JPH02138848A - レンズ検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

Ｃ産業上の利用分野１ この発明は、光学レンズの不良品の判別に利用されるレ
ンズ検査方法に関し、さらに詳しくは、当該レンズによ
り形成されたチャート像のコントラストを測定してこの
測定値に基づいてレンズの良否の判定を行なうレンズ検
査方法に関する。 ［従来の技術］ 一般に、写真レンズ等の光学レンズは、その量産時にお
いて投影テストにより最終検査（性能検査）される。こ
の投影テストとは、検査対象レンズ（被検レンズ）によ
って投影されたチャート像を作業者が目視によりチエツ
クして当該被検レンズの解像力を確認検査するものであ
る。 第３１図に投影テストの概要を示し、１′は光源として
のハロゲンランプ等のランプ、２′はランプ１′からの
光線を集光するコンデンサレンズ、３′は透過型チャー
ト、４′は被検レンズ、５′は投影板である。 透過型チャート３′は、透明なガラス板の表面に、大小
様々なピッチの縦線列と横線列を組合せた所定のパター
ンを、クロム等の蒸着によって光線不透過として複数描
いたものである。このパターンの線列の大小（線の幅及
びピッチ）が解像力と対応し、投影板５′」二に投影さ
れたチャート像中で分離して見える最小ピッチの線列か
ら例えば１００本／ｌｓｍの如く解像力が評価されるよ
うになっているものである。 ランプ１′からの光線は、コンデンサレンズ２′により
集光されて透過型チャート３′を背面から照光して透過
する。この透過光により形成される透過型チャート３′
の像を、被検レンズ４′によって該被検レンズ４′の焦
点距離の４０〜５０倍の位置に置かれた投影板５′」二
に拡大投影する。尚、この時、被検レンズ４′によるチ
ャート像の光束の入射角度θ１に対してコンデンサレン
ズ２′からのチャート３′へ照光の入射角度る。しかも
、被検レンズの焦点距離によっては被検レンズから投影
板までの距離が数メートルとなることがあり、このよう
な場合には、ピント調節要員とチエツク要員といった複
数の作業者を必要とするものである。 また、被検レンズと投影板との距離を被検レンズの焦点
距離の４０〜５０倍とするために被検レンズの焦点距離
が長い場合にはそれに応じた大きな暗室を必要とし、多
大な設備費を要するという問題がある。 更に、チャートへ照光の入射角度θ２を被検レンズによ
るチャート像の光束の入射角度θ１より大きくしなけれ
ばならないことから、被検レンズが明るい（Ｆ値が大き
い）ものの場合には、コンデンサレンズを大口径且つ明
るいものとしなければならず、これが非常に困難なもの
であった。 又、ばらつきを少なく且つ能率良く検査を行なうために
は熟練を要するものであるが、チャート像を目視により
チエツクするものであることから、チャート像の分離・
不分離は作業者の体調やθ２が図の様に小さいと被検レ
ンズ４′が絞られた結果となる為、入射角θ２は充分大
きくなければならないものである。 作業者は、被検レンズ４′の位置を光軸方向に微動調節
して上記チャート像の中心のピントを投影板５′上に合
わせた後、この投影板５′上に投影されたチャート像内
の所定位置に於る所定ピッチのチャートが分離されてい
るかどうか（換言すればチャート像内の所定位置に於て
所定の解像力を有するかどうか）を目視によって確認し
、被検レンズの良否を検査するものである。 ［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、こうした投影テストでは、有限な明るさ
の光源からの光を拡大投影するものであるために投影板
上に投影された拡大像は暗く、従って前記の作業全てを
暗室内で行なわなければならないものである。このため
、繁雑で手間のかかる測定作業を暗室内で行なわなけれ
ばならないために甚だ作業性が悪く、測定に多くの時間
を要すると共に、作業者の労働環境も悪いものであ心理
状態によっても左右され、如何に熟練した作業者であっ
ても−・型具上の精度での安定した検査は望めないとい
う問題がある。 ［発明の目的］ この発明は、上記のような背景に鑑みてなされたもので
あり、自動的な定量測定によって光学レンズの検査を可
能とするレンズ検査方法の提供、をその目的とする。 ［課題を解決するための手段］ そのため、本発明によるレンズ検査方法は、回転駆動可
能に保持された被検レンズに軸」−と軸外から所定ピッ
チの格子状チャートを透過した光を入射させ、被検レン
ズにより形成される軸」−及び軸外の格子状チャートの
像のコントラストを、複数の軸外位置に於て軸上光の光
軸方向の複数箇所で測定し、更に、該測定結果から軸上
のコントラストが最大値を示す光軸上の位置の平均位置
に於て軸上及び軸外の格子状チャートの像のコントラス
トを被検レンズを回転させて複数箇所測定し。 これらのコントラスト測定値（チャート像のコントラス
トの値）を予め定められた判定基準値と比較すると共に
、最大のコントラストを示す軸上と軸外の各測定点の光
軸方向の相互のズレ量を予め定められた判定基準量と比
較することにより被検レンズの良否を判定するものであ
る。 上記測定により得られた各測定点のコントラストの値及
び最大のコントラストを示す軸上と軸外の各測定点の光
軸方向の相互のズレの状態から、予め定められた解析演
算方法によってその不良内容を導出も可能となるもので
ある。 ここで、被検レンズにより形成されるチャート像のコン
トラストを測定するということは、チャートが所定ピッ
チの格子チャートであることからチャートピッチの空間
周波数に於る被検レンズのＭＴＦの値を測定しているも
のである。 即ち、ＭＴＦとは、 （ＭＴＦの概要） カメラレンズ等の光学系に光（像光）を通過させると、
その光学系の出力光（出力像）のコントラストは入力光
（入力像）のコントラストより悪入力光の最少光量Ｉ　
ｓｉｎは０（零）と考えてよく、このためＭＴＦの定義
式である（１）式における入力像のコントラストは１と
なる。 従って、被検レンズにより形成される正弦波チャート像
（出力像）のコントラストを測定すれば、これは即ちチ
ャートピッチの空間周波数に於る被検レンズのＭＴＦの
値となるものである。 ＭＴＦは光学系に固有な関数であり、縦軸にコントラス
トの劣化率、横軸に空間周波数を取った直交座標上に表
すと、例えば第３２図の如く表わされる。 カメラレンズ等の光学系では、その光学設計の時点でＭ
ＴＦは計算されて（又は製造後実測されて）把握されて
おり、又、結像面の湾曲、倒れ。 等の発生と光学系の不具合原因との因果関係も解析でき
る。 そこで、被検レンズの最も不良の出易い部位又は不良判
定の行ない易い部位に於て単一空間周波数（ｎ木／ｍ■
）に於けるＭＴＦの値を調べることで当該被検レンズの
ＭＴＦを予想することができくなる。このコントラスト
の変化量は像の空間周波数に密接な関係があり、この入
力像と出力像のコントラストの比を変調伝達関数（Ｍｏ
ｄｕｌａｔｉｏｎＴｒａｎｓｆｅｒ　Ｆｕｎｃｔｉｏｎ
　、これを略してＭＴＦと記す）という。 ＭＴＦは、ある特定の空間周波数に於て、入力像のコン
トラスト と定義され、コントラスト劣化関数と考えてよく、光学
系の結像特性を示すのに用いられる。 コントラストｍは、正弦波の格子を用いて測定した場合
、光像の最大光量をｌ５ａｘ＋最少光量なＩ　ｓｉｎと
すると、 Ｉ　ｗａｘ　　＋　Ｉ　ｓｉｎ と定義される。 被検レンズに入力される正弦波的に変化するチャート透
過光の最大光量Ｉ　ｌａＸと最少光量Ｉ　ｓｉｎから、
上記（２）式により被検レンズへの入力像のコントラス
トを求めることができるが、る。即ち、例えば第３３図
に示す実線が理想（設計）ＭＴＦ曲線であって空間周波
数ｎ木／層層に於るコントラストがａである時、被検レ
ンズにより形成される同じ空間周波数のチャート像のコ
ントラストがＸであった場合、当該被検レンズのＭＴＦ
は想像線の如くであろうと推察できる。 又、軸上及び軸外の複数箇所に於て最大のコントラスト
の値を示す光軸方向の位置（即ち結像位置）を調べるこ
とにより、第３０図（ａ）図示の如き結像面の倒れや、
同図（ｂ）図示の如き結像面の湾曲（図はアンダー側の
湾曲を示す）等を察知することができる。 従って、所定空間周波数に於る被検レンズのコントラス
トの許容値と、結像面の湾曲、倒れ２等の許容量から判
定基準値と判定基準量を適当に設定すれば、被検レンズ
の測定結果をこれら判定基準値乃至判定基準量と比較す
ることによって当該被検レンズの良否判定が可能となる
。又、結像面の湾曲、倒れ９等の発生状況から、構成レ
ンズの偏心２面形状および間隔誤差等光学系の不具合の
原因を解析できるものである。尚、チャートとして正弦
波チャートではなく矩形波チャートを用いた場合には、
測定空間周波数に高調波が含まれて複数の空間周波数が
混在することとなるが、量産時等被検レンズのＭＴＦが
解っている場合では高調波分を考慮して判定基準を設定
すれば良いものであり、逆に高調波を含めた状態で像面
位置検出ができるという効果を有するものである。 更に、上記各測定点のコントラスト又は最大のコントラ
ストを示す軸上と軸外の各測定点の光軸方向の相互のズ
レの状態から、予め定められた解析演算方法によってそ
の不良内容を導出することも可能となるものである。 以下余白 （作　用） レンズマウント部１０は、被検レンズ１を、該被検レン
ズｌの光軸を中心として回転駆動可能に所定位置に保持
する。 光学系２は、レンズマウント部１０に保持された被検レ
ンズｌに、該被検レンズ１の光軸に沿う軸上から所定格
子ピッチのチャー）ＣＡを透過した光（軸上光ＬＡ）を
入射させると共に、光軸と所定の角度を有する軸外から
所定格子ピッチのチャー）ＣＺを透過した光（軸」二元
ＬＺ）を入射させる。 コントラスト測定部３では、光学系２からの軸上及び軸
外光ＬＡ＠ＬＺがレンズマウント部１０に保持された被
検レンズｌを通過することにより形成されるチャー）Ｃ
Ａ・ＣＺの像を、ＣＣＤセンサ部３１の各ＣＣＤセンサ
（軸上センサ３１Ａ及び軸外センサ３１Ｚ）がチャート
像のピッチ方向に走査して該チャート像の明暗を電気信
号に変換し、この電気信号を演算回路３２（軸」１演算
回路３２Ａ及び軸外演算回路３２Ｂ）によ［発明の実施
例］ 以下、この発明の実施例を添付図面を参照しながら説明
する。 第１図は、本発明に係るレンズ検査方法を適用してレン
ズを検査するレンズテスタＬＴのブロック図である。 「レンズテスタＬＴの概略」 （構　成） レンズテスタＬＴは、レンズ保持部としてのレンズマウ
ント部ｌＯ１光学系２、センサ部３１と演算回路３２と
により構成されるコントラスト測定手段としてのコント
ラスト測定部３、作動制御手段としての制御部４、判定
部５、表示部６、とにより構成されている。尚、制御部
４と判定部５は一つのマイクロコンピュータにより構成
されているものである。 尚、本実施例に於てレンズテスタＬＴは第２６図の如く
コンピュータと接続されてレンズテスタシステムを構成
しているが、これについては後に詳説する。 り演算して軸上及び軸外に於るチャート像のコントラス
トを算出（即ち測定）する。 制御部４は、ＣＣＤセンサ部３１の各ＣＣＤセンサ３１
Ａ−３１Ｚを被検レンズｌの光軸方向に移動させて被検
レンズｌの光軸方向の複数箇所に於いて軸」二及び軸外
に於るチャート像のコントラストを測定すると共に、レ
ンズマウント部ｌＯを駆動することにより被検レンズｌ
をその光軸な中心に回転させて軸外の測定点を変更する
と共に軸」二に於る被検レンズ１に対するチャート像の
ピ・ンチ方向を変更し、上記被検レンズ１の光軸方向の
複数箇所に於けるチャート像のコントラストの測定を所
定の複数の軸外位置について行ない、更に、上記測定に
より得られた軸上のコントラスト測定結果から、各測定
点に於るコントラストが最大値を示す光軸上の位置の平
均位置に軸上及び軸外のＣＣＤセンサ３１Ａ・３１Ｚを
固定しく即ち、軸上の各測定点に於るコントラストが最
大値を示す被検レンズｌと軸上センサ３１Ａとの平均距
離、と等しい被検レンズ１からの距離に軸外センサ３１
２も固定し）、被検レンズ１を回転させて軸外の各測定
点に於るチャート像のコントラストを測定するよう、コ
ントラスト測定部３のセンサ部３１の各ＣＣＤセンサ３
１Ａ・３１２の移動駆動とコントラストの測定、及びレ
ンズマウント部１０の駆動（被検レンズｌの回転）を制
御するものである。 判定部５は、上記作動制御部４に制御されてコントラス
ト測定部３により得られたチャート像のコントラストの
値を予め定められた判定基準値と比較すると共に、最大
のコントラスト値を示す軸上と軸外の各測定点の光軸方
向の相互のズレ量を予め定められた判定基準量と比較し
、判定基準を越えているものがあれば不良として被検レ
ンズ１の良否を判定する。更に、被検レンズｌが不良の
場合には、上記各測定点のコントラスト値又は最大のコ
ントラスト値を示す軸上と軸外の各測定点の光軸方向の
相互のズレの状態から、予め定められた解析演算方法に
よってその不良内容を導出する。 基板１２の上面に被検レンズｌを位置決め載置可能なレ
ンズ蔵置ｍ１３、下面に軸受ポス１０１との嵌合部１４
、をそれぞれ突出形成した略円板状の外観を呈している
。基板１２の外周端部面には全周に亘ってギア１２Ａが
形成されており、又、基板１２の上面のレンズ載置部１
３を中心とした対向する二箇所に、被検レンズｌをレン
ズ載置部１３に固定する為のロック機構１５が設けられ
ている。 そして、嵌合＠１１４がベアリング１０２を介してシャ
ーシｌＯＯに固定された軸受ポス１０１に嵌合し、シャ
ーシｌＯＯに回転自在に設置されている。 レンズ載置部１３は、その上面が基準面１３Ａとなって
いると共に図示しない前後拳左右方向の位置決めが形成
されており、該基準面１３Ａ上に被検レンズｌの鏡筒の
フランジＩＡ（当該レンズをカメラ本体へ取付ける為の
フランジ）を当接させて載置すると、マウント１１に対
して被検レンズｌの上下会前後・左右の表示部６は、判
定部５による判定結果と、導出された不良内容を配置さ
れたＬＥＤの点灯により表示するものである。 次に、上記各構成部の構成及び作用を、順を追って詳細
に説明する。 「レンズマウント部１０Ｊ （構　成） 第２図は、レンズマウント部ｌＯの平面図、第３図は　
その■−■断面図である。 図において、１００はレンズテスタＬＴのシャーシ（第
２図には示してない）、１１は被検レンズｌが位置決め
保持されるマウント、１０１はマウント１１を回転自在
に支持するシャーシｌＯＯに固定された軸受ポス、１５
は被検レンズ１をマウント１１上に固定するロック機構
、１７はロック機構１５を駆動するエアシリンダ、１８
はマウント１１を回転駆動するＤＣモータである。 マウント１１は、円板状の基板１２の中心部に検査光通
過の為の開口部を形成すると共に、この位置が決った（
即ち位置決めされた）状態となるよう構成されているも
のである。 ＤＣモータ１８は、マウン）１１配置位置の側方テアル
シャーシｌＯＯの下側の面にそのスピンドル１８Ａを上
向きとして固定されている。 シャーシ１００を貫通して上側に突出するスピンドル１
８Ａの上端にはギア１８１が嵌合固定され、該ギア１８
１がアイドルギア１６と噛合すると共に該アイドルギア
１６がマウン）１１の基板１２の外周のギア１２Ａと噛
合しており、ＤＣモータ１８の回転によりマウン）１１
が回転駆動されるようになっている。 ロック機構１５は、基板１２の上面に立設されたボス）
１５１の側面に、リンクプレート１５２がその略中央部
で回動可能に軸支されると共に、該リンクプレート１５
２の先端に固定さられたビン１５２Ａがロックプレート
１５３の切り欠き１５３Ａに嵌合しており、リンクプレ
ート１５２の回動によりロックプレート１５３も回動す
るよう構成されている。ロックプレート１５３は、所定
厚さの板状で、上端部に切り欠き１５３Ａが開放形成さ
れると共に一方側端にツメ１５３Ｂが突出形成されてお
り、該ツメ１５３Ｂをレンズ載置部１３側としてその下
端側でボス）１５１に回動自在に軸支されているもので
ある。 又、リンクプレート１５２とロックプレート１５３とは
、その夫々の軸支位置の外側（レンズ載置部１３とは反
対の側）に於てスプリング１５４によって連結されてお
り、該スプリング１５４がロックプレート１５３をリン
クプレート１５２に対してそのツメ１５３Ｂをレンズ載
置部１３側に回動させる方向に引っ張り付勢している。 このロックプレート１５３の回動はツメ１５３Ｂがレン
ズ載置部１３の」二面（基準面１３Ａ）に当接すること
で規制されるが、この時ツメ１５３Ｂが基準面１３Ａを
押圧する力は、被検レンズｌを保持するに充分な所定の
押圧力となるよう設定されているものである。 エアシリンダ１７は、そのロッド１７Ａの位置部工３の
基準面１３Ａ上への被検レンズＩの載置（又は取り外し
）が可能となる。この状態で、基準面１３Ａ上に被検レ
ンズ１を位置決め載置し、エアシリンダ１７を逆方向に
駆動してリンクプレート１５２の押圧を解除すると、ス
プリング１５４の引っ張り力でロックプレート１５３が
回動し、ツメ１５３Ｂが被検レンズ１のフランジＩＡを
レンズ載置部１３上に押圧して被検レンズ１を基準面１
３Ａ上に（即ちマウント１１」二に）固定するものであ
る。 又、ＤＣモータ１８を回転させてマウント１１を回転駆
動することにより、マウント１１上に固定された被検レ
ンズｌをその光軸を中心として回転させることができ、
且つ任意の位置（角度）で停止させることができるもの
である。 尚、上記エアシリンダ１７及びＤＣモータ１８の駆動制
御は、後述する制御部４により行なわれるものである。 「光学系２」 （構　成） をリンクプレート１５２の軸支点より−Ｌ側に対応させ
てリンクプレート１５２より外側のシャーシ１００上に
設置されており、該エアシリンダ１７を駆動してロッド
１７Ａを伸張させると、該ロッド１７Ａの先端がリンク
プレート１５２の上端を押圧して回動（上端がレンズ載
置部１３ｇ４に、下端がレンズ蔵置部１３と反対の側に
移動するよう回動）させ、ピン１５２Ａを介してロック
プレート１５３をそのツメ１５３Ｂがレンズ載置部１３
から離れる方向（図中矢印で示す）に回動させるように
なっている。尚、図中エアシリンダ１７は−・方のロッ
ク機構１５に対するものしか記載してないが、他方のロ
ック機構１５に対しても同様に配置するか、又は双方の
ロック機構１５をリンク機構等により連結して同期作動
するよう構成すれば良いものである。 （作　用） そして、エアシリンダ１７を駆動してロックプレート１
５３をそのツメ１５３Ｂがレンズ載置部１３から離れる
方向に回動させると、レンズ載置光学系２は、第１図に
示す如く、軸上光及び軸外光の二本の光束を形成する光
源部２１と、該光源部からのそれぞれの光束が透過する
位置に配置された所定ピッチの透過型格子であるそれぞ
れのチャートＣＡ・ＣＺ、該チャー）ＣＡ−ＣＺ及び被
検レンズｌを介したそれぞれの光束（軸上光ＬＡ及び軸
外光ＬＺ）の光路を反射屈折させて後述するコントラス
ト測定部３に導くミラー２２・２３、それぞれの光束光
路上に配置されたコリメータレンズ２４・２４、により
構成されている。 光源部２１は、その概念構成図を第４図に示す如く、光
源としてのハロゲンランプ２１１、該ノ＼ロゲンランプ
２１１からの光を所定の分光特性に整える為の二枚のフ
ィルタ２１２−２１３．コンデンサレンズ２１４、拡散
板２１５、軸上用固定ハーフミラ−２１６、軸外用可動
ミラー２１７、を上記記述＋１１１に配置して構成され
ている。 ハロゲンランプ２１１の背面側（光線出射側とは反対の
側）には、パラボラ状の反射板２１１Ａが設けられ、ハ
ロゲンランプ２１１からの光を所定の位置（図中ｆで示
す）に集光するようになっている。そして、その焦光位
置ｆより光路前方に赤外吸収フィルタ２１２及び色補正
フィルタ２１３の二枚のフィルタが、次にコンデンサレ
ンズ２１４、拡散板２１５の順で配置されている。 拡散板２１５より光路前方には、細土用固定ハーフミラ
−２１６が光路に対して４５°の傾きで固定配置され、
次に軸外用可動ミラー２１７が配置されている。軸外用
可動ミラー２１７は、その角度が調整可能となっている
と共に、ハロゲンランプ２１１からの光束と平行する方
向に前後に移動可能となっており、被検レンズｌの光軸
に対する軸外光の角度を調整可能に構成されている。 光源部２１から出射される軸上及び軸外光ＬＡ−ＬＺの
光路上の被検レンズｌの前（即ちマウントｌｌの光源部
２１側）に、別々のチャートＣＡ−ＣＺがシャーシ１０
０に固定されて配置されている。 軸上ミラー２２は、被検レンズｌの光軸に沿う軸上光Ｌ
Ａを後述するコントラスト測定部３の軸上センサ３１Ａ
に向けて直角に反射するよう、被検レンズｌの光軸上の
所定位置に、該被検レンズ１の光軸に対して４５°傾け
て固定設置されている。 軸外ミラー２３は、第７図乃至第８図に示す如く、シャ
ーシ１００に固定されたガイドレール２３１に、スライ
ドベース２３２及びミラーホルダ２３３を介して被検レ
ンズ１の光軸からの距離及び設置角度を調整可能として
設置されているものである。 ガイドレール２３１は、その長手方向を後述するコント
ラスト測定部３の軸外センサ３１Ｚに向けて水平にシャ
ーシ１００に固定されている。 スライドベース２３２は、その下面に於てガイドレール
２３１に摺動可能且つ離脱不能に嵌合し、ガイドレール
２３１の長手方向に沿って摺動移動可能であると共に、
図示しないロック機構によって所定位置に固定可能とな
っている。 ９　へ チャー）ＣＡ−ＣＺは、第６図に示す如く、光線透過可
能な平坦なガラス基板上に一方方向に所定ピッチ（Ｐ）
で光線不透過の複数の線部をクロムを蒸着して形成した
矩形波格子である。 そして、軸上光ＬＡが透過する位置（即ち被検レンズ１
の光軸上）にはＰ　＝　１／２０■■の軸上チャー）Ｃ
Ａが、軸外光ＬＺが透過する位置にはＰ＝１／１０ｍ麿
の軸外チャートＣＺが、それぞれ配置されている。尚、
各チャー）ＣＡ−ＣＺの配置方向は、軸外チャー）ＣＺ
に於て、そのピッチ方向（刻線と直交する方向）が被検
レンズｌの中心から放射状となる方向とし、軸上チャー
）ＣＡもこの軸外チャートＣＺと同じ向きとして配置さ
れている。 ミラー２２・２３は、軸上チャー）ＣＡ及び被検レンズ
１を介した軸上光ＬＡの光路延長上の所定位置に軸上ミ
ラー２２を固定すると共に、軸外チャートＣＺ及び被検
レンズｌを介した軸外光ＬＺの光路延長上の所定位置に
軸外ミラー２３を配置して構成される。 ミラーホルダ２３３は、スライドベース２３２に離脱不
能に嵌合して一体となっており、その嵌合部２３４に於
て摺動回転可能となっている。このスライドベース２３
２に対するミラーホルダ２３３の回転位置も、図示しな
い固定機構によって任意の角度で固定可能となっている
。ミラーホルダ２３３の回転軸方向は、当該軸外ミラー
２３の摺動移動方向（即ちガイドレール２３１の長手方
向）と直交する水平方向となっているものである。又、
ミラーホルダ２３３の上面にはミラー保持部２３３Ａが
立設されており、該ミラー保持部２３３Ａの上端近傍に
は、取付孔２３３Ｂが貫通形成されている。 軸外ミラー２３の裏面には、円柱状の取付バー２３Ａが
その端面で接着剤により接着固定されてオリ、該取付バ
ー２３Ａをミラーホルダ２３３の取付孔２３３Ｂに嵌合
すると共にこの取付バー２３Ａを二本の止めネジ２３３
Ｃで直交する方向から締付けることで、ミラーホルダ２
３３に軸外ミラー２３が固定されている。本構成により
軸外ミラー２３を歪ませることなく固定することができ
るものである。 尚、第７図及び第８図では、軸該ミラー２３が光軸方向
と直交する角度となっているが、実際は第１図示の如く
所定の角度に傾けて設置されるものである。 コリメータレンズ２４は、上記軸上ミラー２２及び軸外
ミラー２３により屈折されてコントラスト測定部３に向
う光路上に、それぞれ後述するコントラスト測定部３の
センサ部３１のユニットヘース３１３を介してシャーシ
１００Ｇ、：固定されて配置されている。 （作　用） そして、光源部２１では、ハロゲンランプ２１１からの
光を赤外吸収フィルタ２１２及び色補正フィルタ２１３
によって第５図（ｄ）に示す如き所定の分光特性の光と
すると共に、軸上及び軸外光ＬＡ−ＬＺとして被検レン
ズｌに向けて出射する。 第５図（ａ）、（ｂ）、（ｃ）、は光源部わせにより視
感度と略一致した分光特性となるものである。 このような分光特性に加工された光は、ハロゲンランプ
２１１のフィラメント像をボヵす為に拡散板２１５によ
って拡散され、軸上用固定ハーフミラ−２１６によって
略５０％の光が軸上光ＬＡとして上方に向けて直角に反
射される。軸上用固定ハーフミラ−２１６を透過した光
は軸外用可動ミラー２１７によって路上方に向けて所定
の角度で反射され、軸外光ＬＺとなる。軸外用可動ミラ
ー２１７は、前述の如く光束と平行な方向に前後に移動
可能であると共に角度を変更調整することにより光軸に
対する軸外光ＬＺの角度を変更調整可能となっており、
軸外の測定位置を変更できると共に被検レンズ１の種類
に対応できるようになっているものである。 光源部２１からの軸上及び軸外の光束ＬＡ・ＬＺは、そ
れぞれ軸上チャー）ＣＡ及び軸外チャー１−　ＣＺを透
過して被検レンズｌに入射する。 ２１を構成する各構成要素の放射分光特性又は透過分光
特性を示すグラフであり、各図とも横軸が波長、縦軸が
放射率あるいは透過率となっている。それぞれのグラフ
を説明すると、 （ａ）は、ハロゲンランプ２１１単体の放射分光特性で
ある。 （ｂ）は、色補正フィルタ２１２単体の透過分光特性で
あり、該色補正フィルタ２１２は中心透過波長４８０　
ｎｍとなっている。 （ｃ）は、赤外吸収フィルタ２１３単体の透過分光特性
であり、５０％カット波長７５０　ｎｍとなっている。 （ｄ）は、ハロゲンランプ２１１．赤外吸収フィルタ２
１３９色補正フィルタ２１２を第３図の如く組み合わせ
た場合の透過光の分光特性である。即ち、当該光源部か
ら出射される光は、この（ｄ）に示す如き分光特性を有
する光となっているものである。この分光特性の光は、
後述するコントラスト測定部３のＣＣＤセンサ３１Ａ・
３１Ｚの受光分光特性（第５図（ｅ））との組合被検レ
ンズエを通過した軸上及び軸外の光束ＬＡ・ＬＺは、そ
れぞれ軸上ミラー２２及び軸外ミラー２３によって反射
され、コリメータレンズ２４により結像位置を短縮させ
られて後述するコントラスト測定部３に入射する。 尚、軸外ミラー２３の移動及び回転は、前述の光源部２
１に於る軸外用可動ミラー２１７の調整によって軸外光
ＬＺの光軸に対する角度を変更した際に、該軸外光ＬＺ
がコントラスト測定部３のセンサ３１２に入射するよう
調節するものである。 以下余白 ［コントラスト測定部３」 （構　成） コントラスト測定部３は、軸上光ＬＡ及び軸外光ＬＺの
光路上のそれぞれにＣＣＤセンサ３１Ａ・３１Ｚを配し
たセンサ部３１と、該センサ部３１からの軸上及び軸外
二つの信号を演算処理する演算部３２とにより構成され
ている。 センサ部３１は、軸上及び軸外のＣＣＤセンサ３１Ａ・
３１Ｚを光線方向に移動可能として構成されるが、その
構成は、軸上と軸外では同一であり、軸上側を説明する
ことで軸外側の説明は省略する。 演算部３２は、センサ部３１のＣＣＤセンサ３１Ａから
の軸上側の信号を演算処理する演算回路３２Ａと、セン
サ部３１のＣＣＤセンサ３１Ｚからの軸外側の信号を演
算処理する演算回路３２Ｚとにより構成される。そして
、その構成は、」１記センサ部３１と同様に軸上と軸外
では同一であり、軸上側を説明することで軸外側の説明
は省略する。 おり、該酸ネジ３１５には、ユニットベース３１３の軸
上光ＬＡ入射側とは反対の側の端面に固定されたパルス
モータ３１６のスピンドルと連結されたスクリュウシャ
フト３１７が螺合している。 センサボード３１１は、被検レンズｌを通過した軸」二
元ＬＡによる軸上チャートＣＡの像の光量をアナログ信
号として検出（測定）する電気回路基板であり、軸」二
元ＬＡを感知してその光量に対応した電気信号を出力す
るＣＣＤセンサ３１Ａと、図示しない該ＣＣＤセンサ３
１Ａの駆動回路およびサンプル及ホール１回路等の周辺
回路とにより構成される。 ＣＣＤセンサ３１Ａは、画素を一行に並べたラインセン
サであり、センサボード３１１の前面側に固定されるが
、軸上光ＬＡに対して受光面が直角となり且つそのライ
ン方向を軸上チャートＣＡのピッチ方向に一致させてス
ライドベース３１２に垂立固定される。つまり、その画
素配列方向を軸上光ＬＡによる軸上チャー）ＣＡの像の
センサ部３１は、第９図、該第９図のＸ−Ｘ断面図であ
る第１０図及びＸＩ−ＸＩ断面図である第１１図に示す
如く、光学系２によって当該コントラスト測定部３に導
入される軸上光ＬＡを受光するＣＣＤセンサ３１Ａ、該
ＣＣＤセンサ３１Ａを保持するセンサボード３１１．該
センサボード３１１が固定されたスライドベース３１２
、等をユニットベース３１３に所定の位置関係に配置し
て一体化したユニットとなっている。 ユニットベース３１３には、リニアベアリング３１４の
スライドシャフト３１４Ａが二本、軸」―光ＬＡの光路
（光軸）と平行に固定されており、該スライドシャフト
３１４Ａには夫々二個のスライドピース３１４Ｂが摺動
移動自在に嵌合されている。 スライドベース３１２は、その下面に夫々のスライドピ
ース３１４Ｂが嵌合固定されることによってユニットベ
ース３１３に設置され、軸上光ＬＡの光路方向に移動自
在となっている。 又、下面の略中夫に、酸ネジ３１５が固定され格子方向
と直交させてセンサボード３１１前面に設けられる。 尚、ユニットベース３１３の前端部には、前述の光学系
２のコリメータレンズ２４が固定されている。 演算回路３２Ａは、第１２図に示すブロック図の如く構
成されており、センサ部３１のＣＣＤセンサ３１Ａが感
知した光像信号ＳＯつまり被検レンズｌを透過した軸上
チャートＣＡの光像の感知信号Ｓｏを演算処理して、軸
上チャー）ＣＡの像のコントラストを出力する。 つまり、この演算回路３２Ａでは、ＣＣＤセンサ３１Ａ
が前述した図示しないサンプル及ホール１回路を介して
バイパスフィルタ３２１および積分回路３２２に接続さ
れており、バイパスフィルタ３２１は絶対値回路３２３
に接続される。そして、絶対値回路３２３は積分回路３
２４に接続され、積分回路３２４はサンプル及ホール１
回路３２５に接続される。さらに、一方の積分回路３２
２はサンプル及ホール１回路３２６に接続されており、
これらのサンプル＆ホールト回路３２５・３２６は共に
除算回路３２７に接続される。 （作　用） センサ部３１は、パルスモータ３１６の回転によりスラ
ートベース３１２がスライドシャフト３１４Ａに沿って
スライド移動する。即ち、ＣＣＤセンサ３１Ａは輔−１
−光ＬＡの光軸方向に移動駆動されるものである。 演算回路３２Ａは、センサ部３１のＣＣＤセンサ３１Ａ
から送られる光像信号ＳＯを交流成分と直流成分に分解
し、その両者を各々所定時間積分して、それら交流成分
と直流成分の互いの積分値の比を被検レンズ１のコント
ラストとして出力する。 バイパスフィルタ３２１は、上記光像信号Ｓｏ内の交流
成分を取り出す。 絶対値回路３２３は、バイパスフィルタ３２１による上
記交流成分の絶対値、つまり負側の交流成分を正側に整
流した値を出力する。 信号Ｓｏ内の交流成分の積分値を、積分回路３２２によ
る光像信号Ｓｏの直流成分の積分値で割る除算を実行し
、その除算結果を被検レンズｌのコントラストとして出
力する。 光像信号ＳＯは、軸」−チャー１−ＣＡが矩形格子なの
で矩形波信号となっている（該矩形波信号は直流成分を
含んでげた−にげされている）。しかし、フーリエ変換
すれば、」−起用形波信号は、周波数が互いに異なるい
くつかの正弦波を複数合成したものとして表現できる。 そこで、演算回路３２Ａによる上記演算出力が被検レン
ズ１のコントラストとなる旨、光像信号Ｓｏを第１３図
に示す正弦波信号Ｓ１に置き科えて説明する。 同図において、ａは正弦波信号Ｓ１の最大値つまり最大
光量、ｂは正弦波信号Ｓｌの最小値つまり最小光量、Ｔ
はは正弦波信号Ｓ１の周期である。 この正弦波信号Ｓ１の交流成分は、角速度をωとすれば
、 積分回路３２４は、絶対値回路３２３から送られる上記
絶対値を所定の時間について積分する。 つまり、積分回路３２４では、光像信号Ｓｏ内の交流成
分が積分される。 ・方、もう一つの積分回路３２２は、センサ部３１のＣ
ＣＤセンサ３１Ａから送られた光像信号ＳＯをそのまま
所定の時間について積分しており、該積分回路３２２で
は、光像信号Ｓｏの直流成分が積分される。 なお、積分回路３２２Φ３２４の各々は、リセット信号
Ｔｏによってリセットされ、積分信号Ｔ１によってその
積分時間が制御される。 サンプル＆ホールド回路３２５は積分回路３２４の積分
値をサンプリングして除算回路３２７に送出しており、
同様に、サンプル＆ホールド回路３２６は積分回路３２
２の積分値をサンプリングして除算回路３２７に送出し
ている。そして、そのサンプリングのタイミングは、サ
ンプル信号Ｔ２によって制御される。 除算回路３２７は、積分回路３２４による光像と表わＸ
れる。 また、その直流成分は、 と表わされる。 ここで、」−記交流成分の一周期に注目して、交流成分
と直流成分を積分し、互いの積分値の比をとれば、 となり、上記（５）式は、前述した（２）式と違って２
／πという定数が乗ぜられているものの、コントラスト
そのものとなる。 すなわち、演算回路３２Ａでは、センサ部３１のＣＣＤ
センサ３１Ａから送られる光像信号Ｓｏは、バイパスフ
ィルタ３２１．絶対値回路３２３を介してその交流成分
が積分回路３２４により所定の時間について積分され、
他方の積分回路３２２によりその直流成分が積分される
。そして、除算回路３２７により交流成分の積分値が直
流成分の積分値で割られ、すなわち（５）式に示す除算
が実行されて該除算結果が被検レンズ１のコントラスト
となる。 以上、演算回路３２Ａによる演算出力が被検レンズｌの
コントラストとなる旨、光像信号ＳＯを第１３図に示す
正弦波信号Ｓ１に置き替えて説明したが、」−記コント
ラストの演算が積分回路３２２・３２４を用いた光像信
号ＳＯの交流成分対直流成分の面積比計算となっている
ため、光像信号Ｓｏが高調正弦波を多数含んだ矩形波信
号であっても同様であり、何らかまわないものである。 なお、上記”センサ部３１の駆動制御及び演算回路３２
Ａの演算制御は後述する制御部により行なわれる。 チャート像のコントラストの測定を所定の複数の軸外位
置で行なう。（測定ｌ） 該測定ｌの測定結果からは、下記の如き被検レンズ１の
光学特性を知ることができる。（これらの測定結果を基
準値と比較しての良否判定は後述する判定部５により行
なう） （１）軸上の各測定点に於るコントラストが最大値を示
す光軸上の位置、の変化から、軸上に於る非点収差の程
度を検知できる。 （２）軸上の各測定点に於てコントラストが最大値を示
す光軸上の位置の平均位置（平均像面位置）を、当該被
検レンズｌの基準像面位置と比較することにより被検レ
ンズ１のバックフォーカスのオーバー乃至アンダーを察
知できる。 （３）軸外の各測定点に於てコントラストが最大値を示
す光軸方向の位置の変化により軸外に於る非点収差の程
度を検知できる。 （４）軸外の測定点に於いてコントラストが最大値を示
す位置（即ち像面位置）と軸上の像面位置とを比較する
ことにより像面の湾曲・倒れを察知で「制御部４」 （構　成） 制御部４は、後述する判定部５と共にＣＰＵおよびメモ
リとによるマイクロコンピュータによって構成される。 この制御部４は、上記メモリ内の所定の制御プロクラム
４Ａ（第１７図に示す）に従ってレンズテスタＬＴの各
部（レンズマウント部ｌＯ及びコント之スト測定部３）
を作動制御するものであり、コントラスト測定動作全て
の動作を制御するものである。 （作　用） 該制御部４は、コントラスト測定部３のＣＣＤセンサ３
１Ａを駆動制御して被検レンズｌの光軸方向に移動させ
、軸上及び軸外について被検レンズｌの光軸方向の複数
箇所に於いてチャート像のコントラストを測定すると共
に、レンズ保持部１０を駆動して被検レンズをその光軸
を中心として回転させて軸外の測定点を変更して上記被
検レンズの光軸方向の複数箇所に於けるきる。 （５）軸上の各測定点に於るコントラストの最大イ〆１
の差から、軸上コマ収差の程度を検知できる。 （６）軸上の各測定点に於るコントラストの最大値の平
均値から、軸上コントラスト不足を判断できる。 （７）軸上の各測定点に於るコントラストの最大値のう
ちで最小のものの値から、軸上に於る一部のコントラス
ト不足を判断できる。 （８）軸外の各測定点に於るコントラストの最大値の平
均値から、軸外コントラスト不足を判断できる。 （９）＠外の各測定点に於るコントラストの最大値の差
から、軸外コマ収差の程度を検知できる。 このような検知を可能とする測定点は、例えば被検レン
ズ１が３５腸鵬フイルム使用のカメラ用のレンズの場合
、像面位置に於て３５＋＊ｍフィルムの写角（３６■ｍ
Ｘ　２４■■）の対角線角度の４方位（第１４図に於る
■、■、■、■）とし、軸外位置は軸上位置から判定に
必要な所定の距ｇｌｈの位置（本実施例ではｈ＝１５ｍ
齢に於て測定すれば良い。尚、軸外の測定点に於ける像
面位置と軸上の像面位置との比較により湾曲・倒れを察
知することのみを目的とするのであれば、軸外の測定点
は五箇所で良いものである。 次に、上記測定により得られた軸上のコントラスト測定
結果から、各測定点に於るコントラストが最大値を示す
光軸−１−の位置の平均位置にＣＣＤセンサ３１Ａを固
定し、レンズ保持部１０を駆動することにより被検レン
ズｌをその光軸を中心として回転させて軸外の所定測定
点に於るチャート像のコントラストを測定するよう、コ
ントラスト測定手段３のＣＣＤセンサ３１Ａの移動駆動
とチャート像のコントラストの測定、及びレンズ保持部
１０の駆動（被検レンズ１の回転）を制御する。（測定
２） 該測定２の測定結果からは、 （１）軸」二の各測定点に於るコントラストの値の差か
ら、軸」二に於る非点収差を検知できる。 （２）軸−にの各測定点に於るコントラストの平均値定
点（図［１１■及び■）が軸上位置から１５１１１１１
の位置では写角から外れるが、像面の湾曲等のデータを
得るには有効なものである。又、回転ヘリコイド等フォ
ーカシングに伴なってレンズが回転してレンズの方位が
一定しない被検レンズ１の場合には、第１５図示の如く
３０°間隔で１２方位（■〜＠）測定すれば良い。尚、
像面に於る軸上位置から測定位置迄の距離は、当該被検
レンズ１の写角に応じて適宜設定すれば良いものである
。 次に、フローチャートに基づいて具体的な作動制御を説
明する。 第１６図は、制御部４の制御プログラム４Ａおよび後述
する利足プログラム５Ａのフローチャートである。 この制御プログラム４Ａは、前述の如く制御部４を構成
するメモリ内に記憶されており、複数のサブプログラム
（サブルーチン）から成る。 つまり、この制御プログラム４Ａは、初期設定サブルー
チン４１．測定準備サブルーチン４２゜コントラスト測
定サブルーチン４３．コントラスから軸」ニコントラス
ト不足を検知できる。 （３）軸上の各測定点に於るコントラストの最小値から
軸上コントラストの−・部不足を検知できる。 （４）軸外の各測定点に於るコントラストの乎均イ〆ｉ
から、軸外コントラスト不足を判断できる。 （５）軸外の各測定点に於るコントラスト値の差から、
軸外コントラストの変動不良を月産できる。 この検知に於る軸外の測定点は、例えば被検レンズｌが
３５ｍｍフィルム使用のカメラ用のレンズで直進へりコ
イＦ等フォーカシングに伴なってレンズが回転しないタ
イプである場合、像面位置に於て第１４図示の如く、３
５ｍｍフィルムの写角（３６ｍｍＸ２４履ｍ）の対角線
と軸」二位置（光軸中心）を中心とした水平線及び垂直
線上の８方位（第１４図に於る■〜■）で、軸上位置か
ら所定の距＃ｈの位置（本実施例では前述の測定１の際
と同じｈ＝１５ｍｍの位置）に於て測定すれば良い。但
し、３５ｍ＋ｉフィルムの場合で垂ｉｎ（＆ｌａ　ｌの
測ト測定サブルーチン４４．各部復帰＆データ転送サブ
ルーチン４５により構成される。 以下、同図の流れに従って各サブルーチンを説明する。 初期設定サブルーチン４１は、光学系２およびコントラ
スト測定部３の各駆動機構部９表示部６、制御部４が構
成されるマイクロコンピュータ内のメモリ等を夫々の初
期状態にセットする。なお、この初期設定サブルーチン
４１は電源投入時にのみ一回実行される。 測定準備サブルーチン４２は、各空圧機構部の空圧をチ
エツクし、被検レンズ１のレンズマウント部１０へのセ
ットを確認し、不良および不良項目を表示する表示部を
クリヤし、センサ部３１のセンサボード３１１をイニシ
ャルセットつまりその走査開始位置（基準位置）に移動
、停止させ、被検レンズの透過光量を測定して各チャー
トＣＡ　、ＣＺのよごれおよび光学系の大きな異常（例
えば、絞り込まれている）等をチエツクする。 コントラスト測定サブルーチン４３は、センサ部３１の
センサボード３１１を上記走査開始位置（基準位置）か
ら所定距離毎にコントラストを測定しながら被検レンズ
ｌに接近して光路を短縮する方向に走査（移動）させる
。尚、本実施例では１走査ステツプの走査幅（移動圧＃
：、）は１／１２　＋＊ｍに１没定されており、その走
査スピードは約２４０Ｓｔｅｐ／Ｓｅｃ　　となってい
る。また、この走査の動力源はパルスモータ３１６を用
いているが、エンコータ’＋Ｊきのモータ等を利用して
も良い。 この結果、第１７図に示すようなデイフォーカス量に対
するコントラスト値の特性曲線が得られ、数値ル１算に
よりコントラストのピーク値とその位置が軸上、軸外共
に得られる。さらに、該コントラスト測定サブルーチン
４３では、被検レンズを回転させてその測定点を変更し
てコントラスト測定を４回実行する。（前述の測定ｌ）
コントラスト測定サブルーチン４４は、平均軸１、像面
位置に軸」−９軸外の各センサボードをセットさせる。 これは、中心にピントの合ったフィルつぎに、主要な各
サブルーチンについて詳細に説明する。 コントラスト測定サブルーチン４３は軸上と軸外のピン
ト位置（像面位置）を探しだすサブルーチンである。コ
ントラストの測定は、第１図に示すように被検レンズｌ
に対して軸上、軸外の二つの光路ＬＡ−ＬＺにそれぞれ
について軸上、軸外の各センサボード（ＣＣＤセンサ３
１Ａ。 ３１　Ｚ）により行なわれる。各ＣＣＤセンサ３１Ａ・
３１２はコントラストを一度計測する毎にｌ走査ステッ
プ移動する。これにより、第１８図に示すコントラスト
１〜コントラストＷＳＳ（デイフォーカス量に対するコ
ントラスト値の特性曲線）が得られる。このコントラス
ト値は全てメモリ内に記憶され、所定の走査＠　ＷＳＳ
　　走査終了後、コントラストのピーク値とその像面位
置が後述する判定部５にて計算される。 さらに、被検レンズｌを回転させて軸外光束ＬＺに対す
るレンズの方位を変更して上記測定が第１４図に示す４
方位について行なわれる。これム面（設計値）に軸上、
軸外の各ＣＣＤセンサをセットすることに相当する。 そして、軸上、軸外のコントラストを数方位の所定方位
について測定（前述の測定２）する。つまり、直線へリ
コイド等レンズが回転しないタイプの被検レンズでは第
１４図に示す８方位について、回転へリコイド等レンズ
の方位が一定しないタイプの被検レンズでは第１５図に
示す１２方位について測定する。測定方位は、」二記被
検レンズ１のタイプに応じてレンズマウント部ｌＯの回
転を制御して変更する。 各部復帰＆データ転送サブルーチン４５は、レンズマウ
ント部１０の停止位置を所定の初期位置に復帰させ、そ
のロック機構１５を解除して被検レンズｌをレンズテス
タＬＴから取り外せる状態にすると共に、コントラスト
の測定値を後述するパソコン部ＰＣに出力し、更に、測
定したコントラストが前回測定した値よりも低い場合、
チャー）ＣＡ、ＣＺに空気を一方から吹きつけかつ他方
より吸引して該チャートＣＡ、ＣＺを清掃する。 により、所定方位についてコントラストのピーク値とそ
の最良像面位置が求められる。 第１８図は、第１６図に示すコントラスト測定サブルー
チン４３のフローチャートである。以下、同図フローチ
ャートの流れに従って各処理（手順）を説ＩＪＪする。 処理

【１１では、センサ部３１および演算部３２によっ
て軸上および軸外のコントラストを計測する。 処理【２】では、処理［１１で計測したコントラストを
演算部３２の後段に配した図示しないＡ／Ｄコンバータ
でディジタル量に変換する。 処理［３］では、制御部４内に設けられた走査平均レジ
スタ群のｎｏに処理

【２】でディジタル量に変換したコ
ントラストを転送する。 処理

【４１では、制御部４内の走査平均レジスタ群にて
走査平均を計算し、計算結果をメモリ内の所定場所に記
憶させる。 処理【５１では、走査平均レジスタ群にて、各走査平均
レジスタ上の各データを夫々となりのレジスタにシフト
させる。 処理［６］では、各ＣＣＤセンサを１走査ステツプ移動
させる。 処理［７］では、各ＣＣＤセンサの走査（移動）量を検
査する。つまり、走査量（走査による移動量）が設定し
た走査ステップ数に達したかどうか検査し、走査終了の
場合は次の処理［８］に移り、走査未終了の場合は処理
［＋］に戻る。 処理［８］では、所定走査幅分のコントラストから、コ
ントラストのピーク値とその位置を演算する。 処理［９］では、レンズマウントを所定角度回転させて
被検レンズの測定方位を変更する。 処理［１０１では、設定方位（４方位）の全てについて
コントラストを測定終了したかどうか検査する。測定終
了の場合は該コントラスト測定サブルーチン４３から抜
は出してメインの制御プログラム４Ａに復帰する。測定
未終了の場合は処理［］１１を実行する。 処理［１１１では、走査ステップ数を条件により変して
、この平均値がコントラストとしてメモリに転送、記憶
される。その後、走査平均レジスタ群の各データが夫々
隣りのレジスタにシフトされる。つまり、Ｄｏ　ｍＤｌ
　　ｍＤｌ　−＋ｐ２　　、＋＋・Ｄ６→Ｄｌとシフト
されるのである。すなわち、２進法で８で割るロジック
が簡単なため、こうした処理により高速演算が可能とな
る。さらに、レジスタ内のデータシフトは、制御部４を
構成したマイクロコンピュータでは容易である。などの
理由により走査平均計算は、容易かつ高速に処理できる
。なお、−１−配力法では、レジスタ　Ｄｏ〜Ｄ７の和
が最大となるコントラストのピーク位置はＤｏにデータ
を取り込む時点のセンサボード位置と４走査ステツプの
ズレを生ずる。しかし、このズレは常に一定なので４走
査ステツプズした位置をピーク位置とすればよい。 レジスタＤＯに取り込むデータの最初の１個から７個目
まで、つまり、走査平均レジスタ群ｎｏ”Ｄ＋が全てＦ
ＵＬＬになるまでは、走査平均を取ったコントラストは
実際に測定したコントラ更設定し、処理［１１に戻る。 これは所定の条ヂ１．が成立したときに走査ステップ数
を減少させて、走査時間の短縮化を図るものである。 なお、処理［１］から処理［７］までで構成されるルー
プが１走査ステツプとなり、本実施例ではｌ走査ステッ
プの処理時間は４．０９６　ｒｘｓに設定されている。 当該制御部４では、コントラスト測定に際して走査平均
、レジスタ群を利用して走査平均計算が行なわれるよう
になっており、次に、この走査平均の動作について説明
する。 （走査平均の動作について） 第１９図は、走査モ均しジスタ群の概念図である。 走査平均レジスタ群は、８個の所定ビット数のレジスタ
ｎｏ−Ｄ、で構成され、制御部４内に設けられる。 その動作は、まず、前述したディジタル信号が制御部４
内の走査平均レジスタ群のＤＯに転送されてレジスタＤ
、−Ｄ７の平均が計算される。そストよりもかなり低く
でる。しかし、この部分の測定値は、第１７図に示すコ
ントラスト曲線の裾野の部分に相当するので問題ない。 また、走査平均を取ったコントラストは、実際の測定値
より必ず低い値となり誤差を生ずる。しかし、この実際
の測定値との誤差は、走査ステップのステップ数を多く
することにより減少させることができ、これによりその
影響を無視できる。 実際には、走査幅ＷＳＳ　　における走査ステップ数は
３００〜１０００ステツプに達する。ｌ走査ステップは
４．０９６ｒａｓなので約１秒強〜４秒を必要とする。 コントラストのピーク値とその位置は、メモリ内に記憶
させた各ステップ毎のコントラストデータ全てについて
コントラストの大小比較をくり返し行なうことで捜しだ
す。走査ステップのステップ数にもよるが、最大約１０
００回比較をくり返すことになり、本実施例では制御部
４が２　ＭＨｚクロックで作動しているので該大小比較
の処理時間に約１００ＬＩＩｓ必要となる。 （走査時間の短縮化について） コントラスト測定サブルーチン４３では、第１４図に於
る■、■、■、■に示す所定の４方位についてコントラ
ストを測定し、コントラストのピーク値とその位置を演
算するものであるが、下記の条件を満足する場合には走
査幅ｗｓｓ全幅の走査を行なわずに、所定手順に基いて
走査幅を減少させる。これにより走査時間の短縮化を図
るものである。 その条件とは、 （１）複数の被検レンズを検査する時のｆｂのバラツキ
と個々の被検レンズ内の像面の測定点の変化による変化
量に大差があり、前者の方が大きい場合。 （２）被検レンズの軸外像面の倒れが小さいか、または
調べる必要がない場合。 （３）被検レンズの中心像面の方位による変化を調べ、
平均軸上像面のみを測定すればよい場合。である。 第２０図は、走査時間の短縮化を説明する概念図である
。同図において、横軸はセンサボードの走査方向を示し
、縦軸は下方に向って走査時間の経過を示している。 センサボードの走査は所定の４方位について４回行なわ
れるが、まず−回目の方位■でセンサボードの走査を例
えば８００走査ステツプで行なったとすると、つぎの方
位■では方位■で見つけたピーク位置プラス所定走査幅
ＷＳＨ（これを例えば２００走査ステツプとする）走査
する。−回目の方位■でのピーク位置が４００走査ステ
ツプ目であったとすると、二回目の方位■での走査は６
００走査ステツプで済むことになる。同様に三回目の方
位■では４００走査ステツプ、四回口の方位■でも４０
０走査ステツプとなる。こうすると４方位４回の走査は
合計２２００走査ステツプとなり、こうした方法を取ら
ずに４方位４回全てについて所定の８００走査ステツプ
走査した場合の合計３２００走査ステツプと比較して、
１０００走査ステツプ、つまり時間にして約４秒短縮さ
れる。 「判定部５Ｊ （構　成） 判定部５は、前述の制御部４と共にＣＰＵおよびメモリ
とによるマイクロコンピュータによって構成される。又
、該判定部５内には、判定結果を一時格納するための各
々８ビツトで構成された二つの判定レジスタＤＳＯおよ
び［ｌＳ１　（図示しない）が設けられている。尚、判
定レジスタをＤＳＯおよびＤＳＩの二つとしたのは、一
つでは処理データ数に対応しきれないことによる。 更に、制御部４と共に該判定部５を構成するマイクロコ
ンピュータのメモリを、後述する表示部６を制御する為
の表示制御メモリとして使用するようになっている。 （作　用） 該判定部５では、前述の制御部４により作動制御されて
測定された被検レンズｌの各測定点に於るコントラスト
の値を、第１６図に示す制御プログラム５Ａに従って予
め定められた判定基準と比較することにより良否判定を
行なう。制御プログラム５Ａは、判定部５を構成するメ
モリ内に記憶されており、複数のサブプログラム（サブ
ルーチン）から成る。つまり、この制御プログラム５Ａ
は、二つの判定サブルーチン５１．５２により構成され
る。 ここでは、 １、測定ｌ（コントラスト測定サブルーチン４３）の測
定結果を判定基準と比較することにより、 （１）軸上に於る非点収差不良（軸上ピークの異常変化
による不良（Ａ−ＡＳＵ　）　） （２）パックフォーカスのオーバー乃至アンダー不良（
機械的なバックフォーカスの不良、過大不良（ｆｂ大）
及び不足不良（ｆｂ小）） （３）軸外に於る非点収差不良（軸外像面かたおれてい
る不良（Ｚ−ＡＳＵ　）　） （４）像面の湾曲・倒れ不良（アンダー不良つまり軸外
像面が軸上像面よりもレンズ側に寄りすぎている不良（
ＵＮＤ）　、及びオーバー不良つまり軸外像面が軸上像
面よりもレンズ側から離れている不良（０ＶＥＲ）） （５）軸」−コマ収差不良（最良軸」ニコントラストの
異常変化による不良（Ａ−ＣＯＮ　）　）（６）軸」部
コントラスト不足不良（平均軸」ニコントラスト値が小
さすぎる不良（Ａ−ＭＴＦＬＯ）　）（７）軸上一部コ
ントラスト不足不良（（Ａ−ＭＴＦＰＬ（８）軸外コン
トラスト不足不良（平均軸外コントラスト値が小さすぎ
る不良（Ｚ−ＭＴＦＬＯ）　）（９）軸外コマ収差不良
（最良軸外コントラストの異常変化（Ｚ（；ＯＮ　）　
） を判定する。 ２、測定２（コントラスト測定サブルーチン４４）の測
定結果を判定基準と比較することにより、 （１）輔」二に於る非点収差不良（Ａ−ＡＳＵ　）（２
）軸」部コントラスト不足不良（Ａ−ＭＴＦＬＯ）（３
）軸上コントラストの一部不足不良（軸外コントラスト
の一部が小さく、かつアンダー不良である場合（Ｕ十〇
　）の不良、軸外コントラストの一部と対応するピント
の状態がＯの場合は消灯され、ｌの場合には点灯される
ようになっている。又上記判定に用いられたデータは、
後述するパソコン部ＰＣにも送られるようになっている
。 以下、フローチャートに基づいて共体的に説明する。 まず、制御プログラム５Ａを構成する二つの判定サブル
ーチン５１．５２を第１６図の流れに従って説明する。 判定サブルーチン５１は、前述したコントラスト測定サ
ブルーチン４３の結果から軸上アス（非点収差）、コマ
、軸外アス（偏心）、コマの程度を計算する。さらに、
軸」二の平均像面位置（ＨＫＮＰＰＡ）と、軸外の平均
像面位置（ＨＫＮＰＰＺ　）との差から像面湾曲を、ｔ
ｌ算する。そして、これらの計算結果と後述する各基準
値との比較から被検レンズ１の良否および不良内容を判
定し、その判定結果を判定レジスタＤＳＯおよびＤＳＩ
に記録する。 判定サブルーチン５２は、ｌｌｌ１ｌＪ−、軸外のコン
トラストおよびコントラストの変化の様子を工１算か小
さく、かつオーバー不良である場合（０＋１１（４）軸
外コントラスト不足不良（Ｚ−ＭＴＦＬＯ）（５）軸外
コントラストの変動不良（軸外のＭＴＦが激しく変化し
ている不良（Ｚ−ＨＥＮ　）　）を判定する。 −１；記項目別の判定の結果は、それぞれ判定レジスタ
ＤＳＯおよびＤＳＩの予め定められたピッ）１〜８の状
態゛を変化（良の場合：０．不良の場合：ｌ）すること
により記録され、該判定レジスタＤＳＯ・ＤＳｌに記録
された判定結果は各判定サブルーチン５１−５２毎に表
示制御メモリに転送される。 そして、この表示制御メモリに転送記憶された判定結果
に基いて、後述する表示部６に設けられた各ＬＥＤが点
滅制御されるようになっている。 即ち、表示部６の各ＬＥＤは、表示制御メモリの内容、
つまり判定レジスタＤＳＯおよびＤＳＩの各ビットの状
態（０またはｌ）に対応して点滅制御される構成となっ
ており、各ＬＥＤは、その各々し、判定サブルーチン５
１と同様に、これらの６：１算結果と後述する各基準値
との比較から被検レンズｌの良否および不良内容を判定
し、その判定結果を判定レジスタＤＳＯおよびＤＳｌに
記録する。 判定レジスタＤＳＯおよびＤＳｌに記録された判定結果
は、前述の如くその都度（判定サブルーチン５１・５２
毎に）表示制御メモリに転送記憶され、該表示制御メモ
リの記憶内容に基づいて後述する表示部６の各ＬＥＤを
点滅制御するものである。 （判定基準について） 被検レンズの耳順によってレンズ良否の判定基準が異な
るため、レンズテスタＬＴでは、制御プログラム５Ａ上
に多くの判定基準を持っている。 これらの判定基準には、その全てに制御プログラム５Ａ
Ｊ―でＳＴＤを冠した基準値名が付けられている。 像面についての基準値には、 ５ＴＯＰＰＡ　　：基準軸」二像面 ５ＴＤＰＰＺ　　、基準軸外像面 ５ＴＤＰＰＡＵ　：軸上アンダー側リミット５ＴＤＰＰ
ＡＯ：軸上オーバー側リミットｓ’ｒｎｐｐｃｕ　：軸
外アンダー側リミット５ＴＯＰＰＧＯ：軸外オーバー側
リミットがあり、上記各リミットから外れる被検レンズ
１は、バックフォーカスｆｂ　　（機械的なピント位置
）不良と判定される。 像面変化についての基準値には、 ５ＴＤＰＰＳ＾　＝軸上像面変化リミット５ＴＤＰＰＳ
Ｚ　：軸外像面変化リミットがあり、上記各像面変化リ
ミットをオーバーする被検レンズは、アス（非点収差）
不良と判定される。 コントラストの変化についての基準値には、Ｓ丁ＤＭＭ
ＳＡ　：最良軸上コントラストの変化リミットＳＴＤＭ
ＭＳＺ　：最良軸外コントラストの変化リミットがあり
、上記各変化リミットをオーバーする被検レンズは、コ
マ収差不良と判定される。 コントラストの最小値についての基準値には、ＳＴＤＭ
ＩＮＡ　：最良軸上コントラストリミットＰＰＡＮＡＸ
　：最大値 ＰＰＡＭＩＮ　：最小値 ）ＩＫＮＰＰＡ　：平均値 ５ＡＰＰＡ　　：最大値と最小値との差を求める。 処理［２］では、軸−Ｌ像面変化リミット（５ＴＤＰＰ
ＳＡ）と処理［１１で計算した最大値と最小値との差（
５ＡＰＰＡ　）とを比較する。軸上像面変化リミット（
５ＴＤＰＰＳＡ　）よりも最大値と最小値との差（５Ａ
ＰＰＡ）の方が大きい場合は、軸上アス（非点収差）不
良と判定し、判定レジスタの所定ビット（判定レジスタ
ＤＳＯの３ビツト目）を１とする。 設計上回転対称になっているカメラレンズは、一般に光
軸上に非点収差を発生しない。しかし、カメラレンズが
心取り不良の玉により組み立てられた場合等には、光軸
上に非点収差が現われるので、上記処理［２］にて軸上
像面位置が所定量以上変動している被検レンズを軸」ニ
アス不良とするものである。 ここで、該処理【２１に於て軸上アス（非点収ＳＴＤＭ
ＩＮＺ　：最良軸外コントラストリミット５ＴＤＮＮＬ
Ａ　：平均軸上像面における軸上コントラストリミット Ｓ丁ＤＮＮＬＺ　：平均軸上像面における軸外コントラ
ストリミット ＳＴＤＭＮＨ２：平均軸上像面における軸外コントラス
トの平均値のリミット があり、上記各リミットに満たない被検レンズは、コツ
トラストアンダー不良と判定される。なお、平均軸上像
面における軸外コントラストの平均値のリミッ）　（Ｓ
ＴＤＭＮＨ２）に満たない被検レンズは、特定方位のみ
の不良ではなく、平均値も不良な不良の程度の大きいレ
ンズと判定される。 （判定動作について） 第２１図１／４〜４／４は、第１６図に示す判定サブル
ーチン５１のフローチャートである。以下、同図に示す
各処理（手順）の流れに従って説明する。 処理［１１では、４方位について測定した４個の軸上像
面位置（ＰＰＡ　）から、 差）不良と判定された場合を例として不良表示を説明す
る。 処理【２】に於て軸上アス（非点収差）不良と判定され
ると、判定レジスタのそれと対応するビット（判定レジ
スタ口ＳＯの３ビツト目）が１となる。そして、当該判
定サブルーチン５１の終了詩に判定レジスタの内容が表
示制御メモリに転送記憶される（後述の処理［２３］　
）と、該表示制御メモリに記憶された軸上アス不良を示
すデータに基づいて、表示部６（第２５図示）の当該不
良の表示であるＬＥＤ６４Ａ　（Ａ−ＡＳＵ）を点灯さ
せるものである。 処理（３３では、軸上アンダー側リミット（５ＴＯＰＰ
ＡＵ）と処理［１］で計算した平均値（ＨＫＮＰＰＭ）
とを比較する。軸上アンダー側すミッ）　（５ＴＤＰＰ
ＡＵ）よりも平均値（ＨＫＮＰＰＭ）の方が大きい場合
は、機械的なバックフォーカスｒｂのアンダー側異常と
判定し、判定レジスタの対応ビット（判定レジスタ口Ｓ
Ｏの１ビツト目）を１とする。これにより、上記判定レ
ジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき、
当該不良の表示である表示部６のＬＥＤ６３Ａ　（ｆｂ
大）を点灯させる。 処理［４１では、軸」ニオーへ−側すミツ）　（５ＴＤ
ＰＰＡＯ）と処理［１］で計算した平均値（）ＩＫＮＰ
ＰＡ）とを比較する。そして、軸１−オーバー側リミッ
ト（５ＴＤＰＰＡＯ）よりも平均値（ＨＫＮＰＰＡ）の
方が小さい場合は、機械的なパックフォーカスｒｂのオ
ーバー側異常と判定し、判定レジスタの対応ビット（判
定レジスタＤＳＯの２ビツト目）を１とする。 これにより、１−記判定レジスタの内容が表示制御メモ
リに転送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部
６のＬＥＤ６３Ｂ　（ｆｂ小）を点灯させる。 処理［５］では、基準軸」−像面（ＳＴＩＩＰＰＡ）つ
まり軸上像面位置の設計値と、処理［１１で計算した平
均値（）ＩＫＮＰＰＡ）つまり平均軸上像面位置との像
面位置の差（５Ａ）ＩＫＮＡ　）を求める。すなわち、
（５ＴＤＰＰＡ　）　−（ＨＫＮＰＰＡ）　＝　（５Ａ
ＨＫＮＡ　）という計算が行なわれる。 処理［６１では、平均軸−Ｉ−像面（ＨＫＮＰＰＭ）に
相当ｐｚｏ　）を求める。すなわち、処理［６］で計算
した軸外像面（５ＫＰＰＺ）　　、軸外像面のアンタ一
方向許容量（５ＴＤＷＵ）　　、軸外像面のオーバ一方
向許容量（５ＴＤＷＯ）から （５ＫＰＰＺＵ　）　＝　（５ＫＰＰＺ）　＋　（５Ｔ
ＤＷＵ）（５ＫＰＰＺＯ）　＝　（５ＫＰＰＺ）　−（
５ＴＤＷＯ）と、求められる。 処理［８１では、処理［７］で計算した軸外像面のオー
バ一方向すミッ）　（５ＫＰＰＺＯ）を検査してその値
が負の場合に（５ＫＰＰＺＯ）　＝　Ｏとする。これは
、負の値をなくして判定部５での演算処理を容易にする
ためのものである。 処理［９］では、４方位について測定した４個の軸外像
面位置（ｐｐｚ　）から、 ＰＰＺＭＡＸ　：最大値 ＰＰＺＭＩＮ　：最小値 ＨＫＮＰＰＺ　：平均値 ５ＡＰＰＺ　：最大値と最小値との差 を求める。 処理［１０１では、軸外像面変化リミッ）　（５ＴＤＰ
ＰＳ（一致）する軸外像面（５ＫＰＰＺ）を求める。こ
れは、軸外コントラストの測定を平均軸」−像面（ＨＫ
ＮＰＰＭ）に相当（一致）する軸外像面（５ＫＰＰＺ）
で行なう必要があるためである。 第２２図は、基準となる像面位置と、処理［１１で計算
した平均の像面位置との関係を示す説明図である。同図
に示すように軸外像面の設計値からのズレ量は、処理１
５１で計算した像面位置の差（５ＡＨＫＮＡ　）から（
５ＡＨＫＮＡ　）　／　Ｃｏｓ　Ｏとなる。 すなわち、基準軸外像面（５ＴＤＰＰＺ　）からと、求
められる。 なお、上記のような三角関数の計算は、判定部５を構成
したマイクロコンピュータでは計算プログラムが繁雑と
なり、いたずらにプログラムステップ数が増大する傾向
にある。そこで、本実施例では上記計算をまるめ計算と
しである。 処理閏では、軸外像面のアンダ一方向リミ・ント（５Ｋ
ＰＰＺＵ　）と、オーバ一方向すミ・ント（５ＫＰＺ）
と処理［９１で計算した最大値と最小値との差（５ＡＰ
ＰＺ　）とを比較する。軸外像面変化リミット（５ＴＯ
ＰＰＳＺ　）よりも最大値と最小値との差（５ＡＰＰＺ
）の方が大きい場合は、軸外アス（非点収差）不良と判
定し、判定レジスタの対応ビット（判定レジスタＤＳＩ
の１ビツト目）を１とする。これにより、」二記判定レ
ジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき、
当該不良の表示である表示部６のＬＥＤ６５Ｃ（Ｚ−Ａ
ＳＵ）を点灯させる。 処理［１１Ｊでは、処理［７］で計算した軸外像面のア
ンダ一方向リミッ）　（５ＫＰＰＺＵ　）と処理［９］
で計算した平均値（ＨＫＮＰＰＺ）とを比較する。軸外
像面のアンダ一方向リミット（５ＫＰＰＺＵ　）よりも
平均値（ＨＫＮＰＰＺ）の方が大きい場合は、像面がア
ンダー側に湾曲したアンダー異常と判定し、判定レジス
タの対応ビット（判定レジスタＤＳＯの７ビツト］」）
を１とする。これにより、上記判定レジスタの内容が表
示制御メモリに転送記憶されたとき、当該不良の表示で
ある表示部６のＬＥＤ　６５Ａ　（ＵＮＤ）を点灯させ
る。 処理［１２１では、処理［７１で計算した軸外像面のオ
ーバ一方向リミット（５ＫＰＰＺＯ）と処理［９１で計
算した平均値（ＨＫＮＰＰＺ）とを比較する。軸外像面
のオーバ一方向すミッ）　（５ＫＰＰＺＯ）よりも平均
値（ＨＫＮＰＰＺ）の方が小さい場合は、像面がオーバ
ー側に湾曲したオーバー異常と判定し、判定レジスタの
対応ビット（判定レジスタＤＳＯの８ビツト目）を１と
する。これにより、上記判定レジスタの内容が表示制御
メモリに転送記憶されたとき、当該不良の表示である表
示部６のＬＥＤ　６５Ｂ　（ＯＶＥＲ）を点灯させる。 処理［１３］では、処理［９１でＪ算した平均値（ＨＫ
ＮＰＰＺ）つまり平均軸外像面位置と、処理［６］で計
算した軸外像面位置（５ＫＰＰＺ）との像面位置の差（
５ＡＨＫＮＺ　）を求める。すなわち、（ＨＫＮＰＰＺ
）　−（５ＫＰＰＺ）　＝　（５ＡＨＫＮＺ　）という
計算が行なわれる。 処理

【１４】では、処理［１３Ｊで計算した軸外像面の
差（５Ａ）ＩＫＮＺ　）を検査する。つまり、軸外像面
の部６のＬＥ０６５Ｇ　（Ｕ＋Ｈ）を点灯させる。 一方、軸外像面の差（５ＡＨＫＮＺ　）が負の値の場合
は、軸外像面が軸、］二像面よりもオーバー側にあると
考えられる。この場合、軸外オーバー量（ＰＰＺＧＯ）
は、 （ＰＰＺＧＯ）　＝　（５ＡＨＫＮＺ　）　Ｘ　２　＋
　（５ＡＰＰＺ　）と計算される。この軸外オーバー量
（ＰＰＺＧＯ）は、前記軸外アンダー量の場合と同様、
平均軸上像面（ＨＫＮＰＰＡ）からの軸外像面のデイフ
ォーカス量の２倍に相当し、該軸外オーバー量が大きい
ほどコントラスト低下の原因となる。次に、この軸外オ
ー／＜−９（ＰＰＺＧＯ）と軸外オーバｍ個すミツ）　
（５ＴＤＰＰＺＯ）とを比較する。そして、軸外オーバ
ー側リミット（５ＴＤＰＰＺＯ）よりも軸外オー／＜　
−量（ｐｐｚｃｏ）の方が大きい場合は、像面のオーバ
ー側への湾曲と共に偏心も考えられるため、オーバー異
常と偏心異常の合成不良と判定し、判定レジスタの対応
ビット（判定レジスタＤＳＩの６ビツト目）を１とする
。これにより、上記判定レジスタの内容が表示制御メモ
リに転送記憶され差（５Ａ）ＩＫＮＺ　）の正負を検査
する。 軸外像面の差（５ＡＨＫＮＺ　）が正の値の場合は。 軸外像面が軸上像面よりもアンダー側にあると考えられ
る。この場合、軸外アンダー量（ｐｐｚｃｕ）は、 （ｐｐｚｃｕ）　＝　（５ＡＨＫＮＺ　）　Ｘ　２　＋
（５ＡＰＰＺ　）と計算される。この軸外アンダー量（
ｐｐｚｃｕ）は、平均軸上像面（ＨＫＮＰＰＡ）からの
軸外像面のデイフォーカス量の２倍に相当し、該軸外ア
ンダー量が大きいほどコントラスト低下の原因となる。 次に、この軸外アンダー量（ＰＰＺＧＵ）と軸外アンダ
ー側リミット（Ｓ丁ｏｐｐｚｕ）とを比較する。 そして、軸外アンダー側すミツ）　（５ＴＤＰＰＺＵ）
よりも軸外アンダー量（ＰＰＺＧＵ）の方が大きい場合
は、像面のアンダー側への湾曲と共に偏心も考えられる
ため、アンダー異常と偏心異常の合成不良と判定し、判
定レジスタの対応ビット（判定レジスタ口Ｓｌの５ビツ
ト目）を１とする。これにより、」１記判定レジスタの
内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき、当該不良
の表示である表示たとき、当該不良の表示である表示部
６のＬＥＤ６５Ｈ（０＋Ｈ）を点灯させる。 処理［１５］では、４方位について測定した軸」１像面
位置における４個の軸上コントラスト（ＭＴＦＡ）から
。 ＭＴＦＭＡＸＡ　：最大値 ＭＴＦＭＩＮＡ　：最小値 ＨＫＮＭＴＦＡ　：平均値 ＳＡＭＴＦＡ　：最大値と最小値との差を求める。 処理

【１６】では、最良軸上コントラストの変化リミッ
ト（ＳＴＤＭＭＳＡ　）と、処理

【１５】で計算した最
大値と最小値との差（５ＡＮＴＦＡ）とを比較する。こ
こで、最良軸上コントラストの変化リミット（ＳＴＵＮ
ＭＳＡ　）よりも最大値と最小値との差（ＳＡＭＴＦＡ
）の方が大きい場合は、軸上コントラストのコマ不良と
判定し１判定レジスタの対応ビット（判定レジスタＤＳ
Ｏの４ビツト目）を１とする。これにより、上記判定レ
ジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき、
当該不良の表示である表示部６のＬＥＤ６４Ｂ　（Ａ−
ＣＯＭ）を点灯させる。 処理［１７］では、最良軸上コントラストリミット（Ｓ
ＴＤＭＩＮＡ）と処理［１５Ｊで計算した平均値（）Ｉ
ＫＮＭＴＦＡ　）とを比較する。ここで、最良軸」−コ
ントラストリミット（ＳＴＤＭＩＮＡ）よりも平均値（
ＨＫＮＭＴＦＡ）の方が小さい場合は、軸−Ｉニコント
ラストの値不足と判定し、判定レジスタの対応ビット（
判定レジスタＤＳＯの５ビツトＩ］）を１とする。これ
により、上記判定レジスタの内容が表示制御メモリに転
送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６のＬ
ＥＤ６４Ｃ（Ａ−ＭＴＦ−ＬＯＷ）を点灯させる。 処理［１８Ｊでは、最良軸］ニコントラストリミット（
Ｓ’ｒＤＭＩＮＡ）と処理［１５１で計算した最小値（
ＭＴＦＭＩＮＡ　）とを比較する。ここで、最良軸上コ
ントラストリミツｌ−（ＳＴＤＭＩＮＡ）よりも最小値
（ＭＴＦＭＩＮＡ）の方が小さい場合は、軸」−コント
ラストの一部の値不足と判定し、判定レジスタの対応ビ
ット（判定レジスタＤＳＯの６ピントＩＪ）を１とする
。 に転送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６
のＬＥ０６５Ｅ　（Ｚ−ＭＴＦ・ＬＯＷ）を点灯させる
。 処理［２１１では、最良軸外コントラスＩ・の変化リミ
ット（ＳＴＤＭＮＳＺ　）と、処理［１９１でＪｉ算し
た最大値と最小値との差（ＳＡＭＴＦＺ）とを比較する
。ここで、最良軸外コントラストの変化リミット（ＳＴ
ＤＭＭＳＺ　）よりも最大値と最小値との差（ＳＡＭＴ
ＦＺ）の方が大きい場合は、軸外のコマ不良と判定し、
判定レジスタの対応ビット（判定レジスタＤＳＩの２ビ
ツト１」）を１とする。これにより、上記判定レジスタ
ＤＳＩの内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき、
当該不良の表示である表示部６のＬＥＤ６５Ｄ　（Ｚ−
ＣＯＭ）を点灯させる。 処理［２２Ｊでは、当該判定サブルーチン５１に於る個
々の判定に基づいて総合判定を行なうものであり、判定
レジスタＤＳＯおよびｌｌ５Ｉの全てのビットを検査す
る。つまり、被検レンズ１に何らかの不良がある場合は
、」―記処理［２１１までの各処理が実行されることで
、判定レジスタｎｓｏあるｌ／）これにより、上記判定
レジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき
、！′Ｉ該不良不良示である表示部６のＬＥＤ６４Ｄ　
（Ａ−ＭＴＦ・ＰＬ）を点灯させる。 処理［１９］では、４方位について測定した軸外像面位
置における４個の軸外コントラス）　（ＭＴＦＺ）から
、 ＭＴＦＭＡＸＺ　：最大値 ＭＴＦＭＩＮＺ　：　Ｍ小値 ＨＫＮＭＴＦＺ　：平均値 ＳＡＭＴＦＺ　：最大値と最小値との差を求める。 処理［２０１では、最良軸外コントラストリミ・ント（
ＳＴＤＭＩＮＺ）と処理［１９１で計算した平均値（Ｈ
ＫＮＭＴＦＺ　）とを比較する。ここで、最良軸外コン
トラストリミット（ＳＴＤＭＩＮＺ）よりも平均値（Ｈ
ＫＮＭＴＦＺ）の方が小さい場合は、軸外コントラスト
の値不足と判定し、判定レジスタの対応ビ・ント（判定
レジスタＤＳＩの３ビツト１」）を１とする。これによ
り、」−記判定レジスタの内容が表示制御メモリはＤＳ
Ｉの何れかのビットが１になっているはずである。この
ため、判定レジスタＤＳＯおよびＤＳＩの全てのビット
について、その状態を検査すれば被検レンズ１の各不良
の有無を知ることができる。 すなわち、判定レジスタＤＳＯおよびＤＳＩの全てのピ
ントがＯの場合は、被検レンズｌを良品と判定し、判定
サブルーチン５１の総合良判定対応レジスタ（判定レジ
スタＤＳＩの８ピツ［＋）を１とする。これにより、上
記判定レジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶され
たとき、良品の表示となる表示部６のＬＥＤ６２Ｂ　（
良）を点灯させる。−・方、判定レジスタＤＳＯおよび
［ｌＳ１の全てのビットを検査して、ｌのビットが一つ
でもある場合には、被検レンズ１には当該ビットに対応
した何らかの不良があるということなので、被検レンズ
１を不良品と判定し、判定サブルーチン５１の総合不良
判定対応レジスタ（判定レジスタＤＳ＋の７ビ゛ツト目
）を１とする。これにより、上記判定レジスタＤＳ＋の
内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき、不良品の
表示である表示部６のＬＥＤ６２Ａ　（不良）を点灯さ
せる。 処理

【２３Ｊでは、判定レジスタＤＳＯおよびＤＳＩの
内容をメモリ内の表示制御メモリに記憶させる。すなわ
ち、該処理［２３Ｊを実行することで、判定結果である
各不良内容が表示制御メモリに記憶され、その内容が表
示部６の各ＬＥＤに点灯表示される。この処理は、判定
レジスタＤＳＯおよびＤＳｔが判定部５内の演算処理用
のレジスタであって、後述する判定サブルーチン５２等
でも使用するなどの取り扱い上の理由による処理である
。 判定サブルーチン５１は、以上の２３項目の処理を記述
順に実行するものである。 次に、判定サブルーチン５２について説明する。 この判定サブルーチン５２では、前述したコントラスト
測定サブルーチン４４で測定したコントラストによる被
検レンズ１の判定、つまり平均軸上像面にて測定したコ
ントラストによる被検レンズｌの判定が行なわれる。こ
こでの判定基準は、と判定し、判定レジスタの対応ビッ
ト（判定レジスタＤＳＯの３ビ゛ツト目）を１とする。 これにより、上記判定レジスタの内容が表示制御メモリ
に転送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６
のＬＥＤ６４Ａ　（Ａ−ＡＳＵ）を点灯させる。 処理［３］では、平均軸上像面における軸上コントラス
トリミット（ＳＴＤＭＮＬＡ）と、処理［１１で計算し
た平均値（ＨＫＮＭＦＬＡ）とを比較する。平均軸上像
面における軸上コントラストリミット（ＳＴＤＭＮＬＡ
）よりも平均値（）ＩＫＮＭＦＬＡ　）の方が小さい場
合は、軸上コントラストの値不足と判定し、判定レジス
タの対応ビット（判定レジスタＤＳＯの５ビツト目）を
１とする。これにより、上記判定レジスタの内容が表示
制御メモリに転送記憶されたとき、当該不良の表示であ
る表示部６のＬＥＤ　６４Ｃ（Ａ−ＭＴＦ−ＬＯＷ）を
点灯させる。 処理［４］では、平均軸上像面における軸上コントラス
トリミット（ＳＴＤＭＮＬＡ）と、処理【１】で計算し
た最小値（ＭＴＦＭＮＬＡ　）とを比較する。平均軸判
定サブルーチン５１で用いた前述したＳＴＤを冠した基
準値が用いられる。 第２４図１／２〜２／２は、第１６図に示す判定サブル
ーチン５２のフローチャートである。以下、同図に示す
各処理（手順）の流れに従って説明する。 処理［１１では、平均軸上像面位置において測定した、
所定の８方位または１２方位における８個または１２個
の軸−ヒコントラストから、ＭＴＦＭＸＬＡ　：最大値 ＭＴＦＭＮＬＡ　：最小値 ＨＫＮＭＦＬＡ　：平均値 ＳＡＭＴＦＬＡ　：最大値と最小値との差を求める。 処理１２１では、最良軸上コントラストの変化リミット
（ＳＴＤＭＭＳＡ　）と、処理［１］で計算した最大値
と最小値との差（ＳＡＭＴＦＬＡ）とを比較する。ここ
で、最良軸上コントラストの変化リミット（ＳＴＤＭＭ
ＳＡ　）よりも最大値と最小値との差（ＳＡＭＴＦ＾）
の方が大きい場合は軸上コントラストのアス不良上像面
における軸上コントラストリミット（ＳＴＤＭＮＬＡ）
よりも最小値（ＭＴＦＭＮＬＡ）の方が小さい場合は、
軸上コントラストの一部の値不足と判定し、判定レジス
タの対応ビット（判定レジスタＤＳＯの６ビツト目）を
１とする。これにより、−１−記判定レジスタの内容が
表示制御メモリに転送記憶されたとき、当該不良の表示
である表示部６のＬＥＤ６４Ｄ　（Ａ−ＭＴＦ−ＰＬ）
を点灯させる。 処理［５］　では、軸外コントラストの測定値（データ
）を一部移し換えて、データの退避を実行する。８個ま
たは１２個の軸外コントラストの測定値は、各々専用の
退避レジスタ（ＭＴＦＺＬＯ〜ＭＴＦＺＬ７またはＭＴ
ＦＺＬＯ〜ＭＴＦＺＬ１１　　）に格納される。そこで
、８方位について軸外コントラストを測定した場合は、
第４方位の測定値、つまり退避レジスタ（ＭＴＦＺＬ３
　）の内容を第８方位の退避レジスタ（ＭＴＦＺＬ７　
）に転送する。その後、第７方位の測定値、つまり退避
レジスタ（ＭＴＦＺＬ６）の内容を第４方位の退避レジ
スタ（ＭＴＦＺＬ３）に転送する。この測定値の移し換
えは、つぎの処理［６］での計算処理を簡単するための
準備であり、第４方位の測定値が後述するパソコン部Ｐ
Ｃへの転送データとなっていることによるデータ退避作
業である。また、１２方位について軸外コントラストを
測定した場合は、測定データ全てを利用するので該処理
［５１は行なわずに、そのままつぎの処理［６］に移る
。 処理［６］　では、軸外コントラストの測定値から、 ＭＴＦＭＸＬＺ　：最大値 ＭＴＦＭＮＬＺ：＠小イ菅１１１ ＨＫＮＭＦＬＺ　：平均値 ＳＡＭＴＦＬＺ　：最大値と最小値との差を求める。な
お、８方位について軸外コントラストを測定した場合は
、退避レジスタ（ＭＴＦＺＬＯ〜ＭＴＦＺＬ５　）の内
容から」―記各値を求める。また、１２方位について軸
外コントラストを測定した場合は、退避レジスタ（ＭＴ
ＦＺＬＯＮＭＴＦＺＬｌｌ　　）の内容から」二記各値
を求める。 ！、Ｚ）よりも最小値（ＮＴＦＭＮＬＺ　）の方が小さ
くない場合は、直ちに処理［１０１の処理に移る。 像面湾曲の方向は、判定サブルーチン５１によりすでに
検査されている。つまり、（ＰＰＺＧＯ）　＞（ＰＰＺ
ＧＵ）ならばオーバ一方向、（ＰＰＺＧＯ）　＜　（Ｐ
ＰＺＧＵ）ならばアンタ一方向である。したがって、被
検レンズの像面がアンダ一方向に湾曲している場合は、
アンターと偏心の合成による軸外コントラストの異常と
判定し、判定レジスタの対応ビット（判定レジスタＤＳ
１の５ビツト目）を１とする。 これにより、上記判定レジスタの内容が表示制御メモリ
に転送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６
のＬＥ０６５Ｇ　（Ｕ＋Ｈ）を点灯させる。 一方、被検レンズ１の像面がオーバ一方向に湾曲してい
る場合は、オーバーと偏心の合成による軸外コントラス
トの異常と判定し、判定レジスタの対応ビット（判定レ
ジスタＤＳＩの６ビツト目）を１とする。これにより、
上記判定レジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶さ
れたとき、当該処理［７］では、処理［５１で退避させ
た軸外コントラストの測定値を元に戻す。つまり、８方
位について軸外コントラストを測定した場合は退避レジ
スタ（ＭＴＦＺＬ７　）に退避させた第４方位の１１１
＋１定値を本来の退避レジスタ（ＭＴＦＺＬ３　）に転
送し、元の状態に戻す。さて、ｆｉＳ８方位のＡ１一定
植は、前記処理［５Ｊのデータ退避作業で消滅している
が、これと対称な位置の第４方位の測定値が確保されて
いるので問題はない。また、工２方位について軸外コン
トラストを測定した場合は、該処理［７１を実行する必
要はなく、処理［６１を実行後直ちにつぎの処理［８１
に移る。 処理［８］では、１１均軸上像面における軸外コントラ
ストリミツｌ−（ＳＴＤＭＮＬＺ）と処理［６］で計算
した最小値（ＭＴＦＭＮＬＺ）とを比較する。平均軸−
１，像面における軸外コントラストリミット（５ＴＤＮ
ＮＬＺ）よりも最小値（ＭＴＦＭＮＬＺ　）の方が小さ
い場合は、像面の湾曲と偏心の合成不良が考えられるの
で像面湾曲の方向を検査する。また、平均軸」像面面に
おける軸外コントラストリミット（Ｓ７０ＭＮ不良の表
示である表示部６のＬＥＤ６５Ｈ（０＋Ｈ）を点灯させ
る。 処理［９１では、平均軸−１１像面における軸外コント
ラストの平均値のリミット（ＳＴＤＭＮＨ２）と処理［
６］　で計算した平均値（ＨＫＮＭＦＬＺ）とを比較す
る。そして、平均軸上像面における軸外コントラストの
平均値のリミット（ＳＴ［］ＭＮ）ＩＺ）よりも平均値
（ＨＫＮＭＦＬＺ）の方が小さい場合は、軸外コントラ
ストの値不足と判定し、判定レジスタの対応ビット（判
定レジスタＤＳＩの３ビツト目）を１とする。これによ
り、」１記判定レジスタの内容が表示制御メモリに転送
記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６のＬＥ
Ｄ６５Ｅ　（Ｚ−ＭＴＦΦＬＯＷ）を点灯させる。 処理【１０Ｊでは、最良軸外コントラストの変化リミッ
）　（ＳＴＤＭ）ＩＳＺ）と処理［６］で計算した最大
値と最小値との差（ＳＡＭＴＦＬＺ）とを比較する。こ
こで、最良軸外コントラストの変化リミ・ｙ　）　（Ｓ
ＴＤＭＭＳＺ）よりも最大値と最小値との差（ＳＡＭＴ
ＦＬＺ）の方が大きい場合は、軸外コントラストの変動
異常と判定し、判定レジスタの対応ビット（判定ジスタ
ＤＳＩの４ビツト１１）を１とする。これにより、上記
判定レジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶された
とき、当該不良の表示である表示部６のＬＥＤ６５Ｆ　
（Ｚ−ＨＥＮ）を点灯させる。 処理［１１１では、判定レジスタ口ＳＯおよびＤＳＩの
全てのビットを検査する。これは、判定サブルーチン５
１に於る処理【２２］の場合と同様に、判定サブルーチ
ン５２に於る個々の判定に基づいて総合判定を行なうも
のであり、判定レジスタＤＳＯおよびＤＳＩの各ビット
の全てのビットを検査する。すなわち、判定レジスタＤ
ＳＯおよびＤＳＩの全てのビットがＯの場合は、被検レ
ンズｌを良品と判定し、判定サブルーチン５２の総合良
判定対応レジスタ（判定レジスタＤＳｌの８ビツト目）
を１とする。これにより、上記判定レジスタの内容が表
示制御メモリに転送記憶されたとき、良品の表示である
表示部６のＬＥＤ６２Ｂ　（良）を点灯させる。一方、
判定レジスタＤＳＯおよびｌｌ５Ｉ「表示部６」 （構　成） 表示部６は、第２５図示の如く、前記判定部５による判
定結果を表示パネル６１に配置された発光ダイオード（
ＬＥＤ）の点灯により表示するものである。 表示パネル６１には、総合判定のＬＥＤ６２Ａ・６２Ｂ
と、判定部５による判定と対応する各判定項目別のＬＥ
Ｄ　（６３Ａ・６３Ｂ・６４Ａ・６４Ｂ・６４Ｃ・６４
Ｄ・６５Ａ・６５Ｂ・６５Ｃ命６５Ｄ−６５Ｅ・６５Ｆ
φ６５Ｇ・６５Ｈ）が、第２６図示の如く所定の位置に
配置されている。尚、該表示パネル６１内にはレンズテ
スタＬＴの電源スィッチ６６および測定動作の起動スイ
ッチ等も一緒に配置されるものである。 （作　用） 表示パネル６１に配置された各ＬＥＤは、前述の判定部
５の所で説明した如く、制御部４と共に判定部５を構成
するマイクロコンピュータ内に設けられた表示制御メモ
リにより点滅制御される。 の全てのビットを検査して、ｌのビットが一つでもある
場合には、被検レンズｌに当該ビットに対応した何らか
の不良があるということなので、被検レンズ１を不良品
と判定し、被検レンズｌを不良品と判定し、判定サブル
ーチン５１の総合不良判定対応レジスタ（判定レジスタ
ＤＳＩの７ビツト目）を１とする。これにより、」１記
判定レジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶された
とき、不良品の表示である表示部６のＬＥＤ６２Ａ　（
不良）を点灯させる。 処理［１２Ｊでは、判定レジスタＤＳＯおよびＤＳＩの
内容をメモリ内の表示制御メモリに記憶させる。すなわ
ち、該処理［１２］を実行することで、判定結果である
各不良内容が表示制御メモリに記憶され、その内容が表
示部６の各ＬＥＤに点灯表示される。この処理も、前述
した判定サブルーチン５１の処理【２３Ｊと同様、取り
扱い上の理由による処理である。 判定サブルーチン５２は、以上の１２項目の処理を記述
順に実行するものである。 すなわち、表示制御メモリには、判定部５による判定結
果が一時格納される前述した判定レジスタＤＳＯおよび
ｌｌ５Ｉの内容が記憶される。そして、表示パネル６１
の各ＬＥＤは、表示制御メモリの内容、つまり判定部５
内の判定レジスタＤＳＯおよびＤＳＩの各ビットと各々
対応しており、各ビットの状態（０またはｌ）に対応し
て点滅制御される構成となっている。つまり、各ＬＥＤ
は、その各々と対応するビットの状態が０の場合は消灯
され、ｌの場合には点灯される。 この各ＬＥＤと判定レジスタＤＳＯおよびＤＳＩの各ビ
ットとの対応、つまりどのＬＥＤが判定レジスタＤＳＯ
およびＤＳＩの何れのビットに対応しているかについて
は、判定サブルーチン５１および５２の説明の項にてそ
の都度説明しであるので、ここでは省略する。 次に、各ＬＥＤによる具体的な表示内容を説明する。 総合判定のＬＥＤ６２Ａ・６２Ｂは、６２Ａが被検レン
ズ１が不良品の時（即ち種々の判定基準の−・つでも外
れた時、この場合後述する各検査項目別ＬＥＤの何れか
が必ず点灯する）に点灯し、６２Ｂが被検レンズ１が良
品の場合（種々の判定基準すべてを満足した場合）に点
灯する。 各判定項ｌ」別のＬＥＤは、６３Ａ・６３Ｂが機械的な
バックフォーカスの不良、６４Ａ〜６４Ｄがレンズ軸上
つまり中心部の不良、６５Ａ〜６５Ｈがレンズ軸外つま
り周辺部の不良を示すものであり、点灯した場合が当該
不良を表わすものである。 以下、各判定項目別のＬＥＤによる表示（点灯）を個々
に説明する。 被検レンズ１が判定基準を全てクリアすると、良品表示
である６２Ｂが点灯。 不良の場合は不良品であることを示す６２Ａが点灯し、
その不良内容（理由）が６３Ａから６５Ｈまでの判定項
目別のＬＥＤの点灯によって表示される。 ６３Ａは、機械的なバックフォーカスの過大不良（ｆｂ
大）時に点灯。 灯する。 ６５Ａは、アンダー不良つまり軸外像面が軸」−像面よ
りもレンズ側に寄りすぎている不良（ＵＮＤ）時に点灯
する。この不良の原因としては、被検レンズ１を構成す
る構成レンズの間隔不良あるいは大きな偏心が考えられ
る。 ６５Ｂは、オーバー不良つまり軸外像面が軸上像面より
もレンズ側から離れている不良（［）ＶＥＲ）時に点灯
する。この不良の原因としては、被検レンズｌを構成す
る構成レンズの間隔不良あるいは大きな偏心が考えられ
る。 ６５Ｃは、軸外アス不良つまり軸外像面が倒れている不
良（Ｚ−ＡＳＵ　）時に点灯する。この不良の原因とし
ては、被検レンズ１を構成する構成レンズの偏心が考え
られる。 ６５Ｄは、軸外コマ不良つまり最良軸外コントラストの
異常変化（Ｚ（：ＯＭ　）時に点灯する。この不良の原
因としては、被検レンズｌを構成する構成レンズの研磨
不良、著しい偏心が考えられる。 ６５Ｅは、軸外コントラストの値不足つまり平６３Ｂは
、機械的なフォーカスバックの不足不良（ｆｂ小）時に
点灯。 ６４Ａは、軸上アス不良、つまり軸上ピークの異常変化
による不良（Ａ−ＡＳＵ　）時に点灯する。この不良の
原因としては、被検レンズ１を構成する構成レンズの偏
心、研磨不良が考えられる。 ６４Ｂは、軸上コマ不良つまり最良軸」ニコントラスト
の異常変化による不良（＾−ＣＯＮ）時に点灯する。こ
の不良の原因としては、被検レンズ１を構成する構成レ
ンズの偏心、研磨不良が考えられる。 ６４Ｃは、軸」ニコントラストの不足不良つまり平均軸
上ＭＴＦ値が小さすぎる不良（Ａ−ＭＴＦＬＤ　）時に
点灯する。この不良の原因としては、被検レンズｌを構
成する構成レンズの研磨不良が考えられる。 ６４Ｄは、軸」ニコントラストの一部が値不足な不良（
Ａ−ＭＴＦＰＬ　）時に点灯する。これは６４Ｃより示
される不良の中で不良程度が軽いものである。従って、
６４Ｃが点灯すれば必ず６４Ｄも点均軸外コントラスト
値が小さすぎる不良（Ｚ−ＮＴＦ［。 ０）時に点灯する。この不良の原因としては、被検レン
ズｌを構成する構成レンズの偏心、工間隔の変化等の調
心不良が考えられる。 ６５Ｆは、軸外コントラスト変動つまり軸外のコントラ
ストが激しく変化している不良（Ｚ−ＨＥＮ）時に点灯
する。 ６５Ｇは、軸外コントラストの一部が小さく、かつアン
ダー不良である場合（Ｕ十〇　）の不良時に点灯する。 この不良の原因としては、被検レンズｌを構成する構成
レンズの調心不良が考えられる。 ６５Ｈは、軸外コントラストの一部が小さく、かつオー
バー不良である場合（ｏｗｎ　）の不良時に点灯する。 この不良の原因としては、被検レンズｌを構成する構成
レンズの調心不良が考えられる。 以」二の不良判定を表示することにより、被検レンズｌ
の不良判定と共に不良原因別の分別も併せて行なうこと
が可能となり、検査作業の効率化を図ることができるも
のである。 ［レンズテスタＬＴのシステム化１ 本実施例では、レンズテスタＬＴに後述するパソコン部
ＰＣを第２６図示の如く接続してレンズテスタシステム
を構成し、レンズテスタＬＴからの情報（測定及び判定
データ）の加工処理を可能としている。 （構　成） パソコン部ＰＣは、所謂パーソナルコンピュータであり
、コンピュータ７１、キーボード７２、ＣＲＴデイスプ
レィ７３及びプリンタ７４により構成される。 パソコン部ＰＣのコンピュータ７１はレンズテスタＬＴ
の制御部４及び判定部５を構成するマイクロコンピュー
タとデータバスＤＢにより接続されており、レンズテス
タＬＴからの測定値及びパソコン部ＰＣからのコマンド
が互いに受は渡されるようになっている。 （作　用） そして、パソコン部ＰＣでは、レンズテスタ縦軸はコン
トラストを表わすと共に、横軸は各グラフとも方位を表
わす。但し、横軸の目盛は、グラフＧｌ　、Ｇ２ではコ
ントラスト測定サブルーチン４３における４方位を、グ
ラフＧ３．Ｇ４ではコントラスト測定サブルーチン４４
における８方位または１２方位を表わすようになってい
る。 次に、各グラフについて個々に説明する。 グラフＧｌは、コントラスト測定サブルーチン４３で測
定された各方位における軸上コントラストのピーク値と
その像面位置（最良軸上像面位置）を示し、軸上各側定
点のコントラストのピーク値を実線で、その位置（最良
像面位置）を−点鎖線で示している。なお、設計像面位
置も併せて表示してあり、被検レンズの像面状態の変化
を把握しやすいようになっている。 グラフＧ２は、コントラスト測定サブルーチン４３で測
定された各方位における軸外コントラストのピーク値と
その像面位置（最良軸外像面位置）を、軸外の各測定点
コントラストのピーク値を実線で、その位置（最良像面
位置）を−点鎖線ＬＴから入力されるデータを統計処理
して被検レンズｌに対する不良対策１品質管理等に有用
な二次データを作ることができ、このデータはプリンタ
７４によりプリントアウトすることもできる。 又、測定データ及び二次データをＣＲＴデイスプレィ７
３上にグラフ表示できると共にプリンタ７４によりプリ
ントアウトすることができる。これにより測定データを
視覚化することができ、レンズデス）ＬＴの表示部６に
よる判定表示では解らないより詳細な像面状態等を一目
で把握できるようになるものである。 第２７図は測定データのＣＲＴデイスプレィ７３上への
グラフ表示の一例である。 図示表示は、−画面中に４種のグラフ（画面左上のグラ
フをＧ１．画面左下のグラフを０２、画面右上のグラフ
を６３、画面右下のグラフを０４、と呼称する）が同時
に表示され、これらが被検レンズｌの特性を如実に表わ
すものである。 各グラフの座標は、グラフＧｌ、Ｇ２の縦軸はコントラ
ストと像面位置を、グラフＧ３．Ｇ４ので示す。なお、
グラフＧ１と同様に設計像面位置も併せて表示しである
。 グラフＧ３は、コントラスト測定サブルーチン４４で測
定した平均軸上像面位置における各方位についての軸−
ヒのコントラストをグラフ化したものであり、軸上コン
トラストを実線で示し、併せて当該被検レンズに対する
良否判定の基準値を一点鎖線で示している。従って、当
該グラフ３Ｇにおいて、実線で示されるコントラストが
良否判定の基準値を越えていれば、軸上コントラストに
関しては良品レンズと判定されているものである。 グラフＧ４は、コントラスト測定サブルーチン４４で測
定した平均軸上像面位置における各方位についての軸外
のコントラストをグラフ化したものであり、軸外コント
ラストを実線で示し、併せて当該被検レンズに対する良
否判定の基準値を一点鎖線で示している。従って、グラ
フ３Ｇと同様に当該グラフ４Ｇにおいて、実線で示され
るコントラストが良否判定の基準値を越えていれば、軸
外コントラストに関しては良品レンズと判定されている
ものである。 」１記のグラフ表示から、例えば下記の如く被検レンズ
の光学特性の不具合及びその原因を読み取ることができ
る。 （１）グラフＧ２に於て、第２８図の如く各測定点の軸
外の像面位置のグラフが設計像面位置と交差して表わさ
れる場合には、第３０図（ａ）に示すように像面に倒れ
を生じていることが解る。このような状態は、被検レン
ズｌの構成レンズが偏心している場合に発生するもので
ある。 （２）第２９図の如く、グラフＧｌでは各測定点の軸上
の像面位置のグラフは設計像面位置付近にあるが、グラ
フＧ２では各測定点の軸外の像面位置のグラフが設計像
面位置から」二下何れか一方側（図では下方即ちレンズ
に近づく側）に略平行に離れている場合には、第３０図
（ｂ）に示すように像面が湾曲（図ではアンダー側に湾
曲）していることが解る。このような状８は、被検レン
ズｌの構成レンズの玉間隔に変化がある場合に発生する
。 （１！Ｊ 例を適用したレンズテスタの概略構成を示すブロック図
、第２図はレンズマウントの平面図、第３図はその■−
■断面図、第４図は光源部の構成図、第５図は光源部の
各構成要素の放射又は透過分光特性を示すグラフ、第６
図はチャートの平面図、第７図は軸外ミラ一部の平面図
、第８図はその左側面図、第９図はセンサ部の平面図、
第ｉｏ図はそのＸ−Ｘ断面図、第１１図は第９図のＸ［
−Ｘ［断面図、第１２図は演算回路のブロック図、第１
３図は演算回路に於るコントラスト演算に係る正弦波信
号の説明図、第１４図及び第１５図は軸外測定点位置を
示す図、第１６図は制御部及び判定部のフローチャート
、第１７図は測定により得られるデイフォーカス量に対
するコントラスト値の特性曲線、第１８図はコントラス
ト測定のサブルーチンのフローチャート、第１９図は走
査平均レジスタ群の概念図、第２０図は走査時間短縮化
を説明する概念図、第２１図は判定サブルーチンのフロ
ーチャート、第２２図は基準像面位置と平均像面位置と
の関係を示す説明図、第［発明の効果］ 本発明に係るレンズ検査方法によれば、チャート像のコ
ントラストを定量的に測定することにより、写真レンズ
等の光学系の結像性能を評価できる。 その結果、検査作業を自動化できると共に装置全体を小
型軽量に構成でき、従来の投影テストに比較して格段に
作業性が向」ニする。また、定量測定によづて判定が可
能となることにより安定した精度での検査が可能となる
ものである。 即ち、安定した精度での検査を効率良く行なえ、設備費
・人件費を含む検査コストの大幅な削減が可能となるも
のである。 更に、良否判定のみでなく測定結果から不良原因を判別
することができ、再調整工程への分別が可能となると共
にこの情報を製造工程へフィードバックすることにより
不良率を低減できるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるレンズ検査方法の一実施２４図は
判定サブルーチンのフローチャート、第２５図は表示パ
ネルの平面図、第２６図は本発明に係るレンズテスタを
適用したレンズテスタシステムの構成ブロック図、第２
７図はパソコン部による測定結果の表示の一例を示す図
、第２８図及び第２９図は第２７図の表示の説明図、第
３０図は第２８図及び第２９図と対応した像面変化の説
明図、第３１図は従来例である投影テストの説明図、第
３２図はＭＴＦ曲線を示すグラフ、第３３図は単一空間
周波数に於るＭＴＦの値から被検レンズの固有ＭＴＦの
推察を説明する図である。 ｌ・・・被検レンズ　　　　　２・・・光学系３・・・
コントラスト測定部 ３１・・・ＣＣＤセンサ部 ３２・・・演算部 ４・・・制御部 ６・・・表示部 １０・・・レンズマウント ５・・・判定部 第 （％） （ａ） （％） （ｂ） 波長（ｎｍ） 波長　（ｎｍ） 第 し 第 図 ＣＡ 図 ＴＤＰＰＡ ）（ＫＮＰＰＡ 第 図 方位 第 図 手続補正歯（方式） 事件の表示 昭和６３年特許願第１９４００２号 発明の名称 レンズ検査方法 補正をする者 １ｆ件との関係　特許出願人 （０５２）　　旭光学工業株式会社

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 被検レンズにより形成されるチャート像のコントラスト
   を測定し、その測定値に基づいて当該レンズの良否を判
   定するレンズ検査方法であり、被検レンズに軸上と軸外
   から所定ピッチの格子状チャートを透過した光を入射さ
   せ、前記被検レンズにより形成される軸上及び軸外の前
   記格子状チャートの像のコントラストを、複数の軸外位
   置に於て軸上光の光軸方向の複数箇所で測定し、更に該
   測定結果から軸上のコントラストが最大値を示す光軸上
   の位置の平均位置に於て軸上及び軸外の前記格子状チャ
   ートの像のコントラストを前記被検レンズを回転させて
   複数箇所測定し、これらのコントラスト測定値を予め定
   められた判定基準値と比較すると共に、最大のコントラ
   ストを示す軸上と軸外の各測定点の光軸方向の相互のズ
   レ量を予め定められた判定基準量と比較することにより
   前記被検レンズの良否を判定すること、を特徴とするレ
   ンズ検査方法。