JPS6160144A - 試験診断方式 - Google Patents
試験診断方式Info
- Publication number
- JPS6160144A JPS6160144A JP59182119A JP18211984A JPS6160144A JP S6160144 A JPS6160144 A JP S6160144A JP 59182119 A JP59182119 A JP 59182119A JP 18211984 A JP18211984 A JP 18211984A JP S6160144 A JPS6160144 A JP S6160144A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- degraded
- test
- epu3
- incorporation
- test program
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
本発明体試験診断方式、とくに情報処理システムの試験
診断方式に関する。
診断方式に関する。
（従来技術）
例えばキャラでユ等がデグレード状態で使用されている
演写処理装！を、修理の目的でいったんシスーテムから
切離し、このデグレードされている部分の修理を行なっ
た彼に、再びシステムに組込む場合には、従来下記のよ
うに行なわれている。
演写処理装！を、修理の目的でいったんシスーテムから
切離し、このデグレードされている部分の修理を行なっ
た彼に、再びシステムに組込む場合には、従来下記のよ
うに行なわれている。
す々わち、修理確認ロールとしてＦＴ（機能試験プログ
ラム）を用い、インラインＦＴ（主記憶中のシステムの
ジョブ用領域から切離された試験専用領域にＦ Ｔ 、
！；それに必要なファームウェアテーブルとをロード、
シ、これを用いて、システム運用中にこれと独立して試
験診断を行なう方法）により、このシステムから切離さ
れた演算処理装置の診断試験を行ない、こ（窄正常終了
すればシステム再組込Ｗとし、異常終了すれば再組込み
不可としてシステムへ９再組込みが拒否されるようにな
っている。
ラム）を用い、インラインＦＴ（主記憶中のシステムの
ジョブ用領域から切離された試験専用領域にＦ Ｔ 、
！；それに必要なファームウェアテーブルとをロード、
シ、これを用いて、システム運用中にこれと独立して試
験診断を行なう方法）により、このシステムから切離さ
れた演算処理装置の診断試験を行ない、こ（窄正常終了
すればシステム再組込Ｗとし、異常終了すれば再組込み
不可としてシステムへ９再組込みが拒否されるようにな
っている。
このため、いったんシステムから切離して修理を行なっ
てしまうと、この修理が完了してインラインＦＴが正常
終了するようにならない間は、も早や、もとのデグレー
ドされた状態でもシステムに組込むことができなくなる
。
てしまうと、この修理が完了してインラインＦＴが正常
終了するようにならない間は、も早や、もとのデグレー
ドされた状態でもシステムに組込むことができなくなる
。
これは例えば、顧客の昼休み時間等の比較的負荷の軽い
時間を利用してデグレード状態で使用されている装置を
システムから切離してこのデグレードされている部分の
修理を早急に行うような場合に、この制限時間内に修理
に成功すればよいが、もし修理に成功しない場合には、
この装置をシステムに組込むことができなくなり、もと
のデグレードされた運転によるシステム参加すら不可能
となり、このためシステム性能が著るしく低下してしま
うという欠点を有している。
時間を利用してデグレード状態で使用されている装置を
システムから切離してこのデグレードされている部分の
修理を早急に行うような場合に、この制限時間内に修理
に成功すればよいが、もし修理に成功しない場合には、
この装置をシステムに組込むことができなくなり、もと
のデグレードされた運転によるシステム参加すら不可能
となり、このためシステム性能が著るしく低下してしま
うという欠点を有している。
（発明の目的）
本発明の目的は、上述の欠点を除去し゛Ｃ１修理未完で
あっても、必要に応じてデグレードされた状態でシステ
ム再組込みを許すような試験診断方式を提供するにある
。
あっても、必要に応じてデグレードされた状態でシステ
ム再組込みを許すような試験診断方式を提供するにある
。
（発明の構成）
本発明の方式は、試験用テストプログラムの実行時の環
境として装置内のハードウェアを全てテストするかある
いはハードウェアをデグレードしてテストするかの情報
を外部から与えられるようにし、前記デグレードした環
境が与えられた場合には前記試験用テストプログラムが
デグレードされたハードウェア部分を除いてテストが行
なわれるようにし、前記デグレードした環境下で前記試
験用テストプログラムが正常終了した場合には前記装置
を前記デグレードされた状態でシステムに組込みを行な
うようにする。
境として装置内のハードウェアを全てテストするかある
いはハードウェアをデグレードしてテストするかの情報
を外部から与えられるようにし、前記デグレードした環
境が与えられた場合には前記試験用テストプログラムが
デグレードされたハードウェア部分を除いてテストが行
なわれるようにし、前記デグレードした環境下で前記試
験用テストプログラムが正常終了した場合には前記装置
を前記デグレードされた状態でシステムに組込みを行な
うようにする。
（実施例）
次に図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
本実施例は主記憶装置１（以後ＭＭＵ１）、システム制
御装置２（以後５ＣＵ２）、演算処理装置３−１（以後
ＥＰＵ３−１）、演算処理装置３−２（以後ＥＰＵ３−
２）、入出力制御装置４１（＆ｌ０Ｐ４）、ユニットレ
コードプロセッサ５（以後Ｕ几Ｐ５）およびサービスプ
ロセッサ６（以後８ＶＰ６）を含んでいる。
御装置２（以後５ＣＵ２）、演算処理装置３−１（以後
ＥＰＵ３−１）、演算処理装置３−２（以後ＥＰＵ３−
２）、入出力制御装置４１（＆ｌ０Ｐ４）、ユニットレ
コードプロセッサ５（以後Ｕ几Ｐ５）およびサービスプ
ロセッサ６（以後８ＶＰ６）を含んでいる。
さて、今ＥＰＵ３−１の中に含まれているキャッシュ（
図示せず）の一部に障害が発生し、このためキャッジ−
のこれを含む部分がキャッシュの他の部分から切離され
、従ってＥＰＵ３−１はキャッジ−が不完全な、デグレ
ード運転が行なわれいたと仮定する。
図示せず）の一部に障害が発生し、このためキャッジ−
のこれを含む部分がキャッシュの他の部分から切離され
、従ってＥＰＵ３−１はキャッジ−が不完全な、デグレ
ード運転が行なわれいたと仮定する。
障害を発生したキャッシュを修理する目的で、この状態
にあるＥＰＵ３−１をシステムから切離し、デグレード
して使用されていたキャッシュの修理を行ない、ＥＰＵ
３−１を再びシステムに組込む場合の本実施例の試験診
断方式は下記の通りである。
にあるＥＰＵ３−１をシステムから切離し、デグレード
して使用されていたキャッシュの修理を行ない、ＥＰＵ
３−１を再びシステムに組込む場合の本実施例の試験診
断方式は下記の通りである。
操作者は、５ＶＰ６のコンソールから、システムから切
離されているＥＰＵ３−１に対するインラインＦＴを行
なうための環境を設定する。
離されているＥＰＵ３−１に対するインラインＦＴを行
なうための環境を設定する。
本実施例においては、ＦＴ実行時の環境として装置内の
ハードウェアをすべてテストするか、おるいはハードウ
ェアをデグレードしてテストするかの情報を５ＶＰ６を
介してＦ’Ｔに設定できるように構成されている。
ハードウェアをすべてテストするか、おるいはハードウ
ェアをデグレードしてテストするかの情報を５ＶＰ６を
介してＦ’Ｔに設定できるように構成されている。
ソコテ操作者１ｄｔｆ、５ＶＰ６ＫＥＰＵ３−１の全て
のハードウェアのテストを行なうように指定する。この
情報は８ＶＰ６によって記憶され、これによってＦＴの
環境が設定される。
のハードウェアのテストを行なうように指定する。この
情報は８ＶＰ６によって記憶され、これによってＦＴの
環境が設定される。
さて８ＶＰ６から診断ユニット２１（以後ＤＧＵ２１）
を介してＯ８（オペレーティングシステム）にＦＴ実行
の情報が伝えられると、Ｏ８は、ＭＭＴＪｌの現在使用
されていないジップ用領域を確保し、これをシステムか
ら切離し、診断試験用の専用領域に割当てる。
を介してＯ８（オペレーティングシステム）にＦＴ実行
の情報が伝えられると、Ｏ８は、ＭＭＴＪｌの現在使用
されていないジップ用領域を確保し、これをシステムか
ら切離し、診断試験用の専用領域に割当てる。
８ＶＰ６はこの割当てられたＭＭＵｌの専用領域に前述
のように環境設定されたＦＴとこれを実行するのに必要
なファームウェアテーブル等をロードし、ＥＰＵ３−１
にＦＴの実行を指令する。
のように環境設定されたＦＴとこれを実行するのに必要
なファームウェアテーブル等をロードし、ＥＰＵ３−１
にＦＴの実行を指令する。
この結果、Ｅ Ｐ Ｕ ３− ｔはＭＭＵｌの上述の専
用領域を専有してＦＴを実行する。
用領域を専有してＦＴを実行する。
このＦＴが正常終了すれば、５ＶＰ６に通報され、５ｖ
Ｐ６はＥＰＵ３−１のシステム組込みの要求に対し組込
可を応答する。
Ｐ６はＥＰＵ３−１のシステム組込みの要求に対し組込
可を応答する。
これに対してＦＴが異常終了した場合にはＥＰＵ３−１
のシステムへの組込みは８ＶＰ６のソフトウェアにより
拒否される。
のシステムへの組込みは８ＶＰ６のソフトウェアにより
拒否される。
そこで操作者は、５ＶＰ６のコンソールを介し、ＥＰＵ
３−１のキャッシュをデグレードした形でＦＴの動作環
境の再設定を行ない、デグレードした部分についてはテ
ストが行なわれないように設定する。
３−１のキャッシュをデグレードした形でＦＴの動作環
境の再設定を行ない、デグレードした部分についてはテ
ストが行なわれないように設定する。
こうして５ＶＰ６はこの再設定されたＦＴを上述の専用
領域に再ロードしＥＰＵ３−１に対するインラインＦ’
Ｔを繰り返す。
領域に再ロードしＥＰＵ３−１に対するインラインＦ’
Ｔを繰り返す。
この結果ＦＴが正常終了すれば、８ＶＰ６はＥＰＵ３−
ｔをそのＦＴがテストしたのと同じにデグレードして（
ＦＴでテストしないハードウェア部分を除いて） Ｂ
Ｐ Ｕ ３−１のシステムへの組込要求に対し組込可を
応答する。
ｔをそのＦＴがテストしたのと同じにデグレードして（
ＦＴでテストしないハードウェア部分を除いて） Ｂ
Ｐ Ｕ ３−１のシステムへの組込要求に対し組込可を
応答する。
このような試験診断方式をとることにより、ＥＰＵ３−
１は少くもはじめのシステムから切離される前のデグレ
ードされた状態でシステムに組込むことが可能となり、
ＥＰＵ３−１のシステム不参加による著るしい性能低下
を回避し、次の適当な修理チャンスを狙うようにするこ
とができる。
１は少くもはじめのシステムから切離される前のデグレ
ードされた状態でシステムに組込むことが可能となり、
ＥＰＵ３−１のシステム不参加による著るしい性能低下
を回避し、次の適当な修理チャンスを狙うようにするこ
とができる。
（発明の効果）
以上のように本発明によると、いったんシステムから構
成される装置を、その修理完了を待たずにデグレードさ
れた状態でのシステム再組込みを許すような試験診断方
式を提供できる。
成される装置を、その修理完了を待たずにデグレードさ
れた状態でのシステム再組込みを許すような試験診断方
式を提供できる。
これにより、修理の柔軟性が向上される。
第１図は本発明の一実施例を示すプロ、り図である。
図において、
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 試験用テストプログラムの実行時の環境として装置内の
ハードウェアを全てテストするかあるいはハードウェア
をデグレードしてテストするかの情報を外部から与えら
れるようにし、 前記デグレードした環境が与えられた場合には前記試験
用テストプログラムがデグレードされたハードウェア部
分を除いてテストが行なわれるようにし、 前記デグレードした環境下で前記試験用テストプログラ
ムが正常終了した場合には前記装置を前記デグレードさ
れた状態でシステムに組込みを行なうようにしたことを
特徴とする試験診断方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59182119A JPS6160144A (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | 試験診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59182119A JPS6160144A (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | 試験診断方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6160144A true JPS6160144A (ja) | 1986-03-27 |
Family
ID=16112659
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59182119A Pending JPS6160144A (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | 試験診断方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6160144A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07145457A (ja) * | 1993-11-24 | 1995-06-06 | Nippon Foil Mfg Co Ltd | 金属箔コイル状物のクッション用エンボス金属箔 |
-
1984
- 1984-08-31 JP JP59182119A patent/JPS6160144A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07145457A (ja) * | 1993-11-24 | 1995-06-06 | Nippon Foil Mfg Co Ltd | 金属箔コイル状物のクッション用エンボス金属箔 |
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