JPH02128151U - - Google Patents

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JPH02128151U
JPH02128151U JP3780089U JP3780089U JPH02128151U JP H02128151 U JPH02128151 U JP H02128151U JP 3780089 U JP3780089 U JP 3780089U JP 3780089 U JP3780089 U JP 3780089U JP H02128151 U JPH02128151 U JP H02128151U
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mask substrate
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JP3780089U
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【図面の簡単な説明】
第1図乃至第16図は、この考案の第1乃至第
16の実施例によるホトマスクをそれぞれ示す上
面図、第17図は、第1図乃至第16図のマスク
パターンの転写例を示すウエハ上面図、第18図
は、被露光パターン領域の平面図形の一例を示す
図、第19図乃至第21図は、被露光パターン領
域内におけるチツプ内パターン領域の異なる配置
例をそれぞれ示す平面図、第22図は、第18図
の図形の組合せ配置を示す平面図、第23図、第
25図、第27図、第29図、第31図及び第3
3図は、被露光パターン領域の平面図形の他の例
をそれぞれ示す図、第24図、第26図、第28
図、第30図、第32図及び第34図は、それぞ
れ第23図、第25図、第27図、第29図、第
31図及び第33図の図形の組合せ配置を示す平
面図、第35図は、従来のホトマスクの一例を示
す上面図、第36図は、第35図のS−S′線に
沿う断面図、第37図は、投影露光系の一例を示
す図、第38図は、第35図のマスクパターンの
転写例を示すウエハ上面図である。 10……ホトマスク、10A……マスク基板、
12……被露光パターン領域、AM〜AM
…アライメントマーク、CP,CP……アラ
イメントずれチエツクマーク、A〜L,B〜B
……チツプ内パターン領域。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 1 方形状のマスク基板と、このマスク基板上に
    形成された被転写パターン領域と、前記マスク基
    板上で前記被転写パターン領域外に形成された複
    数の位置合せ用マークとをそなえたパターン転写
    装置用マスクにおいて、 前記複数の位置合せ用マークを前記マスク基板
    の複数の角部の近傍にそれぞれ配置したことを特
    徴とするパターン転写装置用マスク。 2 前記被転写パターン領域は、各々方形状でほ
    ぼ同一サイズの多数のチツプ内パターン領域を直
    交行列的に配置して成り、この直交行列的な配置
    の輪郭に対応する前記被転写パターン領域の平面
    図形は、行方向及び列方向について各方向毎に2
    等分可能であり且つ各2等分線毎にその両側の部
    分図形が該2等分線に関して対称である12角形
    以上の多角形をなしていることを特徴とする請求
    項1記載のパターン転写装置用マスク。 3 前記被転写パターン領域は、行方向及び列方
    向がそれぞれ前記マスク基板の2つの対角線に平
    行となるように配置されていることを特徴とする
    請求項2記載のパターン転写装置用マスク。 4 前記マスク基板において前記被転写パターン
    領域が形成された一方の表面には該被転写パター
    ン領域を前記位置合せマークより内方で取囲むよ
    うに8角以上の多角ループ状又は円環状のフレー
    ムを設けると共に、このフレームには前記被転写
    パターン領域をおおうように薄膜を設けたことを
    特徴とする請求項2又は3記載のパターン転写装
    置用マスク。
JP3780089U 1989-03-31 1989-03-31 Pending JPH02128151U (ja)

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