JPH02246934A - X線ct装置 - Google Patents
X線ct装置Info
- Publication number
- JPH02246934A JPH02246934A JP1067541A JP6754189A JPH02246934A JP H02246934 A JPH02246934 A JP H02246934A JP 1067541 A JP1067541 A JP 1067541A JP 6754189 A JP6754189 A JP 6754189A JP H02246934 A JPH02246934 A JP H02246934A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- detector
- beta
- data
- acquired
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明はX線C′F装置に係わり、特にX L’il
検出器を所定の方式で移動させることにより位置分解能
を向上させたX線CT装置に関するものである。
検出器を所定の方式で移動させることにより位置分解能
を向上させたX線CT装置に関するものである。
[従来の技術]
第3図はX線CT装置を一般的に示すブロックであり、
図において(7)は検査対象の撮像体(15)は加速器
(図示しない)からの電子線を偏向させた後にX線発生
用ターゲット(図示しない)にあててX線を発生させる
X線発生装置、(16)は撮像体(7)を挟んでX線発
生装置(15)に対向配置され、後で説明する金属フレ
ームなと出できた構造体の中に固定されてX線発生装置
(15)が発生したX線を実際に検出する複数のX線検
出器から成り、−度のX線照射で多数のデータを得るこ
とができる検出器システム、(17)はこの検出器シス
テム(16)を制御する検出器制御装置、(18)はこ
の検出器制御装置(17)の制御下で検出i+1ンステ
ム(16)からのアナログ信号をディジタル信号に変換
するA/D変換器、(19)はこのA/D変換器(18
)からの、撮像体(7)に関するディジタル信号から画
像再構成などの演算処理を行う中央演算装置、(20)
はこの中央演算装置(19)で処理中のデータを一時格
納するメモリ、(21)は中央演算装置(19)からの
再構成画像を表示する画像表示装置、(22)は中央演
算装置(19)からの指令によりX線発生装置(15)
に制御信号を送出し、X線の発生を制御するX線発生装
置制御器である。
図において(7)は検査対象の撮像体(15)は加速器
(図示しない)からの電子線を偏向させた後にX線発生
用ターゲット(図示しない)にあててX線を発生させる
X線発生装置、(16)は撮像体(7)を挟んでX線発
生装置(15)に対向配置され、後で説明する金属フレ
ームなと出できた構造体の中に固定されてX線発生装置
(15)が発生したX線を実際に検出する複数のX線検
出器から成り、−度のX線照射で多数のデータを得るこ
とができる検出器システム、(17)はこの検出器シス
テム(16)を制御する検出器制御装置、(18)はこ
の検出器制御装置(17)の制御下で検出i+1ンステ
ム(16)からのアナログ信号をディジタル信号に変換
するA/D変換器、(19)はこのA/D変換器(18
)からの、撮像体(7)に関するディジタル信号から画
像再構成などの演算処理を行う中央演算装置、(20)
はこの中央演算装置(19)で処理中のデータを一時格
納するメモリ、(21)は中央演算装置(19)からの
再構成画像を表示する画像表示装置、(22)は中央演
算装置(19)からの指令によりX線発生装置(15)
に制御信号を送出し、X線の発生を制御するX線発生装
置制御器である。
第4図はX線CT装置用の従来の検出器システムを示す
概略断面図であり、図にお゛いて(5)は加速器(図示
しない)などからの電子線、(6)はこの電子線(5)
が照射されてX線を発生するX線発生用ターゲット、(
8)は撮像体(7)を支承する支持。、(9)は検出器
システム(16)の複数のX線検出器を支持する検出器
フレーム、(lO)はこの検出器フレーム(9)に固着
されたX線検出器である。
概略断面図であり、図にお゛いて(5)は加速器(図示
しない)などからの電子線、(6)はこの電子線(5)
が照射されてX線を発生するX線発生用ターゲット、(
8)は撮像体(7)を支承する支持。、(9)は検出器
システム(16)の複数のX線検出器を支持する検出器
フレーム、(lO)はこの検出器フレーム(9)に固着
されたX線検出器である。
一般のX線CT装置および従来の検出器システムは上述
したように構成され、その動作は次のとおりである。中
央演算装置(19)の指令によりX線発生装置制御器(
22)はX線発生装置(15)に制御信号を送出し、X
線発生装置(15)に適宜X線を発生させる。発生した
X線は撮像体(7)を透過し、検出器システム(16)
で検出される。検出された信号は検出器制御装置(17
)の制御下でA/D変換器(18)によってディジタル
信号に変換され、中央演算装置(19)にデータとして
送られる。X線発生装置(15)と検出器システム(1
6)は撮像体(7)を中心に360°回転され、それぞ
れの角度で上記ブタが取得される。このデータは中央演
算装置(19)を介してメモリ(20)に−時格納され
る。回転が終了した後、メモリ(20)に保存されたデ
ータは中央演算装置(19)に適宜取り出され、演算が
施され、撮像体(7)の画像再構成が行われる。結果は
画像表示装置(21)に送られて表示される。
したように構成され、その動作は次のとおりである。中
央演算装置(19)の指令によりX線発生装置制御器(
22)はX線発生装置(15)に制御信号を送出し、X
線発生装置(15)に適宜X線を発生させる。発生した
X線は撮像体(7)を透過し、検出器システム(16)
で検出される。検出された信号は検出器制御装置(17
)の制御下でA/D変換器(18)によってディジタル
信号に変換され、中央演算装置(19)にデータとして
送られる。X線発生装置(15)と検出器システム(1
6)は撮像体(7)を中心に360°回転され、それぞ
れの角度で上記ブタが取得される。このデータは中央演
算装置(19)を介してメモリ(20)に−時格納され
る。回転が終了した後、メモリ(20)に保存されたデ
ータは中央演算装置(19)に適宜取り出され、演算が
施され、撮像体(7)の画像再構成が行われる。結果は
画像表示装置(21)に送られて表示される。
ここで、上記動作において撮像体(7)の再構成画像を
得るには撮像体(7)に対してX線発生装置(15)か
らのX線は360°回転され、各角度毎にデータを取得
するようにしなければならない。
得るには撮像体(7)に対してX線発生装置(15)か
らのX線は360°回転され、各角度毎にデータを取得
するようにしなければならない。
第5図はこのときのX線発生装置(15)中のX綿線源
Sとこれと一体的に回転される検出器システム(16)
の検出器へとの、撮像体(7)(原点0に中心かある。
Sとこれと一体的に回転される検出器システム(16)
の検出器へとの、撮像体(7)(原点0に中心かある。
)に対する回転角度β(これはガントリ角度と呼ばれる
。)と、撮像体(7)におけるX線照射着目点P(第6
図)に対する実験室に固定した(x、、y)座標系から
の回転角度θと、距離Xとの関係を示したものである。
。)と、撮像体(7)におけるX線照射着目点P(第6
図)に対する実験室に固定した(x、、y)座標系から
の回転角度θと、距離Xとの関係を示したものである。
この場合の検出器Aによる取得データをg (X、O)
で表わすと、データ取得の状況は第6図に示したように
なる。なお、第6図(a)は、撮像体(7)の中心を原
点Oとし、実験室に固定した(x、y)座標系に対して
撮像体(7)のX線照射着目点Pの上記角度θとOPを
結ぶ距離Xとの関係を示したものである。第6図(b)
は第6図(a)の(X。
で表わすと、データ取得の状況は第6図に示したように
なる。なお、第6図(a)は、撮像体(7)の中心を原
点Oとし、実験室に固定した(x、y)座標系に対して
撮像体(7)のX線照射着目点Pの上記角度θとOPを
結ぶ距離Xとの関係を示したものである。第6図(b)
は第6図(a)の(X。
y)座標系をO回転して得られる座標系(x、y)に対
してg (X、O)をぶろっとしたものである。
してg (X、O)をぶろっとしたものである。
第6図(a)に示したように撮像体(7)の斜線で示し
た部分にX線が照射されると、この部位での撮像体(7
)によるX線の吸収のため取得デ夕は第6図(b)に示
すようになる。
た部分にX線が照射されると、この部位での撮像体(7
)によるX線の吸収のため取得デ夕は第6図(b)に示
すようになる。
第7図は、上記の角度θと座標系Xをそれぞれ横軸、縦
軸に取り(以下O−X座標系と呼ぶ。)、ガントリ角度
βをパラメータとして検出器システム(16)のそれぞ
れの検出器の位置を示したもので、従来の場合はO−X
座標系上の固定格子点(O印)の位置でデータを取得す
るようにしていた。画像再構成には、O方向で角度幅π
にわたるデータが必要になる。
軸に取り(以下O−X座標系と呼ぶ。)、ガントリ角度
βをパラメータとして検出器システム(16)のそれぞ
れの検出器の位置を示したもので、従来の場合はO−X
座標系上の固定格子点(O印)の位置でデータを取得す
るようにしていた。画像再構成には、O方向で角度幅π
にわたるデータが必要になる。
[発明が解決しようとする課題]
従来のX線CT装置では、第4図に示したように検出器
システム(16)のそれぞれのX線検出器(10)が固
定式になっているので、第7図の固定格子点(0印)に
おけるデータだけしか取得できず、再構成画像の分解能
はX線検出器の個数で定まりかつ制限されるという問題
点があった。即ち、360°回転データでは分解能が低
下し、分解能を向上させるには360°以上の回転が必
要であり、照射線量やデータ取得時間が増加するなどの
問題点があった。
システム(16)のそれぞれのX線検出器(10)が固
定式になっているので、第7図の固定格子点(0印)に
おけるデータだけしか取得できず、再構成画像の分解能
はX線検出器の個数で定まりかつ制限されるという問題
点があった。即ち、360°回転データでは分解能が低
下し、分解能を向上させるには360°以上の回転が必
要であり、照射線量やデータ取得時間が増加するなどの
問題点があった。
この発明は、このような問題点を解決するためににされ
たもので、X線発生装置と一体で回転する検出器システ
ムのそれぞれのX線検出器を個別に移動自在になし、所
定の方式で駆動することにより360°回転で位置分解
能を2倍にできるX線CT装置を提供することを目的と
する。
たもので、X線発生装置と一体で回転する検出器システ
ムのそれぞれのX線検出器を個別に移動自在になし、所
定の方式で駆動することにより360°回転で位置分解
能を2倍にできるX線CT装置を提供することを目的と
する。
[課題を解決するための手段]
この発明に係るX線CT装置は、X線発生装置に対して
撮像体を間にはさんで一体的に対置された複数の移動可
能なX線検出器を、これら両者の回転角度であるガント
リ角度に従って個別に移動させる駆動手段と、この駆動
手段を制御して各移動可能なX線検出器を半ピッチ移動
させる制御手段とを備えたものである。
撮像体を間にはさんで一体的に対置された複数の移動可
能なX線検出器を、これら両者の回転角度であるガント
リ角度に従って個別に移動させる駆動手段と、この駆動
手段を制御して各移動可能なX線検出器を半ピッチ移動
させる制御手段とを備えたものである。
[作 用]
この発明においては、駆動手段により複数の移動可能な
X線検出器を個別に移動させる。そしてガントリ角度に
従って各移動可能なX線検出器を予め設定されたピッチ
の半分移動させるように走査することにより従来装置に
比べて2倍の位置分解能を有する画像再構成か可能とな
る。
X線検出器を個別に移動させる。そしてガントリ角度に
従って各移動可能なX線検出器を予め設定されたピッチ
の半分移動させるように走査することにより従来装置に
比べて2倍の位置分解能を有する画像再構成か可能とな
る。
[実施例]
第1図はこの発明によるX線CT装置の一実施例を示す
断面図であり、図において(1)はX線発生用電子線(
5)を形成する加速器、(2)はこの加速器(1)の端
部に設けられ、電子線(5)が導入される真空ダクト、
(3)はこの真空ダクト(2)に導入された電子線(5
)を偏向させる偏向電磁石、(4)は真空ダクト(3)
に設けられ、電子線(5)を大気中に取り出す電子線取
り出し窓、(6)はX線発生用ターゲットであって、こ
れら(1)〜(4)および(6)はX線発生装置(15
)を構成する。(16^)はこの発明で使用される検出
器システム、(10^)は移動可能なX線検出器、(1
1)はX線検出器(IOA)を駆動する駆動手段である
パルスモータ、(12)はこのパルスモータ(11)の
回転をX線検出器(IOA)に伝えるギアである。
断面図であり、図において(1)はX線発生用電子線(
5)を形成する加速器、(2)はこの加速器(1)の端
部に設けられ、電子線(5)が導入される真空ダクト、
(3)はこの真空ダクト(2)に導入された電子線(5
)を偏向させる偏向電磁石、(4)は真空ダクト(3)
に設けられ、電子線(5)を大気中に取り出す電子線取
り出し窓、(6)はX線発生用ターゲットであって、こ
れら(1)〜(4)および(6)はX線発生装置(15
)を構成する。(16^)はこの発明で使用される検出
器システム、(10^)は移動可能なX線検出器、(1
1)はX線検出器(IOA)を駆動する駆動手段である
パルスモータ、(12)はこのパルスモータ(11)の
回転をX線検出器(IOA)に伝えるギアである。
第2図はX線検出器(IOA)を含む検出器システム(
16^)の一部を詳細に示す斜視図であり、図において
(13)はX線検出器(10^)に設けられ撮像体(7
)からの透過X線を取り込むX線検出窓、(I4)はこ
の上をX線検出器(1(IA)が滑動する検出器スライ
ドれ一ルである。
16^)の一部を詳細に示す斜視図であり、図において
(13)はX線検出器(10^)に設けられ撮像体(7
)からの透過X線を取り込むX線検出窓、(I4)はこ
の上をX線検出器(1(IA)が滑動する検出器スライ
ドれ一ルである。
上述したように構成されたX線CT装置においては、加
速器(1)で加速された電子線(5)、真空ダクト(2
)を通り、偏向電磁石(3)で270°偏向され、電子
線取り出し窓(4)を通して真空から大気中に取り出さ
れる。取り出された電子線(5)をX線発生用ターゲッ
ト(6)にあて、制動X線を発生させる。発生したX線
は撮像体(7)に照射され、これを透過した透過X線は
検出器システム(16^)中のそれぞれのX線検出器(
10^)にX線検出窓(13)を通して取り込まれ、X
線検出器(IOA)で検出される。検出された信号は従
来装置と同様に図示しない後段の処理装置でデータ処理
され、画像再構成される。この画像再構成を実施するに
はX線発生装置(15)と検出器システム(16A)を
一体としたガントリを回転させ、それぞれのガントリ角
度βでデータを取得し、画像再構成に供する点は従来例
と同じである。
速器(1)で加速された電子線(5)、真空ダクト(2
)を通り、偏向電磁石(3)で270°偏向され、電子
線取り出し窓(4)を通して真空から大気中に取り出さ
れる。取り出された電子線(5)をX線発生用ターゲッ
ト(6)にあて、制動X線を発生させる。発生したX線
は撮像体(7)に照射され、これを透過した透過X線は
検出器システム(16^)中のそれぞれのX線検出器(
10^)にX線検出窓(13)を通して取り込まれ、X
線検出器(IOA)で検出される。検出された信号は従
来装置と同様に図示しない後段の処理装置でデータ処理
され、画像再構成される。この画像再構成を実施するに
はX線発生装置(15)と検出器システム(16A)を
一体としたガントリを回転させ、それぞれのガントリ角
度βでデータを取得し、画像再構成に供する点は従来例
と同じである。
ただし、この発明では、上記ガントリ角度β毎にその角
度βに依存して次に説明するようにそれぞれX線検出1
(IOA)をパルスモータ(11)で駆動し、撮像体(
7)に関するデータを取得するようにしている。
度βに依存して次に説明するようにそれぞれX線検出1
(IOA)をパルスモータ(11)で駆動し、撮像体(
7)に関するデータを取得するようにしている。
第7図に示したように、X1〜X7の7個のX線検出器
(IOA)を使用し、θのπ当たり6回(I76おき)
プロジェクションデータ(透過X線データ)を取得する
。このデータ取得のためのスキャンニング方式は、制御
手段である検出器制御装置と中央演算装置でなされる。
(IOA)を使用し、θのπ当たり6回(I76おき)
プロジェクションデータ(透過X線データ)を取得する
。このデータ取得のためのスキャンニング方式は、制御
手段である検出器制御装置と中央演算装置でなされる。
具体的には、第7図に示したように、■)β−Q、g/
6では通常の固定位置(・印)でプロジェクションデー
タを取得する。
6では通常の固定位置(・印)でプロジェクションデー
タを取得する。
2〉 β−276gではX線検出器X7を図示しの矢印
で示したように半ピッチだけX線検出器X6に近つけ、
・印の位置でデータを取得する。3)β−376Iでは
更にX線検出器X8をX線検出器X、に半ピッチ近づけ
、・印位置でデータを取得する。4)以下同様にガント
リ角度β=176xまでX線検出器(10^)を同じ方
向に半ピッチ移動させてデータを取得する。5) 次に
β−8761ではX線検出器X7を元の位置に戻してデ
ータを取得する。6)更にβ−9/6gではX線検出器
X8を元の位置に戻してデータを取得する。7)以下同
様にX線検出器(10^)を第7図に従って移動させ、
β−21までデータを取得する。このようにそれぞれの
X線検出器(IOA)を駆動させることにより、01〜
θ、のgの間と、その他の2の間でX方向に半ピッチず
らしたデータ取得を行ったことになり、従って2I回転
で14個のX線検出器(10^)を使った場合と同じ分
解能を得ることができる。
で示したように半ピッチだけX線検出器X6に近つけ、
・印の位置でデータを取得する。3)β−376Iでは
更にX線検出器X8をX線検出器X、に半ピッチ近づけ
、・印位置でデータを取得する。4)以下同様にガント
リ角度β=176xまでX線検出器(10^)を同じ方
向に半ピッチ移動させてデータを取得する。5) 次に
β−8761ではX線検出器X7を元の位置に戻してデ
ータを取得する。6)更にβ−9/6gではX線検出器
X8を元の位置に戻してデータを取得する。7)以下同
様にX線検出器(10^)を第7図に従って移動させ、
β−21までデータを取得する。このようにそれぞれの
X線検出器(IOA)を駆動させることにより、01〜
θ、のgの間と、その他の2の間でX方向に半ピッチず
らしたデータ取得を行ったことになり、従って2I回転
で14個のX線検出器(10^)を使った場合と同じ分
解能を得ることができる。
[発明の効果]
この発明は、以上説明したとおり、移動可能なX線検出
器を個別に移動させるパルスモータなどの駆動手段と、
この駆動手段を特別の方式で駆動するスキャンニング方
式を実行する制御手段とを設けたことにより、従来のX
線CT装置と比べて撮像体の位置分解能を2倍に向上さ
せ得る効果を奏する。
器を個別に移動させるパルスモータなどの駆動手段と、
この駆動手段を特別の方式で駆動するスキャンニング方
式を実行する制御手段とを設けたことにより、従来のX
線CT装置と比べて撮像体の位置分解能を2倍に向上さ
せ得る効果を奏する。
第1図はこの発明の一実施例を示す断面図、第2図は検
出器システムの一部を詳細に示す斜視図、第3図は一般
のX線CT装置を示すブロック図、第4図は従来の検出
器システムを示す断面図、第5図はX線源、X線検出器
、および撮像体の位置関係を示す図、第6図は第5図で
用いた変数O1Xと、取得データを表す関数g (X、
0)との関係を示す説明図、第7図はガントリ角度をパ
ラメータとして各検出器の位置をO−X座標系に示(ま
た図である。 図において、(1)は加速器、(3)は偏向電磁石、(
5)は電子線、(6)はX線発生用タゲット、(7)は
撮像体、(IOA)は移動可能なX線検出器、(11)
はパルスモータテアル。 なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
出器システムの一部を詳細に示す斜視図、第3図は一般
のX線CT装置を示すブロック図、第4図は従来の検出
器システムを示す断面図、第5図はX線源、X線検出器
、および撮像体の位置関係を示す図、第6図は第5図で
用いた変数O1Xと、取得データを表す関数g (X、
0)との関係を示す説明図、第7図はガントリ角度をパ
ラメータとして各検出器の位置をO−X座標系に示(ま
た図である。 図において、(1)は加速器、(3)は偏向電磁石、(
5)は電子線、(6)はX線発生用タゲット、(7)は
撮像体、(IOA)は移動可能なX線検出器、(11)
はパルスモータテアル。 なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (1)
- 加速器で加速された電子線を偏向させてX線発生用ター
ゲットにあてることによりX線を発生するX線発生装置
と、このX線発生装置と一体化され連動してガントリを
構成し、撮像体を間にはさんで対置され、前記撮像体か
らの透過X線を検出して電気信号に変換する複数のX線
検出器と、このX線検出器からの電気信号を処理して前
記撮像体を再構成するデータ処理装置とを備えたX線C
T装置において、各X線検出器が移動可能であり、各移
動可能なX線検出器を、前記ガントリの回転角度である
ガントリ角度に従って個別に移動させる駆動手段と、こ
の駆動手段を制御して前記ガントリが360°回転する
うちに各移動可能なX線検出器を半ピッチ移動させる制
御手段とを備えたことを特徴とするX線CT装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1067541A JP2527802B2 (ja) | 1989-03-22 | 1989-03-22 | X線ct装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1067541A JP2527802B2 (ja) | 1989-03-22 | 1989-03-22 | X線ct装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02246934A true JPH02246934A (ja) | 1990-10-02 |
| JP2527802B2 JP2527802B2 (ja) | 1996-08-28 |
Family
ID=13347935
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1067541A Expired - Lifetime JP2527802B2 (ja) | 1989-03-22 | 1989-03-22 | X線ct装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2527802B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006006805A (ja) * | 2004-06-29 | 2006-01-12 | Hitachi Medical Corp | X線ct装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6377435A (ja) * | 1986-09-19 | 1988-04-07 | 株式会社東芝 | デイジタルx線装置及びその画像作成方法 |
-
1989
- 1989-03-22 JP JP1067541A patent/JP2527802B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6377435A (ja) * | 1986-09-19 | 1988-04-07 | 株式会社東芝 | デイジタルx線装置及びその画像作成方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006006805A (ja) * | 2004-06-29 | 2006-01-12 | Hitachi Medical Corp | X線ct装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2527802B2 (ja) | 1996-08-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6292530B1 (en) | Method and apparatus for reconstructing image data acquired by a tomosynthesis x-ray imaging system | |
| EP0569238B1 (en) | Image reconstruction technique for a computed tomography system | |
| US5046003A (en) | Method for reducing skew image artifacts in helical projection imaging | |
| EP0117524B1 (en) | Method of obtaining x-ray ct image and apparatus for utilizing the same method | |
| JPWO2007086369A1 (ja) | X線撮像装置 | |
| EP1159746A1 (en) | Single-stroke radiation anti-scatter device for variable x-ray exposure window | |
| US20080031407A1 (en) | X-ray ct apparatus | |
| JPH0767445B2 (ja) | X線ct装置 | |
| JPH06233757A (ja) | 3次元撮影装置 | |
| US7949087B2 (en) | Radiography apparatus | |
| US8538505B2 (en) | Method for 3-D data collection with a biplane C-arm system with biplane acquisition multiplexing | |
| JPH10243941A (ja) | 画像再構成処理装置 | |
| JPH02246934A (ja) | X線ct装置 | |
| JP2008012206A (ja) | X線断層撮影装置 | |
| JPH026530B2 (ja) | ||
| EP0188782B1 (en) | Sectional radiography display method and apparatus | |
| EP1499878A2 (en) | Computed tomography method | |
| JP2006187453A (ja) | X線ct装置 | |
| JP3233955B2 (ja) | X線ct装置 | |
| US8867699B2 (en) | Radiographic device | |
| JPH1176223A (ja) | X線ct装置 | |
| JPH0471540A (ja) | X線ct装置 | |
| US5058011A (en) | Radiant ray ct with view data interpolation | |
| JPS59181134A (ja) | X線ct装置 | |
| JPH0795977A (ja) | X線ct装置 |