JPH023047A - アセトキシスチレンコポリマーを主剤とするフォトレジスト組成物 - Google Patents

アセトキシスチレンコポリマーを主剤とするフォトレジスト組成物

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JPH023047A
JPH023047A JP1014935A JP1493589A JPH023047A JP H023047 A JPH023047 A JP H023047A JP 1014935 A JP1014935 A JP 1014935A JP 1493589 A JP1493589 A JP 1493589A JP H023047 A JPH023047 A JP H023047A
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JP
Japan
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weight
copolymer
muconate
sorbate
acetoxystyrene
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Pending
Application number
JP1014935A
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English (en)
Inventor
Balaram Gupta
バララム・グプタ
Palaiyur Kalyanaraman
パライユール・カリアナラマン
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CNA Holdings LLC
Original Assignee
Hoechst Celanese Corp
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Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/008Azides
    • G03F7/012Macromolecular azides; Macromolecular additives, e.g. binders
    • G03F7/0125Macromolecular azides; Macromolecular additives, e.g. binders characterised by the polymeric binder or the macromolecular additives other than the macromolecular azides

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  • Materials For Photolithography (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、フォトレジスト被覆用の光反応性組成物の技
術分野に関するものである。
(従来の技術) フォトレジスト被覆の物理的性質は、この被覆を露光す
ると変化する。この変化は、通常は溶解度の変化であり
、露光部と未露光部とを溶媒により識別するものである
。パターンを通して被覆を露光すると溶解度の変化、従
って、画像の境界が生じ、これを使用してレジスI・像
を形成することができる。このような溶媒現像によりネ
ガ作用方式およびポジ作用方式のいずれの像も形成でき
る。
ネガ作用方式は、露光によりポリマー分子の溶解度の低
下を誘起させるものである。ポジ作用方式はその正反対
、すなわち、露光によりポリマーの溶媒(現像剤)中で
の溶解度を増大させるものである。
フォトレジスト用ポリ°7−組成物は、実際の使用条件
下で多くの物理的性質に依存した要件を満たさなければ
ならない。すなわち、使用するポリマーは、環境上許容
される溶媒中で均質溶液を形成し、全作業段階において
平滑で密着性が良く疵のない被覆を形成し、溶液の貯蔵
安定性が良好であるという特徴を有し、指触乾燥被膜を
形成し、良好な像の識別(輪郭)を与え、高温での作業
中に流動もしくはクリープに耐え、流動しない熱的に安
定な像を形成し、必要な製作工程の終了後には除去ない
し酌1離することができるものでなければならない。
ポリツエン類をビスアジドにより架橋した架橋生成物を
主剤とするネガ作用型フォトレジストは、The Jo
urnal or Photographical 5
cience+ Vol。
12、 p、 181 (1,964)に記載されてい
る。ポリ(cisイソプレン)及びビス(4−アジドヘ
ンザール)シクロヘキサノンを主剤とするフォトレジス
ト系が、The Journal or tl+e R
lectrochemical 5ociety、 V
ol、 124. p、 +394 (1977)に記
載のように、赤外および紫外分光分析、溶媒抽出および
薄層りロマトグラフィーを用いて研究された。
ポリ (ビニルフェノール)頚を主剤とするフオトレジ
ス)I酸物は、米国特許第3,869.292号および
同第4,439,516号に記載されている。この組成
物は、ポリ (ビニルフェノールンとO−ナフトキノン
ジアジドスルホン酸もしくはカルボン酸の芳香族エステ
ルもしくはアミドなどの増感剤とから製造される。
米国特許第4.409.317号にはポジ作用型フォト
レジストが記載されている。この組成物は、ポリ(ビニ
ルフェノール)のようなアルカリ可溶性樹脂を含有する
p−ビニルフェノールと桂皮酸塩化物との反応生成物で
あるポリマーから製造した感光性組成物が米国特許第3
,882,084号に記載されている。
米国特許第4,491,628号にはポジもしくはネガ
作用型フォトレジスト組成物が記載されている。
この組成物は、酸に不安定な基を含有するポリマ、例え
ばポリ (ビニルフェノール)類のter tブチルカ
ーボネートから製造される。
米国特許第4,469,778号には、光増悪剤がビス
アジド化合物である感光性組成物が記載されている。
(発明の構成) 本発明は、4−アセトキソスチレンコボリマーを主剤と
するネガ作用型フォトレジストI酸物に関する。
本発明のぶガ作用型フォトレジストu酸物は、(A)4
−アセトキシスチレンと、ムコン酸ジアルキル、ソルビ
ン酸アルキル、アルカジエンモノマ、およびエチレン性
不飽和酸のアリルエステルよりなる群から選ばれた他の
モノマーとのコポリマー、ならびに(B)増感剤の芳香
族アジド化合物とからなり、このコポリマーは、4−7
セトキンスチレン約10〜90重量%と旧記他のモノマ
ー約90〜10重量%とを含有するものである。
組成物に使用するアジド系増悪剤の種類を変更すること
により、本発明のネガ作用型フォトレジスト組成物は、
深紫外線から可視光線までの光に対して感光性とするこ
とができる。
本発明で使用するコポリマーの4−アセトキシスチレン
成分は、Corson et at、、 Journa
l of 0ranic Chea+1str 、 2
3.544−549 (1958)に記載の方法により
調製することができる。この論文に記載されているよう
に、フェノールをアセチル化して4−ヒドロキシアセト
フェノンとし、これを次いでアセチル化して4−アセト
キシアセトフェノンを得る。この化合物を次いで水素化
して4−アセトキンフェニルメチルカルビノールとし、
次いで脱水して4−アセトキシスチレンを得る。
本発明で使用するコポリマーの製造に用いるムコン′酸
シアlレキルは、ムコン酸のジエステJし誘導体である
。ムコン酸はジオレフィン性不飽和アジピン酸誘導体で
あり、米国特許第4,480,034号および同第4,
534,059号に記載のように、各種炭化水素基質の
微生物酸化により製造することができる0本発明で使用
するムコン酸ジアルキルは、各アルキル基の炭素数が1
〜4のものであり、ムコン酸とメタノール、エタノール
、プロパツール類もしくはブタノール類との直接エステ
ル化により得ることができる。本発明で使用するのに好
ましいムコン酸ジアルキルは、ムコン酸ジメチルおよび
ムコン酸ジエチルである。
本発明で使用するコポリマーの製造に用いられるソルビ
ン酸アルキルは、ソルビン酸のエステル誘導体である。
ソルビン酸、すなわちヘキサンエン酸は、クロトンアル
デヒドとケテンとから得られるβ−ラクトンの開環によ
り製造することのできるジオレフィン性不飽和カルボン
酸である。本発明で使用するソルビン酸アルキルは、ア
ルキル基の炭素数が1〜4のものであり、ソルビン酸を
メタノール、エタノール、プロパツール類もしくはブタ
ノール類と直接エステル化づることにより得られる。本
発明で使用するのに好ましいソルビン酸アルキルは、ソ
ルビン酸メチルおよびソルビン酸エチルである。
本発明で用いるアルカジエンモノマーは、2個の共役エ
チレン性不胞和基を含有する炭化水素モノマーであって
、1.2−もしくは1,4−付加により重合し、重合後
に不飽和基1個が未重合で残る。
このようなモノマーの例は、1.3−ブタジェン、1.
3−ペンタジェン、1,3−ヘキサジエン、2.4−ヘ
キサジエン、イソプレンおよびクロロプレンである。
本発明で用いるアリルエステルモノマーは、重合性エチ
レン性不飽和基少なくとも1個を含有するモノおよびジ
カルボン酸のそれぞれモノおよびジアリルエステルであ
る。このようなエステルの例としては、アクリル酸アリ
ル、メタクリル酸アリル、エタクリル酸アリル、マレイ
ン酸ジアリル、マレイン酸アルキル・アリル、フマル酸
ジアリル、フマル酸アルキル・アリル、イタコン酸ジア
リル、イタコン酸アルキル・アリル、ソルビン酸アリル
、ムコン酸ジアリル、およびムコン酸アルキル・アリル
が挙げられる。
アルカノエンモノマー、ソルビン酸エステルモノマーま
たはムコン酸エステルモノマーとのコポリマーを製造す
る場合、重合は1.2もしくは1.4位置で起こり、光
により重合可能な不飽和基が残る。アリルエステルモノ
マーは、このモノマーの酸部分に存在するエチレン性不
飽和結合により重合し、アリル基部分の不飽和結合はそ
のまま残る。
このようなジエンモノマーもしくはアリルモノマーから
得られたポリマーは、光により架橋させることができる
本発明で反応に用いるコポリマーは、4−アセトキシス
チレンと他のモノマーとを、溶液、乳化もしくは懸濁状
態で周知の重合法により遊m基重合させることにより製
造される。このコポリマーは、約10〜9帽1%の4−
アセトキシスチレンと約90〜10重量%の他のモノマ
ーとを含有する。好ましいコポリマーは約40〜80重
量%の4−アセトキシスチレンと約60〜20重量%の
他のモノマーとを含有する。
本発明で用いる増感剤は、芳香族アジドおよびビスアジ
ド化合物である。この増感剤は、アセトキシスチレンコ
ポリマーとの適合性、組成物に用いる溶媒中での溶解度
、および紫外線(υV)に対する感度、すなわち、紫外
線波長領域(これは近紫外域から中葉外域、さらには深
紫外域に及ぶ)に基づいて選択される。近紫外線とは、
約310〜465 nmの範囲内の波長領域の紫外線を
意味し、中葉外線とは約280〜310 nmの範囲内
の波長領域の紫外線を意味し、深紫外線とは約230〜
2B0 nmの範囲内の波長領域の紫外線を意味する。
このような増悪剤は、米国特許筒3,669.669号
、同第3,917.794号、同第4,329,419
号および同第4.469,778号に記載されている。
また、’A、 S、 DeForest著[フォトレジ
スト材料および方法(Pho tores is tM
aterials and Processes)J 
McGraw−Hill (1975)、第2章、38
〜40頁、およびT、 Iwayanagi et a
l。
J、 Electrochem、 Soc、、 127
.2759 (1980)  も参照できる。
本発明で用いることのできるアジド系増悪剤の例は、2
.6−ビス(4−アジジル−ベンジリデン)シクロヘキ
サノン、2.6−ビス(4−アジジル−ベンジリデン)
−4−メチルシクロヘキサノン、4゜4°−ジアジドジ
フェニルエーテル、4,4゛−ジアジドジフェニルスル
フィド、4.4′−ジアジドジフェニルスルホン、3,
3”−ジアジドジフェニルスルホン、44゛−ジアジド
ジフェニルメタン、3,3゛−ジクロロ−44°−ジア
ジドジフェニルメタン、4.4゜ジアジドジフェニルジ
スルフィド、4.4”−ジアジトビヘンジルおよび4.
4″−ジアジドスチルヘン2.2゛−ジナトリウムスル
ホネートである。
この芳香族アジド系増悪剤は、4−アセトキシスチレン
コポリマーに対して、増感剤とコポリマーとの合計量に
基づいて約1〜5重量%の量で使用する。好ましい範囲
は約2〜3重量%である。
本発明の組成物をフォトレジスト材料として使用する場
合、4−アセトキシスチレンコポリマーと増悪剤とを溶
媒に溶解し、適当な基体上にスピンコーティングし、加
熱して溶媒を除去する。得られた被膜を次いで画像形成
の準備をして露光しく例、フォトマスクを通して紫外線
に露光)、再度加熱する。光が当たった部分の被膜は架
橋する。
この被膜を適当な溶媒中に浸漬すると、被膜の未露光部
が溶解し、基体上にはネガ像が残る。
本発明のフォトレジスト組成物の製造においては、4−
アセトキシスチレンコポリマーと増悪剤とを溶解し、か
つ光反応性ではない任意の溶媒を使用することができる
。このような溶媒の例は、芳香族炭化水素(例、トルエ
ンおよびキシレン)、エステル類(例、酢酸エチル、酢
酸ブチルおよび酢酸アミル)、ケトンw4(例、アセト
ン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルゲトン)、
アルコール類(例、2−エトキシエタノール、2−メト
キシエタノール、2−メトキシプロパツールl)などで
ある。2種以−ヒのこのような溶媒の混合物も使用でき
る。
−aに、本発明で用いるコポリマーおよび増悪剤は、溶
媒中に約5〜50重量%の範囲内、好ましくは約25重
量%以下の濃度で溶解させろ。こうして得られた溶液を
、孔径が1−以下のフィルターにより濾過する。次いで
、この溶液4ガラス、石英もしくはシリコンウェハー上
に約0.5〜3pの膜厚になるようにスピンコーティン
グする。得られた被膜を次いで約50〜100℃の温度
に溶媒を除去するのに十分な時間(−最に約10分〜1
時間)加熱する。この被覆したウェハーの上にフォトマ
スクを乗せ、ウェハーを紫外線により露光する。
被覆したウェハーを次いで再び加熱してから、適当な溶
媒中で現像する。好ましい溶媒は、コポリマーと増感剤
との溶液の形成用の溶媒として上に列記した溶媒である
。未露光部の被膜を溶解するが、露光して架橋した被膜
を溶解しないものであれば、他の溶媒を使用することも
できる。得られたネガ像は、半導体チップ、プリント回
路基板、マイクロ電子部品、その他の電子写真用途(例
、写真平版およびグラフインクアート)、印刷版、およ
びダイスなどの製造において微細ラインフォ[レジスト
として使用することができる。
以下の実施例は、本発明をより詳細に説明するものであ
る。部および%は、特に指定がない限り重量部および重
量%である。
尖茄孕↓ モル重量化で5:3の4−アセトキシスチレンとムコン
酸ジメチルとのコポリマー1部と、2.6ビス(4−ア
ジジル−ベンジリデン)−4−メチルシクロへキサノン
0.3部とを、0−キシレン5容量部および酢酸ブチル
5容量部との混合溶媒中に溶解する。得られた溶液を、
孔径1pのミリポア・フィルターにより濾過し、2部2
インチ(5X5ai)のガラス板上に150Orpmで
60秒間スピンコーティングする。被覆したガラス板を
強制通風式乾燥器により80℃で30分間加熱する。被
膜に次いでクロームフォトマスクドを乗せ、紫外線(3
7mW/c+J)に2秒間露光し、キシレン中に浸漬し
て未露光部の被膜を溶解させる。微細な線のネガ像が形
成される。
実施±1 実施例1に記載したのと同様の方法を用いて、4−アセ
トキシスチレン(ASM)をムコン酸ジメチル(MMu
) 、ムコン酸ジエチル(t!Mu)またはソルビン酸
メチル(MSb) と共重合させたコポリマーに、26
−ビス(4−アジジル−ベンジリデン)−4メチルシク
ロヘキサノンくビスアジドと略記)を併用して、ガラス
板上にフォトレジストの被膜を形成する。フォトマスク
を乗せ、紫外線により露光すると、実施例1に記載のも
のに匹敵しうるネガ像が得られる。使用したコポリマー
と各成分の使用量を次の表にまとめて示す。
表 2A   ASM:EMu      5:1    
 1        0.032B  ASM:MMu
    5:1    1      0.032CA
SM:EMu    ]0:1    1      
0.0320   AS旧MSb      5:I 
     1        0.03犬嵐雌ユ 実施例1に記載したのと同様の方法により、4アセトキ
シスチレンとマレイン酸ジアリルとの8:2の重量比の
コポリマーと3重量%の2.6−ビス(4−アジジル−
ベンジリデン)シクロヘキサノンとを2−メトキシプロ
パノ−ルー1に溶解した溶液を用いてガラス板上にフォ
トレジストの被覆を形成する。フォトマスクを乗せ、紫
外線により露光すると、実施例1に記載のものに匹敵し
うるネガ像が得られる。
実施■↓ 実施例1に記載したのと同様の方法を用いて、4−アセ
トキシスチレンと25−ジメチル−2,4へキサジエン
との1:1の重量比のコポリマーと3重量%の2.6−
ビス(4−アジジル−ベンジリデン)シクロヘキサノン
とを2−メトキシプロパノ−ルー1に熔解した溶液から
ガラス板上にフォトレジストの被覆を形成する。フォト
マスクを乗せ、紫外線により露光すると、実施例1に記
載のものに匹敵しうるネガ像が得られる。
以上に、本発明の原理、好適態様、作用および操作につ
いて説明したが、本発明はこれらの開示内容に制限され
るものではない。これらの開示は制限を意図したもので
はなく、単に例示を目的としたものであり、当業者であ
れば本発明の範囲内で各種の変更をなしうろことは理解
されよう。

Claims (25)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)(A)4−アセトキシスチレンと、ムコン酸ジア
    ルキル、ソルビン酸アルキル、アルカジエンモノマー、
    およびエチレン性不飽和酸のアリルエステル(ただし、
    以上のアルキル基は炭素数1〜4のものである)よりな
    る群から選ばれた他のモノマーとのコポリマー、ならび
    に (B)芳香族アジド化合物を含有する、ネガ型フォトレ
    ジスト組成物。
  2. (2)前記コポリマーが4−アセトキシスチレン約10
    〜90重量%と他のモノマー約90〜10重量%とを含
    有するものである、請求項1記載の組成物。
  3. (3)前記コポリマーが4−アセトキシスチレン約40
    〜80重量%と他のモノマー約20〜60重量%とを含
    有するものである、請求項2記載の組成物。
  4. (4)前記ムコン酸ジアルキルがムコン酸ジメチルであ
    る、請求項1記載の組成物。
  5. (5)前記ムコン酸ジアルキルがムコン酸ジエチルであ
    る、請求項1記載の組成物。
  6. (6)前記ソルビン酸アルキルがソルビン酸メチルであ
    る、請求項1記載の組成物。
  7. (7)前記ソルビン酸アルキルがソルビン酸エチルであ
    る、請求項1記載の組成物。
  8. (8)前記アルカジエンモノマーが、2,5−ジメチル
    −2,4−ヘキサジエンである、請求項1記載の組成物
  9. (9)前記他のモノマーがマレイン酸ジアリルである、
    請求項1記載の組成物。
  10. (10)前記アジド化合物が2,6−ビス(4−アジジ
    ルベンジリデン)−4−メチルシクロヘキサノンである
    、請求項1記載の組成物。
  11. (11)前記ビスアジド化合物を、コポリマーとビスア
    ジド化合物との合計重量に基づいて約1〜5重量%の量
    で含有する、請求項10記載の組成物。
  12. (12)前記ビスアジド化合物の含有量が約2〜3重量
    %である、請求項11記載の組成物。
  13. (13)(A)4−アセトキシスチレンと、ムコン酸ジ
    アルキル、ソルビン酸アルキル、アルカジエンモノマー
    、およびエチレン性不飽和酸のアリルエステル(ただし
    、以上のアルキル基は炭素数1〜4のものである)より
    なる群から選ばれた他のモノマーとのコポリマー、なら
    びに (B)芳香族アジド化合物を含有する溶液からなるネガ
    作用型フォトレジスト組成物の皮膜を基体表面上に形成
    し、この皮膜を加熱して溶媒を除去し、皮膜の一部を紫
    外線により露光してコポリマーの溶解度を低下させ、前
    記皮膜の未露光部を溶媒により除去することからなる、
    基体表面に像を形成する方法。
  14. (14)前記紫外線が、近、中もしくは深紫外線である
    、請求項13記載の方法。
  15. (15)前記コポリマーが4−アセトキシスチレン約1
    0〜90重量%と他のモノマー約90〜10重量%とを
    含有するものである、請求項13記載の方法。
  16. (16)前記コポリマーが4−アセトキシスチレン約4
    0〜80重量%と他のモノマー約20〜60重量%とを
    含有するものである、請求項13記載の方法。
  17. (17)前記ムコン酸ジアルキルがムコン酸ジメチルで
    ある、請求項13記載の方法。
  18. (18)前記ムコン酸ジアルキルがムコン酸ジエチルで
    ある、請求項13記載の方法。
  19. (19)前記ソルビン酸アルキルがソルビン酸メチルで
    ある、請求項13記載の方法。
  20. (20)前記ソルビン酸アルキルがソルビン酸エチルで
    ある、請求項13記載の方法。
  21. (21)前記アルカジエンモノマーが、2,5−ジメチ
    ル−2,4−ヘキサジエンである、請求項13記載の方
    法。
  22. (22)前記アリルエステルがマレイン酸ジアリルであ
    る、請求項13記載の方法。
  23. (23)前記アジド化合物が2,6−ビス(4−アジジ
    ルベンジリデン)−4−メチルシクロヘキサノンである
    、請求項13記載の方法。
  24. (24)前記ビスアジド化合物を、コポリマーとビスア
    ジド化合物との合計重量に基づいて約1〜5重量%の量
    で含有する組成物を使用する、請求項23記載の方法。
  25. (25)前記ビスアジド化合物の含有量が約2〜3重量
    %である、請求項24記載の方法。
JP1014935A 1988-01-25 1989-01-24 アセトキシスチレンコポリマーを主剤とするフォトレジスト組成物 Pending JPH023047A (ja)

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