JPH02287165A - 半導体集積回路装置の電気的特性測定方法 - Google Patents
半導体集積回路装置の電気的特性測定方法Info
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- JPH02287165A JPH02287165A JP1108244A JP10824489A JPH02287165A JP H02287165 A JPH02287165 A JP H02287165A JP 1108244 A JP1108244 A JP 1108244A JP 10824489 A JP10824489 A JP 10824489A JP H02287165 A JPH02287165 A JP H02287165A
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title abstract description 11
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 27
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 4
- 238000004904 shortening Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
り菜上叫肌■分■
本発明は半導体集積回路装置を用いた増幅器の電気的特
性測定方法に関し、特に測定時間を短縮し得る測定方法
に関する。
性測定方法に関し、特に測定時間を短縮し得る測定方法
に関する。
従米旦皮籠
半導体集積回路装置を用いた増幅器は、電気的特性が検
査され、不良品が除去されて出荷される。
査され、不良品が除去されて出荷される。
第２図に、電気的特性を検査する測定回路の一例を示す
。図において、１は半導体集積回路装置を用いた増幅器
で１ａは入力端子、１ｂは帰還入力端子、ＩＣは電源端
子、ｌｄは接地端子、１ｅは出力端子を示す。２は信号
発生器、３ａ＋３ｂｓ３ｃは十分大容量（〜１０００μ
Ｆ）のコンデンサ、４は負荷抵抗、５は電源を示す。信
号発生器２は入力端子１ａと接地間に接続され、コンデ
ンサ３ａ、３ｃはそれぞれ帰還入力端子１ｂ１電源端子
１ｃに接続され各コンデンサ３ ａ ｔ 牟−３０の他
端は接地されている。接地端子１ｄは接地され、端子１
ｃ＊１ｄ間に電源５が接続されている。コンデンサ３ｂ
と負荷抵抗４は直列に接続され、端子１ｅと接地間に接
続されている。
。図において、１は半導体集積回路装置を用いた増幅器
で１ａは入力端子、１ｂは帰還入力端子、ＩＣは電源端
子、ｌｄは接地端子、１ｅは出力端子を示す。２は信号
発生器、３ａ＋３ｂｓ３ｃは十分大容量（〜１０００μ
Ｆ）のコンデンサ、４は負荷抵抗、５は電源を示す。信
号発生器２は入力端子１ａと接地間に接続され、コンデ
ンサ３ａ、３ｃはそれぞれ帰還入力端子１ｂ１電源端子
１ｃに接続され各コンデンサ３ ａ ｔ 牟−３０の他
端は接地されている。接地端子１ｄは接地され、端子１
ｃ＊１ｄ間に電源５が接続されている。コンデンサ３ｂ
と負荷抵抗４は直列に接続され、端子１ｅと接地間に接
続されている。
測定に際しては図示しないが入力レベルを測定するレベ
ル計や出力レベルを測定する電力計や歪率計などが接続
され、電気的特性が測定されて、測定結果に基づいて良
否判定される。
ル計や出力レベルを測定する電力計や歪率計などが接続
され、電気的特性が測定されて、測定結果に基づいて良
否判定される。
ところが、コンデンサ３ ａ ｓ ３ ｂ ＋ ３
ｃは大容量であるため、実際に測定するには各コンデン
サが所定の電圧値に充電されるまでの待ち時間が必要で
あった。そこで考え出されたのが第３図に示す急速充電
回路である。図において第２図と同一符号は同一物を示
し、説明を省略する。６は切り換えスイッチであり接点
Ｅ３ａ、Ｑｌ）及び共通接点６ｃを備えており、例えば
リレーが該当する。７は比較器、８はトランジスタ、９
は電源である。
ｃは大容量であるため、実際に測定するには各コンデン
サが所定の電圧値に充電されるまでの待ち時間が必要で
あった。そこで考え出されたのが第３図に示す急速充電
回路である。図において第２図と同一符号は同一物を示
し、説明を省略する。６は切り換えスイッチであり接点
Ｅ３ａ、Ｑｌ）及び共通接点６ｃを備えており、例えば
リレーが該当する。７は比較器、８はトランジスタ、９
は電源である。
切換えスイッチ６の一方の接点６ｂは比較器７の一方の
入力端子に接続され、他方の入力端子は、比較器７の出
力にベースが接続されたトランジスタ８のエミッタ、に
接続されるのと同時にコンデンサ３ａが接続された切換
えスイッチ６の他方の接点６ａに接続される。電源９は
トランジスタ８のコレクタと接値間に接続される。切換
えスイッチ６の共通接点６ｃは、増幅器１の各端子、例
えば帰還入力端子１ｂに接続される。実際に測定が実施
される前に切換えスイッチ６の共通接点６ｃが接点６ｂ
に接続されると比較器７は、２つの入力端子の電位差を
零にするように、トランジスタ８を制御するため、帰還
入力端子１６とコンデンサ３ａの電位は同一となり、そ
の時の充電電流はトランジスタ８を経由して電源９より
供給される。
入力端子に接続され、他方の入力端子は、比較器７の出
力にベースが接続されたトランジスタ８のエミッタ、に
接続されるのと同時にコンデンサ３ａが接続された切換
えスイッチ６の他方の接点６ａに接続される。電源９は
トランジスタ８のコレクタと接値間に接続される。切換
えスイッチ６の共通接点６ｃは、増幅器１の各端子、例
えば帰還入力端子１ｂに接続される。実際に測定が実施
される前に切換えスイッチ６の共通接点６ｃが接点６ｂ
に接続されると比較器７は、２つの入力端子の電位差を
零にするように、トランジスタ８を制御するため、帰還
入力端子１６とコンデンサ３ａの電位は同一となり、そ
の時の充電電流はトランジスタ８を経由して電源９より
供給される。
即ち、第３図の急速充電回路を用いない場合、コンデン
サへの充電電流が増幅器１より供給されるのに比べてそ
れより電流供給能力の大きい電源９を用いた方が、短時
間で所定電圧値までの充電が完了する。。
サへの充電電流が増幅器１より供給されるのに比べてそ
れより電流供給能力の大きい電源９を用いた方が、短時
間で所定電圧値までの充電が完了する。。
充電が完了すると、共通接点６Ｃは接点６ａに接続され
、実際の測定が実施される。
、実際の測定が実施される。
第４図は、縦軸にコンデンサの電圧値、横軸に時間を示
し、コンデンサへの充電状態図を表したものである。実
線は急速充電回路を用いない場合、破線は急速充電回路
を用いた場合の充電特性を示す。この図から所定電圧値
Ｖｃまでに達する時間は、急速充電回路を用いない場合
Ｔ□、急速充電回路を用いた場合Ｔ２であり、Ｔ２くＴ
１であるがさらに短縮が望まれていた。
し、コンデンサへの充電状態図を表したものである。実
線は急速充電回路を用いない場合、破線は急速充電回路
を用いた場合の充電特性を示す。この図から所定電圧値
Ｖｃまでに達する時間は、急速充電回路を用いない場合
Ｔ□、急速充電回路を用いた場合Ｔ２であり、Ｔ２くＴ
１であるがさらに短縮が望まれていた。
−の
本発明は上記課題の解決を目的として提案されたもので
、外付はコンデンサを介して交流的に接地される端子を
有する半導体集積回路装置の電気的特性を測定するに先
だって、上記端子にあらわれる電位以上の電圧を上記外
付はコンデンサに供給して充電することを特徴とする半
導体集積回路装置の電気的特性測定方法を提供する。
、外付はコンデンサを介して交流的に接地される端子を
有する半導体集積回路装置の電気的特性を測定するに先
だって、上記端子にあらわれる電位以上の電圧を上記外
付はコンデンサに供給して充電することを特徴とする半
導体集積回路装置の電気的特性測定方法を提供する。
夾嵐阻
以下に本発明を第１図より説明する。図において第３図
と同一符号は同一物を示し説明を省略する。１０は電源
であり比較器７の一方の入力とトランジスタ８のエミッ
タ間に接続される。
と同一符号は同一物を示し説明を省略する。１０は電源
であり比較器７の一方の入力とトランジスタ８のエミッ
タ間に接続される。
電源ｌＯの電圧値をＶＡとすると、コンデンサ３ａは、
ＶＣ＋ｖａなる電圧値に向かって充電され、ＶＡが印加
される時間ＴＡを過ぎると、ＶＣなる電圧値に向かって
放電される。ここでＴＡを適切に制御することにより、
コンデンサ８ａへの充電の様子は第５図−点鎖線に示す
カーブとなり、ｖｃに達する時間Ｔ３をより短縮でき、
測定開始可能時３間を短縮できる。
ＶＣ＋ｖａなる電圧値に向かって充電され、ＶＡが印加
される時間ＴＡを過ぎると、ＶＣなる電圧値に向かって
放電される。ここでＴＡを適切に制御することにより、
コンデンサ８ａへの充電の様子は第５図−点鎖線に示す
カーブとなり、ｖｃに達する時間Ｔ３をより短縮でき、
測定開始可能時３間を短縮できる。
主肌互効果
以上のように、本発明によれば、外付はコンデンサの充
電に要する時間を短縮でき、測定の効率を向上できる。
電に要する時間を短縮でき、測定の効率を向上できる。
第１図は本発明による回路図、第２図及び第３図は、従
来の測定方法を説明する回路図、第４図は従来方法によ
る充電特性図、第５図は本発明による充電特性図を示す
。 １・・・増幅器、 １ｂ・・・端子、 ３ａ・・・外付はコンデンサ。 第 図 第 図 第 図
来の測定方法を説明する回路図、第４図は従来方法によ
る充電特性図、第５図は本発明による充電特性図を示す
。 １・・・増幅器、 １ｂ・・・端子、 ３ａ・・・外付はコンデンサ。 第 図 第 図 第 図
Claims (1)
- 外付けコンデンサを介して交流的に接地される端子を有
する半導体集積回路装置の電気的特性を測定するに先だ
って、上記端子にあらわれる電位以上の電圧を上記外付
けコンデンサに供給して充電することを特徴とする半導
体集積回路装置の電気的特性測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1108244A JPH02287165A (ja) | 1989-04-27 | 1989-04-27 | 半導体集積回路装置の電気的特性測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1108244A JPH02287165A (ja) | 1989-04-27 | 1989-04-27 | 半導体集積回路装置の電気的特性測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02287165A true JPH02287165A (ja) | 1990-11-27 |
Family
ID=14479736
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1108244A Pending JPH02287165A (ja) | 1989-04-27 | 1989-04-27 | 半導体集積回路装置の電気的特性測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02287165A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5645919B2 (ja) * | 1971-11-24 | 1981-10-29 | ||
| JPS6350072B2 (ja) * | 1984-04-25 | 1988-10-06 | Seirei Ind |
-
1989
- 1989-04-27 JP JP1108244A patent/JPH02287165A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5645919B2 (ja) * | 1971-11-24 | 1981-10-29 | ||
| JPS6350072B2 (ja) * | 1984-04-25 | 1988-10-06 | Seirei Ind |
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