JPH02296301A - 電圧非直線抵抗素子の製造方法 - Google Patents
電圧非直線抵抗素子の製造方法Info
- Publication number
- JPH02296301A JPH02296301A JP1116803A JP11680389A JPH02296301A JP H02296301 A JPH02296301 A JP H02296301A JP 1116803 A JP1116803 A JP 1116803A JP 11680389 A JP11680389 A JP 11680389A JP H02296301 A JPH02296301 A JP H02296301A
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- Japan
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- sintered body
- varistor
- powder
- electrode
- voltage
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- Pending
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- Thermistors And Varistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は酸化亜鉛を主成分とする低電圧回路用電圧非
直線抵抗素子に係り、特に酸化亜鉛焼結体への金属電極
の形成に関する。
直線抵抗素子に係り、特に酸化亜鉛焼結体への金属電極
の形成に関する。
ZnOを主成分としこれに微量の添加物を加えて混合し
た後焼結して作られるセラミックスは、優れた電圧非直
線性を示すことが知られており、電気回路における異常
電圧(サージ)を制御するためのバリスタとして広く実
用に供されている。このようなバリスタは第3図に示す
工程に従って製造される。
た後焼結して作られるセラミックスは、優れた電圧非直
線性を示すことが知られており、電気回路における異常
電圧(サージ)を制御するためのバリスタとして広く実
用に供されている。このようなバリスタは第3図に示す
工程に従って製造される。
ZnDバリスタの電圧非直線性は、Zn[]結晶粒の粒
界に形成される二重ショットキー障壁に起因するもので
ある。実用的なバリスタにおいては、ZnO結晶粒が結
合して形成される粒界1層当たりのバリスタ電圧は結晶
粒径の大きさにかかわらずほぼ一定であり、その値は2
V程度である。(バリスタ電圧とは、バリスタに1mへ
の電流を流したときの端子間電圧で、通常VImAで表
される。)したがって、電圧非直線抵抗素子のバリスタ
電圧はZnD焼結体の対向する面上に設けられた電極間
に存在する粒界層の数によって決定される。
界に形成される二重ショットキー障壁に起因するもので
ある。実用的なバリスタにおいては、ZnO結晶粒が結
合して形成される粒界1層当たりのバリスタ電圧は結晶
粒径の大きさにかかわらずほぼ一定であり、その値は2
V程度である。(バリスタ電圧とは、バリスタに1mへ
の電流を流したときの端子間電圧で、通常VImAで表
される。)したがって、電圧非直線抵抗素子のバリスタ
電圧はZnD焼結体の対向する面上に設けられた電極間
に存在する粒界層の数によって決定される。
ところで、ZnOバリスクの電極には、銀、アルミニウ
ムが用いられるが、避雷器用のZn[]素子以外は銀ペ
ーストを焼付けてこれを電極とするのが一般的である。
ムが用いられるが、避雷器用のZn[]素子以外は銀ペ
ーストを焼付けてこれを電極とするのが一般的である。
この場合銀電極とZnO焼結体界面にショットキー障壁
が形成され1mへの電流をながしたときに電極/ZnO
焼結体界面のショットキー障壁により約3vの電圧が発
生する。したがって、この電極/ Z n O焼結体界
面障壁はバリスタ電圧が低くなるほど、無視できなくな
ってくる。
が形成され1mへの電流をながしたときに電極/ZnO
焼結体界面のショットキー障壁により約3vの電圧が発
生する。したがって、この電極/ Z n O焼結体界
面障壁はバリスタ電圧が低くなるほど、無視できなくな
ってくる。
例えばDC12V回路にZn(]バパリスを適用する場
合、回路電圧の変動などを考慮してバリスタ電圧は一般
に22Vのものが使用されるが、前述のように粒界1層
当たりのバリスタ電圧は約2Vであるからこの素子の対
向する電極間に11層の粒界が存在することになる。と
ころが」−述の電極/ZnD焼結体界面障壁のため、Z
t’+I]焼結体の粒界が有するバリスタ電圧と電極/
焼結体界面が有するバリスタ電圧の合計を22Vとしな
ければならない。このた約実際にはバリスタ電圧が低く
なるにつれて、焼結体の数から求められるバリスタ電圧
と実測したバリスタ電圧間の差が大きくなるので焼結体
の粒界の数を減らさなければならない。このために焼結
体厚さを減らずと(1)焼結体の機械的強度が低下する
(2)雷サージ、開閉サージなどのサージエネルギの吸
収能力(サージ耐量)は焼結体の体積に比例するのでサ
ージ耐量特性が低下するなどの問題があった。
合、回路電圧の変動などを考慮してバリスタ電圧は一般
に22Vのものが使用されるが、前述のように粒界1層
当たりのバリスタ電圧は約2Vであるからこの素子の対
向する電極間に11層の粒界が存在することになる。と
ころが」−述の電極/ZnD焼結体界面障壁のため、Z
t’+I]焼結体の粒界が有するバリスタ電圧と電極/
焼結体界面が有するバリスタ電圧の合計を22Vとしな
ければならない。このた約実際にはバリスタ電圧が低く
なるにつれて、焼結体の数から求められるバリスタ電圧
と実測したバリスタ電圧間の差が大きくなるので焼結体
の粒界の数を減らさなければならない。このために焼結
体厚さを減らずと(1)焼結体の機械的強度が低下する
(2)雷サージ、開閉サージなどのサージエネルギの吸
収能力(サージ耐量)は焼結体の体積に比例するのでサ
ージ耐量特性が低下するなどの問題があった。
また、電極/焼結体界面のショットキー障壁は、ZnO
焼結体自身の粒界に存在するンヨットキー障壁に比ベサ
ージ耐量が低いので、バリスタ電圧が低くなるほどサー
ジによるバリスタ電圧の変化量が大きくなるという欠点
があり、さらに電極/焼結体界面に形成されるンヨット
キー障壁は、組立て工程例えばハンダ付工程、樹脂モー
ルド工程で変動しやすくバリスタ電圧の工程管理が困芙
11になるという問題があった。
焼結体自身の粒界に存在するンヨットキー障壁に比ベサ
ージ耐量が低いので、バリスタ電圧が低くなるほどサー
ジによるバリスタ電圧の変化量が大きくなるという欠点
があり、さらに電極/焼結体界面に形成されるンヨット
キー障壁は、組立て工程例えばハンダ付工程、樹脂モー
ルド工程で変動しやすくバリスタ電圧の工程管理が困芙
11になるという問題があった。
この発明は上述の点に鑑みてなされたものでその目的は
焼結体と金属電極間のショットキー障壁をなくすことに
より、機械的強度、サージ耐量に優れ、工程管理も容易
な低電圧用電圧非直線抵抗素子を提供することにある。
焼結体と金属電極間のショットキー障壁をなくすことに
より、機械的強度、サージ耐量に優れ、工程管理も容易
な低電圧用電圧非直線抵抗素子を提供することにある。
上述の目的はこの発明によれば、酸化亜鉛の粉末と電圧
非直線性を生じさせる微量の添加物粉末とを混合し焼成
した焼結体の電極を設ける面を研削し、その後電極を形
成するものとする。
非直線性を生じさせる微量の添加物粉末とを混合し焼成
した焼結体の電極を設ける面を研削し、その後電極を形
成するものとする。
電極を設ける面を予め超音波研削またはプラスト加工す
ることにより核間の表面層に破壊による表面欠陥層が形
成され、このため低抵抗な領域ができる。
ることにより核間の表面層に破壊による表面欠陥層が形
成され、このため低抵抗な領域ができる。
上記低抵抗な層により、焼結体/電極界面に形成されろ
はずのショットキー障壁は消滅する。
はずのショットキー障壁は消滅する。
次に本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第2図にこの発明の実施例に係る抵抗素子の製造工程が
示される。まずZnO粉末にPr’、’Co −Bな
どを酸化物などの化合物の形で適量添加したあと混合、
造粒しZnOバリスク用造粒造粒粉製される。
示される。まずZnO粉末にPr’、’Co −Bな
どを酸化物などの化合物の形で適量添加したあと混合、
造粒しZnOバリスク用造粒造粒粉製される。
この造粒粉を直径17mmの金型を使用して厚さ1.2
5層mmの円板状に成形する。次いでこの成形体を酸化
性雰囲気中において1350℃の温度で4h焼成する。
5層mmの円板状に成形する。次いでこの成形体を酸化
性雰囲気中において1350℃の温度で4h焼成する。
得られた焼結体の大きさは直径14mm、厚さ10mm
であった。
であった。
上記のようにして作られた焼結体の対向する両主面を超
音波研削により片面で1〜2μm研削した。
音波研削により片面で1〜2μm研削した。
超音波研削した欠陥層の表面抵抗は1mAの電流を流し
た時に1にΩ以下であった。無処理のものよ20にΩ以
」二であった、。
た時に1にΩ以下であった。無処理のものよ20にΩ以
」二であった、。
上記処理をした焼結体に銀ペーストを塗布後焼付けてバ
リスタを構成した。第1図に模式断面図が示される。3
は焼結体であり、2ハ、2Bは研削により形成された欠
陥層であり、1Δ、IBは金属電極である。続いてバリ
スタ特性を測定した。
リスタを構成した。第1図に模式断面図が示される。3
は焼結体であり、2ハ、2Bは研削により形成された欠
陥層であり、1Δ、IBは金属電極である。続いてバリ
スタ特性を測定した。
さらに組立後のバリスタ特性も評価した。結果が第1表
に示される。
に示される。
/
第1表
第2表はサージを加えたときの組立て後におけるサージ
耐量(A)を示しである。ただしサージ耐量は8/20
μs標準電流パルスを素子に2分間隔で2回流した後の
VlmA の変化率が±10%となる電流で規定した。
耐量(A)を示しである。ただしサージ耐量は8/20
μs標準電流パルスを素子に2分間隔で2回流した後の
VlmA の変化率が±10%となる電流で規定した。
第2表
第1表にはvl。A + VlmA の変動係数、電流
100μΔ〜1mA領域における電圧非直線係数αを、
電極づけ後1組立後について従来法と比較して示した。
100μΔ〜1mA領域における電圧非直線係数αを、
電極づけ後1組立後について従来法と比較して示した。
さらに参考データとしてZnD焼結体とショットキー障
壁を形成しない1n−Ga電極を用いたときの特性も併
せて示した。この結果から本発明の方法によると電極づ
け後と組立て後の特性変動はなく、従来法に比べ優れて
いることがわかる。
壁を形成しない1n−Ga電極を用いたときの特性も併
せて示した。この結果から本発明の方法によると電極づ
け後と組立て後の特性変動はなく、従来法に比べ優れて
いることがわかる。
第2表から明らかなように、本発明方法の方が優れてい
ることがわかる。この理由は次のように考えられる。即
ち、焼結体そのもののサージ耐量は1200OAである
が、従来の素子では電極/焼結体界面に形成される障壁
がサージにより変化しゃすいた5 V 1m A が2
0V素子の場合、電極/焼結体界面障壁が2V変化する
と10%の変化となるからである。このようにバリスタ
電圧が低くなればなるほど従来方法で作製されたZnO
バリスタ素子のサージ耐量は見掛は上低くなるという欠
点が解消される。
ることがわかる。この理由は次のように考えられる。即
ち、焼結体そのもののサージ耐量は1200OAである
が、従来の素子では電極/焼結体界面に形成される障壁
がサージにより変化しゃすいた5 V 1m A が2
0V素子の場合、電極/焼結体界面障壁が2V変化する
と10%の変化となるからである。このようにバリスタ
電圧が低くなればなるほど従来方法で作製されたZnO
バリスタ素子のサージ耐量は見掛は上低くなるという欠
点が解消される。
なお、上述した実施例では超音波研削による低抵抗層の
形成方法について述べたが同様な効果はブラスト加工に
おいても確認された。また実施例では円板状焼結体につ
いて示したが本発明の効果は形状によらず、また対向す
る電極の場合のみならず二つの電極を同一平面上に設け
たときにも確かめられる。
形成方法について述べたが同様な効果はブラスト加工に
おいても確認された。また実施例では円板状焼結体につ
いて示したが本発明の効果は形状によらず、また対向す
る電極の場合のみならず二つの電極を同一平面上に設け
たときにも確かめられる。
この発明によれば酸化亜鉛の粉末と電圧非直線性を生じ
させる微量の添加物粉末とを混合し焼成した焼結体の電
極を設ける面を超音波研削またはブラスト加工すること
により、焼結体/電極間に低抵抗層を導入することがで
き、このため焼結体/電極間のショットキー障壁が消滅
して機械的強度とサージ耐量に優れかつ製造上の工程管
理の容易な電圧非直線抵抗素子が得られる。
させる微量の添加物粉末とを混合し焼成した焼結体の電
極を設ける面を超音波研削またはブラスト加工すること
により、焼結体/電極間に低抵抗層を導入することがで
き、このため焼結体/電極間のショットキー障壁が消滅
して機械的強度とサージ耐量に優れかつ製造上の工程管
理の容易な電圧非直線抵抗素子が得られる。
第1図はこの発明の実施例に係る電圧非直線抵抗素子を
示す模式断面図、第2図はこの発明の実施例に係る抵抗
素子の製造工程を示す流れ図、第3図は従来の米子の製
造工程を示す流れ図である。 1Δ、IB 金属電極、2A、2B 欠陥層、第 図 第 図
示す模式断面図、第2図はこの発明の実施例に係る抵抗
素子の製造工程を示す流れ図、第3図は従来の米子の製
造工程を示す流れ図である。 1Δ、IB 金属電極、2A、2B 欠陥層、第 図 第 図
Claims (1)
- 1)酸化亜鉛の粉末と電圧非直線性を生じさせる微量の
添加物粉末とを混合し焼成した焼結体の電極を設ける面
を研削し、その後電極を形成することを特徴とする電圧
非直線抵抗素子の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1116803A JPH02296301A (ja) | 1989-05-10 | 1989-05-10 | 電圧非直線抵抗素子の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1116803A JPH02296301A (ja) | 1989-05-10 | 1989-05-10 | 電圧非直線抵抗素子の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02296301A true JPH02296301A (ja) | 1990-12-06 |
Family
ID=14696052
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1116803A Pending JPH02296301A (ja) | 1989-05-10 | 1989-05-10 | 電圧非直線抵抗素子の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02296301A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1920445A4 (en) * | 2004-12-22 | 2011-03-02 | Abb Research Ltd | PROCESS FOR PRODUCING A VARISTOR |
-
1989
- 1989-05-10 JP JP1116803A patent/JPH02296301A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1920445A4 (en) * | 2004-12-22 | 2011-03-02 | Abb Research Ltd | PROCESS FOR PRODUCING A VARISTOR |
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