JPH0221131B2 - - Google Patents

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JPH0221131B2
JPH0221131B2 JP62146377A JP14637787A JPH0221131B2 JP H0221131 B2 JPH0221131 B2 JP H0221131B2 JP 62146377 A JP62146377 A JP 62146377A JP 14637787 A JP14637787 A JP 14637787A JP H0221131 B2 JPH0221131 B2 JP H0221131B2
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JP
Japan
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shutter
exposure amount
time
value
light source
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP62146377A
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English (en)
Other versions
JPS6323316A (ja
Inventor
Mitsugi Yamamura
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
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Publication of JPS6323316A publication Critical patent/JPS6323316A/ja
Publication of JPH0221131B2 publication Critical patent/JPH0221131B2/ja
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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はIC,LSI等の製造過程で半導体ウエハ
上にマスク上の回路パターンを焼付けるために用
いられる露光装置の露光量を制御する方法に関す
る。
[従来の技術] 通常、半導体露光装置では、光源の強度が所定
値の半分程度まで低下しても使用するため、従来
方法では露光量の過不足という問題が生じる。
このような従来装置の問題を図示例を用いて詳
細に説明する。
第1図は従来の露光量制御装置の一例を示すブ
ロツク図で1は光源、2は光源1によつて照明さ
れるマスクで、回路パターンが形成されている。
3はマスク2に近傍して置かれたウエハで、光源
1からの光によつてマスク2上の回路パターンが
その上面に焼付けられる。4は光源からの照明を
遮断するシヤツタ、5はシヤツタ4を通過した光
の強度を検出する光センサで、この光センサ5に
よつて検出された光強度はアンプ6によつて電圧
信号に変換される。7は電圧信号を周波数信号に
変換するV/Fコンバータ、8はV/Fコンバー
タ7からのパルス数をカウントするトータルカウ
ンタ、9はトータルカウンタ8によつてカウント
された値と露光量設定器10の設定された値を比
較し、これらの値が一致した際、一致信号を発す
る比較回路である。11はシヤツタ開閉指令器
で、露光開始指示によつてシヤツタ開指令信号を
発生し、シヤツタ駆動回路12を作動させ、シヤ
ツタ4の開動作を開始させると共に、トータルカ
ウンタ8にカウント開始を指示する。また、比較
回路9からの一致信号によつてシヤツタ閉指令信
号を発生し、シヤツタ駆動回路12を作動させ、
シヤツタ4の閉動作を開始させる。
[発明が解決しようとしている問題点] この例では、露光量設定器10にはシヤツタ4
の閉動作時間に対応するオーバ露光分を補正する
ため、オーバ露光分に対応した値を引いた値が記
憶されている。このため、光源1の強度が低下す
ると露光量の不足が生じる。このことをさらに詳
細に説明する。
第2図a,b、は、光源1の強度が所定値の場
合と、所定値の1/2の場合のシヤツタ作動タイム
チヤートを示すもので、ハイレベルはシヤツタの
開状態、ローレベルはシヤツタ閉状態を示す。第
2図aの如く、光源1の強度が所定値の場合、時
刻t0で開動作を開始し、時刻t1にシヤツタ4が開
動作を完了し、時刻t2にシヤツタ開閉指令器11
からシヤツタ閉指令信号が出る。これは比較回路
9が露光量設定器10とカウンタ8の内容が一致
したことを検出して行われる。一定時間t2〜t3
での間にシヤツタ4の閉動作は完了する。通常シ
ヤツタ4の開動作時間(t1−t0)と閉動作時間
(t3−t2)は等しい。一点鎖線は光源の強度変化
を示す。今例えば光源1の強度が所定値のとき、
ウエハ3への適正露光量が「100」である場合、
前述の如くオーバ露光量に対応した値が例えば
「20」であつたとし、それを引いた値「80」に対
応したデジタル値を露光量設定器10に記憶させ
る。時刻t0でシヤツタ4が開き始め、t1で全開す
る。この間V/Fコンバータ7が入力電圧に比例
した周波数のパルスを出力し、カウンタ8がこれ
を計数する。ここまでにカウンタ8は「20」を計
数するように設定される。t1〜t2期間は光源の強
度が一定即ちコンバータ7の入力電圧が一定であ
るから一定周波数のパルスをカウンタ8が計数
し、時刻t2で20(t0〜t1)+60(t1〜t2)=80(t2)と
なり、設定器10に記憶された値「80」と一致す
るので比較回路9が一致信号をシヤツタON/
OFF指令器11に送出し、シヤツタ駆動回路1
2が作動し、シヤツタ4が閉動作を開始する。こ
の後のt2〜t3で残露光量「20」に対応した値だけ
露光されることになり、総露光量として「100」
が達成され、適正露光量と完全に一致する。しか
し第2図bの如く光源の強度が1/2に低下した場
合でも先と同様に、設定器10には「80」が記憶
されたままであり、時刻t0から先と同様にカウン
タ8が検出パルスを計数し続け、カウンタ8が
「80」を計数した時刻t4で比較回路9が一致信号
を出力し、シヤツタ4が閉じ始める。ここでシヤ
ツタ閉じ時間t5−t4とシヤツタ開き時間t1−t0
一定であり、この間の光強度は先の1/2の値即ち
「10」であり、10(t0〜t1)+70(t1〜t2)=80(t4

次の時刻t4〜t5の間は「10」しかなく、総露光量
は80+10=90となり、適正露光量「100」には、
「10」即ち時刻t5〜t6の分だけ足りなくなるとい
う問題があつた。
またこのとき、光源の所定値に対してあらかじ
め「20」を差引くときの「20」という値を決定す
る際にもその計算は繁雑で、しかも光源の強度低
下に応じて計算し直して記憶させ直さなければな
らず極めて面倒であつた。また露光装置としての
スループツトの低下も免れ得なかつた。
本発明は、このような事情に鑑みなされたもの
で、その目的は、光源の強度が低下した場合に
も、マスクを通したウエハの露光をシヤツタを用
いて高精度に制御し、その露光量を設定量に常に
一致させることのできる露光量制御方法を提供す
ることにある。
[問題点を解決するための手段] 上記目的を達成するため、本発明は、マスクを
通してウエハを露光する際、その露光量が予め設
定されている設定量に一致するよりも補正量分だ
け早くシヤツタの閉動作を開始させる露光量制御
方法において、前記シヤツタを通過した光を検出
するセンサを設け、前記センサの出力に応じたデ
ジタル値を前記シヤツタの開動作開始時から前記
シヤツタの閉動作の作動遅れに見合う所定時間の
間だけ加算し、この加算デジタル値に基づいて前
記補正量が決定されている。
[実施例] 以下、本発明を第3図以降に示した各実施例に
基づいて詳細に説明するが、本発明の各実施例で
前述の従来例と同一構成のものについては、同一
の符号を付して説明を省略する。第3図の第1の
実施例において、13は光量補正用タイマ、14
は光量補正用カウンタ、15は2入力のアンドゲ
ートであり、補正用タイマ13はV/Fコンバー
タの作動開始により作動開始し、シヤツタ4の閉
じ時間に対応した時間t2〜t3だけ出力を発生す
る。補正用タイマ13はアンドゲート15の一入
力端に接続している。また、アンドゲート15の
他入力端にはV/Fコンバータ7の出力が加えら
れる。従つて、補正用カウンタ14にはシヤツタ
4の閉じ時間t2〜t3に対応するパルス数がカウン
トされる。16はトータルカウンタ8と補正用カ
ウンタ14のカウント値をプラスする加算器で、
この加算器16の加算値と露光量設定器10に設
定された値が、比較回路9によつて比較される。
なお、本実施例では露光量設定器10の設定値は
第1図の例と異なつて、適正露光値例えば「100」
が設定される。
第4図aの如く光源が所定強度の場合、補正用
タイマ13の設定時間t2〜t3の間即ち実際にはシ
ヤツタ開き時間中に「20」を補正用カウンタ14
が計数し、加算器16に印加する。したがつてカ
ウンタ8がシヤツタ動作開始時刻t0から計数した
値が「80」になつたとき加算器16の出力は
「100」となり、設定器10に設定された値「100」
と一致し、この時刻がt2となる。この時刻t2は実
際の露光量「80」で設定量「100」より「20」少
ない時刻である。この時刻t2からシヤツタ4が閉
じ動作を開始し、t3で閉じ動作を停止する。この
t2〜t3期間の光量はシヤツタ開き時間中と同じく
「20」であり、80(t0〜t2)+20(t2〜t3)=100とな
り総露光量は設定した適正露光量と一致する。
また第4図bの如く光源の所定強度が1/2にな
つた場合、前述同様に補正用カウンタ14が
「10」を計数し、加算器16に印加する。カウン
タ8が「90」を計数したとき、前例同様に10+90
=100となり、比較回路9が一致信号を送出し、
前例同様にシヤツタ閉じ時間t5〜t6中に残り露光
量「10」を露光し終えて終了る。
第5図は本発明の第2の実施例である。
第3図の実施例と同様に、補正用タイマ13は
V/Fコンバータ7の作動開始からシヤツタ4の
閉じ時間実際は開き時間に対応する時間だけ出力
をアンドゲート15に出力する。この間、アンド
ゲート15は光センサ5に入射した光源1の光の
強度に対応したパルス信号を出力する。補正用カ
ウンタ14によつてパルス信号の数はカウントさ
れ、このカウント値は露光量設定器10に入力さ
れる。露光量設定器10には適正露光量に対応す
る値例えば100が設定されているが、この設定数
は補正用カウンタ14のカウント値例えば「10」
だけ減算される。従つて、比較回路9において、
減算された設定値「90」とトータルカウンタ8の
カウント値「90」が比較される。以下は、第3図
の第1の実施例と同様であるので説明を省略す
る。
次に、マイコンを使用した本発明の第3の実施
例を第6図を使用して説明する。第3図の第1の
実施例との相異点は、比較回路9、シヤツタ開閉
指令器11、アンドゲート15及び加算器16に
よる指令又は演算をCPUで行い、トータルカウ
ンタ8、補正用カウンタ14としてはランダム・
アクセス・メモリRAM1を使用し、補正用タイ
マ13としてはオシレータOSCとRAM2を使用
している点である。第3図の実施例と同機能を持
たせるため、第7図aの〔メインルーチン〕、第
7図bの〔割込みルーチン〕を有している。露光
量制御は通常メイン側で動作し、割込みがあると
メインルーチンを一時休止して割込みルーチンに
とび、どの割込み処理であるかを判断し処理をす
る。それが終わると、再びメインルーチンに戻る
という動作をを繰り返しながら、露光量制御を終
了する。第6図において、V/Fコンバータの出
力とOSC13の出力が割込みに使用される。
次に、第7図a,bについて説明する。メイン
ルーチンに入ると、まずV/Fコンバータ7の出
力パルスを計数するRAM1をクリアする(ステ
ツプ1−1)、次にシヤツタ4を開き(ステツプ
1−2)、V/Fコンバータ7が作動するのを検
出する(ステツプ1−3)。V/Fコンバータ7
の作動検出はV/Fコンバータ7の出力による割
込み処理(ステツプ2−1,2)で、RAM1=
0でなくなることで行う。V/Fコンバータ7が
作動を開始したら、シヤツタ4の閉じ時間に対応
した値をRAM2にセツトし(ステツプ1−4)、
RAM2=0になるまでループをつくる(ステツ
プ1−5)。RAM2はOSC13の出力パルスによる
割込み処理でクリメントされる(ステツプ2−
3,4,5)。RAM2がセツトされてから『0』
になるまでの間、露光量に応じたV/Fコンバー
タ7の出力パルスの数も割込み処理によつて、
RAM1に計数されている。RAM2が『0』検出
されると、RAM1の値を2倍にする(ステツプ
(1−6)。これは、第3図の第1の実施例で、補
正用タイマ13が作動している間の補正用カウン
タ14の値とトータルカウンタ8の値を加算する
ことと等価の働きをしている。
その後、割込みルーチンではRAM2をV/F
コンバータ7の出力に応じてインクリメントす
る。メインルーチンでは露光量設定値を入力し、
RAM1と比較して同値になるとシヤツタ4を閉
じるための一致信号をシヤツタ駆動回路12に出
力する(ステツプ1−7,8,9)。以下の動作
は前述の実施例と同様なので説明を省略する。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、光源強
度等の変化に関係なく、常にシヤツタの作動遅れ
に見合う補正量を正確に求めることができるの
で、マスクを通してウエハを露光する際、その露
光量が予め設定されている設定量に一致するより
も補正量分だけ早くシヤツタの閉動作を開始させ
る露光量制御方法において、常に高精度な露光量
の制御が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の露光量制御装置の一例のブロツ
ク図、第2図a,bは第1図例のシヤツタ作動タ
イムチヤートを示す図、第3図は本発明の露光量
制御装置の第1実施例を示すブロツク図、第4図
a,bは第3図の実施例のシヤツタ作動のタイム
チヤートを示す図、第5図は本発明の第2の実施
例を示すブロツク図、第6図は本発明の第3の実
施例を示すブロツク図、第7図a,bは第6図の
実施例の作動ルーチンを示し、第7図aはメイン
ルーチンを示す図で、第7図bは割込みルーチン
を示す図である。 図中、1は光源、2はマスク、3はウエハ、4
はシヤツタ、5は光センサ、6はアンプ、7は
V/Fコンバータ、8はトータルカウンタ、9は
比較回路、10は露光量設定器、11はシヤツタ
開閉指令器、12はシヤツタ駆動回路、13は補
正用タイマ、14は補正用カウンタ、15はアン
ドゲートである。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 マスクを通してウエハを露光する際、その露
    光量が予め設定されている設定量に一致するより
    も補正量分だけ早くシヤツタの閉動作を開始させ
    る露光量制御方法において、前記シヤツタを通過
    した光を検出するセンサを設け、前記センサの出
    力に応じたデジタル値を前記シヤツタの開動作開
    始時から前記シヤツタの閉動作の作動遅れに見合
    う所定時間の間だけ加算し、この加算デジタル値
    に基づいて前記補正量が決定されることを特徴と
    する露光量制御方法。
JP62146377A 1987-06-12 1987-06-12 露光量制御方法 Granted JPS6323316A (ja)

Priority Applications (1)

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JP62146377A JPS6323316A (ja) 1987-06-12 1987-06-12 露光量制御方法

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JP55147090A Division JPS5771132A (en) 1980-10-21 1980-10-21 Exposure controlling system

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JPS6323316A JPS6323316A (ja) 1988-01-30
JPH0221131B2 true JPH0221131B2 (ja) 1990-05-11

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