JPH0221725B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0221725B2 JPH0221725B2 JP58233181A JP23318183A JPH0221725B2 JP H0221725 B2 JPH0221725 B2 JP H0221725B2 JP 58233181 A JP58233181 A JP 58233181A JP 23318183 A JP23318183 A JP 23318183A JP H0221725 B2 JPH0221725 B2 JP H0221725B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tile
- slider
- rails
- sensor
- height
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
- G01B5/20—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B5/207—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring contours or curvatures using a plurality of fixed, simultaneously operating transducers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
- G01B5/02—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B5/06—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は瓦の形状を正確に測定することができ
る瓦形状測定装置に関するものである。
る瓦形状測定装置に関するものである。
（従来技術）
従来、瓦の形状測定はノギスやダイアルゲージ
等を用いて手作業により行なわれていたが、瓦の
複雑な曲面形状を正確に測定することは困難であ
り、しかも、測定に長時間を要するものであつ
た。
等を用いて手作業により行なわれていたが、瓦の
複雑な曲面形状を正確に測定することは困難であ
り、しかも、測定に長時間を要するものであつ
た。
（発明の目的）
本発明は、測定される瓦をセツトする基準台の
両側に平行に設置されたレール上に該レールと直
交するスライダを摺動自在に取付け、該スライダ
には瓦の中央部及び端部の上面高さを連続的に検
出するセンサーと、瓦の端部に位置して下側から
瓦の重なり面高さを連続的に検出するセンサーと
を設けたことを特徴とする第１の発明と、測定さ
れる瓦をセツトする基準台の両側に平行に設置さ
れたレール上に該レールと直交するスライダを摺
動自在に取付け、該スライダには瓦の中央部及び
端部の上面高さを連続的に検出するセンサーと、
瓦の端部に位置して下側から瓦の重なり面高さを
連続的に検出するセンサーとを設け、さらに該レ
ール上にはＹ座標検出機構付きの瓦外形状測定具
を搭載したＸ座標検出機構付きの第２スライダを
前記スライダと平行に取付けたことを特徴とする
第２の発明とよりなるものである。
両側に平行に設置されたレール上に該レールと直
交するスライダを摺動自在に取付け、該スライダ
には瓦の中央部及び端部の上面高さを連続的に検
出するセンサーと、瓦の端部に位置して下側から
瓦の重なり面高さを連続的に検出するセンサーと
を設けたことを特徴とする第１の発明と、測定さ
れる瓦をセツトする基準台の両側に平行に設置さ
れたレール上に該レールと直交するスライダを摺
動自在に取付け、該スライダには瓦の中央部及び
端部の上面高さを連続的に検出するセンサーと、
瓦の端部に位置して下側から瓦の重なり面高さを
連続的に検出するセンサーとを設け、さらに該レ
ール上にはＹ座標検出機構付きの瓦外形状測定具
を搭載したＸ座標検出機構付きの第２スライダを
前記スライダと平行に取付けたことを特徴とする
第２の発明とよりなるものである。
（実施例）
以下に本発明を図示の実施例について詳細に説
明する。
明する。
１は測定される瓦５０をセツトする定盤のよう
な平滑面を有する基準台、２，２′は基準台１の
両側に平行に設けられた一対のレール、３は車輪
４をもつてレール２，２′上に摺動自在に取付け
られたレール２，２′と直交するスライダである。
スライダ３には瓦の中央部及び端部の上面高さを
連続的に検出するセンサー５，５と、瓦の端部に
位置して下側から瓦の重なり面高さを連続的に検
出するセンサー６とが保持具７，８により位置調
節自在に設けられている。各センサー５，６は内
蔵スプリングにより下方に突出する検出ロツド
９，１０を有し、その先端には瓦５０の上面及び
下面にそれぞれ接触する検出ローラー１１，１２
が設けられている。センサー５のうちの１個及び
センサー６は第３図に示されるように瓦の端部に
位置し、瓦の重なり面高さを検出する。センサー
６の検出ローラー１２が瓦５０の重なり面５１に
接し、上面高さ検出用のセンサー５の検出ローラ
ー１１が瓦５０の端部上面５２に接するよう双方
のセンサー５，６の検出ロツド９，１０間にスプ
リング１３が張設されている。１４はスライダ３
の一側方にレール２と平行に取付けられたラツク
であり、１５はラツク１４と噛合するピニオンを
備えたラツク送り用のモーターであつて、このモ
ーター１５を回転させればスライダ３はレール
２，２′上を摺動することとなる。また、レール
２，２′上にはスライダ３と平行に第２スライダ
１６が車輪１７をもつて摺動自在に取付けられて
いる。この第２スライダ１６の位置はレール２′
の下部側方に取付けられたＸ座標検出機構１８に
より電気的に読み取ることができる。さらに、第
２スライダ１６上には瓦外形状測定具１９が摺動
自在に塔載されており、その第２スライダ１６上
の位置は第２スライダ１６に内蔵されたＹ座標検
出機構２０により電気的に読み取ることができ
る。瓦外形状測定具１９は瓦５０の外周面と接す
る測定棒２１を上下動可能に支持している。な
お、２２，２３はスライダ３と第２スライダ１６
に突設された係合部材であり、測定棒２１を持ち
上げたうえ第２スライダ１６を係合部材２２，２
３が接触するまでスライダ３の方向に接近させれ
ば、スライダ３と第２スライダ１６とを一体とし
てレール２，２′上を摺動させることができる。
以上に述べたセンサー５、センサー６、Ｘ座標検
出機構１８、Ｙ座標検出機構２０は第４図に示す
ようにそれぞれデイジタル式の表示装置２４に接
続されてその測定値を読み取ることができるほ
か、各測定値をマイクロコンピユータを利用した
演算処理部２５へ入力し、プリンタ２６あるいは
CRT２７に出力させて測定システムを構成する
こともできる。
な平滑面を有する基準台、２，２′は基準台１の
両側に平行に設けられた一対のレール、３は車輪
４をもつてレール２，２′上に摺動自在に取付け
られたレール２，２′と直交するスライダである。
スライダ３には瓦の中央部及び端部の上面高さを
連続的に検出するセンサー５，５と、瓦の端部に
位置して下側から瓦の重なり面高さを連続的に検
出するセンサー６とが保持具７，８により位置調
節自在に設けられている。各センサー５，６は内
蔵スプリングにより下方に突出する検出ロツド
９，１０を有し、その先端には瓦５０の上面及び
下面にそれぞれ接触する検出ローラー１１，１２
が設けられている。センサー５のうちの１個及び
センサー６は第３図に示されるように瓦の端部に
位置し、瓦の重なり面高さを検出する。センサー
６の検出ローラー１２が瓦５０の重なり面５１に
接し、上面高さ検出用のセンサー５の検出ローラ
ー１１が瓦５０の端部上面５２に接するよう双方
のセンサー５，６の検出ロツド９，１０間にスプ
リング１３が張設されている。１４はスライダ３
の一側方にレール２と平行に取付けられたラツク
であり、１５はラツク１４と噛合するピニオンを
備えたラツク送り用のモーターであつて、このモ
ーター１５を回転させればスライダ３はレール
２，２′上を摺動することとなる。また、レール
２，２′上にはスライダ３と平行に第２スライダ
１６が車輪１７をもつて摺動自在に取付けられて
いる。この第２スライダ１６の位置はレール２′
の下部側方に取付けられたＸ座標検出機構１８に
より電気的に読み取ることができる。さらに、第
２スライダ１６上には瓦外形状測定具１９が摺動
自在に塔載されており、その第２スライダ１６上
の位置は第２スライダ１６に内蔵されたＹ座標検
出機構２０により電気的に読み取ることができ
る。瓦外形状測定具１９は瓦５０の外周面と接す
る測定棒２１を上下動可能に支持している。な
お、２２，２３はスライダ３と第２スライダ１６
に突設された係合部材であり、測定棒２１を持ち
上げたうえ第２スライダ１６を係合部材２２，２
３が接触するまでスライダ３の方向に接近させれ
ば、スライダ３と第２スライダ１６とを一体とし
てレール２，２′上を摺動させることができる。
以上に述べたセンサー５、センサー６、Ｘ座標検
出機構１８、Ｙ座標検出機構２０は第４図に示す
ようにそれぞれデイジタル式の表示装置２４に接
続されてその測定値を読み取ることができるほ
か、各測定値をマイクロコンピユータを利用した
演算処理部２５へ入力し、プリンタ２６あるいは
CRT２７に出力させて測定システムを構成する
こともできる。
このように構成されたものにより瓦５０の上面
及び重なり面５１の形状を測定するには、瓦５０
をその長さ方向が基準台１の両側に平行に設けら
れたレール２，２′と平行となるよう基準台１上
に枕６０を介在させてセツトし、レール２，２′
と直交するスライダ３上に垂設された瓦５０の上
面高さを連続的に検出するセンサー５，５と、瓦
の端部に位置して下側から瓦の重なり面高さを連
続的に検出するセンサー６とを、瓦５０の中央部
上面、端部上面、重なり面５１にそれぞれ接触さ
せた後に、レール２，２′上に摺動自在に取付け
られたスライダ３をモーター１５により瓦５０の
右端位置から左端位置まで一Ｘ向に一定速度で移
動させる。この移動中、各センサー５，６は移動
径路上の瓦５０の上面及び重なり面５１の高さを
連続的に測定するので、一定時間間隔であるいは
モーター１５の回転と同期させて各センサー５，
６の測定値を演算処理部２５へ読み込むことによ
り、瓦５０の曲面形状を例えば１mm間隔で測定す
ることができる。このほか、レール２，２′上に
取付けられたＸ座標検出機構１８付きの第２スラ
イダ１６を前述の如く係合部材２２，２３をもつ
てスライダ３と一体化させ、スライダ３のＸ座標
を第２スライダ１６のＸ座標検出機構１８を利用
して読み取ることもできる。これらの測定値は測
定者が表示装置２４から読み取ることができるほ
か、数値の形式でプリンタ２６からプリントアウ
トさせることもでき、また、CRT２７に適当な
グラフ表示をさせることもできる。従つて、従来
正確に測定することができなかつた瓦５０の上面
及び重なり面５１の形状を短時間に正確に測定す
ることができる。次に、瓦の外形状を測定するに
は、スライダ３をレール２，２′の右端まで移動
させた後にレール２，２′上に取付けられたＸ座
標検出機構１８付きの第２スライダ１６及びその
上に塔載されたＹ座標検出機構２０付きの瓦外形
状測定具１９を手動により移動させ、第１図に示
すＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇの各端面に瓦外形
状測定具１９の測定棒２１を接触させ、これらの
各端面のＸ座標あるいはＹ座標を測定する。これ
らの測定値は前記と同様に演算処理部２５に読み
込まれ、例えばＡとＥの測定値から瓦５０の長さ
が、ＤとＧの測定値から瓦５０の幅が、ＢとＧの
測定値から瓦５０の働き幅が、ＥとＦの測定値か
ら瓦５０の機長さが、ＡとＣの測定値から瓦５０
の頭切込み長さが、ＣとＦの測定値から瓦５０の
働き長さがそれぞれ算出され、数値化してプリン
タ２６あるいはCRT２７に表示され、従つて、
本発明によれば従来正確に測定することができな
かつた瓦５０の外形状をも短時間に正確に測定す
ることができる。なお、外形状の測定は瓦の上面
及び重なり面の形状測定に先立つて行なうことが
好ましく、本発明の装置は共通のレール２，２′
上にスライダ３と第２スライダ１６とを取付けた
ものであるから、これら２種類の測定を連続的に
行なうにも便利である。
及び重なり面５１の形状を測定するには、瓦５０
をその長さ方向が基準台１の両側に平行に設けら
れたレール２，２′と平行となるよう基準台１上
に枕６０を介在させてセツトし、レール２，２′
と直交するスライダ３上に垂設された瓦５０の上
面高さを連続的に検出するセンサー５，５と、瓦
の端部に位置して下側から瓦の重なり面高さを連
続的に検出するセンサー６とを、瓦５０の中央部
上面、端部上面、重なり面５１にそれぞれ接触さ
せた後に、レール２，２′上に摺動自在に取付け
られたスライダ３をモーター１５により瓦５０の
右端位置から左端位置まで一Ｘ向に一定速度で移
動させる。この移動中、各センサー５，６は移動
径路上の瓦５０の上面及び重なり面５１の高さを
連続的に測定するので、一定時間間隔であるいは
モーター１５の回転と同期させて各センサー５，
６の測定値を演算処理部２５へ読み込むことによ
り、瓦５０の曲面形状を例えば１mm間隔で測定す
ることができる。このほか、レール２，２′上に
取付けられたＸ座標検出機構１８付きの第２スラ
イダ１６を前述の如く係合部材２２，２３をもつ
てスライダ３と一体化させ、スライダ３のＸ座標
を第２スライダ１６のＸ座標検出機構１８を利用
して読み取ることもできる。これらの測定値は測
定者が表示装置２４から読み取ることができるほ
か、数値の形式でプリンタ２６からプリントアウ
トさせることもでき、また、CRT２７に適当な
グラフ表示をさせることもできる。従つて、従来
正確に測定することができなかつた瓦５０の上面
及び重なり面５１の形状を短時間に正確に測定す
ることができる。次に、瓦の外形状を測定するに
は、スライダ３をレール２，２′の右端まで移動
させた後にレール２，２′上に取付けられたＸ座
標検出機構１８付きの第２スライダ１６及びその
上に塔載されたＹ座標検出機構２０付きの瓦外形
状測定具１９を手動により移動させ、第１図に示
すＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇの各端面に瓦外形
状測定具１９の測定棒２１を接触させ、これらの
各端面のＸ座標あるいはＹ座標を測定する。これ
らの測定値は前記と同様に演算処理部２５に読み
込まれ、例えばＡとＥの測定値から瓦５０の長さ
が、ＤとＧの測定値から瓦５０の幅が、ＢとＧの
測定値から瓦５０の働き幅が、ＥとＦの測定値か
ら瓦５０の機長さが、ＡとＣの測定値から瓦５０
の頭切込み長さが、ＣとＦの測定値から瓦５０の
働き長さがそれぞれ算出され、数値化してプリン
タ２６あるいはCRT２７に表示され、従つて、
本発明によれば従来正確に測定することができな
かつた瓦５０の外形状をも短時間に正確に測定す
ることができる。なお、外形状の測定は瓦の上面
及び重なり面の形状測定に先立つて行なうことが
好ましく、本発明の装置は共通のレール２，２′
上にスライダ３と第２スライダ１６とを取付けた
ものであるから、これら２種類の測定を連続的に
行なうにも便利である。
（発明の効果）
本発明は以上の説明からも明らかなように、瓦
の上面及び重なり面の形状や瓦の外形状を短時間
に正確に測定することができるもので、従来の瓦
形状測定上の問題点を解消した瓦形状測定装置と
して業界に寄与するところ極めて大である。
の上面及び重なり面の形状や瓦の外形状を短時間
に正確に測定することができるもので、従来の瓦
形状測定上の問題点を解消した瓦形状測定装置と
して業界に寄与するところ極めて大である。
図面はいずれも本発明の実施例を示すもので、
第１図は一部切欠平面図、第２図は一部切欠正面
図、第３図は要部の一部切欠側面図、第４図は表
示装置に接続させた測定システム全体の構成を示
す正面図である。 １……基準台、２，２′……レール、３……ス
ライダ、５……センサー、６……センサー、１６
……第２スライダ、１８……Ｘ座標検出機構、１
９……瓦外形状測定具、２０……Ｙ座標検出機
構。
第１図は一部切欠平面図、第２図は一部切欠正面
図、第３図は要部の一部切欠側面図、第４図は表
示装置に接続させた測定システム全体の構成を示
す正面図である。 １……基準台、２，２′……レール、３……ス
ライダ、５……センサー、６……センサー、１６
……第２スライダ、１８……Ｘ座標検出機構、１
９……瓦外形状測定具、２０……Ｙ座標検出機
構。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 測定される瓦をセツトする基準台１の両側に
平行に設置されたレール２，２上に該レール２，
２と直交するスライダ３を摺動自在に取付け、該
スライダ３には瓦の中央部及び端部の上面高さを
連続的に検出するセンサー５，５と、瓦の端部に
位置して下側から瓦の重なり面高さを連続的に検
出するセンサー６とを設けたことを特徴とする瓦
形状測定装置。 ２ 測定される瓦をセツトする基準台１の両側に
平行に設置されたレール２，２上に該レール２，
２と直交するスライダ３を摺動自在に取付け、該
スライダ３には瓦の中央部及び端部の上面高さを
連続的に検出するセンサー５と、瓦の端部に位置
して下側から瓦の重なり面高さを連続的に検出す
るセンサー６とを設け、さらに該レール２，２上
にはＹ座標検出機構２０付きの瓦外形状測定具１
９を搭載したＸ座標検出機構１８付きの第２スラ
イダ１６を前記スライダ３と平行に取付けたこと
を特徴とする瓦形状測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23318183A JPS60125514A (ja) | 1983-12-09 | 1983-12-09 | 瓦形状測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23318183A JPS60125514A (ja) | 1983-12-09 | 1983-12-09 | 瓦形状測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60125514A JPS60125514A (ja) | 1985-07-04 |
| JPH0221725B2 true JPH0221725B2 (ja) | 1990-05-16 |
Family
ID=16950999
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23318183A Granted JPS60125514A (ja) | 1983-12-09 | 1983-12-09 | 瓦形状測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60125514A (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS528851A (en) * | 1975-07-10 | 1977-01-24 | Iwao Sakakibara | Method for detecting the distortion of tile |
| JPS57125309A (en) * | 1981-01-28 | 1982-08-04 | Toyo Electric Mfg Co Ltd | Coordinate reading method |
-
1983
- 1983-12-09 JP JP23318183A patent/JPS60125514A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60125514A (ja) | 1985-07-04 |
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