JPH02265092A - 出力バツフア回路 - Google Patents

出力バツフア回路

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JPH02265092A
JPH02265092A JP1086003A JP8600389A JPH02265092A JP H02265092 A JPH02265092 A JP H02265092A JP 1086003 A JP1086003 A JP 1086003A JP 8600389 A JP8600389 A JP 8600389A JP H02265092 A JPH02265092 A JP H02265092A
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JP
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signal
output
channel mos
level
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Toru Ichimura
徹 市村
Yutaka Arita
有田 豊
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Mitsubishi Electric Corp
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Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野] この発明は、半導体記憶装置の出力バッファ回路に係り
、特にデータ出力時に発生するノイズを低減できるよう
にし−かつ高速動作できるようにした出力バッファ回路
に関するものである。、〔従来の技術〕 第5図は従来の半導体記憶装置の出力バッファ回路の構
成を示すブロック図である。図において、(10)はセ
ンスアンプ(1)からの信号aと出力制御回路(2)か
らの信号すとを入力とするプリ出力バッファ回路であり
、NOR回路(Ill、NAND回路(13)と2個の
NOT回路(1渇、(14)から構成されている。(2
0)はプリ出力バッファ回路(10)からの信号c−d
を入力とする出力バッファ回路であり、PチャネルMO
Sトランジスタ(21)とNチャネルMOSトランジス
タ(24)から構成されている。(3)はデータ出力端
子であり、出力バッファ回路(20)からの信号eを出
力する1、NチャネルMOSトランジスタ(24)には
電流iが流れる。
第7図は従来の出力バッファ回路の他の構成を示すブロ
ック図である。第7図において、(1)〜(3)−(1
(11〜(141−t20)、(24)は第5図に示し
たものと同等であるので説明を省略する。第5図と異な
っている所は、出力バッファ回路(20)において−信
号Cを入力する回路がNOT回路(22)とNチャネル
MOSトランジスタ(23)で構成されていることだけ
である。
次に動作について説明する。
第5図の出力バッファ回路(20)において信号すがゝ
H“レベルの状態では、NOR回路111)の出力が”
L“レベルになり、次段のNOT回路(12)の出力C
がHレレベルになる。信号CがM“レベルの場合、Pチ
ャネルMO8)ランジスタ(2+)はOFFする。また
信号dがL“レベルの場合、NチャネルMOSトランジ
スタ(24)はOFFする。したがって、信号すがHレ
ベルのときには、信号eは出力されない。次に−は、信
号CはHレベル、信号dもF(レベルとなり−Nチャネ
ルMOSトランジスタt24)たけがONL、ルMOS
トランジスタ(21)だけがONL、Hレベルの信号e
を出力する。
データ出力端子(3)からグランドへ向う電流iがNチ
ャネルMOSトランジスタ(24Jに流れる。f$6図
は第5図の回路の各信号を示すタイミングチャートであ
る。電流iは信号eが変化した瞬間に最大となり−その
後除徐に減少して行く。電流1が瞬間的に増加すること
によリーグランドレベルが変動し−ノイズが発生する。
出力バッファ回路(20)では、負荷トランジスタにP
チャネルMOSトラノイズが大きくなる。また、第7図
の回路における動作は第5図の回路における動作と同じ
である。
第7図における出力バッファ回路(20)では、負荷ト
ランジスタにNチャネルMOSトランジスタ123)を
使用しているため−HレベルがVcc−Vthとなり−
Hレベルに変化したときに発生するノイズはレベルが十
分でなくなるという問題と、信号eがL“し”ベルから
H”レベルに変化するときの動作が遅くなるという問題
がある。
第8図は第7図の回路における各信号を示すタイミング
チャートで、」1記の状況を示す。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来の出力バッファ回路は以上のように構成されている
ので負荷トランジスタにPチャネルMOSトランジスタ
を用いると高速動作はするが出力ノイズが大きくなると
いう問題と一負荷トランジスタにNチャネルMOSトラ
ンジスタを用し)ると出力ノイズは緩和されるが高速に
動作することができないという問題とがあった。
この発明は、上記のような問題を解消するためになされ
たもので一出力ノイズが少なく、かつ高速動作が可能な
出力バッファ回路を得ることを目的とする。
[課題を解決するための手段] この発明に係る出力バッファ回路は、負荷トランジスタ
部分を、第一のPチャネルMOSトランジスタとNチャ
ネルMOSトランジスタとの並列回路と、第二のPチャ
ネルMOSトランジスタとを直列接続した回路にすると
共に、出力レベル判定回路を設は一上記判定回路から出
力される信号により第1のPチャネルMOSトランジス
タをOJ OFFするようにした回路を設けたものであ
る。
〔作用〕
この発明における、出力レベル判定回路の出力によりO
N、OFFする第一のPチャネルMOSトランジスタと
NチャネルMOSトランジスタとの並列回路と、第二の
PチャネルMO3)ラングれる1櫂流をイ代減し、かつ
Lレベルからhレベルに高速に変化させる。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図は、半導体記憶装置の出力バッファ回路を示すブロッ
ク図である。図において、(1)〜(3)−(10〜(
14)、(20)、(21)、(2優は第5図の従来例
に示したものと同等であるので説明を省略する。第5図
の回路と異なる点を下記に示す。(30)は出力バツフ
ァ回はPチャネルMO8)ランジスタ、(43)〜(4
5)はNチャネルMOSトランジスタである。第3図は
第1図の回路における各信号を示すタイミングチャート
である。
次に動作について説明する。プリ出力8777回路(1
0)と出力バッファ回路(20)の基本動作は、それぞ
れ第5図の従来例に示すプリ出力バッファ回路(1,0
1、出力バッファ回路(20)と同じである。第3図に
電圧設定回路であり、次のように構成されている。
抵抗f31)と2個のNチャネルMOSトランジスタル
、(331は出力レベルを判定するための基準電圧 を
設定する回路である。134)は出力レベルの信号lと
基準電圧の信号mとを入力とする出力レベル判定回路で
あり、例えば第2図の回路図に示すようにカレントミラ
ーで構成されている。(35)は出力レベル判定回路(
圓からの信号nをゲートに入力するPチャネルMOSト
ランジスタである。(列は出力バッファ回路(20)に
電圧を供給するためのNチャネルMOSトランジスタで
ある。第2図において(41)、(42化する場合、出
力信号eのレベルがVRに達するまベルとなるため−P
チャネルMO8)ランジスタルとなる。出力信号eのレ
ベルがVRに達したとき−PチャネルMOSトランジス
タC(5)がOFFした後、NチャネルMOSトランジ
スタ(30のみがONL、ているので−信号eはVcc
 −Vthのレベルまでゆつ場合(従来)に比べて緩和
されている。
出力レベル判定回路(34)に第2図のカレントミラー
を用いた場合、Vccが低くなると動作しなくなる。こ
のときの信号nのレベルは、カレントミラーのP/N比
で決まる。通常P/N比は工又はそれ以下に設定されて
いるので、信号nは1/2VCC以下のLレベルとなり
PチャネルMO5)ランジスタ(鵬はONする。すなわ
ち、Vccがある程度低くなると、出力はVccまで出
るようになるが、Vccが高い場合、出力はVcc −
Vthまでとなる。Vcc変化するときはVRのレベル
まで高速に変化する。
なお、上記実施例では、信号lを信号fから供給する場
合について説明したが、信号eから供給しても良い。
第4図はこの発明の他の実施例による出力/−、aツフ
ァ回路を示す回路図である。図において(1)〜(3)
−(10)〜(14)、C2ω、+21+−041−!
30)〜(殖は第1図に示したものと同等であるので説
明を省略する。信号1は信号eから供給され、上記実施
例と同様の効果を奏する。
また、上記実施例では、VRを設定する回路においてN
チャネルMOSトランジスタ(32)、C33)を2段
構成にしているが、1段あるいは3段以上にしても良く
、上記実施例と同様の効果を奏する。
〔発明の効果〕
以上のように、この発明に係る出力バッファ回路によれ
ば一従来の出力バッファ回路の負荷トランジスタ部分を
一第一のPチャネルMOSトランジスタとNチャネルM
OSトランジスタとの並列回路と第二のPチャネルMO
Sトランジスタとを直列接続した回路にすると共に一第
一のPチャネルMOSトランジスタの0N−OFFを制
御する出力レベル判定回路を付加したので−Vccが高
い場合には出力レベルはVcc −Vthとなり、出力
ノイズが小さくなるという効果−Vccが低い場合には
出力レベルはVccまで出るので誤動作すること速に行
われるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による半導体記憶装置の出
カバソファ回路を示すブロック図−第2図は第1図の回
路の出力レベル判定回路の一実施例を示す回路図、第3
図は第1図の回路の各信号を示すタイミングチャート−
第4図はこの発明の他の実施例による半導体記憶装置の
出力バッファ回路を示す回路図−第5図は従来の半導体
記憶装置の出力バッファ回路の一例を示すブロック図−
第6図は第5図の回路の各信号を示すタイミングチャー
ト−第7図は従来の半導体記憶装置の出力バッファ回路
の他の例を示すブロック図、第8図は第7図の各信号を
示すタイミングチャートである。 図において、(1)はセンスアンプ、(2)は出力制御
回路、(3)はデータ出力端子、l+0+はプリ出力バ
ツファ回路−(11)はNOR回路−(1の、(1滲は
NOT回路、(13)はNAND回路、(20)は出力
バツファ回路−(21) −(35)−f41)、(4
渇はPチャネルMO5)ランシスター+24) −(3
つ、(33)、(36)、(43)、f44) + (
45)はNチャネルMOSトランジスタ、(30)は′
H“レベル電圧設定回路−(31)は抵抗−(34)は
出力レベル判定回路である。またiはNチャネルMOS
トランジスタ(24)に流れる電流である。 なお、図中、同一符号は同一または相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 半導体記憶装置の出力端子と第一の電源配線との間に第
    一のPチャネルMOSトランジスタと第一のNチャネル
    MOSトランジスタとを並列接続した回路に、第二のP
    チャネルMOSトランジスタを直列接続した回路を備え
    、かつ上記出力端子と第二の電源配線との間に第二のN
    チャネルMOSトランジスタを備え、更にある一定の基
    準電圧を発生する回路と上記出力端子の電圧と上記基準
    電圧とを比較する出力レベル判定回路とを備えた出力バ
    ッファ回路において、上記出力端子の電圧は上記第二の
    PチャネルMOSトランジスタと上記第二のNチャネル
    MOSトランジスタのON・OFFにより制御され、か
    つ上記出力レベル判定回路から出力される信号を上記第
    一のPチャネルMOSトランジスタのゲートに入力し上
    記第一のPチャネルMOSトランジスタのON・OFF
    を制御することを特徴とする出力バッファ回路。
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