JPH0237447A - メモリ集積回路 - Google Patents

メモリ集積回路

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Publication number
JPH0237447A
JPH0237447A JP63185563A JP18556388A JPH0237447A JP H0237447 A JPH0237447 A JP H0237447A JP 63185563 A JP63185563 A JP 63185563A JP 18556388 A JP18556388 A JP 18556388A JP H0237447 A JPH0237447 A JP H0237447A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
parity
memory
data
parity check
holding
Prior art date
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Pending
Application number
JP63185563A
Other languages
English (en)
Inventor
Ryosuke Takeuchi
良祐 武内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPH0237447A publication Critical patent/JPH0237447A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、パリテイ・チェック機能を有するメモリ集
積回路く以下、メモリICという。)に関するものであ
る。
特に、メモリICの信頼性の向上に関するものである。
[従来の技術] 従来例の構成を第2図を参照しながら説明する。
第2図は、従来のメモリICを示す配線図である。
第2図において、(1)はアドレス線、(2)は入力デ
ータ線、(3)はアドレス線(1〉及び入力データ線(
2)に接続されアドレスデコーダ、メモリセルアレイ等
から構成された4個のメモリIC1(4)は入力データ
線(3)に接続されたパリティ発生器、(5)はアドレ
ス線(1)及びパリティ発生器(4)に接続されたパリ
ティ保持用メモリ、(6)は4個のメモリIC(3)に
接続された出力データ線、(7)はパリティ保持用メモ
リ(5)及び出力データ線(6)に接続されたパリティ
検査器、(8)はこのパリティ検査器(7)に接続され
たパリティ信号線である。
つぎに、上述した従来例の動作を説明する。
入力データは、アドレス信号によって指定されるメモリ
■c(3)の場所に入力データ線(2)を介して記憶さ
れる。
このとき、同時に、パリティ発生器(4)は、入力デー
タのハイレベルの個数とパリティ・ビットのハイレベル
の個数との和が常に偶数(又は奇数)になるようにパリ
ティ・ビットを発生する。
つぎに、パリティ保持用メモリ(5)は、パリティ・ビ
ットの値をメモリIC(3)に記憶された入力データと
対応する場所に記憶する。
そして、パリティ検査器(7)は、メモリIC(3)か
ら読み出された出力データと、パリティ保持用メモリ(
5)から読み出されたパリティ・ビットとのハイレベル
の個数の和が常に偶数(又は奇数)かを検査する。常に
偶数(又は奇数)でない場合には、パリティ信号線(8
)を介してパリティ・エラー信号を出力する。
[発明が解決しようとする課題] 上述したような従来のメモリICでは、パリテイ・チェ
ックを実行しようとすると、パリティ発生器、パリティ
保持用メモリ及びパリティ検査器のICが必要であり、
回路が複雑になるという問題点があった。
この発明は、上述した問題点を解決するためになされた
もので、パリティ発生用IC、パリティ保持用メモリI
C、パリティ検査用TC等の外付は回路を使用せずにパ
リテイ・チェックを実行できるメモリICを得ることを
目的とする。
[課題を解決するための手段] この発明に係るメモリICは、以下に述べるような手段
を内蔵したものである。
(i)、データを記憶するデータ記憶手段。
(ii)、このデータ記憶手段に上記データを書き込む
ときにパリティを発生するパリティ発生手段。
(iii ) 、上記パリティを保持するパリティ保持
手段。
(iv)  上記データ記憶手段から上記データを読み
出すときに上記パリティに基づいてパリティチエツクを
するパリティ検査手段。
[作用] この発明においては、メモリICに内蔵されたパリティ
発生手段によって、データ記憶手段にデータを書き込む
ときにパリティが発生される。
また、メモリICに内蔵されたパリティ保持手段によっ
て、上記パリティが保持される。
そして、メモリICに内蔵されたパリティ検査手段によ
って、上記データ記憶手段から上記データを読み出すと
きに上記パリティに基づいてパリテイ・チェックがされ
る。
「実施例] 実施例の構成を第1図を参照しながら説明する。
第1図は、この発明の一実施例を示す配線図であり、(
1)、(2)、(6)及び(8)は上記従来装置のもの
と全く同一である。
第1図において、(3^)は(4^)、(5^)、(7
^)、くっ)及び(10)から構成されたメモリICで
ある。
ここで、(4^)はパリティ発生手段であって、この実
施例では入力データII(2)に接続されたパリティ発
生回路、(5八)はパリティ保持手段であって、この実
施例ではパリティ発生回路(4Δ)及びアドレスデコー
ダ(9)に接続されたパリティ保持メモリ、(7^)は
パリティ検査手段であって、この実施例ではパリティ保
持メモリ(5^)及び出力データ線(6)に接続された
パリティ検査回路である。なお、パリティ信号線(8)
はパリティ検査回路(7八)の出力側に接続されている
また、(9)はアドレス線(1)に接続されたアドレス
デコーダ、(10)は入力側がアドレスデコーダ(9)
及び入力データ線(2)に接続されかつ出力側が出力デ
ータ線(6)に接続されたデータ用メモリである。
つぎに、上述した実施例の動作を説明する。
入力データは、アドレスデコーダ(9)によりアドレス
信号がデコードされたデータ用メモリ(10)の場所に
入力データ線(2)を介して記憶される。
このとき、同時に、パリティ発生回路〈4^)は、入力
データのハイレベルの個数とパリティ ビットのハイレ
ベルの個数との和が常に偶数(又は奇数)になるように
パリティ・ビットを発生する。
つぎに、パリティ保持メモリ(5^)は、パリティ・ビ
ットの値をデータ用メモリ(10)に記憶された入力デ
ータと対応する場所に記憶する。
そして、パリティ検査回路(7^)は、データ用メモリ
(10)から読み出された出力データと、パリティ保持
メモリ(5^)から読み出されたパリティ・ビットとの
ハイレベルの個数の和が常に偶数(又は奇数)かを検査
し、パリティ・エラーの有無をパリティ信号線(8)を
介して外部回路に出力する。
なお、上記実施例ではアドレスデコーダをメモリICの
内部に設けているが、少なくともその一部をメモリIC
の外部に設けても同様の動作を期待できる。
[発明の効果コ この発明は、以上説明したとおり、データを記憶するデ
ータ記憶手段と、このデータ記憶手段に上記データを書
き込むときにパリティを発生するパリティ発生手段と、
上記パリティを保持するパリティ保持手段と、上記デー
タ記憶手段から上記データを読み出すときに上記パリテ
ィに基づいてパリテイ・チェックをするパリティ検査手
段とを内蔵したので、パリテイ・チェックのための外付
は回路が不要になり、パリティ・ビットを考慮せずに回
路を組むことができ、またチップ数も削減でき、さらに
データの入出力を高速にできるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す配線図、第2図は従
来のメモリICを示す配線図である。 図において、 (3^)・・−メモリIC(メモリ集積回路)、(4^
) ・・ パリティ発生回路、 (5^)・・・ パリティ保持メモリ、(7^)・・・
 パリティ検査回路である。 なお、各図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 第 1 図 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. データを記憶するデータ記憶手段、このデータ記憶手段
    に上記データを書き込むときにパリテを発生するパリテ
    イ発生手段、上記パリテイを保持するパリテイ保持手段
    、及び上記データ記憶手段から上記データを読み出すと
    きに上記パリテイに基づいてパリテイ・チェックをする
    パリテイ検査手段を内蔵したことを特徴とするメモリ集
    積回路。
JP63185563A 1988-07-27 1988-07-27 メモリ集積回路 Pending JPH0237447A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006079811A (ja) * 2004-09-06 2006-03-23 Samsung Electronics Co Ltd エラー検出用パリティー発生器を備えた半導体メモリ装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006079811A (ja) * 2004-09-06 2006-03-23 Samsung Electronics Co Ltd エラー検出用パリティー発生器を備えた半導体メモリ装置
US7783941B2 (en) 2004-09-06 2010-08-24 Samsung Electronics Co., Ltd. Memory devices with error detection using read/write comparisons

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