤、4・・・紫外線、5・・・
紫外線、6・・・突き上げピン、7・・・真空チャック
である。 本石ご明/19ミ方七イ列+: l’11t r: 1
才i3凭−明しう茅 図
)である。 図中、 1・・・ダイシングシート、11・・・シート材、 1
2・・・粘着剤、2・・・半導体ウェハ、20・・・S
t (シリコン)片。 21・・・ダイスチップ、25・・・ダイシング溝、3
・・・紫外線硬化性粘着剤、4・・・紫外線、5・・・
紫外線、6・・・突き上げピン、7・・・真空チャック
である。 本石ご明/19ミ方七イ列+: l’11t r: 1
才i3凭−明しう茅 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 シート材(11)の表面に、粘着剤(12)を有してな
るダイシングシート(1)の該粘着剤(12)表面に、
半導体ウェハ(2)の裏面を貼りつけ固定する工程と、 該半導体ウェハ(2)表面から、該シート材(11)ま
で達するダイシング溝(25)を形成し、該ダイシング
溝(25)によって該半導体ウェハ(2)を完全に分割
して、ダイスチップ(21)をつくる工程と、 前記分割により生じた該ダイシング溝(25)内、及び
前記ダイスチップ(21)表面に紫外線硬化性粘着剤(
3)を塗布する工程と、 該紫外線硬化性粘着剤(3)表面上から紫外線(4)を
照射して、該紫外線硬化性粘着剤(3)を硬化させる工
程と、 該紫外線硬化性粘着剤(3)が硬化後、該紫外線硬化性
粘着剤(3)を該ダイスチップ(21)から剥離すると
ともに、前記ダイシング溝(25)内の該紫外線硬化性
粘着剤(3)は剥離せず残す工程と、 前記シート材(11)表面の前記粘着剤(12)を硬化
させ、該ダイスチップ(21)への接着力を低下させる
工程と、 該シート材(11)表面の該粘着剤(12)が硬化した
後、該ダイスチップ(21)をダイシングシート(1)
から剥離する工程と を有する半導体チップの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28158388A JP2638155B2 (ja) | 1988-11-08 | 1988-11-08 | 半導体チップの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28158388A JP2638155B2 (ja) | 1988-11-08 | 1988-11-08 | 半導体チップの製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02127004A true JPH02127004A (ja) | 1990-05-15 |
| JP2638155B2 JP2638155B2 (ja) | 1997-08-06 |
Family
ID=17641183
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28158388A Expired - Lifetime JP2638155B2 (ja) | 1988-11-08 | 1988-11-08 | 半導体チップの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2638155B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100431282B1 (ko) * | 1999-12-30 | 2004-05-12 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체칩의 픽업 방법 및 이를 위한 클램프 |
| JP2006258546A (ja) * | 2005-03-16 | 2006-09-28 | Denso Corp | 半導体センサの製造方法 |
| CN102126260A (zh) * | 2011-01-06 | 2011-07-20 | 深圳市海明润实业有限公司 | 一种加工异形pdc的方法 |
| WO2018216600A1 (ja) * | 2017-05-24 | 2018-11-29 | 協立化学産業株式会社 | 加工対象物切断方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN111266660A (zh) * | 2020-03-20 | 2020-06-12 | 台州市双辉机械设备有限公司 | 一种vcm磁钢的切割方法及粘接工装 |
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| JPS6279649A (ja) * | 1985-10-03 | 1987-04-13 | Mitsui Toatsu Chem Inc | 半導体ダイシング方法 |
| JPS6336988A (ja) * | 1986-07-29 | 1988-02-17 | Rohm Co Ltd | 半導体ウエハの分割方法 |
| JPS63228733A (ja) * | 1987-03-18 | 1988-09-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体基板の切断方法 |
-
1988
- 1988-11-08 JP JP28158388A patent/JP2638155B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| KR20200003177A (ko) * | 2017-05-24 | 2020-01-08 | 교리쯔 가가꾸 산교 가부시키가이샤 | 가공 대상물 절단 방법 |
| CN110678965A (zh) * | 2017-05-24 | 2020-01-10 | 协立化学产业株式会社 | 加工对象物切割方法 |
| CN110678965B (zh) * | 2017-05-24 | 2023-08-25 | 协立化学产业株式会社 | 加工对象物切割方法 |
| US11806805B2 (en) | 2017-05-24 | 2023-11-07 | Kyoritsu Chemical & Co., Ltd. | Workpiece cutting method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2638155B2 (ja) | 1997-08-06 |
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