JPH0229124A - スタンダードセル - Google Patents

スタンダードセル

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JPH0229124A
JPH0229124A JP63178214A JP17821488A JPH0229124A JP H0229124 A JPH0229124 A JP H0229124A JP 63178214 A JP63178214 A JP 63178214A JP 17821488 A JP17821488 A JP 17821488A JP H0229124 A JPH0229124 A JP H0229124A
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flip
clock
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standard cell
row
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徹 佐々木
Takeji Tokumaru
武治 得丸
Tsuneaki Kudo
恒昭 工藤
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Toshiba Electronic Device Solutions Corp
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    • G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/41—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 し発明の目的] (産業上の利用分野〉 本発明はFF(フリップフロップ)セル内にクロック線
を取り込むと共に同一行内に複数のFFをまとめて配置
したスタンダードセルに関するものである。
(従来の技術) マイクロプロセッサその他のLSIに用いる所定の機能
を標準化して備えたスタンダードセルを自動配置配線シ
ステムで配線する際に、特定の論理素子の配置配線につ
いては特定な考慮が必要である。そうでないと誤動作、
その他好ましくない現象を生ずるからである。
例えばNAND回路、NOR回路、FF回路などの論理
素子を含んだスタンダードセルを配置配線するに際し、
特にFF回路の取扱いには、いわゆるクロックスキュー
、レーシング現象による誤動作発生の観点から、注意が
必要である。
ここで、まず、クロックスキューと称する現象を説明す
る。第2図(A)のシフトレジスタにおいて、FF1の
クロック入力に与えられるクロック波形の立上がりと、
FF2のクロック入力に与えられる波形の立上りとの間
には、第3図に示すように位相差(スキュー)を生じて
しまう。この原因はFF1からFF2へ至る配線に配線
抵抗Rと配線容量Cが分布するためであり配線が長くな
ればなる程、クロック信号の伝達の大きな遅れを生じて
しまうからである。したがってFFセルのクロック入力
の配線はできるだけ、短くしなければならない。
次にレーシング現象につい−C説明する。再び第2図(
A)参照すると、FF1の出力端子QとFF2の入力端
子り間の配線が短いにも拘らず両者のクロック入力側C
LKのクロックスキューが大であると第4図(A)のよ
うにFF1の入力端子りのデータの切り替りがh点のク
ロックの切り替りよりも速くなってしまい(クロックス
キュー〉データ遅延)、FF2が図示のように不正なデ
ータを取り込んでしまう。これによってレーシングとい
う誤動作を生じてしまう。
したがってレーシング現像を防止するためには第2図(
A)のFF1とFF2の出入力端子00間に第2図(B
)に示す如き遅延素子を挿入しCクロック側の遅延要素
とのバランスをとる必要がある。その結果、第4図(B
)に示すように、クロックスキューがデータ遅延より小
となって誤ったデータの取り込みが防止できるわけであ
る。
(発明が解決しようとする課題) 上述のように、レーシングを防止するために第1のレジ
スタ(フリップフロップ)と第2のレジスタ(フリップ
フロップ)との間に一律的に遅延素子を設ける方法が一
般であるが、クロック配線の長さが正確に捕えられない
ために、過大な遅延時間をもつ遅延素子を設けてしまう
傾向にある。
また、上記レジスタ間には遅延素子の外に組合わせ回路
などが挿入される場合があるので、そのような場合には
、スキューの時間幅と、遅延素子の遅延時間と、組合わ
せ回路のアクセス時間とを加算した時間だけ実質的な動
作時間が制限されてしまうので、結果として1クロツク
で実行できる機能が低減してしまう。
したがってこの問題を解決するためには、クロック配線
の長さをできるだけ正確に予測できることが必要である
と共に、クロックスキューそのものを小さくすることが
必要である。
しかしながら、従来のこの種のスタンダードセルにおい
ては、設計段階で第5図に示づように複数の行Rに複数
のフリップフロップ(FF)が散在して配置されていた
のでクロック配線Ω1.Ω2、Ω3が長くなってしまう
と共に、クロックスキューおよびレーシング現象が生じ
問題となっていた。
本発明の目的は、り【コックスキューおよびレーシング
現象による誤動作を防止することができるスタンダード
セルを提供することである。
本発明の他の目的は、クロックスキュー予測を正確に行
うことができるスタンダードセルを提供する口とである
。
[発明の構成] (課題を解決するための手段〉 本発明においては、従来の技術で散在しでいたFFを同
一の行に集めることによりクロック配線の長さを最小に
してクロックスキューをr:きるだけ小さく抑えると共
に、FFが一箇所に集められた口とによって配線状態す
なわち、り【コックスキューの生じうる状態がかなり正
確に把握できるのでり[]ツクスキューによる誤動作対
策が容易となる。
(作用) 本発明はFFがきれいな形でLSIの特定行に配置され
ているのでクロック配線も短くなると共にクロックスキ
ュー予測が容易となるので誤動作の防止が容易となる。
(実施例) 第1図は本発明によるスタンダードセルの実施例の構成
を示す。
本発明を実施したスタンダードセルにおいてはLSIの
基板10において、フリップフロップ回路群FFを特定
の1行にまとめて配置し、これを予め設けられたクロッ
ク配線領域よりのクロック引出し線を利用して接続して
いる。
すなわち、第1図において、11はクロック配線領域、
12はフリップフロップ回路領域、13は伯の論理回路
領域、14は配線領域を示す。
図示のように、本発明においては、フリップフロップ回
路FFを特定のセル行12に−まとめにして規則正しく
配置してり0ツク配線領域11からの最短の引出し線Q
+ 、Q2 、j3 、・・・・・・inで接続してい
る。
したがって、フリップフロップ回路領域12とクロック
配線rjAW1.は極く接近しているので、配線は最短
距離で1み、クロックスキューを最小に抑止することが
できる。
さらに、各フリップフロップ回路FFと引出しIIρ1
.Ω2.j3.・・・・・・は規則正しく極めて圧熱と
並んで配置されているのでクロックスキューの発生ずる
程度もかなり正確に予測でき、適切な値の遅延素子が挿
入できる。なお、前記クロック配線はフリップフロップ
回路群内に設けてもよい。
[発明の効果] 以上、本発明のスタンダードセルの実施例について図示
し、説明してきたように、本発明においてはフリップフ
ロップ回路群FFを少なくとも1つの行にまとめて配置
し、かつ該フリップフロップ群に接近してクロック配線
領域を設けた構成にしたので、同一の行の配線に関する
配線抵抗Rと配線容量Cの分布を考えればよく、クロッ
クスキュー予測が正確にできる。
したがって大規模集積回路の自動配置配線が容易となる
と共にクロックスキュー、レーシング現象の起りつる状
態が正確に把握できるのでそれによる誤動作対策が容易
になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるスタンダードセルの実施例、 第2図(A)はクロックスキューの発生を説明する回路
図、 第2図(B)はレーシング現象を防止する回路図、 第3図はスキューの発生を説明する波形図、第4図(A
)はレーシング現象による誤動作を説明するタイミング
図、 第4図(B)は正常な動作タイミング図、第5図は従来
技術によるスタンダードセルの構成図をそれぞれ示す。 10・・・基板      11・・・クロック配線領
域12・・・フリップフロップ 13・・・他の論理回路領域 14・・・配線領域 第1図

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)複数のフリップフロップ回路およびその他複数の
    論理回路とを含む複数行のスタンダードセルにおいて、
    前記フリップフロップ回路のすべてを特定の1つのセル
    行に配置し、前記特定のセル行に対して専用クロック配
    線を設け最短の引出し線を介して前記クロック配線と前
    記各フリップフロップ回路を接続したことを特徴とする
    スタンダードセル。
  2. (2)前記のフリップフロップ回路が、上記特定のセル
    行において1群にまとめられる様に隣接して配置されて
    いることを特徴とする請求項1に記載のスタンダードセ
    ル。
  3. (3)前記クロック配線が、上記特定のセル行に対して
    平行に配設されていることを特徴とする請求項2に記載
    のスタンダードセル。
  4. (4)前記各フリップフロップと前記クロック配線とを
    接続するための上記引出し線が、同一の長さであること
    を特徴とする請求項3に記載のスタンダードセル。
  5. (5)フリップフロップ回路群およびその他の論理回路
    群とを含む複数のスタンダードセルにおいて、前記フリ
    ップフロップ回路群を特定の1つのセル行にまとめて集
    中配置すると共に、クロック配線を前記フリップフロッ
    プ回路群が配置されたセルの行内に備えたことを特徴と
    するスタンダードセル。
JP63178214A 1988-07-19 1988-07-19 スタンダードセル Granted JPH0229124A (ja)

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US07/379,791 US5029279A (en) 1988-07-19 1989-07-17 Standard cells with flip-flops located in a single region and having minimal-length clock lines
KR1019890010200A KR920010213B1 (ko) 1988-07-19 1989-07-19 스탠다드셀
EP89113243A EP0351819B1 (en) 1988-07-19 1989-07-19 Standard cells with flip-flops
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