JPH02270349A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPH02270349A
JPH02270349A JP9141089A JP9141089A JPH02270349A JP H02270349 A JPH02270349 A JP H02270349A JP 9141089 A JP9141089 A JP 9141089A JP 9141089 A JP9141089 A JP 9141089A JP H02270349 A JPH02270349 A JP H02270349A
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JP
Japan
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wiring material
film
wiring
insulating film
grounded
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JP9141089A
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English (en)
Inventor
Tadashi Yasue
匡 安江
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Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、半導体装置に係り、特に、多層配線が可能で
ある半導体装置に関するものである。
〔従来の技術1 近年、半導体装置の高集積化にあたり、素子間の配線が
高密度化、多層化しているが、従来は。
例えば、第2図に示すように、基板上に形成された配線
材1の上に、絶縁1t@2を介して配線材3が形成され
、さらに絶縁膜4を介して配線材5が形成される構造を
とっていた。
(発明が解決しようとする課題1 しかしながら、第2図に示されるような従来の構造では
、各配線材間及び素子との間の静電結合により、回路の
特性の劣化や誤動作等の問題が発生する。そのため、各
配線材の配置に大きな制約ができ、半導体装置の高集f
a化の妨たげとなっていた。
そこで本発明は、このような課題を解決することを目的
とする。
[課題を解決するための手段] 基板上に形成された第1の導電体膜と、前記第1の導電
体膜と第1の絶縁膜を介して形成された配線材と、前記
配線材と第2の絶縁膜を介して設置された第2の導電体
膜とから構成され、前記第1の導電体膜及び第2の導電
体膜とが、前記配線材の少なくとも一方の側において前
記第1の絶縁膜及び第2の絶縁膜に設けられた開口部を
通して接続されるとともに接地されることを特徴とする
〔実 施 例1 以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
まず、第1図に示す断面図では、基板上に形成された導
電体膜6および配線材1の上に、絶!1llI2を介し
て配線材3を形成し、配線材と絶縁膜4を介して導電体
膜8を形成する。ここで、導電体膜6と8は、絶縁11
12.4に設けられた開口部7を通して接続されている
とともに、電源ラインの基準電位等に接続されている。
その導電体膜8上に絶縁1119を介して配線材5を形
成する構造をとっている。
なお、配線材が3層以上用いられるならば、そのうち・
の2つの層の一部分を、接地された導電体膜として兼用
することも可能である。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によると、接地された導電
体膜で囲まれた配線材と、他の配線材及び素子との間の
静電結合が生じないため、その静電結合による回路の特
性の劣化や誤動作等の問題が発生しないとともに、配線
材の配置の制約が解消されるため、半導体装置の高集積
化が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例である半導体装置の断面図、
第2図は従来の半導体装置の断面図である。 l・・・配線材 2・・・絶縁膜 3・・・配線材 4・・・絶縁膜 5・・・配線材 6・・・接地された導を体膜 7・・・絶縁膜に設けられた開口部 8・・・接地された導電体膜 9・・・絶縁膜 以上 出願人 セイコーエプソン株式会社 代理人 弁理士 鈴 木 喜三部(使1名);l ノ 
リリ Iλa

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 基板上に形成された第1の導電体膜と、前記第1の導電
    体膜と第1の絶縁膜を介して形成された配線材と、前記
    配線材と第2の絶縁膜を介して形成された第2の導電体
    膜とから構成され、前記第1の導電体膜と第2の導電体
    膜とが、前記配線材の少なくとも一方の側において、前
    記第1の絶縁膜及び第2の絶縁膜に設けられた開口部を
    通して接続されるとともに接地されることを特徴とする
    半導体装置。
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