JPH023047A - アセトキシスチレンコポリマーを主剤とするフォトレジスト組成物 - Google Patents
アセトキシスチレンコポリマーを主剤とするフォトレジスト組成物Info
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、フォトレジスト被覆用の光反応性組成物の技
術分野に関するものである。
術分野に関するものである。
(従来の技術)
フォトレジスト被覆の物理的性質は、この被覆を露光す
ると変化する。この変化は、通常は溶解度の変化であり
、露光部と未露光部とを溶媒により識別するものである
。パターンを通して被覆を露光すると溶解度の変化、従
って、画像の境界が生じ、これを使用してレジスI・像
を形成することができる。このような溶媒現像によりネ
ガ作用方式およびポジ作用方式のいずれの像も形成でき
る。
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ガ作用方式およびポジ作用方式のいずれの像も形成でき
る。
ネガ作用方式は、露光によりポリマー分子の溶解度の低
下を誘起させるものである。ポジ作用方式はその正反対
、すなわち、露光によりポリマーの溶媒(現像剤)中で
の溶解度を増大させるものである。
下を誘起させるものである。ポジ作用方式はその正反対
、すなわち、露光によりポリマーの溶媒(現像剤)中で
の溶解度を増大させるものである。
フォトレジスト用ポリ°7−組成物は、実際の使用条件
下で多くの物理的性質に依存した要件を満たさなければ
ならない。すなわち、使用するポリマーは、環境上許容
される溶媒中で均質溶液を形成し、全作業段階において
平滑で密着性が良く疵のない被覆を形成し、溶液の貯蔵
安定性が良好であるという特徴を有し、指触乾燥被膜を
形成し、良好な像の識別(輪郭)を与え、高温での作業
中に流動もしくはクリープに耐え、流動しない熱的に安
定な像を形成し、必要な製作工程の終了後には除去ない
し酌1離することができるものでなければならない。
下で多くの物理的性質に依存した要件を満たさなければ
ならない。すなわち、使用するポリマーは、環境上許容
される溶媒中で均質溶液を形成し、全作業段階において
平滑で密着性が良く疵のない被覆を形成し、溶液の貯蔵
安定性が良好であるという特徴を有し、指触乾燥被膜を
形成し、良好な像の識別(輪郭)を与え、高温での作業
中に流動もしくはクリープに耐え、流動しない熱的に安
定な像を形成し、必要な製作工程の終了後には除去ない
し酌1離することができるものでなければならない。
ポリツエン類をビスアジドにより架橋した架橋生成物を
主剤とするネガ作用型フォトレジストは、The Jo
urnal or Photographical 5
cience+ Vol。
主剤とするネガ作用型フォトレジストは、The Jo
urnal or Photographical 5
cience+ Vol。
12、 p、 181 (1,964)に記載されてい
る。ポリ(cisイソプレン)及びビス(4−アジドヘ
ンザール)シクロヘキサノンを主剤とするフォトレジス
ト系が、The Journal or tl+e R
lectrochemical 5ociety、 V
ol、 124. p、 +394 (1977)に記
載のように、赤外および紫外分光分析、溶媒抽出および
薄層りロマトグラフィーを用いて研究された。
る。ポリ(cisイソプレン)及びビス(4−アジドヘ
ンザール)シクロヘキサノンを主剤とするフォトレジス
ト系が、The Journal or tl+e R
lectrochemical 5ociety、 V
ol、 124. p、 +394 (1977)に記
載のように、赤外および紫外分光分析、溶媒抽出および
薄層りロマトグラフィーを用いて研究された。
ポリ (ビニルフェノール)頚を主剤とするフオトレジ
ス)I酸物は、米国特許第3,869.292号および
同第4,439,516号に記載されている。この組成
物は、ポリ (ビニルフェノールンとO−ナフトキノン
ジアジドスルホン酸もしくはカルボン酸の芳香族エステ
ルもしくはアミドなどの増感剤とから製造される。
ス)I酸物は、米国特許第3,869.292号および
同第4,439,516号に記載されている。この組成
物は、ポリ (ビニルフェノールンとO−ナフトキノン
ジアジドスルホン酸もしくはカルボン酸の芳香族エステ
ルもしくはアミドなどの増感剤とから製造される。
米国特許第4.409.317号にはポジ作用型フォト
レジストが記載されている。この組成物は、ポリ(ビニ
ルフェノール)のようなアルカリ可溶性樹脂を含有する
。
レジストが記載されている。この組成物は、ポリ(ビニ
ルフェノール)のようなアルカリ可溶性樹脂を含有する
。
p−ビニルフェノールと桂皮酸塩化物との反応生成物で
あるポリマーから製造した感光性組成物が米国特許第3
,882,084号に記載されている。
あるポリマーから製造した感光性組成物が米国特許第3
,882,084号に記載されている。
米国特許第4,491,628号にはポジもしくはネガ
作用型フォトレジスト組成物が記載されている。
作用型フォトレジスト組成物が記載されている。
この組成物は、酸に不安定な基を含有するポリマ、例え
ばポリ (ビニルフェノール)類のter tブチルカ
ーボネートから製造される。
ばポリ (ビニルフェノール)類のter tブチルカ
ーボネートから製造される。
米国特許第4,469,778号には、光増悪剤がビス
アジド化合物である感光性組成物が記載されている。
アジド化合物である感光性組成物が記載されている。
(発明の構成)
本発明は、4−アセトキソスチレンコボリマーを主剤と
するネガ作用型フォトレジストI酸物に関する。
するネガ作用型フォトレジストI酸物に関する。
本発明のぶガ作用型フォトレジストu酸物は、(A)4
−アセトキシスチレンと、ムコン酸ジアルキル、ソルビ
ン酸アルキル、アルカジエンモノマ、およびエチレン性
不飽和酸のアリルエステルよりなる群から選ばれた他の
モノマーとのコポリマー、ならびに(B)増感剤の芳香
族アジド化合物とからなり、このコポリマーは、4−7
セトキンスチレン約10〜90重量%と旧記他のモノマ
ー約90〜10重量%とを含有するものである。
−アセトキシスチレンと、ムコン酸ジアルキル、ソルビ
ン酸アルキル、アルカジエンモノマ、およびエチレン性
不飽和酸のアリルエステルよりなる群から選ばれた他の
モノマーとのコポリマー、ならびに(B)増感剤の芳香
族アジド化合物とからなり、このコポリマーは、4−7
セトキンスチレン約10〜90重量%と旧記他のモノマ
ー約90〜10重量%とを含有するものである。
組成物に使用するアジド系増悪剤の種類を変更すること
により、本発明のネガ作用型フォトレジスト組成物は、
深紫外線から可視光線までの光に対して感光性とするこ
とができる。
により、本発明のネガ作用型フォトレジスト組成物は、
深紫外線から可視光線までの光に対して感光性とするこ
とができる。
本発明で使用するコポリマーの4−アセトキシスチレン
成分は、Corson et at、、 Journa
l of 0ranic Chea+1str 、 2
3.544−549 (1958)に記載の方法により
調製することができる。この論文に記載されているよう
に、フェノールをアセチル化して4−ヒドロキシアセト
フェノンとし、これを次いでアセチル化して4−アセト
キシアセトフェノンを得る。この化合物を次いで水素化
して4−アセトキンフェニルメチルカルビノールとし、
次いで脱水して4−アセトキシスチレンを得る。
成分は、Corson et at、、 Journa
l of 0ranic Chea+1str 、 2
3.544−549 (1958)に記載の方法により
調製することができる。この論文に記載されているよう
に、フェノールをアセチル化して4−ヒドロキシアセト
フェノンとし、これを次いでアセチル化して4−アセト
キシアセトフェノンを得る。この化合物を次いで水素化
して4−アセトキンフェニルメチルカルビノールとし、
次いで脱水して4−アセトキシスチレンを得る。
本発明で使用するコポリマーの製造に用いるムコン′酸
シアlレキルは、ムコン酸のジエステJし誘導体である
。ムコン酸はジオレフィン性不飽和アジピン酸誘導体で
あり、米国特許第4,480,034号および同第4,
534,059号に記載のように、各種炭化水素基質の
微生物酸化により製造することができる0本発明で使用
するムコン酸ジアルキルは、各アルキル基の炭素数が1
〜4のものであり、ムコン酸とメタノール、エタノール
、プロパツール類もしくはブタノール類との直接エステ
ル化により得ることができる。本発明で使用するのに好
ましいムコン酸ジアルキルは、ムコン酸ジメチルおよび
ムコン酸ジエチルである。
シアlレキルは、ムコン酸のジエステJし誘導体である
。ムコン酸はジオレフィン性不飽和アジピン酸誘導体で
あり、米国特許第4,480,034号および同第4,
534,059号に記載のように、各種炭化水素基質の
微生物酸化により製造することができる0本発明で使用
するムコン酸ジアルキルは、各アルキル基の炭素数が1
〜4のものであり、ムコン酸とメタノール、エタノール
、プロパツール類もしくはブタノール類との直接エステ
ル化により得ることができる。本発明で使用するのに好
ましいムコン酸ジアルキルは、ムコン酸ジメチルおよび
ムコン酸ジエチルである。
本発明で使用するコポリマーの製造に用いられるソルビ
ン酸アルキルは、ソルビン酸のエステル誘導体である。
ン酸アルキルは、ソルビン酸のエステル誘導体である。
ソルビン酸、すなわちヘキサンエン酸は、クロトンアル
デヒドとケテンとから得られるβ−ラクトンの開環によ
り製造することのできるジオレフィン性不飽和カルボン
酸である。本発明で使用するソルビン酸アルキルは、ア
ルキル基の炭素数が1〜4のものであり、ソルビン酸を
メタノール、エタノール、プロパツール類もしくはブタ
ノール類と直接エステル化づることにより得られる。本
発明で使用するのに好ましいソルビン酸アルキルは、ソ
ルビン酸メチルおよびソルビン酸エチルである。
デヒドとケテンとから得られるβ−ラクトンの開環によ
り製造することのできるジオレフィン性不飽和カルボン
酸である。本発明で使用するソルビン酸アルキルは、ア
ルキル基の炭素数が1〜4のものであり、ソルビン酸を
メタノール、エタノール、プロパツール類もしくはブタ
ノール類と直接エステル化づることにより得られる。本
発明で使用するのに好ましいソルビン酸アルキルは、ソ
ルビン酸メチルおよびソルビン酸エチルである。
本発明で用いるアルカジエンモノマーは、2個の共役エ
チレン性不胞和基を含有する炭化水素モノマーであって
、1.2−もしくは1,4−付加により重合し、重合後
に不飽和基1個が未重合で残る。
チレン性不胞和基を含有する炭化水素モノマーであって
、1.2−もしくは1,4−付加により重合し、重合後
に不飽和基1個が未重合で残る。
このようなモノマーの例は、1.3−ブタジェン、1.
3−ペンタジェン、1,3−ヘキサジエン、2.4−ヘ
キサジエン、イソプレンおよびクロロプレンである。
3−ペンタジェン、1,3−ヘキサジエン、2.4−ヘ
キサジエン、イソプレンおよびクロロプレンである。
本発明で用いるアリルエステルモノマーは、重合性エチ
レン性不飽和基少なくとも1個を含有するモノおよびジ
カルボン酸のそれぞれモノおよびジアリルエステルであ
る。このようなエステルの例としては、アクリル酸アリ
ル、メタクリル酸アリル、エタクリル酸アリル、マレイ
ン酸ジアリル、マレイン酸アルキル・アリル、フマル酸
ジアリル、フマル酸アルキル・アリル、イタコン酸ジア
リル、イタコン酸アルキル・アリル、ソルビン酸アリル
、ムコン酸ジアリル、およびムコン酸アルキル・アリル
が挙げられる。
レン性不飽和基少なくとも1個を含有するモノおよびジ
カルボン酸のそれぞれモノおよびジアリルエステルであ
る。このようなエステルの例としては、アクリル酸アリ
ル、メタクリル酸アリル、エタクリル酸アリル、マレイ
ン酸ジアリル、マレイン酸アルキル・アリル、フマル酸
ジアリル、フマル酸アルキル・アリル、イタコン酸ジア
リル、イタコン酸アルキル・アリル、ソルビン酸アリル
、ムコン酸ジアリル、およびムコン酸アルキル・アリル
が挙げられる。
アルカノエンモノマー、ソルビン酸エステルモノマーま
たはムコン酸エステルモノマーとのコポリマーを製造す
る場合、重合は1.2もしくは1.4位置で起こり、光
により重合可能な不飽和基が残る。アリルエステルモノ
マーは、このモノマーの酸部分に存在するエチレン性不
飽和結合により重合し、アリル基部分の不飽和結合はそ
のまま残る。
たはムコン酸エステルモノマーとのコポリマーを製造す
る場合、重合は1.2もしくは1.4位置で起こり、光
により重合可能な不飽和基が残る。アリルエステルモノ
マーは、このモノマーの酸部分に存在するエチレン性不
飽和結合により重合し、アリル基部分の不飽和結合はそ
のまま残る。
このようなジエンモノマーもしくはアリルモノマーから
得られたポリマーは、光により架橋させることができる
。
得られたポリマーは、光により架橋させることができる
。
本発明で反応に用いるコポリマーは、4−アセトキシス
チレンと他のモノマーとを、溶液、乳化もしくは懸濁状
態で周知の重合法により遊m基重合させることにより製
造される。このコポリマーは、約10〜9帽1%の4−
アセトキシスチレンと約90〜10重量%の他のモノマ
ーとを含有する。好ましいコポリマーは約40〜80重
量%の4−アセトキシスチレンと約60〜20重量%の
他のモノマーとを含有する。
チレンと他のモノマーとを、溶液、乳化もしくは懸濁状
態で周知の重合法により遊m基重合させることにより製
造される。このコポリマーは、約10〜9帽1%の4−
アセトキシスチレンと約90〜10重量%の他のモノマ
ーとを含有する。好ましいコポリマーは約40〜80重
量%の4−アセトキシスチレンと約60〜20重量%の
他のモノマーとを含有する。
本発明で用いる増感剤は、芳香族アジドおよびビスアジ
ド化合物である。この増感剤は、アセトキシスチレンコ
ポリマーとの適合性、組成物に用いる溶媒中での溶解度
、および紫外線(υV)に対する感度、すなわち、紫外
線波長領域(これは近紫外域から中葉外域、さらには深
紫外域に及ぶ)に基づいて選択される。近紫外線とは、
約310〜465 nmの範囲内の波長領域の紫外線を
意味し、中葉外線とは約280〜310 nmの範囲内
の波長領域の紫外線を意味し、深紫外線とは約230〜
2B0 nmの範囲内の波長領域の紫外線を意味する。
ド化合物である。この増感剤は、アセトキシスチレンコ
ポリマーとの適合性、組成物に用いる溶媒中での溶解度
、および紫外線(υV)に対する感度、すなわち、紫外
線波長領域(これは近紫外域から中葉外域、さらには深
紫外域に及ぶ)に基づいて選択される。近紫外線とは、
約310〜465 nmの範囲内の波長領域の紫外線を
意味し、中葉外線とは約280〜310 nmの範囲内
の波長領域の紫外線を意味し、深紫外線とは約230〜
2B0 nmの範囲内の波長領域の紫外線を意味する。
このような増悪剤は、米国特許筒3,669.669号
、同第3,917.794号、同第4,329,419
号および同第4.469,778号に記載されている。
、同第3,917.794号、同第4,329,419
号および同第4.469,778号に記載されている。
また、’A、 S、 DeForest著[フォトレジ
スト材料および方法(Pho tores is tM
aterials and Processes)J
McGraw−Hill (1975)、第2章、38
〜40頁、およびT、 Iwayanagi et a
l。
スト材料および方法(Pho tores is tM
aterials and Processes)J
McGraw−Hill (1975)、第2章、38
〜40頁、およびT、 Iwayanagi et a
l。
J、 Electrochem、 Soc、、 127
.2759 (1980) も参照できる。
.2759 (1980) も参照できる。
本発明で用いることのできるアジド系増悪剤の例は、2
.6−ビス(4−アジジル−ベンジリデン)シクロヘキ
サノン、2.6−ビス(4−アジジル−ベンジリデン)
−4−メチルシクロヘキサノン、4゜4°−ジアジドジ
フェニルエーテル、4,4゛−ジアジドジフェニルスル
フィド、4.4′−ジアジドジフェニルスルホン、3,
3”−ジアジドジフェニルスルホン、44゛−ジアジド
ジフェニルメタン、3,3゛−ジクロロ−44°−ジア
ジドジフェニルメタン、4.4゜ジアジドジフェニルジ
スルフィド、4.4”−ジアジトビヘンジルおよび4.
4″−ジアジドスチルヘン2.2゛−ジナトリウムスル
ホネートである。
.6−ビス(4−アジジル−ベンジリデン)シクロヘキ
サノン、2.6−ビス(4−アジジル−ベンジリデン)
−4−メチルシクロヘキサノン、4゜4°−ジアジドジ
フェニルエーテル、4,4゛−ジアジドジフェニルスル
フィド、4.4′−ジアジドジフェニルスルホン、3,
3”−ジアジドジフェニルスルホン、44゛−ジアジド
ジフェニルメタン、3,3゛−ジクロロ−44°−ジア
ジドジフェニルメタン、4.4゜ジアジドジフェニルジ
スルフィド、4.4”−ジアジトビヘンジルおよび4.
4″−ジアジドスチルヘン2.2゛−ジナトリウムスル
ホネートである。
この芳香族アジド系増悪剤は、4−アセトキシスチレン
コポリマーに対して、増感剤とコポリマーとの合計量に
基づいて約1〜5重量%の量で使用する。好ましい範囲
は約2〜3重量%である。
コポリマーに対して、増感剤とコポリマーとの合計量に
基づいて約1〜5重量%の量で使用する。好ましい範囲
は約2〜3重量%である。
本発明の組成物をフォトレジスト材料として使用する場
合、4−アセトキシスチレンコポリマーと増悪剤とを溶
媒に溶解し、適当な基体上にスピンコーティングし、加
熱して溶媒を除去する。得られた被膜を次いで画像形成
の準備をして露光しく例、フォトマスクを通して紫外線
に露光)、再度加熱する。光が当たった部分の被膜は架
橋する。
合、4−アセトキシスチレンコポリマーと増悪剤とを溶
媒に溶解し、適当な基体上にスピンコーティングし、加
熱して溶媒を除去する。得られた被膜を次いで画像形成
の準備をして露光しく例、フォトマスクを通して紫外線
に露光)、再度加熱する。光が当たった部分の被膜は架
橋する。
この被膜を適当な溶媒中に浸漬すると、被膜の未露光部
が溶解し、基体上にはネガ像が残る。
が溶解し、基体上にはネガ像が残る。
本発明のフォトレジスト組成物の製造においては、4−
アセトキシスチレンコポリマーと増悪剤とを溶解し、か
つ光反応性ではない任意の溶媒を使用することができる
。このような溶媒の例は、芳香族炭化水素(例、トルエ
ンおよびキシレン)、エステル類(例、酢酸エチル、酢
酸ブチルおよび酢酸アミル)、ケトンw4(例、アセト
ン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルゲトン)、
アルコール類(例、2−エトキシエタノール、2−メト
キシエタノール、2−メトキシプロパツールl)などで
ある。2種以−ヒのこのような溶媒の混合物も使用でき
る。
アセトキシスチレンコポリマーと増悪剤とを溶解し、か
つ光反応性ではない任意の溶媒を使用することができる
。このような溶媒の例は、芳香族炭化水素(例、トルエ
ンおよびキシレン)、エステル類(例、酢酸エチル、酢
酸ブチルおよび酢酸アミル)、ケトンw4(例、アセト
ン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルゲトン)、
アルコール類(例、2−エトキシエタノール、2−メト
キシエタノール、2−メトキシプロパツールl)などで
ある。2種以−ヒのこのような溶媒の混合物も使用でき
る。
−aに、本発明で用いるコポリマーおよび増悪剤は、溶
媒中に約5〜50重量%の範囲内、好ましくは約25重
量%以下の濃度で溶解させろ。こうして得られた溶液を
、孔径が1−以下のフィルターにより濾過する。次いで
、この溶液4ガラス、石英もしくはシリコンウェハー上
に約0.5〜3pの膜厚になるようにスピンコーティン
グする。得られた被膜を次いで約50〜100℃の温度
に溶媒を除去するのに十分な時間(−最に約10分〜1
時間)加熱する。この被覆したウェハーの上にフォトマ
スクを乗せ、ウェハーを紫外線により露光する。
媒中に約5〜50重量%の範囲内、好ましくは約25重
量%以下の濃度で溶解させろ。こうして得られた溶液を
、孔径が1−以下のフィルターにより濾過する。次いで
、この溶液4ガラス、石英もしくはシリコンウェハー上
に約0.5〜3pの膜厚になるようにスピンコーティン
グする。得られた被膜を次いで約50〜100℃の温度
に溶媒を除去するのに十分な時間(−最に約10分〜1
時間)加熱する。この被覆したウェハーの上にフォトマ
スクを乗せ、ウェハーを紫外線により露光する。
被覆したウェハーを次いで再び加熱してから、適当な溶
媒中で現像する。好ましい溶媒は、コポリマーと増感剤
との溶液の形成用の溶媒として上に列記した溶媒である
。未露光部の被膜を溶解するが、露光して架橋した被膜
を溶解しないものであれば、他の溶媒を使用することも
できる。得られたネガ像は、半導体チップ、プリント回
路基板、マイクロ電子部品、その他の電子写真用途(例
、写真平版およびグラフインクアート)、印刷版、およ
びダイスなどの製造において微細ラインフォ[レジスト
として使用することができる。
媒中で現像する。好ましい溶媒は、コポリマーと増感剤
との溶液の形成用の溶媒として上に列記した溶媒である
。未露光部の被膜を溶解するが、露光して架橋した被膜
を溶解しないものであれば、他の溶媒を使用することも
できる。得られたネガ像は、半導体チップ、プリント回
路基板、マイクロ電子部品、その他の電子写真用途(例
、写真平版およびグラフインクアート)、印刷版、およ
びダイスなどの製造において微細ラインフォ[レジスト
として使用することができる。
以下の実施例は、本発明をより詳細に説明するものであ
る。部および%は、特に指定がない限り重量部および重
量%である。
る。部および%は、特に指定がない限り重量部および重
量%である。
尖茄孕↓
モル重量化で5:3の4−アセトキシスチレンとムコン
酸ジメチルとのコポリマー1部と、2.6ビス(4−ア
ジジル−ベンジリデン)−4−メチルシクロへキサノン
0.3部とを、0−キシレン5容量部および酢酸ブチル
5容量部との混合溶媒中に溶解する。得られた溶液を、
孔径1pのミリポア・フィルターにより濾過し、2部2
インチ(5X5ai)のガラス板上に150Orpmで
60秒間スピンコーティングする。被覆したガラス板を
強制通風式乾燥器により80℃で30分間加熱する。被
膜に次いでクロームフォトマスクドを乗せ、紫外線(3
7mW/c+J)に2秒間露光し、キシレン中に浸漬し
て未露光部の被膜を溶解させる。微細な線のネガ像が形
成される。
酸ジメチルとのコポリマー1部と、2.6ビス(4−ア
ジジル−ベンジリデン)−4−メチルシクロへキサノン
0.3部とを、0−キシレン5容量部および酢酸ブチル
5容量部との混合溶媒中に溶解する。得られた溶液を、
孔径1pのミリポア・フィルターにより濾過し、2部2
インチ(5X5ai)のガラス板上に150Orpmで
60秒間スピンコーティングする。被覆したガラス板を
強制通風式乾燥器により80℃で30分間加熱する。被
膜に次いでクロームフォトマスクドを乗せ、紫外線(3
7mW/c+J)に2秒間露光し、キシレン中に浸漬し
て未露光部の被膜を溶解させる。微細な線のネガ像が形
成される。
実施±1
実施例1に記載したのと同様の方法を用いて、4−アセ
トキシスチレン(ASM)をムコン酸ジメチル(MMu
) 、ムコン酸ジエチル(t!Mu)またはソルビン酸
メチル(MSb) と共重合させたコポリマーに、26
−ビス(4−アジジル−ベンジリデン)−4メチルシク
ロヘキサノンくビスアジドと略記)を併用して、ガラス
板上にフォトレジストの被膜を形成する。フォトマスク
を乗せ、紫外線により露光すると、実施例1に記載のも
のに匹敵しうるネガ像が得られる。使用したコポリマー
と各成分の使用量を次の表にまとめて示す。
トキシスチレン(ASM)をムコン酸ジメチル(MMu
) 、ムコン酸ジエチル(t!Mu)またはソルビン酸
メチル(MSb) と共重合させたコポリマーに、26
−ビス(4−アジジル−ベンジリデン)−4メチルシク
ロヘキサノンくビスアジドと略記)を併用して、ガラス
板上にフォトレジストの被膜を形成する。フォトマスク
を乗せ、紫外線により露光すると、実施例1に記載のも
のに匹敵しうるネガ像が得られる。使用したコポリマー
と各成分の使用量を次の表にまとめて示す。
表
2A ASM:EMu 5:1
1 0.032B ASM:MMu
5:1 1 0.032CA
SM:EMu ]0:1 1
0.0320 AS旧MSb 5:I
1 0.03犬嵐雌ユ 実施例1に記載したのと同様の方法により、4アセトキ
シスチレンとマレイン酸ジアリルとの8:2の重量比の
コポリマーと3重量%の2.6−ビス(4−アジジル−
ベンジリデン)シクロヘキサノンとを2−メトキシプロ
パノ−ルー1に溶解した溶液を用いてガラス板上にフォ
トレジストの被覆を形成する。フォトマスクを乗せ、紫
外線により露光すると、実施例1に記載のものに匹敵し
うるネガ像が得られる。
1 0.032B ASM:MMu
5:1 1 0.032CA
SM:EMu ]0:1 1
0.0320 AS旧MSb 5:I
1 0.03犬嵐雌ユ 実施例1に記載したのと同様の方法により、4アセトキ
シスチレンとマレイン酸ジアリルとの8:2の重量比の
コポリマーと3重量%の2.6−ビス(4−アジジル−
ベンジリデン)シクロヘキサノンとを2−メトキシプロ
パノ−ルー1に溶解した溶液を用いてガラス板上にフォ
トレジストの被覆を形成する。フォトマスクを乗せ、紫
外線により露光すると、実施例1に記載のものに匹敵し
うるネガ像が得られる。
実施■↓
実施例1に記載したのと同様の方法を用いて、4−アセ
トキシスチレンと25−ジメチル−2,4へキサジエン
との1:1の重量比のコポリマーと3重量%の2.6−
ビス(4−アジジル−ベンジリデン)シクロヘキサノン
とを2−メトキシプロパノ−ルー1に熔解した溶液から
ガラス板上にフォトレジストの被覆を形成する。フォト
マスクを乗せ、紫外線により露光すると、実施例1に記
載のものに匹敵しうるネガ像が得られる。
トキシスチレンと25−ジメチル−2,4へキサジエン
との1:1の重量比のコポリマーと3重量%の2.6−
ビス(4−アジジル−ベンジリデン)シクロヘキサノン
とを2−メトキシプロパノ−ルー1に熔解した溶液から
ガラス板上にフォトレジストの被覆を形成する。フォト
マスクを乗せ、紫外線により露光すると、実施例1に記
載のものに匹敵しうるネガ像が得られる。
以上に、本発明の原理、好適態様、作用および操作につ
いて説明したが、本発明はこれらの開示内容に制限され
るものではない。これらの開示は制限を意図したもので
はなく、単に例示を目的としたものであり、当業者であ
れば本発明の範囲内で各種の変更をなしうろことは理解
されよう。
いて説明したが、本発明はこれらの開示内容に制限され
るものではない。これらの開示は制限を意図したもので
はなく、単に例示を目的としたものであり、当業者であ
れば本発明の範囲内で各種の変更をなしうろことは理解
されよう。
Claims (25)
- (1)(A)4−アセトキシスチレンと、ムコン酸ジア
ルキル、ソルビン酸アルキル、アルカジエンモノマー、
およびエチレン性不飽和酸のアリルエステル(ただし、
以上のアルキル基は炭素数1〜4のものである)よりな
る群から選ばれた他のモノマーとのコポリマー、ならび
に (B)芳香族アジド化合物を含有する、ネガ型フォトレ
ジスト組成物。 - (2)前記コポリマーが4−アセトキシスチレン約10
〜90重量%と他のモノマー約90〜10重量%とを含
有するものである、請求項1記載の組成物。 - (3)前記コポリマーが4−アセトキシスチレン約40
〜80重量%と他のモノマー約20〜60重量%とを含
有するものである、請求項2記載の組成物。 - (4)前記ムコン酸ジアルキルがムコン酸ジメチルであ
る、請求項1記載の組成物。 - (5)前記ムコン酸ジアルキルがムコン酸ジエチルであ
る、請求項1記載の組成物。 - (6)前記ソルビン酸アルキルがソルビン酸メチルであ
る、請求項1記載の組成物。 - (7)前記ソルビン酸アルキルがソルビン酸エチルであ
る、請求項1記載の組成物。 - (8)前記アルカジエンモノマーが、2,5−ジメチル
−2,4−ヘキサジエンである、請求項1記載の組成物 - (9)前記他のモノマーがマレイン酸ジアリルである、
請求項1記載の組成物。 - (10)前記アジド化合物が2,6−ビス(4−アジジ
ルベンジリデン)−4−メチルシクロヘキサノンである
、請求項1記載の組成物。 - (11)前記ビスアジド化合物を、コポリマーとビスア
ジド化合物との合計重量に基づいて約1〜5重量%の量
で含有する、請求項10記載の組成物。 - (12)前記ビスアジド化合物の含有量が約2〜3重量
%である、請求項11記載の組成物。 - (13)(A)4−アセトキシスチレンと、ムコン酸ジ
アルキル、ソルビン酸アルキル、アルカジエンモノマー
、およびエチレン性不飽和酸のアリルエステル(ただし
、以上のアルキル基は炭素数1〜4のものである)より
なる群から選ばれた他のモノマーとのコポリマー、なら
びに (B)芳香族アジド化合物を含有する溶液からなるネガ
作用型フォトレジスト組成物の皮膜を基体表面上に形成
し、この皮膜を加熱して溶媒を除去し、皮膜の一部を紫
外線により露光してコポリマーの溶解度を低下させ、前
記皮膜の未露光部を溶媒により除去することからなる、
基体表面に像を形成する方法。 - (14)前記紫外線が、近、中もしくは深紫外線である
、請求項13記載の方法。 - (15)前記コポリマーが4−アセトキシスチレン約1
0〜90重量%と他のモノマー約90〜10重量%とを
含有するものである、請求項13記載の方法。 - (16)前記コポリマーが4−アセトキシスチレン約4
0〜80重量%と他のモノマー約20〜60重量%とを
含有するものである、請求項13記載の方法。 - (17)前記ムコン酸ジアルキルがムコン酸ジメチルで
ある、請求項13記載の方法。 - (18)前記ムコン酸ジアルキルがムコン酸ジエチルで
ある、請求項13記載の方法。 - (19)前記ソルビン酸アルキルがソルビン酸メチルで
ある、請求項13記載の方法。 - (20)前記ソルビン酸アルキルがソルビン酸エチルで
ある、請求項13記載の方法。 - (21)前記アルカジエンモノマーが、2,5−ジメチ
ル−2,4−ヘキサジエンである、請求項13記載の方
法。 - (22)前記アリルエステルがマレイン酸ジアリルであ
る、請求項13記載の方法。 - (23)前記アジド化合物が2,6−ビス(4−アジジ
ルベンジリデン)−4−メチルシクロヘキサノンである
、請求項13記載の方法。 - (24)前記ビスアジド化合物を、コポリマーとビスア
ジド化合物との合計重量に基づいて約1〜5重量%の量
で含有する組成物を使用する、請求項23記載の方法。 - (25)前記ビスアジド化合物の含有量が約2〜3重量
%である、請求項24記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/148,265 US4824758A (en) | 1988-01-25 | 1988-01-25 | Photoresist compositions based on acetoxystyrene copolymers |
| US148,265 | 1988-01-25 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH023047A true JPH023047A (ja) | 1990-01-08 |
Family
ID=22525022
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1014935A Pending JPH023047A (ja) | 1988-01-25 | 1989-01-24 | アセトキシスチレンコポリマーを主剤とするフォトレジスト組成物 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4824758A (ja) |
| EP (1) | EP0326314A3 (ja) |
| JP (1) | JPH023047A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6095011A (ja) * | 1983-06-19 | 1985-05-28 | 佐藤 二郎 | 粘性溶液による路面のほこり防止法 |
| JP2009215352A (ja) * | 2008-03-07 | 2009-09-24 | Fujifilm Corp | 膜形成用組成物、絶縁膜、及び、電子デバイス |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4929537A (en) * | 1988-01-25 | 1990-05-29 | Hoechst Celanese Corp. | Photoresist compositions based on hydroxystyrene copolymers |
| US5266635A (en) * | 1993-02-26 | 1993-11-30 | Shell Oil Company | Impact resistant polycarbonates containing elastomers having phenolic groups |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3475176A (en) * | 1966-09-06 | 1969-10-28 | Eastman Kodak Co | Azide sensitized photosensitive prepolymer compositions |
| DE1956282A1 (de) * | 1969-11-08 | 1971-05-13 | Agfa Gevaert Ag | Lichtvernetzbare Schichten |
| US3882084A (en) * | 1970-06-16 | 1975-05-06 | Agency Ind Science Techn | Optically cross-linkable polymer |
| GB1375461A (ja) * | 1972-05-05 | 1974-11-27 | ||
| CA1127340A (en) * | 1977-12-30 | 1982-07-06 | Kohtaro Nagasawa | Photocurable light-sensitive composition and material |
| DE2948324C2 (de) * | 1978-12-01 | 1993-01-14 | Hitachi, Ltd., Tokio/Tokyo | Lichtempfindliches Gemisch, enthaltend eine Bisazidverbindung, und Verfahren zur Bildung von Mustern |
| JPS5852638A (ja) * | 1981-09-24 | 1983-03-28 | Hitachi Ltd | 放射線感応性組成物 |
| US4439516A (en) * | 1982-03-15 | 1984-03-27 | Shipley Company Inc. | High temperature positive diazo photoresist processing using polyvinyl phenol |
| US4491628A (en) * | 1982-08-23 | 1985-01-01 | International Business Machines Corporation | Positive- and negative-working resist compositions with acid generating photoinitiator and polymer with acid labile groups pendant from polymer backbone |
| US4775730A (en) * | 1987-03-23 | 1988-10-04 | Hoechst Celanese Corporation | Copolymers of p-acetoxystyrene with any of certain polyunsaturated compounds |
-
1988
- 1988-01-25 US US07/148,265 patent/US4824758A/en not_active Expired - Fee Related
-
1989
- 1989-01-24 EP EP19890300623 patent/EP0326314A3/en not_active Withdrawn
- 1989-01-24 JP JP1014935A patent/JPH023047A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6095011A (ja) * | 1983-06-19 | 1985-05-28 | 佐藤 二郎 | 粘性溶液による路面のほこり防止法 |
| JP2009215352A (ja) * | 2008-03-07 | 2009-09-24 | Fujifilm Corp | 膜形成用組成物、絶縁膜、及び、電子デバイス |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0326314A2 (en) | 1989-08-02 |
| EP0326314A3 (en) | 1990-10-10 |
| US4824758A (en) | 1989-04-25 |
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