JPH02294623A - アクティブマトリクス表示装置 - Google Patents

アクティブマトリクス表示装置

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JPH02294623A
JPH02294623A JP1116694A JP11669489A JPH02294623A JP H02294623 A JPH02294623 A JP H02294623A JP 1116694 A JP1116694 A JP 1116694A JP 11669489 A JP11669489 A JP 11669489A JP H02294623 A JPH02294623 A JP H02294623A
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switching element
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tft
display device
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博章 加藤
Mikio Katayama
幹雄 片山
Akihiko Imaya
今矢 明彦
Takayoshi Nagayasu
孝好 永安
Hidenori Otokoto
音琴 秀則
Ken Kanamori
金森 謙
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は表示用絵素電極にスイッチング素子を介して駆
動信号を印加することにより表示を実行する表示装置に
関し、特に絵素電極をマトリクス状に配列して高密度表
示を行うアクティブマトリクス駆動方式の表示装置に関
する。
(従来の技術) 従来より、液晶表示装置、EL表示装置、プラズマ表示
装置等に於いては、マトリクス状に配列された絵素電極
を選択駆動することにより、画面上に表示パターンを形
成している。選択された絵素電極とこれに対向する対向
電極との間に電圧を印加し、その間に介在する表示媒体
の光学的変調が行われる。この光学的変調が表示パター
ンとして視認される。絵素電極の駆動方式として、個々
の独立した絵素電極を配列し、この絵素電極のそれぞれ
にスイ・1チング素子を連結して駆動するアクティブマ
トリクス駆動方式が知られている。絵素電極を選択駆動
するスイッチング素子としては、TPT (薄膜トラン
ジスタ)素子、MIM(金痛一絶縁層一金属)素子、M
oSトランジスタ素子、ダイオード、バリスタ等が一般
的に知られている。
アクティブマトリクス駆動方式は、高フントラストの表
示が可能であり、液晶テレビジョン、ワードプロセッサ
、コンビコータの端末表示装置等に実用化されている。
(発明が解決しようとする課題) このような表示装置を用いて高密度の表示を行う場合、
非常に多数の絵素電極とスイッチング素子とを配列する
ことが必要となる。しかしながら、スイッチング素子は
基板上に作製した時点で動作不良素子として形成される
ことがある。このような不良素子に連結された絵素電極
は、表示に寄与しない絵素欠陥を生ずることになる。
絵素欠陥を修正する為の構成が、例えば特開昭61−1
53619号公報に開示されている。この構成では、絵
素電極1個当り複数個のスイッチング素子が設けられる
。複数個のスイ・ノチング素子のうちの一つが絵素電極
に接続され、他は絵素電極には接続されない。絵素電極
に接続されたスイッチング素子が不良の場合は、レーザ
トリマ、超音波力ッタ等により該スイッチング素子が絵
素電極から切り離され、他のスイッチング素子が絵素電
極に接続される。スイッチング素子と絵素電極との接続
は、微小な導体をディスベンサ等で付着させることによ
り、或いは基板上にA u s A 1等を所定部位に
コートすることにより行われる。
更に、特開昭61−56382号公報及び特開昭59−
101693号公報には、レーザ光を照射して金属を溶
融させることにより、金属層相互間を電気的に接続する
構成が開示されている。
上記の欠陥修正は、表示装置を組み立てる前のアクティ
ブマトリクス基板の状態で行われなければならない。そ
の理由は、表示装置を完成した後では、レーザ光照射に
よって蒸発或いは溶融した金属の一部が、絵素電極と対
向電極との間に介在する液晶等の表示媒体中に混入し、
表示媒体の光学的特性を著しく劣化させるからである。
従って、上記従来の絵素欠陥の修正は何れも表示装置組
立前、即ち表示媒体封入前のアクティブマトリクス基板
製作プロセスで適用されている。
ところが、絵素欠陥をアクティブマトリクス基板の製作
段階で検出することは極めて困難である。
特に絵素数が10万個〜50万個以上もある大型表示装
置では、全ての絵素電極の電気的特性を検出して不良ス
イッチング素子を発見するには、極めて高精度の測定機
器等を使用しなければならない。このため、検査工程が
繁雑となり、量産性が阻iFされる。従ッて、コスト高
になるという結果を招《。このような理由で、絵素数の
多い大型表示装置では、上述のレーザ光を用いた基板の
状態での絵素欠陥の修正を行なうことができないという
のが実情である。
本発明はこのような問題点を解決するために為されたも
のである。即ち、本発明の目的は、絵素欠陥の発生位置
を容易に特定できる表示装置の状態で、スイッチング素
子不良による絵素欠陥を修正できるアクティブマトリク
ス表示装置を提供することにある。
(課題を解決するための手段) 本発明のアクティブマトリクス表示装置は、少なくとも
一方が透光性を有する一対の基板と、該基板間に挿入さ
れ印加電圧に応答して光学的特性が変調される表示媒体
と、該一対の基板の何れか一方の基板内面にマトリクス
状に配された絵素電極と、該絵素電極にそれぞれ電気的
に接続されたスイッチング素子及び予備スイッチング素
子と、該スイッチング素子と該予備スイッチング素子と
に接続された走査線と、該スイッチング素子に接続され
た信号線と、を備え、該予備スイッチング素子の信号入
力端子の延設端と該信号線から分岐した枝配線とが、少
なくとも絶縁膜を介して非導通状態で近接対置する接続
部が形成され、該接続部が保護膜によって被覆されてお
り、そのことによって上記目的が達成される。
く作用) 上記構成からなるアクティブマトリクス表示装置を全面
駆動すれば、絵素欠陥の発生位置を容易に確認すること
ができる。全絵素電極の駆動により、これに対応する表
示媒体は駆動電圧に応じた光学的変調を生ずる。しかし
、スイッチング素子が不良の場合は、この光学的変調が
不完全となり於いても、拡大レンズ等を使用すれば容易
に識別が可能である。
絵素欠陥部位が特定されると、透光性の基板を介して外
部より接続部に、レーザ光等の光エネルギーが照射され
る。接続部ではレーザ光照射によって、予備スイッチン
グ素子の信号入力端子の延設端と、信号線から分岐した
枝配線とが互いに電気的に接続される。このようにして
予備TFT7と信号線とが接続部を介して電気的に接続
される。
更に、必要に応じて絵素電極に接続されていた不良のス
イッチング素子を、光エネルギーの照射により切断して
絵素電極と切り離すこともできる。
接続部は保護膜で被覆されているため、溶融した金属等
が表示媒体中に混入することはなく、表示媒体の特性は
低下しない。即ち、上述の予備スイッチング素子と信号
線との接続は、表示媒体から離隔された保護膜と基板と
の間で行われるので、表示媒体に悪影響を与えることな
く絵素欠陥を修正することができる。
(実施例) 本発明を実施例について以下に説明する。第IA図に本
発明の表示装置の一実施例に用いられるアクティブマト
リクス基板を示す。第IA図のB一BIN及びC−C線
に沿った各断面の構成を、第IB図及び第IC図に示す
。ガラス基板1上にTa205、Al20,、Sl3N
A等から成るベースコート膜2が厚さ3000人〜90
00人で形成され、この上に走査信号を供給するゲート
バス配線3と、データ信号を供給するンースバス配線4
とが格子状に配列されている。ゲートバス配線3は一般
にTa,AI,TI、Nl,Mo等の単層又はこれらの
多層金属で形成されるが、本実施例ではTaを使用して
いる。ソースバス配線4も同様の金灰で形成されるが、
本実施例ではT1を使用している。ゲートバス配線3と
ソースバス配線4の交差位置には、後述するベース絶縁
膜11が介在している。ゲートバス配線3とソースバス
配線4とに囲まれた矩形の領域には、透明導電膜(■T
o)から成る絵素電極5が設けられ、マトリクス状の絵
素パターンを構成している。絵素電極5の隅部付近には
TFT6が配され、TFT6と絵素電極5とはドレイン
電極l6によって電気的に接続されている。絵素電極5
の他の隅部付近には予備TFT7が配され、予備TFT
7と絵素電極5とはドレイン電極16aによって電気的
に接続されている。TFT6及び予備TFT7はゲート
バス配線3上に並設され、TFT6のソース電極15と
ソースバス配線4とは枝配線8によって接続されている
。予備TFT7のソース電極15aはソース電極延設端
8aによって、接続部25に導かれる。接続部25では
ソース電極延設端8aは、非導通状態で枝配線8に対置
されている。従って、二つのTFT6及び7のうち、T
FT8のみがソースバス配線4に電気的に接続され、予
備TFT7はソースバス配線4には接続されていない。
接続部25の断面構成の詳細については後述する。
TFT6近傍の断面構成を第IB図に従って説明する。
尚、予@TFT7の構成もTFT6と同様である。ゲー
トバス配線3の一部として形成されるTaのゲート電極
9上に、ゲート電極9の表面を陽極酸化して得られるT
a203から成るゲート絶縁膜10が形成されている。
この上から、ゲート絶縁膜としても機能しているSiN
,(例えばSi3N4)のベース絶縁膜11が基仮全面
に亙って堆積されている。ベース絶縁膜11上にはアモ
ルファスシリコン(a−SI)の真性半i体i12、真
性半導体層12の上面を保護するSiNy,bzら成る
半導体層保謹膜13が順次積届されている。
更にその上から、後に形成されるソース電極及びドレイ
ン電極とオーミックコンタクトを得るための、a−81
から成るn型半導体層14が積層されている。n型半導
体層14上にはソース電極l5、及びドレイン電極16
が形成されている。ソース電極15及びドレイン電極1
6は、Ti%N1、A1等から成る。
絵素電極5は、ベース絶縁膜11上にパターン?成され
る。ベース絶縁膜11の厚さは1500A〜6000人
程度が適切であるが、本実施例では2000人〜350
0人に設定されている。TFT6及び絵素電極5の上面
を覆って基板全面にSiN)(から成る保護膜工7が形
成され、保護膜17上に液晶分子18の配向を規制する
配向層19が堆積されている。保護膜17の厚さは20
00人〜i oooo人程度が適切であるが、本実施例
では5000人前後に設定されている。ベース絶縁膜1
1及び保護膜l7はSINX以外に、SIO8、”ra
2o,、A1■0,その他の酸化物或いは窒化物によっ
て形成され得る。保護膜17は基板全面に形成せずに、
TFT6、予備TFT7、バス配線等の直接表示に関与
しない部分のみを覆い、絵素電極5の中央部で除去した
窓あき構造としてもよい。
絵素電極5の形成されたガラス基板1に対向する他方の
ガラス基板20の内面には、カラーフィルタ21、対向
電極22、及び配同層23が重畳形成されている。カラ
ーフィルタ2lの周囲には必要に応じてブラックマトリ
クス(図示せず)が設けられる。
上記一対のガラス基板1、20の間には表示媒体として
、ツィステドネマチック液晶分子l8が封入されている
。液晶分子l8は絵素電極5と対向電極22との間の印
加電圧に応答して配向変換され、光学的変調が行われる
。この光学的変調が表示パターンとして視認される。
接続部25の断面構成を第lC図を用いて説明する。ベ
ースコート膜2上に継手金属層24が形成されている。
継手金属層24の形状は、第IA図に示すように平面視
矩形である。継手金11i24は、ゲートバス配線3と
同様にTa,AI,TI、Nl、Mo等から成り、ゲー
トバス配線3の形成と同時にパターン形成することがで
きる。継手金属層24上には前述のベース絶縁膜11が
堆積されている。ベース絶縁膜ll上には、予NTFT
7のソース電極15に接続されたソース電極延設端8a
と、ソースバス配線4に接続された技配線8とが載置さ
れている。ソース電極延設端8aと枝配線8とは、互い
に離隔され非導通状態を維持している。従って、予@T
FT7はソースバス配線4とは電気的には接続されてい
ない。ソース電極延設端8aと枝配線8とは保護膜l7
によって完全に被覆されている。
継手金属層24と、ソース電極延設端8a及び枝配線8
との間に位置するベース絶縁膜11は、これらの金属層
及び配線間の層間絶縁膜として釦機能している。石間絶
縁膜としての厚さは1000人〜7000人が適してい
るが、本実施例ではTFT6及び7のゲート絶縁膜とし
ても機能するベース絶縁膜11を利用しているので、前
述のように2000人〜3500人に設定されている。
保護膜17は技配線8とソース電極延設端8aとの間の
電気的接続を、表示媒体である液晶分子18と離隔した
状態で行うためのものである。そのため、保護膜l7の
厚さは1500人〜15000人程度が適切である。本
実施例ではTFT6及び7の保護膜を利用しているため
、その厚さは5000人前後に設定されている。
上記構成を有する液晶表示装置のゲートバス配線3及び
ンースバス配線4の全配線から、TFT6を介して全絵
素電極5に駆動電圧を印加し、表示装置を全面駆動する
。このように表示装置を駆動した状態では、絵素欠陥が
容易に視認される。
TFT6の不良による絵素欠陥が発生している場合には
、接続部25を用いて容易に修正することができる。第
2図に絵素欠陥の修正に用いられた接続部25の断面図
を示す。第2図の矢印26で示すように、下方のガラス
基板1を介して外部よリレーザ光、赤外線、電子ビーム
、その他のエネルギーが継手金屑層24に照射される。
本実施例ではYAGレーザ光を用いた。枝配線8とベー
ス絶縁膜1lと継手金属層24との重畳部分では、レー
ザ光が照射されるとベース絶縁膜11の絶縁破壊が起こ
り、枝配R8と継手金属層24とは互いに溶融接続され
て導通状態となる。同様に、ソース電極延設端8aとベ
ース絶縁膜l1と継手金灰層24との重畳部分でも、ベ
ース絶縁膜11の絶縁破壊が起こり、ソース電極延設端
8aと継手金属層24とは互いに溶融接続されて導通状
態となる。このようにして枝配線8とソース電極延設端
8aとが継手金属層24を介して電気的に接続され、予
lTFT7がソースバス配線4によって駆動される。本
実施例ではレーザ光をガラス基板l側から照射したが、
レーザ光を透過させる基板であれば何れの基板側から照
射してもよい。
このようにレーザ光を用いて絵素欠陥の修正を行っても
、接続部25の上方には保護膜17が形成されているの
で、溶融した金属の表示媒体である液晶中への混入は起
こらない。また、保護膜l7は透明絶縁体なので、レー
ザ光はこれを透過する。従って、保護膜l7がレーザ光
によって破壊されることはない。レーザ光の照射された
部分の近傍の液晶層は白濁するが、この白濁はやがて消
失し元の状態に復元されるので、画像品位の低下が生じ
ることもない。
TFT6の絶縁不良等により、TFT6を絵素電極5か
ら切り離す必要がある場合には、TFT6のドレイン電
極l6の部分にレーザ光が照射され、該部分が切断され
る。TFT6と絵素電極5とを切り離すことにより、絵
素電極5は予備TFT7によって正常に駆動される。
第3図に本発明の他の実施例に用いられるアクティブマ
トIJクス基板の平面図を示す。本実施例ではTFT6
と予備TFT7との位置が、第IA図の実施例とは逆に
なっている。そして、接続部25はゲートバス配線3と
枝配線8との間に設けられている。第IA図の実施例と
同様に、ゲートバス配線3に直交してソースバス配線4
が形成され、ゲートバス配線3とソースバス配線4とに
囲まれた矩形の領域には、透明電極(IT○)から成る
絵素電極5が設けられている。絵素電極5の二つの隅部
付近にはそれぞれTFT6及び予備TFT7が配置され
、TFT6及び7と絵素電極5とは、それぞれドレイン
電極16及び16aによって電気的に接続されている。
TFT6及び7の構成は第IB図に示すものと同様であ
る。TFT6及び予@TFT7はゲートバス配113上
に並設され、TFT8はソースバス配線4と技配線8に
よって接続されている。予@TFT7のソース電極1 
5 aはソース電極延設端8aによって、接続部25に
導かれる。接続部25ではソース電極延設端8aは、非
導通状態で枝配線8に対置されている。従って、TFT
6及び7のうち、TFT6のみがソースバス配線4に電
気的に接続され、予@TFT7はソースバス配線4には
接続されない。
第3図のc’−c’線に沿った接続部25の断面図は、
第IC図と同様である。
本実施例の場合も第IA図の実施例と同様に、接続部2
5にレーザ光等を照射することによって、TFT6の不
良による絵素欠陥を修正することができる。
接続部25の構成は、第IC図の構成以外に第4図或い
は第5図に示す構成とすることもできる。
第4図に示す構成でほ、ベース絶縁膜11にスルーホー
ル27が設けられ、継手金属届24とソース電極延設端
8aとが予め電気的に接続されている。TFT6に不良
が発生した場合には、枝配線8と継手金属層24との重
畳部のみが光エネルギ一を用いて接続される。第5図に
示す構成では、継手金属層24は設けられず、ソース電
極延設端8aが枝配線8の直上にベース絶縁膜11を介
して配置されている。TFT6に不良が発生した場合に
は、光エネルギー照射によって、ソース電極延設端8a
と枝配線8とが直接溶融接続される。
第4図に於いて、スルーホール27を枝配線8側に設け
、枝配線8と継手金屑層24とを予め接続した構成とし
てもよい。この構成ではレーザ光バ射によって、ソース
電極延設端8aと継手金属層24との重畳部のみが接続
される。また、第5図に於て、技配線8がベース絶縁膜
11を介して、ソース電極延設端8a上に形成された構
成とすることもできる。また、何れの実施例に於いても
、ベースコート膜2は必ずしも設ける必要はなく、廃止
することもできる。
上記の各実施例では透過型の液晶表示装置を示したが、
本発明は反射型の表示装置にも同様に適用できる。また
、上記実施例ではTPTを用いたアクティブマトリクス
型液晶表示装置について説明したが、本発明はこれに限
定されるものではない。本発明はMIM素子、ダイオー
ド、バリスタ等の種々のスイッチング素子を用いた広範
囲の表示装置にも適用可能である。更に、表示媒体とし
て、薄膜発光層、分散型EL発光層、プラズマ発光体等
を用いた各種表示装置にも適用され得る。
(発明の効果) 本発明のアクティブマトリクス表示装置は、絵素欠陥の
発生位置を容易に特定できる表示装置の状態で、スイッ
チング素子の不良による絵素欠陥を修正できるので、検
査工程及び修正工程が容易となり、量産性が確保される
。従って、表示装置としてのコスト低減に寄与するもの
である。
4,゛  の,l な言H 第IA図は本発明の表示装置の一実施例に用いられるア
クティブマトリクス基坂の平面図、第lB図及び第IC
図は第IA図のアクティブマトリクス基板を用いた表示
装置を、それぞれ第IA図のB−B線及びC−C線に沿
った面で切断した断面図、第2図は絵素欠陥の修正に用
いられた接続部の断面図、第3図は本発明の他の実施例
に用いられるアクティブマトリクス基板の平面図、第4
図及び第5図は接続部の他の実施例を示す断面図である
1, 20・・・ガラス基板、3・・・ゲートバス配線
、4・・・ソースバス配線、5・・・絵素電極、6・・
・T F T,7・・・予備TPT,8・・・枝配線、
8aソース電極延設端、9・・・ゲート電極、11・・
・ベース絶縁膜、15,15a・・・ソース電極、 !
6,16a・・・ドレイン電極、 17・・・保護膜、
 18・・・液晶分子、 19,23・・・配向層、2
1・・・カラーフィルタ、22・・・対向電極、24・
・・継手金属層、25・・・接続部。
以  上

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  1、少なくとも一方が透光性を有する一対の基板と、
    該基板間に挿入され印加電圧に応答して光学的特性が変
    調される表示媒体と、該一対の基板の何れか一方の基板
    内面にマトリクス状に配された絵素電極と、該絵素電極
    にそれぞれ電気的に接続されたスイッチング素子及び予
    備スイッチング素子と、該スイッチング素子と該予備ス
    イッチング素子とに接続された走査線と、該スイッチン
    グ素子に接続された信号線と、を備え、 該予備スイッチング素子の信号入力端子の延設端と該信
    号線から分岐した枝配線とが、少なくとも絶縁膜を介し
    て非導通状態で近接対置する接続部が形成され、該接続
    部が保護膜によって被覆されているアクティブマトリク
    ス表示装置。
JP11669489A 1988-12-06 1989-05-10 アクティブマトリクス表示装置 Expired - Lifetime JPH0833557B2 (ja)

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