JPH02179765A - サーマルヘッド基板 - Google Patents
サーマルヘッド基板Info
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- JPH02179765A JPH02179765A JP67489A JP67489A JPH02179765A JP H02179765 A JPH02179765 A JP H02179765A JP 67489 A JP67489 A JP 67489A JP 67489 A JP67489 A JP 67489A JP H02179765 A JPH02179765 A JP H02179765A
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Links
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Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
- Insulated Metal Substrates For Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はサーマルヘッド基板に関し、特に発熱抵抗素子
および電極その他の接続配線がそれぞれ薄膜技術により
形成されるサーマルヘッド基板に関する。
および電極その他の接続配線がそれぞれ薄膜技術により
形成されるサーマルヘッド基板に関する。
第3図(a)および(b)はそれぞれ従来の薄膜サーマ
ルヘッド基板の部分平面図およびそのA−A’断面図で
ある。このように、従来のサーマルヘッド基板では、薄
膜発熱抵抗素子4に対する印字電流の供給は、アルミナ
基板1の一主面上に同一膜厚の導体膜で形成された薄膜
共通電極3aと薄膜個別電極3bとを介して行われる。
ルヘッド基板の部分平面図およびそのA−A’断面図で
ある。このように、従来のサーマルヘッド基板では、薄
膜発熱抵抗素子4に対する印字電流の供給は、アルミナ
基板1の一主面上に同一膜厚の導体膜で形成された薄膜
共通電極3aと薄膜個別電極3bとを介して行われる。
ここで、2はアルミナ基板IFに設けられた薄膜抵抗層
で薄膜発熱抵抗素子4を形成する。
で薄膜発熱抵抗素子4を形成する。
一般に、このサーマルヘッド基板はA4或いはB4のよ
うな大型サイズの用紙に印字を行う場合には、薄膜共通
電極3aに対して大電流を供給する必要があり、例えば
薄膜発熱抵抗素子4の抵抗値が250Ω程度のときは、
これらが充分発熱できるように最大20アンペア前後の
電流を供給する必要がある。このとき共通電極3aの両
側から電波を2分して供給するとしても、それぞれが約
10アンペアと大きいため、電極導体膜の抵抗値が問題
となる。電極導体膜の材質には、搭載部品とのポンディ
ング接続を考えて1通常アルミニウム(AIL )また
は金(Au)が用いられるので、第3図の従来例のよう
に、基板の一主面上だけに電極導体膜を形成する構造の
ものでは、共通部の幅を4 m m、導体膜厚を2gm
とした場合の8膜共通電極3aの長さ10cm当りの導
体抵抗値を計算すると、アルミニウム(An)a[比抵
抗p = 2.75X 10−8am]金(Au)膜[
比抵抗p = 2.4X 10−8am]において、
それぞれ344mΩ、 300mΩとなる。従って、
10アンペアの電流が流れたときの電圧降下は何れも3
V/10c鵬前後の値となり、薄膜発熱抵抗素子4への
印加電圧が基板の中央寄りになる程小さくなるので、中
央部程印字濃度が淡くなる傾向を生じる。このような印
字濃度ムラの欠点は、導体膜厚を10倍以上にすれば改
善できるが、成膜装置の設備能力上からみて経済的では
なく、容易には実現できない。
うな大型サイズの用紙に印字を行う場合には、薄膜共通
電極3aに対して大電流を供給する必要があり、例えば
薄膜発熱抵抗素子4の抵抗値が250Ω程度のときは、
これらが充分発熱できるように最大20アンペア前後の
電流を供給する必要がある。このとき共通電極3aの両
側から電波を2分して供給するとしても、それぞれが約
10アンペアと大きいため、電極導体膜の抵抗値が問題
となる。電極導体膜の材質には、搭載部品とのポンディ
ング接続を考えて1通常アルミニウム(AIL )また
は金(Au)が用いられるので、第3図の従来例のよう
に、基板の一主面上だけに電極導体膜を形成する構造の
ものでは、共通部の幅を4 m m、導体膜厚を2gm
とした場合の8膜共通電極3aの長さ10cm当りの導
体抵抗値を計算すると、アルミニウム(An)a[比抵
抗p = 2.75X 10−8am]金(Au)膜[
比抵抗p = 2.4X 10−8am]において、
それぞれ344mΩ、 300mΩとなる。従って、
10アンペアの電流が流れたときの電圧降下は何れも3
V/10c鵬前後の値となり、薄膜発熱抵抗素子4への
印加電圧が基板の中央寄りになる程小さくなるので、中
央部程印字濃度が淡くなる傾向を生じる。このような印
字濃度ムラの欠点は、導体膜厚を10倍以上にすれば改
善できるが、成膜装置の設備能力上からみて経済的では
なく、容易には実現できない。
本発明の目的は、上記の情況に鑑み、従来問題とされた
基板中央寄りの印字濃度ムラの欠点を解決したサーマル
ヘッド基板を提供することである。
基板中央寄りの印字濃度ムラの欠点を解決したサーマル
ヘッド基板を提供することである。
本発明によれば、サーマルヘッド基板は、アルミナ基板
と、前記アルミナ基板の一主面上に列状に配置形成され
る薄膜発熱抵抗素子と、前記t11i膜発熱抵抗素子に
対する共通および個別の各電極導体膜とを含み、前記共
通の電極導体膜は前記アルミナ基板の一主面上に電極部
を形成するtJ膜膜体体部該薄膜導体部に端部の一方を
重ねて接続し他方を前記アルミナ基板の他の主面上にま
で延在せしめる厚膜導体部とから構成される。
と、前記アルミナ基板の一主面上に列状に配置形成され
る薄膜発熱抵抗素子と、前記t11i膜発熱抵抗素子に
対する共通および個別の各電極導体膜とを含み、前記共
通の電極導体膜は前記アルミナ基板の一主面上に電極部
を形成するtJ膜膜体体部該薄膜導体部に端部の一方を
重ねて接続し他方を前記アルミナ基板の他の主面上にま
で延在せしめる厚膜導体部とから構成される。
本発明によれば、従来の薄膜共通電極に付加された良導
電体からなる厚膜導体部が共通電極の導体抵抗値を大幅
に下げ、印字位置による薄膜発熱抵抗素子への印加電圧
差を充分小さくするので、印字濃度が基板全面にわたり
均一化される。
電体からなる厚膜導体部が共通電極の導体抵抗値を大幅
に下げ、印字位置による薄膜発熱抵抗素子への印加電圧
差を充分小さくするので、印字濃度が基板全面にわたり
均一化される。
次に本発明の実施例について、図面を参照して説明する
。
。
第1図は本発明の一実施例を示すサーマルヘッド基板の
部分断面図である0本実施例によれば、サーマルヘッド
基板は、従来例と同様に、アルミナ基板lと、このアル
ミナ基板lの一主面上に列状配置される#!I発熱抵抗
素子4と、この薄膜発熱抵抗素子4に印字電流を直接供
給する薄膜共通電極3aおよび薄膜個別電極3bとを備
えると共に、更にこの薄膜共通電極3aに端部の一方を
重ね合わせ他方をアルミナ基板lの他の主面(裏面)に
まで延在させて実効的に薄膜共通電極3aに対する低抵
抗電流通路を形成する銅(Cu)メツキ層5からなる厚
膜導体部を含んで構成される。ここで、6a、6bはそ
れぞれ銅メツキ層5を形成するための中間層の役目を果
たすニッケル(Xi)メツキ層である。
部分断面図である0本実施例によれば、サーマルヘッド
基板は、従来例と同様に、アルミナ基板lと、このアル
ミナ基板lの一主面上に列状配置される#!I発熱抵抗
素子4と、この薄膜発熱抵抗素子4に印字電流を直接供
給する薄膜共通電極3aおよび薄膜個別電極3bとを備
えると共に、更にこの薄膜共通電極3aに端部の一方を
重ね合わせ他方をアルミナ基板lの他の主面(裏面)に
まで延在させて実効的に薄膜共通電極3aに対する低抵
抗電流通路を形成する銅(Cu)メツキ層5からなる厚
膜導体部を含んで構成される。ここで、6a、6bはそ
れぞれ銅メツキ層5を形成するための中間層の役目を果
たすニッケル(Xi)メツキ層である。
本実施例の構造を得るのは極めて容易である。第2図(
a)〜(f)に製造方法の一手法を工程順に示す。
a)〜(f)に製造方法の一手法を工程順に示す。
まず、グ1/−ズドアルミナ基板lの上に薄膜抵抗層2
をスパッタリング法により1000^〜200OA厚に
形成し、ついでその上にアルミ(AM)導体N3を同じ
くスパッタリング法により約1.0ルm厚に形成する〔
第2図(a))、つぎに、この多層金属層に対し周知の
ホトレジスト技術によるバターニング工程を行う、すな
わち、アルミ(An)導体層3に対してはリン酸系のエ
ッチャントを用い、また、薄膜抵抗層2に対してはフッ
化水素酸と硝酸の混酸系エッチャントを用いてそれぞれ
を選択エツチングし、薄膜抵抗層2の一部を薄膜発熱抵
抗素子4に、アルミ(All )導体層3で薄膜共通電
極3aと薄膜個別電極3bを形成する(第2図(b))
、ついで、前工程のホトレジストを剥離除去した後、薄
膜共通電極3aの一部領域をホトレジストでマスキング
した後、公知の亜鉛置換法を利用した無電解メツキ法に
よりニッケル(旧)メツキ層6aを約1000〜200
0A厚に形成する〔第2図(C))、つづいて触媒化処
理法を用いてアルミナ基板1の側面および裏面の不導体
部分を活性化させた後、公知の無電解メツキ液へ浸漬し
て、ニッケル(Ni)メツキ層6aを側面および裏面に
まで生成させる〔第2図(d)〕 なお、この触媒化処
理法によるアルミナ基板l上ヘノニッケル(Xi)メツ
キは次の工程で行われるものである。
をスパッタリング法により1000^〜200OA厚に
形成し、ついでその上にアルミ(AM)導体N3を同じ
くスパッタリング法により約1.0ルm厚に形成する〔
第2図(a))、つぎに、この多層金属層に対し周知の
ホトレジスト技術によるバターニング工程を行う、すな
わち、アルミ(An)導体層3に対してはリン酸系のエ
ッチャントを用い、また、薄膜抵抗層2に対してはフッ
化水素酸と硝酸の混酸系エッチャントを用いてそれぞれ
を選択エツチングし、薄膜抵抗層2の一部を薄膜発熱抵
抗素子4に、アルミ(All )導体層3で薄膜共通電
極3aと薄膜個別電極3bを形成する(第2図(b))
、ついで、前工程のホトレジストを剥離除去した後、薄
膜共通電極3aの一部領域をホトレジストでマスキング
した後、公知の亜鉛置換法を利用した無電解メツキ法に
よりニッケル(旧)メツキ層6aを約1000〜200
0A厚に形成する〔第2図(C))、つづいて触媒化処
理法を用いてアルミナ基板1の側面および裏面の不導体
部分を活性化させた後、公知の無電解メツキ液へ浸漬し
て、ニッケル(Ni)メツキ層6aを側面および裏面に
まで生成させる〔第2図(d)〕 なお、この触媒化処
理法によるアルミナ基板l上ヘノニッケル(Xi)メツ
キは次の工程で行われるものである。
脱脂→酸洗浄→センシタイジング→アクチベーション→
Ni無電解メツキ。
Ni無電解メツキ。
つぎにこのNiメツキ層6a上に公知の電解メツキ法を
用いて銅(Cu)メツキ層5を 3〜lOpm厚に形成
する〔第2図(e))、ついで、この銅(Cu)メツキ
層5上に無電解メツキ法を用いてニッケル(Xi)層6
bを約1000〜200OA厚に被覆する〔第2図(f
))、最後にシリコン酸化膜(Si02)から成る耐摩
耗層7をスパッタリング法で約7uLm厚に形成し、つ
いで、従来のスクリーン印刷法を用いて薄膜共通電極3
aと個別電極3bおよびアルミナ基板lの側面と裏面部
をそれぞれ絶縁樹脂膜8でコーティングすれば、目的と
するサーマルヘッド基板を得る。
用いて銅(Cu)メツキ層5を 3〜lOpm厚に形成
する〔第2図(e))、ついで、この銅(Cu)メツキ
層5上に無電解メツキ法を用いてニッケル(Xi)層6
bを約1000〜200OA厚に被覆する〔第2図(f
))、最後にシリコン酸化膜(Si02)から成る耐摩
耗層7をスパッタリング法で約7uLm厚に形成し、つ
いで、従来のスクリーン印刷法を用いて薄膜共通電極3
aと個別電極3bおよびアルミナ基板lの側面と裏面部
をそれぞれ絶縁樹脂膜8でコーティングすれば、目的と
するサーマルヘッド基板を得る。
本実施例におけるサーマルヘッド基板では、ニッケル(
旧)層6a、6bは、銅(Cu)メツキ層5を形成する
ための中間層の役目を果たしているもので、これにより
比抵抗が格段に小さな銅(Cu)材を用いた厚膜メツキ
が実現される。
旧)層6a、6bは、銅(Cu)メツキ層5を形成する
ための中間層の役目を果たしているもので、これにより
比抵抗が格段に小さな銅(Cu)材を用いた厚膜メツキ
が実現される。
以−L詳細に説明したように、本発明によれば薄膜発熱
抵抗素子に対し印字電流を直接供給する薄膜共通電極に
は、厚膜の銅(Cu)メツキ層が新たに接続され、共通
電極全面の抵抗値を低く抑えることができるので、サー
マルヘッド基板上の印字位置による発熱抵抗素子への印
加電圧値をきわめて均一化することが可能である。従っ
て、従来のサーマルヘッド基板に生じていた基板中央寄
りの印字濃度ムラを充分に改善できる効果がある。また
、アルミナ絶縁基板の側面と裏面を電極部の形成面とし
て利用しているので、−主面(表面)上に形成する薄膜
共通電極の導体幅を狭くすることが可能となる。従って
、サーマルヘッド基板の小型化を達成することも可能で
ある。
抵抗素子に対し印字電流を直接供給する薄膜共通電極に
は、厚膜の銅(Cu)メツキ層が新たに接続され、共通
電極全面の抵抗値を低く抑えることができるので、サー
マルヘッド基板上の印字位置による発熱抵抗素子への印
加電圧値をきわめて均一化することが可能である。従っ
て、従来のサーマルヘッド基板に生じていた基板中央寄
りの印字濃度ムラを充分に改善できる効果がある。また
、アルミナ絶縁基板の側面と裏面を電極部の形成面とし
て利用しているので、−主面(表面)上に形成する薄膜
共通電極の導体幅を狭くすることが可能となる。従って
、サーマルヘッド基板の小型化を達成することも可能で
ある。
第1図は本発明の一実施例を示すサーマルヘッド基板の
部分断面図、第2図(a)〜(f)は本発明サーマルヘ
ッド基板の製造方法の一手法を示す工程順序図、第3図
(a)および(b)はそれぞれ従来の薄膜サーマルヘッ
ド基板の部分平面図およびそのA−A’断面図である。 l・・・アルミナ基板、 2・・・薄膜抵抗層、 3・・・アルミ(A文)導体層。 3a・・・薄膜共通電極、 3b・・・薄膜個別電極、 4・・・薄膜発熱抵抗素子。 5・・・銅(Cu)メツキ層、 6a、6b・・・ニッケル(Xi)メツキ層、7・・・
耐摩耗層、 8・・・絶縁樹脂膜。
部分断面図、第2図(a)〜(f)は本発明サーマルヘ
ッド基板の製造方法の一手法を示す工程順序図、第3図
(a)および(b)はそれぞれ従来の薄膜サーマルヘッ
ド基板の部分平面図およびそのA−A’断面図である。 l・・・アルミナ基板、 2・・・薄膜抵抗層、 3・・・アルミ(A文)導体層。 3a・・・薄膜共通電極、 3b・・・薄膜個別電極、 4・・・薄膜発熱抵抗素子。 5・・・銅(Cu)メツキ層、 6a、6b・・・ニッケル(Xi)メツキ層、7・・・
耐摩耗層、 8・・・絶縁樹脂膜。
Claims (1)
- アルミナ基板と、前記アルミナ基板の一主面上に列状
に配置形成される薄膜発熱抵抗素子と、前記薄膜発熱抵
抗素子に対する共通および個別の各電極導体膜とを含み
、前記共通の電極導体膜は前記アルミナ基板の一主面上
に電極部を形成する薄膜導体部と該薄膜導体部に端部の
一方を重ねて接続し他方を前記アルミナ基板の他の主面
上にまで延在せしめる厚膜導体部とから構成されること
を特徴とするサーマルヘッド基板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP67489A JPH02179765A (ja) | 1989-01-04 | 1989-01-04 | サーマルヘッド基板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP67489A JPH02179765A (ja) | 1989-01-04 | 1989-01-04 | サーマルヘッド基板 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02179765A true JPH02179765A (ja) | 1990-07-12 |
Family
ID=11480293
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP67489A Pending JPH02179765A (ja) | 1989-01-04 | 1989-01-04 | サーマルヘッド基板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02179765A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1995032867A1 (en) * | 1994-05-31 | 1995-12-07 | Rohm Co., Ltd. | Thermal printing head |
| WO1996041722A1 (en) * | 1995-06-13 | 1996-12-27 | Rohm Co., Ltd. | Method of forming auxiliary electrode layer for common electrode pattern in thermal head |
| JP2009522878A (ja) * | 2005-12-29 | 2009-06-11 | エクスアテック、エル.エル.シー. | プラスチック・ウィンドウ・パネルのためのアンテナ |
-
1989
- 1989-01-04 JP JP67489A patent/JPH02179765A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1995032867A1 (en) * | 1994-05-31 | 1995-12-07 | Rohm Co., Ltd. | Thermal printing head |
| US5680170A (en) * | 1994-05-31 | 1997-10-21 | Rohm Co. Ltd. | Thermal printhead |
| WO1996041722A1 (en) * | 1995-06-13 | 1996-12-27 | Rohm Co., Ltd. | Method of forming auxiliary electrode layer for common electrode pattern in thermal head |
| EP0775584A4 (en) * | 1995-06-13 | 1997-07-16 | Rohm Co Ltd | METHOD OF CREATING AN AUXILIARY ELECTRODE LAYER FOR A COMMON ELECTRODE CONFIGURATION IN A THERMAL HEAD |
| US5979040A (en) * | 1995-06-13 | 1999-11-09 | Rohm Co., Ltd. | Method of making auxiliary electrode layer for common electrode pattern in thermal printhead |
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