JPH02199864A - タングステン薄膜抵抗体 - Google Patents

タングステン薄膜抵抗体

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JPH02199864A
JPH02199864A JP1893289A JP1893289A JPH02199864A JP H02199864 A JPH02199864 A JP H02199864A JP 1893289 A JP1893289 A JP 1893289A JP 1893289 A JP1893289 A JP 1893289A JP H02199864 A JPH02199864 A JP H02199864A
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JP
Japan
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temperature coefficient
silicon
film resistor
tungsten thin
resistance value
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Pending
Application number
JP1893289A
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English (en)
Inventor
Hiroaki Takasu
博昭 鷹巣
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Seiko Instruments Inc
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、温度係数の小さい高抵抗率の薄膜抵抗に関
し、特に半導体デバイス上に形成して高機能のアナログ
ICを実現する製造技術に関する。
〔発明の概要〕
この発明は、タングステン薄膜抵抗体において、前記タ
ングステン薄WA抵抗体にシリコンを含有させることに
より、前記タングステン薄膜抵抗体の抵抗率を増加させ
、さらに温度係数を減少させるものである。
〔従来の技術〕
従来、タングステン単体の薄膜抵抗体が知られていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかし従来のタングステン薄膜抵抗体では、高抵抗値(
数100 KΩ)を得ようとする場合、膜厚50人、幅
1μm1長さが1000μm以上の大きいパターンが必
要となってしまい、シート抵抗値がIKΩ/口以上口高
上抗値を得ようとすると、膜厚をlO人程度にしなけれ
ばならず、膜厚の制御が非常に難しい、また、温度係数
は1000p p m/’C以上であるので、オ、ペア
ンプ等に応用した場合、抵抗体に電流が流れることによ
る発熱により、安定した回路動作が困難であった。
そこで、この発明は従来のこのような課題を解決するた
め、シート抵抗値がIKΩ/口以上口高上抗値を有し、
温度係数の小さいタングステン薄膜抵抗体を得ることを
目的としている。
〔課題を解決するための手段〕
上記課題を解決するために、この発明はタングステン薄
膜抵抗体にシリコンを含有させることにより、シート抵
抗値がIKΩ/口以上口高上抗値と小さな温度係数を得
られるようにした。
〔作用〕
上記のように、タングステン¥!l膜抵抗体に高抵抗体
であるシリコンを含有させることにより、シート抵抗値
がIKΩ/口以上口高上抗値が得られ、またタングステ
ンの抵抗温度係数は十であり、シリコンの抵抗温度係数
は−であることから、この両者の合成M抵抗体は小さな
温度係数(300p pm / ’C以下)を実現でき
るのである。
〔実施例〕
以下に、この発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第り図は、スパッタリング法によって形成したシリコン
を含有するタングステン薄膜抵抗体のシリコン含有率を
シリコンのスパッタリングパワーで調整し、膜厚を10
0人とした場合のシリコンのスパッタリングパワーとシ
ー) 抵bt (JIの関係を示した図である。シリコ
ンを含有させることにより、シート抵抗値は容易にIK
Ω/口゛を超えることが出来る。第2図は、スパッタリ
ング法によって形成したシリコンを含有するタングステ
ン薄膜抵抗体の形成時のシリコンのスパッタリングパワ
ーと抵抗温度係数の関係を示した図である。
シリコンを含有させることにより、温度係数300pp
m/℃以下を実現できる。
〔発明の効果〕
この発明は、以上説明したように、タングステン薄膜抵
抗体にシリコンを含有させることにより、タングステン
薄膜抵抗体のシート抵抗値をIKΩ/口以上口高上させ
、さらに温度係数を300 pPm/℃以下に減少させ
る効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明によるスパッタリング法によって形成
したシリコンを含有するタングステン薄膜抵抗体のシリ
コン含有率をシリコンのスパッタリングパワーで調整し
、膜厚を100 人とした場合のシリコンのスパッタリ
ングパワーとシート抵抗値との関係を示した図、第2図
は、本発明によるスパッタリング法によって形成したシ
リコンを含有するタングステン薄膜抵抗体の形成時のシ
リコンのスパッタリングパワーと抵抗温度係数との関係
を示した図である。 以上 出願人 セイコー電子工業株式会社 代理人 弁理士  林   敬 之 助シリコンのスノ
マ、タリンγハ匁−(W)ジノコンりんイ、・タリ)7
)望ワーとシート打交巾し[to八目イネ図fs1rA

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. シリコンを含有することを特徴とするタングステン薄膜
    抵抗体。
JP1893289A 1989-01-27 1989-01-27 タングステン薄膜抵抗体 Pending JPH02199864A (ja)

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