JPH02189640A - 情報処理装置の試験実行方法 - Google Patents
情報処理装置の試験実行方法Info
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- JPH02189640A JPH02189640A JP1010537A JP1053789A JPH02189640A JP H02189640 A JPH02189640 A JP H02189640A JP 1010537 A JP1010537 A JP 1010537A JP 1053789 A JP1053789 A JP 1053789A JP H02189640 A JPH02189640 A JP H02189640A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 20
- 230000010365 information processing Effects 0.000 claims description 10
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 abstract description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
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- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、演算処理装置とサービスプロセッサを含み、
演算処理装置は複数のアーキテクチャを制御すべく、ア
ーキテクチャ共通部とアーキテクチャ毎のn個のアーキ
テクチャ固有部を有し、サービスプロセッサに接続され
る外部記憶装置には複数のアーキテクチャに対応したn
組の試験モニタと試験部とが格納され、かつ実行アーキ
テクチャ情報が格納される領域が外部記憶装置に確保さ
れ、前記領域にはシステム初期設定段階でオペレーティ
ングシステムによりオペレーティングシステム自身の実
行アーキテクチャが格納される情報処理装置に関する。
演算処理装置は複数のアーキテクチャを制御すべく、ア
ーキテクチャ共通部とアーキテクチャ毎のn個のアーキ
テクチャ固有部を有し、サービスプロセッサに接続され
る外部記憶装置には複数のアーキテクチャに対応したn
組の試験モニタと試験部とが格納され、かつ実行アーキ
テクチャ情報が格納される領域が外部記憶装置に確保さ
れ、前記領域にはシステム初期設定段階でオペレーティ
ングシステムによりオペレーティングシステム自身の実
行アーキテクチャが格納される情報処理装置に関する。
従来、この種の情報処理装置では、実行アーキテクチャ
を自動判別する手段が設けられていないため、試験実行
時に人間の判断により実行アーキテクチャに応じた試験
モニタと試験部を実行するか、あるいは判別せずに全て
のアーキテクチャに対応したn組の試験モニタと試験部
とを常に自動実行する方法が採られていた。
を自動判別する手段が設けられていないため、試験実行
時に人間の判断により実行アーキテクチャに応じた試験
モニタと試験部を実行するか、あるいは判別せずに全て
のアーキテクチャに対応したn組の試験モニタと試験部
とを常に自動実行する方法が採られていた。
[発明が解決しようとする課題1
上述した従来の試験実行方法のうち、前者は人間により
判断しなければならないというわずられしさと操作ミス
を誘発する危険性があるという欠点があり、また後者の
方法は試験の実行時間がアーキテクチャの種類に比例し
て長くなるという欠点がある。
判断しなければならないというわずられしさと操作ミス
を誘発する危険性があるという欠点があり、また後者の
方法は試験の実行時間がアーキテクチャの種類に比例し
て長くなるという欠点がある。
[課題を解決するための手段1
本発明の情報処理装置の試験実行方法は、演算処理装置
の試験を実行する際、外部記憶装置の領域を参照し、実
行アーキテクチャ情報が格納されていない場合にはn組
の試験モニタと試験部とを実行し、実行アーキテクチャ
情報が格納されている場合には、該情報に対応した1組
の試験モニタと試験部とを実行するものである。
の試験を実行する際、外部記憶装置の領域を参照し、実
行アーキテクチャ情報が格納されていない場合にはn組
の試験モニタと試験部とを実行し、実行アーキテクチャ
情報が格納されている場合には、該情報に対応した1組
の試験モニタと試験部とを実行するものである。
〔作用1
システムの実行アーキテクチャが判明しない時は全ての
アーキテクチャの試験を行ない、逆にシステムの実行ア
ーキテクチャが確定した後は該アーキテクチャに対応す
る試験のみを実行するので、冗長な試験実行を抑止し、
保守時間を短縮できる。
アーキテクチャの試験を行ない、逆にシステムの実行ア
ーキテクチャが確定した後は該アーキテクチャに対応す
る試験のみを実行するので、冗長な試験実行を抑止し、
保守時間を短縮できる。
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第1図は本発明の一実施例を示す情報処理装置の構成図
、第2図は第1図のオペレーティングシステム43と試
験モニタ起動制御部71の動作を主とした試験実行処理
の流れ図である。
、第2図は第1図のオペレーティングシステム43と試
験モニタ起動制御部71の動作を主とした試験実行処理
の流れ図である。
この情報処理装置では、演算処理装置2と人出力制御装
置4と主記憶装置3とがシステム制御装置lに接続され
、さらに診断ユニット5を介してサービスプロセッサ6
がシステム制御装置1に接続され、サービスプロセッサ
6に外部記憶装置7が接続されている。入出力制御装置
4には、磁気ディスク装置42を制御する磁気ディスク
制御装置4!が接続されている。演算処理装置2は複数
のアーキテクチャa、b、・・・、nをIII i卸す
べくアーキテクチャ共通部21と、アーキテクチャa、
bnに対応したアーキテクヂャ固有部2a、 2b
。
置4と主記憶装置3とがシステム制御装置lに接続され
、さらに診断ユニット5を介してサービスプロセッサ6
がシステム制御装置1に接続され、サービスプロセッサ
6に外部記憶装置7が接続されている。入出力制御装置
4には、磁気ディスク装置42を制御する磁気ディスク
制御装置4!が接続されている。演算処理装置2は複数
のアーキテクチャa、b、・・・、nをIII i卸す
べくアーキテクチャ共通部21と、アーキテクチャa、
bnに対応したアーキテクヂャ固有部2a、 2b
。
2nを含んでいる。アーキテクチャa、b。
nに対応した演算処理装置2の試験用として外部記憶装
置7にはアーキテクチャa用試験モニタ7al と試験
部7a2.アーキテクチャb用試験モニタ7blと試験
部7b2、以下同様にしてアーキテクチャn用試験モニ
タ701と試験部7n2が格納され、試験モニタ起動制
御部71の制御のもとに実行アーキテクチャ情報格納部
72の内容に応じて選択された試験モニタ7xlと試験
部7x2 (x = a、 b。
置7にはアーキテクチャa用試験モニタ7al と試験
部7a2.アーキテクチャb用試験モニタ7blと試験
部7b2、以下同様にしてアーキテクチャn用試験モニ
タ701と試験部7n2が格納され、試験モニタ起動制
御部71の制御のもとに実行アーキテクチャ情報格納部
72の内容に応じて選択された試験モニタ7xlと試験
部7x2 (x = a、 b。
、nのいずれか)がシステム制御装置l、診断ユニット
5を経由してサービスプロセッサ6より主記憶装置3に
ロードされるようになっている。
5を経由してサービスプロセッサ6より主記憶装置3に
ロードされるようになっている。
そして、この情報処理装置は、入出力制御装置4および
磁気ディスク制御装置41を経由して接続された磁気デ
ィスク装置42に格納されているオペレーティングシス
テム43が主記憶装置3にロードされると演算処理装置
2の制御のもとにオペレーティングシステム43が起動
、実行されるようになっている。
磁気ディスク制御装置41を経由して接続された磁気デ
ィスク装置42に格納されているオペレーティングシス
テム43が主記憶装置3にロードされると演算処理装置
2の制御のもとにオペレーティングシステム43が起動
、実行されるようになっている。
次に、本実施例の情報処理装置における試験実行処理を
第2図により説明する。
第2図により説明する。
まず、システム初期設定(処理101)が行なわれると
、オペレーティングシステム43が磁気ディスク装置4
2より主記憶装置3にロードされ演算処理装置2の制御
のもとに実行される(第2図には示していない)。実行
されたオペレーティングシステム43はオペレーティン
グシステム43自身の実行アーキテクチャiをソフトウ
ェア命令の一種である拡張デコール命令により実行する
と、診断ユニット5、サービスプロセッサ6経由で実行
アーキテクチャ情報格納部72に実行アーキテクチャi
が格納される(処理102)、次に、オペレーティング
システム43はシステム運転を開始しく処理103)、
業務サービスを行なう。ここで、演算処理装置2に致命
的な故障が発生すると、オペレーティングシステム43
は業務サービスを継続できなくなりシステムは停止する
(処理104)、この場合、演算処理装置2の保守が行
なわれ、保守が正しく行なわれ故障が修復したかを確認
する目的で演算処理装置2の試験を実行するため、試験
モニタ起動制御部71を活性化する(処理201)、試
験モニタ起動制御部71は実行アーキテクチャ情報格納
部72の内容を調査しく処理202)、この場合処理1
02によりアーキテクチャiが格納されているのでアー
キテクチャiに対応した試験モニタ7i1と試験部7i
2を主記憶装置3ヘロードし、演算処理装置2により試
験モニタ7i1と試験部7i2が実行される(処理20
6) 、一方、システム搬入直後の現地調整やシステム
初期設定したものの立上げの過程で致命的な故障が発生
して処理102の実行アーキテクチャを格納する処理が
未完了の場合には、処理202による判断に基づき全ア
ーキテクチャa % nの試験モニタおよび試験部がロ
ードされ演算処理装置2が試験される(処理203〜2
05)。
、オペレーティングシステム43が磁気ディスク装置4
2より主記憶装置3にロードされ演算処理装置2の制御
のもとに実行される(第2図には示していない)。実行
されたオペレーティングシステム43はオペレーティン
グシステム43自身の実行アーキテクチャiをソフトウ
ェア命令の一種である拡張デコール命令により実行する
と、診断ユニット5、サービスプロセッサ6経由で実行
アーキテクチャ情報格納部72に実行アーキテクチャi
が格納される(処理102)、次に、オペレーティング
システム43はシステム運転を開始しく処理103)、
業務サービスを行なう。ここで、演算処理装置2に致命
的な故障が発生すると、オペレーティングシステム43
は業務サービスを継続できなくなりシステムは停止する
(処理104)、この場合、演算処理装置2の保守が行
なわれ、保守が正しく行なわれ故障が修復したかを確認
する目的で演算処理装置2の試験を実行するため、試験
モニタ起動制御部71を活性化する(処理201)、試
験モニタ起動制御部71は実行アーキテクチャ情報格納
部72の内容を調査しく処理202)、この場合処理1
02によりアーキテクチャiが格納されているのでアー
キテクチャiに対応した試験モニタ7i1と試験部7i
2を主記憶装置3ヘロードし、演算処理装置2により試
験モニタ7i1と試験部7i2が実行される(処理20
6) 、一方、システム搬入直後の現地調整やシステム
初期設定したものの立上げの過程で致命的な故障が発生
して処理102の実行アーキテクチャを格納する処理が
未完了の場合には、処理202による判断に基づき全ア
ーキテクチャa % nの試験モニタおよび試験部がロ
ードされ演算処理装置2が試験される(処理203〜2
05)。
(発明の効果〕
以上説明したように本発明は、システムの実行アーキテ
クチャが判明しない時は全てのアーキテクチャの試験を
行ない、逆にシステムの実行アーキテクチャが確定した
後は該アーキテクチャに対応する試験のみを実行するこ
とにより、冗長な試験実行を抑止し、保守時間を短縮で
きるという効果がある。
クチャが判明しない時は全てのアーキテクチャの試験を
行ない、逆にシステムの実行アーキテクチャが確定した
後は該アーキテクチャに対応する試験のみを実行するこ
とにより、冗長な試験実行を抑止し、保守時間を短縮で
きるという効果がある。
第1図は本発明の一実施例を示す情報処理装置の構成図
、第2図は第1図のオペレーティングシステム43と試
験モニタ起動制御部71の動作を主とした試験実行処理
の流れ図である。 1・・・・・・システム制御装置 2・・・・・・演算処理装置 2a〜2n・・・・・・アーキテクチャ固有部21・・
・・・・アーキテクチャ共通部3・・・・・・主記憶装
置 4・・・・・・入出力制御装置 41・・・・・・磁気ディスク制御装置42・・・・・
・磁気ディスク装置 43・・・・・・オペレーティングシステム、5・・・
・・・診断ユニット 6・・・・・・サービスプロセッサ 7・・・・・・外部記憶装置 7】・・・・・・試験モニタ起動制御部72・・・・・
・実行アーキテクチャ情報格納部7xl (x=a、b
、・・・、n)・・・・・・アーキテクチャX用試験モ
ニタ 7x2 (x・a、 b、 ・・・、n)・・・・・・
アーキテクチャX用試験部
、第2図は第1図のオペレーティングシステム43と試
験モニタ起動制御部71の動作を主とした試験実行処理
の流れ図である。 1・・・・・・システム制御装置 2・・・・・・演算処理装置 2a〜2n・・・・・・アーキテクチャ固有部21・・
・・・・アーキテクチャ共通部3・・・・・・主記憶装
置 4・・・・・・入出力制御装置 41・・・・・・磁気ディスク制御装置42・・・・・
・磁気ディスク装置 43・・・・・・オペレーティングシステム、5・・・
・・・診断ユニット 6・・・・・・サービスプロセッサ 7・・・・・・外部記憶装置 7】・・・・・・試験モニタ起動制御部72・・・・・
・実行アーキテクチャ情報格納部7xl (x=a、b
、・・・、n)・・・・・・アーキテクチャX用試験モ
ニタ 7x2 (x・a、 b、 ・・・、n)・・・・・・
アーキテクチャX用試験部
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、演算処理装置とサービスプロセッサを含み、前記演
算処理装置は複数のアーキテクチャを制御すべく、アー
キテクチャ共通部とアーキテクチャ毎のn個のアーキテ
クチャ固有部を有し、前記サービスプロセッサに接続さ
れる外部記憶装置には前記複数のアーキテクチャに対応
したn組の試験モニタと試験部とが格納され、かつ実行
アーキテクチャ情報が格納される領域が前記外部記憶装
置に確保され、前記領域にはシステム初期設定段階でオ
ペレーティングシステムにより前記オペレーティングシ
ステム自身の実行アーキテクチャが格納される情報処理
装置において、 前記演算処理装置の試験を実行する際、前記外部記憶装
置の前記領域を参照し、実行アーキテクチャ情報が格納
されていない場合にはn組の試験モニタと試験部とを実
行し、実行アーキテクチャ情報が格納されている場合に
は、該情報に対応した1組の試験モニタと試験部とを実
行する、情報処理装置の試験実行方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1010537A JPH02189640A (ja) | 1989-01-18 | 1989-01-18 | 情報処理装置の試験実行方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1010537A JPH02189640A (ja) | 1989-01-18 | 1989-01-18 | 情報処理装置の試験実行方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02189640A true JPH02189640A (ja) | 1990-07-25 |
Family
ID=11753015
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1010537A Pending JPH02189640A (ja) | 1989-01-18 | 1989-01-18 | 情報処理装置の試験実行方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02189640A (ja) |
-
1989
- 1989-01-18 JP JP1010537A patent/JPH02189640A/ja active Pending
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