JPH0248387B2 - - Google Patents
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- JPH0248387B2 JPH0248387B2 JP60073304A JP7330485A JPH0248387B2 JP H0248387 B2 JPH0248387 B2 JP H0248387B2 JP 60073304 A JP60073304 A JP 60073304A JP 7330485 A JP7330485 A JP 7330485A JP H0248387 B2 JPH0248387 B2 JP H0248387B2
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- Japan
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- axis
- sensor
- measurement
- angle
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-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Program-control systems
- G05B19/02—Program-control systems electric
- G05B19/18—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of program data in numerical form
- G05B19/401—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of program data in numerical form characterised by control arrangements for measuring, e.g. calibration and initialisation, measuring workpiece for machining purposes
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/49—Nc machine tool, till multiple
- G05B2219/49119—Machine arc of circumference, as groove, cylindrical interpolation
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/49—Nc machine tool, till multiple
- G05B2219/49121—C-axis for turning, fifth axis for milling
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S82/00—Turning
- Y10S82/903—Balancing and centering
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- Human Computer Interaction (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Numerical Control (AREA)
- Machine Tool Positioning Apparatuses (AREA)
- Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(a) 産業上の利用分野
本発明は、加工に際して、主軸の回転角度を制
御し得る、Ｃ軸制御機能を有する旋盤における、
加工基準点のサーチ方法に関する。
御し得る、Ｃ軸制御機能を有する旋盤における、
加工基準点のサーチ方法に関する。
(b) 従来の技術
従来、この種の旋盤において、内外周部や端面
に加工基準点からのＣ軸方向の角度が指定された
突起や窪みを有する、軸対称でないワークを加工
する場合は、加工プログラムにおいて指示された
加工基準点を、正確にＣ軸制御の基準となるＣ軸
原点に対して設定する必要が有り、そのために特
殊な治具等を用いていた。
に加工基準点からのＣ軸方向の角度が指定された
突起や窪みを有する、軸対称でないワークを加工
する場合は、加工プログラムにおいて指示された
加工基準点を、正確にＣ軸制御の基準となるＣ軸
原点に対して設定する必要が有り、そのために特
殊な治具等を用いていた。
(c) 発明が解決しようとする問題点
しかし、これでは、加工すべきワークの種類毎
に治具を用意する必要が有り、小量多品種生産の
趨勢にある、今日においては、コスト的な面や時
間的な面での不都合が生じていた。また、そうし
た治具を用いない場合には、ワークのセツテイン
グに多大の時間を費やしてしまうばかりか、正確
なセツテイング自体も不可能となる欠点が有つ
た。
に治具を用意する必要が有り、小量多品種生産の
趨勢にある、今日においては、コスト的な面や時
間的な面での不都合が生じていた。また、そうし
た治具を用いない場合には、ワークのセツテイン
グに多大の時間を費やしてしまうばかりか、正確
なセツテイング自体も不可能となる欠点が有つ
た。
本発明は、前述の欠点を解消すべく、加工基準
点からの角度が指定されたＣ軸値指定形状を有す
るワークにおける加工基準点を容易に検出するこ
とが出来、そうしたワークに対するミーリング等
のＣ軸制御を伴う加工を、Ｃ軸値指定形状に対し
て正確な位置関係を保持した形で行うことが出来
る、Ｃ軸における加工基準点のサーチ方法を提供
することを目的とするものである。
点からの角度が指定されたＣ軸値指定形状を有す
るワークにおける加工基準点を容易に検出するこ
とが出来、そうしたワークに対するミーリング等
のＣ軸制御を伴う加工を、Ｃ軸値指定形状に対し
て正確な位置関係を保持した形で行うことが出来
る、Ｃ軸における加工基準点のサーチ方法を提供
することを目的とするものである。
(d) 問題点を解決するための手段
即ち、本発明は、加工基準点に対するＣ軸値が
角度により指定されたＣ軸値指定形状を有するワ
ークの、Ｃ軸制御による加工を行う際に、Ｃ軸値
指定形状のＣ軸方向の両側の計測点の、Ｃ軸原点
からの角度を測定し、それ等測定された角度及び
Ｃ軸値指定形状の加工基準点に対する指定角度か
ら、加工基準点のＣ軸原点からの角度を求めるよ
うにして構成される。
角度により指定されたＣ軸値指定形状を有するワ
ークの、Ｃ軸制御による加工を行う際に、Ｃ軸値
指定形状のＣ軸方向の両側の計測点の、Ｃ軸原点
からの角度を測定し、それ等測定された角度及び
Ｃ軸値指定形状の加工基準点に対する指定角度か
ら、加工基準点のＣ軸原点からの角度を求めるよ
うにして構成される。
(e) 作用
上記した構成により、本発明は、Ｃ軸値指定形
状のＣ軸方向の両側の計測点の、Ｃ軸原点からの
角度を測定することにより、加工基準点のＣ軸原
点からの角度を求め、もつて加工基準点の位置を
検出するように作用する。
状のＣ軸方向の両側の計測点の、Ｃ軸原点からの
角度を測定することにより、加工基準点のＣ軸原
点からの角度を求め、もつて加工基準点の位置を
検出するように作用する。
(f) 実施例
以下、本発明の実施例を図面に基づき説明す
る。
る。
第１図は本発明による加工基準点のサーチ方法
が適用される旋盤の一例を示す制御ブロツク図、
第２図はワークにおけるＣ軸原点と加工基準点及
びＣ軸値指定形状との関係を示す正面図、第３図
は外径サーチプログラムの一例を示すフローチヤ
ート、第４図及び第５図はＣ軸値指定形状のワー
ク外周におけるサーチ態様を示す工程図、第６図
は外径計測においてＣ軸の移動角度を計算するた
めの拡大図、第７図は外周計測プログラムにおけ
る計測ステツプを示す図、第８図は外周計測プロ
グラムによる計測態様を示す拡大図、第９図は内
径・端面サーチプログラムの一例を示すフローチ
ヤート、第１０図及び第１１図はＣ軸値指定形状
のワーク端面におけるサーチ態様を示す工程図、
第１２図は内径・端面計測においてＣ軸の移動角
度を計算するための拡大図、第１３図は内径・端
面計測プログラムにおける計測ステツプを示す
図、第１４図は内径・端面計測プログラムによる
計測態様を示す拡大図である。
が適用される旋盤の一例を示す制御ブロツク図、
第２図はワークにおけるＣ軸原点と加工基準点及
びＣ軸値指定形状との関係を示す正面図、第３図
は外径サーチプログラムの一例を示すフローチヤ
ート、第４図及び第５図はＣ軸値指定形状のワー
ク外周におけるサーチ態様を示す工程図、第６図
は外径計測においてＣ軸の移動角度を計算するた
めの拡大図、第７図は外周計測プログラムにおけ
る計測ステツプを示す図、第８図は外周計測プロ
グラムによる計測態様を示す拡大図、第９図は内
径・端面サーチプログラムの一例を示すフローチ
ヤート、第１０図及び第１１図はＣ軸値指定形状
のワーク端面におけるサーチ態様を示す工程図、
第１２図は内径・端面計測においてＣ軸の移動角
度を計算するための拡大図、第１３図は内径・端
面計測プログラムにおける計測ステツプを示す
図、第１４図は内径・端面計測プログラムによる
計測態様を示す拡大図である。
Ｃ軸制御機能を有する旋盤１は、第１図に示す
ように主制御部２を有しており、主制御部２には
バス線３を介して、キーボード５、Ｃ軸駆動制御
部６、加工基準点メモリ７、Ｃ軸速度演算部９、
センサ駆動制御部１０、計測プログラムメモリ１
１、センサ制御部１２、工具メモリ１３、基準点
演算部１５、加工プログラムメモリ２１等が接続
している。Ｃ軸駆動制御部６には、Ｃ軸駆動モー
タ１６が接続しており、Ｃ軸駆動モータ１６に
は、Ｃ軸駆動モータ１６の回転角度量を検出する
ためのトランスデユーサ１７が、Ｃ軸角度演算部
９に接続された形で設けられている。センサ駆動
制御部１０には、接触形のセンサ１９がセンサ駆
動制御部１０により移動駆動自在に接続されてお
り、更にセンサ１９はセンサ制御部１２に接続し
ている。
ように主制御部２を有しており、主制御部２には
バス線３を介して、キーボード５、Ｃ軸駆動制御
部６、加工基準点メモリ７、Ｃ軸速度演算部９、
センサ駆動制御部１０、計測プログラムメモリ１
１、センサ制御部１２、工具メモリ１３、基準点
演算部１５、加工プログラムメモリ２１等が接続
している。Ｃ軸駆動制御部６には、Ｃ軸駆動モー
タ１６が接続しており、Ｃ軸駆動モータ１６に
は、Ｃ軸駆動モータ１６の回転角度量を検出する
ためのトランスデユーサ１７が、Ｃ軸角度演算部
９に接続された形で設けられている。センサ駆動
制御部１０には、接触形のセンサ１９がセンサ駆
動制御部１０により移動駆動自在に接続されてお
り、更にセンサ１９はセンサ制御部１２に接続し
ている。
ところで、Ｃ軸駆動モータ１６により回転駆動
される旋盤１の主軸には、第２図に示すように、
ワーク２０が図示しないチヤツク装置により着脱
自在に保持されており、ワーク２０の外周部には
外方に突出した座部２０ａが形成されている。
される旋盤１の主軸には、第２図に示すように、
ワーク２０が図示しないチヤツク装置により着脱
自在に保持されており、ワーク２０の外周部には
外方に突出した座部２０ａが形成されている。
旋盤１等は以上のような構成を有するので、ワ
ーク２０の加工に際しては、主制御部２は加工プ
ログラムメモリ２１から、加工すべきワーク２０
に対応した加工プログラムPROを読み出して、
所定の加工を行う。加工プログラムPROの中に、
Ｃ軸制御を伴うミーリング作業等が、ワークの加
工基準点MPを基準に指定されていた場合には、
ワーク２０が軸対称部品であればワーク２０のど
の角度位置から加工を開始しても良いが、第２図
に示すような座部２０ａ等の突起等を有する場合
で、当該突起等が加工基準点MPに対してＣ軸値
としての角度γが指定されている場合（以下、こ
の種のＣ軸値が指定された形状を、「Ｃ軸値指定
形状」と称する。）には、当該加工基準点MPが
Ｃ軸を制御する上での原点となるＣ軸原点CZPに
対してどの角度θにあるかを検出しない限り、Ｃ
軸値指定形状（座部２０ａ）に対するＣ軸制御を
伴う加工を適正な状態で行うことが出来なくなる
（即ち、Ｃ軸値指定形状とミーリングにより形成
される形状は、加工基準点MPを介してその位置
関係が拘束されている。）。
ーク２０の加工に際しては、主制御部２は加工プ
ログラムメモリ２１から、加工すべきワーク２０
に対応した加工プログラムPROを読み出して、
所定の加工を行う。加工プログラムPROの中に、
Ｃ軸制御を伴うミーリング作業等が、ワークの加
工基準点MPを基準に指定されていた場合には、
ワーク２０が軸対称部品であればワーク２０のど
の角度位置から加工を開始しても良いが、第２図
に示すような座部２０ａ等の突起等を有する場合
で、当該突起等が加工基準点MPに対してＣ軸値
としての角度γが指定されている場合（以下、こ
の種のＣ軸値が指定された形状を、「Ｃ軸値指定
形状」と称する。）には、当該加工基準点MPが
Ｃ軸を制御する上での原点となるＣ軸原点CZPに
対してどの角度θにあるかを検出しない限り、Ｃ
軸値指定形状（座部２０ａ）に対するＣ軸制御を
伴う加工を適正な状態で行うことが出来なくなる
（即ち、Ｃ軸値指定形状とミーリングにより形成
される形状は、加工基準点MPを介してその位置
関係が拘束されている。）。
そこで、加工プログラムPRO中で、座部２０
ａと加工基準点MPとのＣ軸値としての角度γが
指定されている場合には、主制御部２は、直ち
に、加工基準点MPのサーチ動作に入る。なお、
加工プログラムPROにおいて、Ｃ軸値指定形状
と加工基準点MPとの間のＣ軸値を指示する場合
には、加工プログラムPROは、角度γの他に、
Ｃ軸値指定形状の角度位置を測定するための種々
の測定情報INFを指示する。この測定情報INF
は、測定すべきＣ軸値指定形状がワーク２０の外
周部に存在するのか、又は端面・内径部に存在す
るのかを示す位置情報、センサ１９の計測開始点
の座標、ワークの回転中心CL（Ｚ軸）に対して直
角方向、即ちＸ軸方向における計測点Ｍ１，Ｍ２
の距離RX又は、ワーク端面から計測点Ｍ３，Ｍ
４迄のＺ軸方向の距離RZ、Ｃ軸値指定形状の幅
Ｗ、計測に使用するセンサ１９の種類指定情報等
から構成される。主制御部２は、加工プログラム
PROから、こうした測定情報INFを読み出し、
計測プログラムメモリ１１から、測定情報INFに
指定されたＣ軸値指定形状の存在位置に対応した
計測プログラムを読み出す。
ａと加工基準点MPとのＣ軸値としての角度γが
指定されている場合には、主制御部２は、直ち
に、加工基準点MPのサーチ動作に入る。なお、
加工プログラムPROにおいて、Ｃ軸値指定形状
と加工基準点MPとの間のＣ軸値を指示する場合
には、加工プログラムPROは、角度γの他に、
Ｃ軸値指定形状の角度位置を測定するための種々
の測定情報INFを指示する。この測定情報INF
は、測定すべきＣ軸値指定形状がワーク２０の外
周部に存在するのか、又は端面・内径部に存在す
るのかを示す位置情報、センサ１９の計測開始点
の座標、ワークの回転中心CL（Ｚ軸）に対して直
角方向、即ちＸ軸方向における計測点Ｍ１，Ｍ２
の距離RX又は、ワーク端面から計測点Ｍ３，Ｍ
４迄のＺ軸方向の距離RZ、Ｃ軸値指定形状の幅
Ｗ、計測に使用するセンサ１９の種類指定情報等
から構成される。主制御部２は、加工プログラム
PROから、こうした測定情報INFを読み出し、
計測プログラムメモリ１１から、測定情報INFに
指定されたＣ軸値指定形状の存在位置に対応した
計測プログラムを読み出す。
即ち、測定情報INFから、指定されたＣ軸値指
定形状の存在位置がワーク２０の外周部である場
合には、主制御部２は計測プログラムメモリ１１
から外径サーチプログラムOPRを読出し、当該
外径サーチプログラムOPRに基づいて、加工基
準点MPのＣ軸原点CZPに対する角度θを、Ｃ軸
値指定形状のＣ軸原点CZPた対する角度位置を求
めることにより、求める、即ち、第２図に示すよ
うに、Ｃ軸原点CZPに対する、Ｃ軸値指定形状で
ある座部２０ａのＣ軸方向両側の角度位置α，β
をセンサ１９により計測し、その計測値に基づい
て加工基準点MPのＣ軸原点CZPに対する角度θ
を θ＝α＋β／２−γ ……(1) で求める。
定形状の存在位置がワーク２０の外周部である場
合には、主制御部２は計測プログラムメモリ１１
から外径サーチプログラムOPRを読出し、当該
外径サーチプログラムOPRに基づいて、加工基
準点MPのＣ軸原点CZPに対する角度θを、Ｃ軸
値指定形状のＣ軸原点CZPた対する角度位置を求
めることにより、求める、即ち、第２図に示すよ
うに、Ｃ軸原点CZPに対する、Ｃ軸値指定形状で
ある座部２０ａのＣ軸方向両側の角度位置α，β
をセンサ１９により計測し、その計測値に基づい
て加工基準点MPのＣ軸原点CZPに対する角度θ
を θ＝α＋β／２−γ ……(1) で求める。
主制御部２は、外径サーチプログラムOPRに
基づき、第３図に示すように、ステツプS1で、
センサ駆動制御部１０を介してセンサ１９を、加
工プログラムPRO中の測定情報INFに指定され
た計測開始位置に位置決めし、次いでセンサ１９
を、第４図下方、即ちＸ軸−方向に移動させて、
測定情報INFに指示された、主軸であるＺ軸から
のＸ軸方向の距離RXに相当する座標位置まで移
動させる（第４図及び第５図番号１で表示される
工程）。この時、センサ１９の真下に、第５図に
示すように、Ｃ軸値指定形状がたまたま位置して
いた場合には、センサ１９は、距離RXに到達す
る以前に、座部２０ａがセンサ１９に当接して、
センサ１９がONとなり検出信号Ｓ１がセンサ制
御部１２を介して主制御部２に出力される。する
と、主制御部２は、ステツプS2からステツプS3
に入り、当該座部２０ａの検出が、１回目の検出
か否かを判定する。当該座部２０ａの検出が、１
回目の検出である場合は、ステツプS4に入り、
センサ駆動制御部１０を介してセンサ１９を、第
５図上方、即ちＸ軸＋方向に早送りで、計測開始
位置まで戻し（第５図番号２で表示される工程）、
ステツプS5でＣ軸駆動制御部６を介してＣ軸駆
動モータ１６を所定角度−方向に、即ち時計方向
に回転させ、座部２０ａをセンサ１９の下から退
避させる（第５図番号３で表示される工程）。こ
の時の、Ｃ軸の回転角度δは、第６図に示すよう
に、測定情報INFによるＣ軸値指定形状の幅Ｗ、
計測点のＸ軸方向の距離RX及び工具メモリ１３
中に予め格納されているセンサ１９の検出部の直
径2rから、 δ＝δ1＋δ2＝tan-1Ｗ／2RX＋tan-1Ｗ＋4r／2RX……
(2) で求めることが出来る。
基づき、第３図に示すように、ステツプS1で、
センサ駆動制御部１０を介してセンサ１９を、加
工プログラムPRO中の測定情報INFに指定され
た計測開始位置に位置決めし、次いでセンサ１９
を、第４図下方、即ちＸ軸−方向に移動させて、
測定情報INFに指示された、主軸であるＺ軸から
のＸ軸方向の距離RXに相当する座標位置まで移
動させる（第４図及び第５図番号１で表示される
工程）。この時、センサ１９の真下に、第５図に
示すように、Ｃ軸値指定形状がたまたま位置して
いた場合には、センサ１９は、距離RXに到達す
る以前に、座部２０ａがセンサ１９に当接して、
センサ１９がONとなり検出信号Ｓ１がセンサ制
御部１２を介して主制御部２に出力される。する
と、主制御部２は、ステツプS2からステツプS3
に入り、当該座部２０ａの検出が、１回目の検出
か否かを判定する。当該座部２０ａの検出が、１
回目の検出である場合は、ステツプS4に入り、
センサ駆動制御部１０を介してセンサ１９を、第
５図上方、即ちＸ軸＋方向に早送りで、計測開始
位置まで戻し（第５図番号２で表示される工程）、
ステツプS5でＣ軸駆動制御部６を介してＣ軸駆
動モータ１６を所定角度−方向に、即ち時計方向
に回転させ、座部２０ａをセンサ１９の下から退
避させる（第５図番号３で表示される工程）。こ
の時の、Ｃ軸の回転角度δは、第６図に示すよう
に、測定情報INFによるＣ軸値指定形状の幅Ｗ、
計測点のＸ軸方向の距離RX及び工具メモリ１３
中に予め格納されているセンサ１９の検出部の直
径2rから、 δ＝δ1＋δ2＝tan-1Ｗ／2RX＋tan-1Ｗ＋4r／2RX……
(2) で求めることが出来る。
こうして、ステツプS5でＣ軸値指定形状がセ
ンサ１９の真下位置から退避されたところで、再
度ステツプS1に戻つて、センサ１９をＸ軸−方
向に、距離RXの位置にまで移動させる。この時、
距離RXの位置に到達する間で、再度センサ１９
がONとなり検出信号Ｓ１がセンサ制御部１２を
介して主制御部２に出力されると、主制御部２
は、ステツプS3で、当該信号Ｓ１の出力が２回
目となるので、測定情報INFで指定された距離
RX等の設定に誤りが有るものと判断して、ステ
ツプS6に入り、図示しない警報手段を介して所
定のアラーム表示をオペレータ等に対して行う。
ンサ１９の真下位置から退避されたところで、再
度ステツプS1に戻つて、センサ１９をＸ軸−方
向に、距離RXの位置にまで移動させる。この時、
距離RXの位置に到達する間で、再度センサ１９
がONとなり検出信号Ｓ１がセンサ制御部１２を
介して主制御部２に出力されると、主制御部２
は、ステツプS3で、当該信号Ｓ１の出力が２回
目となるので、測定情報INFで指定された距離
RX等の設定に誤りが有るものと判断して、ステ
ツプS6に入り、図示しない警報手段を介して所
定のアラーム表示をオペレータ等に対して行う。
一方、ステツプS1で、センサ１９が、測定情
報INFに指示された計測座標位置に、Ｃ軸値指定
形状の退避動作の有無に拘わらず、到達したとこ
ろで、ステツプS7に入る。ステツプS7で、主制
御部２は、Ｃ軸駆動制御部６を介してＣ軸駆動モ
ータ１６を駆動し、Ｃ軸を、第４図及び第５図反
時計方向、即ち＋方向に、ステツプＳ８でセンサ
１９から検出信号Ｓ１が出力されるまで回転させ
る（第４図及び第５図における番号４の工程）。
最大360°C軸を回転しても、センサ１９から検出
信号Ｓ１が出力されない場合には、測定情報INF
に示された計測開始位置のＺ座標や、距離RXの
設定に誤りが有るのもと判定して、ステツプS6
に入り、アラームを出す。なお、ステツプS7に
おける、Ｃ軸の回転速度は、Ｃ軸値指定形状の大
体の位置を知るためのものなので、通常の計測動
作の場合よりも大きく、しかも早送りの場合より
も遅い、サーチ送り速度で回転させる。
報INFに指示された計測座標位置に、Ｃ軸値指定
形状の退避動作の有無に拘わらず、到達したとこ
ろで、ステツプS7に入る。ステツプS7で、主制
御部２は、Ｃ軸駆動制御部６を介してＣ軸駆動モ
ータ１６を駆動し、Ｃ軸を、第４図及び第５図反
時計方向、即ち＋方向に、ステツプＳ８でセンサ
１９から検出信号Ｓ１が出力されるまで回転させ
る（第４図及び第５図における番号４の工程）。
最大360°C軸を回転しても、センサ１９から検出
信号Ｓ１が出力されない場合には、測定情報INF
に示された計測開始位置のＺ座標や、距離RXの
設定に誤りが有るのもと判定して、ステツプS6
に入り、アラームを出す。なお、ステツプS7に
おける、Ｃ軸の回転速度は、Ｃ軸値指定形状の大
体の位置を知るためのものなので、通常の計測動
作の場合よりも大きく、しかも早送りの場合より
も遅い、サーチ送り速度で回転させる。
こうして、Ｃ軸を＋方向に回転させるうちに、
センサ１９がＣ軸値指定形状に当接接触し、セン
サ１９からセンサ制御部１２を介して、検出信号
Ｓ１が出力されると、主制御部２は、ステツプ
S9でＣ軸をそれまでとは反対の−方向に、所定
の角度量だけ回転させてセンサ１９を所定のアプ
ローチ点AP１に移動させ、センサ１９の先端と、
Ｃ軸値指定形状との接触状態を解除し、次の外周
計測プログラムOMPに基づく実計測動作に入る。
センサ１９がＣ軸値指定形状に当接接触し、セン
サ１９からセンサ制御部１２を介して、検出信号
Ｓ１が出力されると、主制御部２は、ステツプ
S9でＣ軸をそれまでとは反対の−方向に、所定
の角度量だけ回転させてセンサ１９を所定のアプ
ローチ点AP１に移動させ、センサ１９の先端と、
Ｃ軸値指定形状との接触状態を解除し、次の外周
計測プログラムOMPに基づく実計測動作に入る。
主制御部２は、計測プログラムメモリ１１から
外周計測プログラムOMPを読み出して、直ちに
Ｃ軸値指定形状の角度位置の計測動作に入るが、
その動作ステツプは、第７図に示す通りである。
第７図では、外周計測プログラムOMPにおける
各ステツプをその実行順に、ステツプ番号順で示
す。外周計測プログラムOMPでは、ステツプ番
号１で、まずＣ軸を＋方向に前述のサーチ送りよ
りも遅い、計測用の計測送り速度で、センサ１９
がＣ軸値指定形状と計測点Ｍ１で当接して、検出
信号Ｓ１が出力されるまで送る（第８図における
番号１の工程）。検出信号Ｓ１が出力されたとこ
ろで、主制御部２はＣ軸角度演算部９に、計測点
Ｍ１のＣ軸原点CZPに対する角度αを、Ｃ軸駆動
モータ１６に装着されたトランスデユーサ１７か
らＣ軸駆動モータ１６の所定回転角度毎に出力さ
れる回転信号Ｓ２に基づいて演算させて求め、そ
の求められた角度αを基準点演算部１５に出力す
る。一方、Ｃ軸駆動制御部６は、センサ制御部１
２からの検出信号Ｓ１が出力されると、直ちにＣ
軸を−方向に、センサ１９がアプローチ点AP１
に達するまで所定角度回転させ、センサ１９とＣ
軸値指定形状との当接接触状態を解除する（第７
図におけるステツプ番号２及び第８図における番
号２の工程）。
外周計測プログラムOMPを読み出して、直ちに
Ｃ軸値指定形状の角度位置の計測動作に入るが、
その動作ステツプは、第７図に示す通りである。
第７図では、外周計測プログラムOMPにおける
各ステツプをその実行順に、ステツプ番号順で示
す。外周計測プログラムOMPでは、ステツプ番
号１で、まずＣ軸を＋方向に前述のサーチ送りよ
りも遅い、計測用の計測送り速度で、センサ１９
がＣ軸値指定形状と計測点Ｍ１で当接して、検出
信号Ｓ１が出力されるまで送る（第８図における
番号１の工程）。検出信号Ｓ１が出力されたとこ
ろで、主制御部２はＣ軸角度演算部９に、計測点
Ｍ１のＣ軸原点CZPに対する角度αを、Ｃ軸駆動
モータ１６に装着されたトランスデユーサ１７か
らＣ軸駆動モータ１６の所定回転角度毎に出力さ
れる回転信号Ｓ２に基づいて演算させて求め、そ
の求められた角度αを基準点演算部１５に出力す
る。一方、Ｃ軸駆動制御部６は、センサ制御部１
２からの検出信号Ｓ１が出力されると、直ちにＣ
軸を−方向に、センサ１９がアプローチ点AP１
に達するまで所定角度回転させ、センサ１９とＣ
軸値指定形状との当接接触状態を解除する（第７
図におけるステツプ番号２及び第８図における番
号２の工程）。
センサ１９とＣ軸値指定形状との当接接触状態
が解除されたところで、主制御部２はセンサ駆動
制御部１０を介して、センサ１９をＸ軸＋方向、
従つて、第８図上方に、早送りで所定距離移動さ
せ（第７図におけるステツプ番号３及び第８図に
おける番号３の工程）、次いでＣ軸を＋方向に早
送りで所定角度回転させ、センサ１９を点Ｐ１に
移動させる（第７図におけるステツプ番号４及び
第８図における番号４の工程）。この時の、Ｃ軸
の移動角度量εは、第６図に示すように、アプロ
ーチ点AP１、AP２とＣ軸値指定形状における計
測点Ｍ１，Ｍ２との距離をａとすると、 ε＝2tan-1Ｗ＋2a／2RX ……(3) で求めることが出来る。
が解除されたところで、主制御部２はセンサ駆動
制御部１０を介して、センサ１９をＸ軸＋方向、
従つて、第８図上方に、早送りで所定距離移動さ
せ（第７図におけるステツプ番号３及び第８図に
おける番号３の工程）、次いでＣ軸を＋方向に早
送りで所定角度回転させ、センサ１９を点Ｐ１に
移動させる（第７図におけるステツプ番号４及び
第８図における番号４の工程）。この時の、Ｃ軸
の移動角度量εは、第６図に示すように、アプロ
ーチ点AP１、AP２とＣ軸値指定形状における計
測点Ｍ１，Ｍ２との距離をａとすると、 ε＝2tan-1Ｗ＋2a／2RX ……(3) で求めることが出来る。
こうして、点Ｐ１にセンサ１９が移動したとこ
ろで、センサ１９をＸ軸−方向に早送り速度で移
動させ、Ｃ軸値指定形状の座部２０ａの、第８図
右側面から所定距離だけ離れた、アプローチ点
AP２に位置決めする（第７図におけるステツプ
番号５及び第８図における番号５の工程）。次に、
前述と同様に、計測送り速度でＣ軸を−方向に駆
動し、計測点Ｍ２とセンサ１９が接触して検出信
号Ｓ１が出力されるまで移動する（第７図におけ
るステツプ番号６及び第８図における番号６の工
程）。検出信号Ｓ１が出力されたところで、Ｃ軸
角度演算部９に、計測点Ｍ２のＣ軸原点CZPに対
する角度βを演算させて求め、その求められた角
度βを基準点演算部１５に出力する。一方、Ｃ軸
駆動制御部６は、センサ制御部１２からの検出信
号Ｓ１が出力されると、直ちにＣ軸を＋方向にセ
ンサ１９がアプローチ点AP２に達するまで所定
角度回転させ、センサ１９とＣ軸値指定形状との
当接接触状態を解除する（第７図におけるステツ
プ番号７及び第８図における番号７の工程）。
ろで、センサ１９をＸ軸−方向に早送り速度で移
動させ、Ｃ軸値指定形状の座部２０ａの、第８図
右側面から所定距離だけ離れた、アプローチ点
AP２に位置決めする（第７図におけるステツプ
番号５及び第８図における番号５の工程）。次に、
前述と同様に、計測送り速度でＣ軸を−方向に駆
動し、計測点Ｍ２とセンサ１９が接触して検出信
号Ｓ１が出力されるまで移動する（第７図におけ
るステツプ番号６及び第８図における番号６の工
程）。検出信号Ｓ１が出力されたところで、Ｃ軸
角度演算部９に、計測点Ｍ２のＣ軸原点CZPに対
する角度βを演算させて求め、その求められた角
度βを基準点演算部１５に出力する。一方、Ｃ軸
駆動制御部６は、センサ制御部１２からの検出信
号Ｓ１が出力されると、直ちにＣ軸を＋方向にセ
ンサ１９がアプローチ点AP２に達するまで所定
角度回転させ、センサ１９とＣ軸値指定形状との
当接接触状態を解除する（第７図におけるステツ
プ番号７及び第８図における番号７の工程）。
センサ１９とＣ軸値指定形状との当接接触状態
が解除されたところで、主制御部２はセンサ駆動
制御部１０を介して、センサ１９をＸ軸＋方向、
従つて、第８図上方に、早送りで点Ｐ１まで所定
距離移動させ（第７図におけるステツプ番号８及
び第８図における番号８の工程）、外周計測プロ
グラムOMPによるＣ軸値指定形状の計測点Ｍ１，
Ｍ２のＣ軸原点CZPに対する角度α，βの計測動
作を終了させる。
が解除されたところで、主制御部２はセンサ駆動
制御部１０を介して、センサ１９をＸ軸＋方向、
従つて、第８図上方に、早送りで点Ｐ１まで所定
距離移動させ（第７図におけるステツプ番号８及
び第８図における番号８の工程）、外周計測プロ
グラムOMPによるＣ軸値指定形状の計測点Ｍ１，
Ｍ２のＣ軸原点CZPに対する角度α，βの計測動
作を終了させる。
こうして、Ｃ軸値指定形状の計測点Ｍ１，Ｍ２
のＣ軸原点CZPに対する角度α，βが判明したと
ころで、基準点演算部１５は、(1)式から、求める
加工基準点MPのＣ軸原点CZPに対する角度θを
演算して、その値θを加工基準点メモリ７に格納
する。加工基準点MPのＣ軸原点CZPに対する角
度θが求められると、ミーリング加工等におい
て、当該加工基準点MPを基準にして加工プログ
ラムPRO中で指示された角度に対して、角度θ
を考慮した形で、Ｃ軸をＣ軸原点CZPを基準に位
置決めすることにより、そうした加工を加工基準
点MP、従つてＣ軸値指定形状に対して正確な位
置関係を保持した形で行うことが出来る。
のＣ軸原点CZPに対する角度α，βが判明したと
ころで、基準点演算部１５は、(1)式から、求める
加工基準点MPのＣ軸原点CZPに対する角度θを
演算して、その値θを加工基準点メモリ７に格納
する。加工基準点MPのＣ軸原点CZPに対する角
度θが求められると、ミーリング加工等におい
て、当該加工基準点MPを基準にして加工プログ
ラムPRO中で指示された角度に対して、角度θ
を考慮した形で、Ｃ軸をＣ軸原点CZPを基準に位
置決めすることにより、そうした加工を加工基準
点MP、従つてＣ軸値指定形状に対して正確な位
置関係を保持した形で行うことが出来る。
次に、測定情報INFから、指定されたＣ軸値指
定形状の存在位置がワーク２０の端面又は内周部
である場合には、主制御部２は計測プログラムメ
モリ１１から内径・端面サーチプログラムIPRを
読出し、当該内径・端面サーチプログラムIPRに
基づいて、加工基準点MPのＣ軸原点CZPに対す
る角度θを求める。内径・端面サーチプログラム
IPRは、第９図に示すが、この際の測定情報INF
においては、外周部のＣ軸値指定形状を求める際
のRXの代わりに、計測点Ｍ１，Ｍ２のワーク２
０端面からＺ軸方向における距離RZを示す値を
入力する必要が有る。
定形状の存在位置がワーク２０の端面又は内周部
である場合には、主制御部２は計測プログラムメ
モリ１１から内径・端面サーチプログラムIPRを
読出し、当該内径・端面サーチプログラムIPRに
基づいて、加工基準点MPのＣ軸原点CZPに対す
る角度θを求める。内径・端面サーチプログラム
IPRは、第９図に示すが、この際の測定情報INF
においては、外周部のＣ軸値指定形状を求める際
のRXの代わりに、計測点Ｍ１，Ｍ２のワーク２
０端面からＺ軸方向における距離RZを示す値を
入力する必要が有る。
主制御部２は、内径・端面サーチプログラム
IPRに基づき、第９図に示すように、ステツプ
S10で、センサ駆動制御部１０を介してセンサ１
９を、測定情報INFに指定された計測開始位置に
位置決めし、次いでセンサ１９を、Ｚ軸＋方向に
移動させて、測定情報INFに指示された、ワーク
２０端面からの距離RZに相当する座標位置まで
移動させる（第１０図及び第１１図番号１で表示
される工程）。以後、ワーク端面にＣ軸値指定形
状が存在する場合について述べるが、ワーク内径
部にＣ軸値指定形状が存在する場合も、センサ１
９等のアプローチ方法は同様である。ところで、
この時、センサ１９の正面に、第１１図に示すよ
うに、Ｃ軸値指定形状がたまたま位置していた場
合には、センサ１９は、距離RZに到達する以前
に、座部２０ａがセンサ１９に当接して、センサ
１９がONとなり検出信号Ｓ１がセンサ制御部１
２を介して主制御部２に出力される。すると、主
制御部２は、ステツプS11からステツプS12に入
り、当該座部２０ａの検出が、１回目の検出か否
かを判定する。当該座部２０ａの検出が、１回目
の検出である場合は、ステツプS13に入り、セン
サ駆動制御部１０を介してセンサ１９を、Ｚ軸−
方向に早送りで、計測開始位置まで戻し（第１１
図番号２で表示される工程）、ステツプS14でＣ
軸駆動制御部６を介してＣ軸駆動モータ１６を所
定角度−方向に、即ち時計方向に回転させ、座部
２０ａをセンサ１９の正面から退避させる（第１
１図番号３で表示される工程）。この時の、Ｃ軸
の回転角度δは、第１２図に示すように、測定情
報INFによるＣ軸値指定形状の幅Ｗ、計測点のＺ
軸からのＸ軸方向の距離ｘ及び工具メモリ１３中
に予め格納されているセンサ１９の検出部の直径
2rから、 δ＝δ1＋δ2＝tan-1Ｗ／2x＋tan-1Ｗ＋4r／2x……(4
) で求めることが出来る。
IPRに基づき、第９図に示すように、ステツプ
S10で、センサ駆動制御部１０を介してセンサ１
９を、測定情報INFに指定された計測開始位置に
位置決めし、次いでセンサ１９を、Ｚ軸＋方向に
移動させて、測定情報INFに指示された、ワーク
２０端面からの距離RZに相当する座標位置まで
移動させる（第１０図及び第１１図番号１で表示
される工程）。以後、ワーク端面にＣ軸値指定形
状が存在する場合について述べるが、ワーク内径
部にＣ軸値指定形状が存在する場合も、センサ１
９等のアプローチ方法は同様である。ところで、
この時、センサ１９の正面に、第１１図に示すよ
うに、Ｃ軸値指定形状がたまたま位置していた場
合には、センサ１９は、距離RZに到達する以前
に、座部２０ａがセンサ１９に当接して、センサ
１９がONとなり検出信号Ｓ１がセンサ制御部１
２を介して主制御部２に出力される。すると、主
制御部２は、ステツプS11からステツプS12に入
り、当該座部２０ａの検出が、１回目の検出か否
かを判定する。当該座部２０ａの検出が、１回目
の検出である場合は、ステツプS13に入り、セン
サ駆動制御部１０を介してセンサ１９を、Ｚ軸−
方向に早送りで、計測開始位置まで戻し（第１１
図番号２で表示される工程）、ステツプS14でＣ
軸駆動制御部６を介してＣ軸駆動モータ１６を所
定角度−方向に、即ち時計方向に回転させ、座部
２０ａをセンサ１９の正面から退避させる（第１
１図番号３で表示される工程）。この時の、Ｃ軸
の回転角度δは、第１２図に示すように、測定情
報INFによるＣ軸値指定形状の幅Ｗ、計測点のＺ
軸からのＸ軸方向の距離ｘ及び工具メモリ１３中
に予め格納されているセンサ１９の検出部の直径
2rから、 δ＝δ1＋δ2＝tan-1Ｗ／2x＋tan-1Ｗ＋4r／2x……(4
) で求めることが出来る。
こうして、ステツプS14でＣ軸値指定形状がセ
ンサ１９の正面位置から退避されたところで、再
度ステツプS10に戻つて、センサ１９をＺ軸＋方
向に、距離RZの位置にまで移動させる。この時、
距離RZの位置に到達する間で、再度センサ１９
がONとなり検出信号Ｓ１がセンサ制御部１２を
介して主制御部２に出力されると、主制御部２
は、ステツプS12で、当該信号Ｓ１の出力が２回
目となるので、測定情報INFで指定された距離
RZ等の設定に誤りが有るものと判断して、ステ
ツプS15に入り、図示しない警報手段を介して所
定のアラーム表示をオペレータ等に対して行う。
ンサ１９の正面位置から退避されたところで、再
度ステツプS10に戻つて、センサ１９をＺ軸＋方
向に、距離RZの位置にまで移動させる。この時、
距離RZの位置に到達する間で、再度センサ１９
がONとなり検出信号Ｓ１がセンサ制御部１２を
介して主制御部２に出力されると、主制御部２
は、ステツプS12で、当該信号Ｓ１の出力が２回
目となるので、測定情報INFで指定された距離
RZ等の設定に誤りが有るものと判断して、ステ
ツプS15に入り、図示しない警報手段を介して所
定のアラーム表示をオペレータ等に対して行う。
また、ステツプS10で、センサ１９が、測定情
報INFに指示された計測座標位置に、Ｃ軸値指定
形状の退避動作の有無に拘わらず、到達したとこ
ろで、ステツプS16に入る。ステツプS16で、主
制御部２は、Ｃ軸駆動制御部６を介してＣ軸駆動
モータ１６を駆動し、Ｃ軸を、第１０図及び第１
１図Ｘ−Ｙ面内における反時計方向に、ステツプ
S17でセンサ１９から検出信号Ｓ１が出力される
まで回転させる（第１０図及び第１１図における
番号４の工程）。最大360°C軸を回転しても、セン
サ１９から検出信号Ｓ１が出力されない場合に
は、測定情報INFに示された計測開始位置のＺ座
標や、距離RZの設定に誤りが有るのもと判定し
て、ステツプS15に入り、アラームを出す。な
お、ステツプS16における、Ｃ軸の回転速度は、
Ｃ軸値指定形状の大体の位置を知るためのものな
ので、通常の計測動作の場合よりも大きく、しか
も早送りよりも遅い、サーチ送り速度で回転させ
る。
報INFに指示された計測座標位置に、Ｃ軸値指定
形状の退避動作の有無に拘わらず、到達したとこ
ろで、ステツプS16に入る。ステツプS16で、主
制御部２は、Ｃ軸駆動制御部６を介してＣ軸駆動
モータ１６を駆動し、Ｃ軸を、第１０図及び第１
１図Ｘ−Ｙ面内における反時計方向に、ステツプ
S17でセンサ１９から検出信号Ｓ１が出力される
まで回転させる（第１０図及び第１１図における
番号４の工程）。最大360°C軸を回転しても、セン
サ１９から検出信号Ｓ１が出力されない場合に
は、測定情報INFに示された計測開始位置のＺ座
標や、距離RZの設定に誤りが有るのもと判定し
て、ステツプS15に入り、アラームを出す。な
お、ステツプS16における、Ｃ軸の回転速度は、
Ｃ軸値指定形状の大体の位置を知るためのものな
ので、通常の計測動作の場合よりも大きく、しか
も早送りよりも遅い、サーチ送り速度で回転させ
る。
こうして、Ｃ軸を＋方向に回転させるうちに、
センサ１９がＣ軸値指定形状に当接接触し、セン
サ１９からセンサ制御部１２を介して、検出信号
Ｓ１が出力されると、主制御部２は、ステツプ
S18でＣ軸をそれまでとは反対の−方向に、所定
の角度量だけ回転させてセンサ１９を所定のアプ
ローチ点AP３に移動させ、センサ１９の先端と、
Ｃ軸値指定形状との接触状態を解除し、次の内
径・端面計測プログラムIMPに基づく実計測動
作に入る。
センサ１９がＣ軸値指定形状に当接接触し、セン
サ１９からセンサ制御部１２を介して、検出信号
Ｓ１が出力されると、主制御部２は、ステツプ
S18でＣ軸をそれまでとは反対の−方向に、所定
の角度量だけ回転させてセンサ１９を所定のアプ
ローチ点AP３に移動させ、センサ１９の先端と、
Ｃ軸値指定形状との接触状態を解除し、次の内
径・端面計測プログラムIMPに基づく実計測動
作に入る。
主制御部２は、計測プログラムメモリ１１から
内径・端面計測プログラムIMPを読み出して、
直ちにＣ軸値指定形状の角度位置の計測動作に入
るが、その動作ステツプは、第１３図に示す通り
である。第１３図では、内径・端面計測プログラ
ムIMPにおける各ステツプをその実行順に、ス
テツプ番号として示す。内径・端面計測プログラ
ムIMPでは、ステツプ番号１で、まずＣ軸を＋
方向に前述のサーチ送りよりも遅い、計測用の計
測送り速度で、センサ１９がアプローチ点AP３
からＣ軸値指定形状と計測点Ｍ３で当接して、検
出信号Ｓ１が出力されるまで送り（第１４図にお
ける番号１の工程）、検出信号Ｓ１が出力された
ところで、Ｃ軸角度演算部９に、計測点Ｍ３のＣ
軸原点CZPに対する角度αを演算させて求め、そ
の求められた角度αを基準点演算部１５に出力す
る。一方、Ｃ軸駆動制御部６は、センサ制御部１
２からの検出信号Ｓ１が出力されると、直ちにＣ
軸を−方向にセンサ１９がアプローチ点AP３に
達するまで所定角度回転させ、センサ１９とＣ軸
値指定形状との当接接触状態を解除する（第１３
図におけるステツプ番号２及び第１４図における
番号２の工程）。
内径・端面計測プログラムIMPを読み出して、
直ちにＣ軸値指定形状の角度位置の計測動作に入
るが、その動作ステツプは、第１３図に示す通り
である。第１３図では、内径・端面計測プログラ
ムIMPにおける各ステツプをその実行順に、ス
テツプ番号として示す。内径・端面計測プログラ
ムIMPでは、ステツプ番号１で、まずＣ軸を＋
方向に前述のサーチ送りよりも遅い、計測用の計
測送り速度で、センサ１９がアプローチ点AP３
からＣ軸値指定形状と計測点Ｍ３で当接して、検
出信号Ｓ１が出力されるまで送り（第１４図にお
ける番号１の工程）、検出信号Ｓ１が出力された
ところで、Ｃ軸角度演算部９に、計測点Ｍ３のＣ
軸原点CZPに対する角度αを演算させて求め、そ
の求められた角度αを基準点演算部１５に出力す
る。一方、Ｃ軸駆動制御部６は、センサ制御部１
２からの検出信号Ｓ１が出力されると、直ちにＣ
軸を−方向にセンサ１９がアプローチ点AP３に
達するまで所定角度回転させ、センサ１９とＣ軸
値指定形状との当接接触状態を解除する（第１３
図におけるステツプ番号２及び第１４図における
番号２の工程）。
センサ１９とＣ軸値指定形状との当接接触状態
が解除されたところで、主制御部２はセンサ駆動
制御部１０を介して、センサ１９をＺ軸−方向
へ、早送りで所定距離移動させ（第１３図におけ
るステツプ番号３及び第１４図における番号３の
工程）、次いでＣ軸を＋方向に早送りで所定角度
回転させ、センサ１９を点Ｐ４に移動させる（第
１３図におけるステツプ番号４及び第１４図にお
ける番号４の工程）。この時の、Ｃ軸の移動角度
量εは、第１２図に示すように、アプローチ点
AP３，AP４とＣ軸値指定形状における計測点Ｍ
３，Ｍ４との距離をａとすると、 ε＝2tan-1Ｗ＋2a／2x ……(5) で求めることが出来る。
が解除されたところで、主制御部２はセンサ駆動
制御部１０を介して、センサ１９をＺ軸−方向
へ、早送りで所定距離移動させ（第１３図におけ
るステツプ番号３及び第１４図における番号３の
工程）、次いでＣ軸を＋方向に早送りで所定角度
回転させ、センサ１９を点Ｐ４に移動させる（第
１３図におけるステツプ番号４及び第１４図にお
ける番号４の工程）。この時の、Ｃ軸の移動角度
量εは、第１２図に示すように、アプローチ点
AP３，AP４とＣ軸値指定形状における計測点Ｍ
３，Ｍ４との距離をａとすると、 ε＝2tan-1Ｗ＋2a／2x ……(5) で求めることが出来る。
こうして、点Ｐ４にセンサ１９が移動したとこ
ろで、センサ１９をＺ軸＋方向に早送りで移動さ
せ、Ｃ軸値指定形状の座部２０ａの、第１４図右
側面から所定距離だけ離れたアプローチ点AP４
に位置決めする（第１３図におけるステツプ番号
５及び第１４図における番号５の工程）。次に、
前述と同様に、計測送り速度でＣ軸を−方向に駆
動し、計測点Ｍ４とセンサ１９が接触して検出信
号Ｓ１が出力されるまで移動する（第１３図にお
けるステツプ番号６及び第１４図における番号６
の工程）。検出信帯Ｓ１が出力されたところで、
Ｃ軸角度演算部９に、計測点Ｍ４のＣ軸原点CZP
に対する角度βを演算させて求め、その求められ
た角度βを基準点演算部１５に出力する。一方、
Ｃ軸駆動制御部６は、センサ制御部１２からの検
出信号Ｓ１が出力されると、直ちにＣ軸を＋方向
に所定角度回転させ、センサ１９とＣ軸値指定形
状との当接接触状態を解除する（第１３図におけ
るステツプ番号７及び第１４図における番号７の
工程）。
ろで、センサ１９をＺ軸＋方向に早送りで移動さ
せ、Ｃ軸値指定形状の座部２０ａの、第１４図右
側面から所定距離だけ離れたアプローチ点AP４
に位置決めする（第１３図におけるステツプ番号
５及び第１４図における番号５の工程）。次に、
前述と同様に、計測送り速度でＣ軸を−方向に駆
動し、計測点Ｍ４とセンサ１９が接触して検出信
号Ｓ１が出力されるまで移動する（第１３図にお
けるステツプ番号６及び第１４図における番号６
の工程）。検出信帯Ｓ１が出力されたところで、
Ｃ軸角度演算部９に、計測点Ｍ４のＣ軸原点CZP
に対する角度βを演算させて求め、その求められ
た角度βを基準点演算部１５に出力する。一方、
Ｃ軸駆動制御部６は、センサ制御部１２からの検
出信号Ｓ１が出力されると、直ちにＣ軸を＋方向
に所定角度回転させ、センサ１９とＣ軸値指定形
状との当接接触状態を解除する（第１３図におけ
るステツプ番号７及び第１４図における番号７の
工程）。
センサ１９とＣ軸値指定形状との当接接触状態
が解除されたところで、主制御部２はセンサ駆動
制御部１０を介して、センサ１９をＺ軸−方向
に、早送りで点Ｐ４まで所定距離移動させ（第１
３図におけるステツプ番号８及び第１４図におけ
る番号８の工程）、内径・端面計測プログラム
IMPによるＣ軸値指定形状の計測点Ｍ３，Ｍ４
の、Ｃ軸原点CZPに対する角度α，βの計測動作
を終了させる。
が解除されたところで、主制御部２はセンサ駆動
制御部１０を介して、センサ１９をＺ軸−方向
に、早送りで点Ｐ４まで所定距離移動させ（第１
３図におけるステツプ番号８及び第１４図におけ
る番号８の工程）、内径・端面計測プログラム
IMPによるＣ軸値指定形状の計測点Ｍ３，Ｍ４
の、Ｃ軸原点CZPに対する角度α，βの計測動作
を終了させる。
こうして、Ｃ軸値指定形状の計測点Ｍ３，Ｍ４
のＣ軸原点CZPに対する角度α，βが判明したと
ころで、基準点演算部１５は、(1)式から、求める
加工基準点MPのＣ軸原点CZPに対する角度θを
演算して、その値θを加工基準点メモリ７に格納
する。加工基準点MPのＣ軸原点CZPに対する角
度θが求められると、ミーリング加工等におい
て、当該加工基準点MPを基準にして指示された
角度に対して、角度θを考慮した形で、Ｃ軸をＣ
軸原点CZPに対して位置決めすることにより、そ
うした加工を加工基準点MP、従つてＣ軸値指定
形状に対して正確な位置関係を保持した形で行う
ことが出来る。
のＣ軸原点CZPに対する角度α，βが判明したと
ころで、基準点演算部１５は、(1)式から、求める
加工基準点MPのＣ軸原点CZPに対する角度θを
演算して、その値θを加工基準点メモリ７に格納
する。加工基準点MPのＣ軸原点CZPに対する角
度θが求められると、ミーリング加工等におい
て、当該加工基準点MPを基準にして指示された
角度に対して、角度θを考慮した形で、Ｃ軸をＣ
軸原点CZPに対して位置決めすることにより、そ
うした加工を加工基準点MP、従つてＣ軸値指定
形状に対して正確な位置関係を保持した形で行う
ことが出来る。
(g) 発明の効果
以上、説明したように、本発明によれば、加工
基準点MPに対するＣ軸値が角度γにより指定さ
れたＣ軸値指定形状を有するワーク２０の、Ｃ軸
制御によるミーリング等の加工を行う際に、Ｃ軸
値指定形状のＣ軸方向の両側の計測点Ｍ１，Ｍ
２，Ｍ３，Ｍ４等の、Ｃ軸原点CZPからの角度
α，βを測定し、それ等測定された角度α，β及
びＣ軸値指定形状の加工基準点MPに対する指定
角度γから、加工基準点MPのＣ軸原点CZPから
の角度θを求めるようにしたので、加工基準点
MPからの角度が指定されたＣ軸値指定形状を有
するワーク２０における加工基準点MPを、容易
に検出することが出来、そうしたワーク２０に対
するミーリング等のＣ軸制御を伴う加工を、何ら
の治具等も用いることなく、Ｃ軸値指定形状に対
して正確な位置関係を保持した形で行うことが出
来る。
基準点MPに対するＣ軸値が角度γにより指定さ
れたＣ軸値指定形状を有するワーク２０の、Ｃ軸
制御によるミーリング等の加工を行う際に、Ｃ軸
値指定形状のＣ軸方向の両側の計測点Ｍ１，Ｍ
２，Ｍ３，Ｍ４等の、Ｃ軸原点CZPからの角度
α，βを測定し、それ等測定された角度α，β及
びＣ軸値指定形状の加工基準点MPに対する指定
角度γから、加工基準点MPのＣ軸原点CZPから
の角度θを求めるようにしたので、加工基準点
MPからの角度が指定されたＣ軸値指定形状を有
するワーク２０における加工基準点MPを、容易
に検出することが出来、そうしたワーク２０に対
するミーリング等のＣ軸制御を伴う加工を、何ら
の治具等も用いることなく、Ｃ軸値指定形状に対
して正確な位置関係を保持した形で行うことが出
来る。
第１図は本発明による加工基準点のサーチ方法
が適用される旋盤の一例を示す制御ブロツク図、
第２図はワークにおけるＣ軸原点と加工基準点及
びＣ軸値指定形状との関係を示す正面図、第３図
は外径サーチプログラムの一例を示すフローチヤ
ート、第４図及び第５図はＣ軸値指定形状のワー
ク外周におけるサーチ態様を示す工程図、第６図
は外径計測においてＣ軸の移動角度を計算するた
めの拡大図、第７図は外周計測プログラムにおけ
る計測ステツプを示す図、第８図は外周計測プロ
グラムによる計測態様を示す拡大図、第９図は内
径・端面サーチプログラムの一例を示すフローチ
ヤート、第１０図及び第１１図はＣ軸値指定形状
のワーク端面におけるサーチ態様を示す工程図、
第１２図は内径・端面計測においてＣ軸の移動角
度を計算するための拡大図、第１３図は内径・端
面計測プログラムにおける計測ステツプを示す
図、第１４図は内径・端面計測プログラムによる
計測態様を示す拡大図である。 １……旋盤、２０……ワーク、２０ａ……Ｃ軸
値指定形状（座部）、CZP……Ｃ軸原点、MP…
…加工基準点、α，β，γ，θ……角度、Ｍ１，
Ｍ２，Ｍ３，Ｍ４……計測点。
が適用される旋盤の一例を示す制御ブロツク図、
第２図はワークにおけるＣ軸原点と加工基準点及
びＣ軸値指定形状との関係を示す正面図、第３図
は外径サーチプログラムの一例を示すフローチヤ
ート、第４図及び第５図はＣ軸値指定形状のワー
ク外周におけるサーチ態様を示す工程図、第６図
は外径計測においてＣ軸の移動角度を計算するた
めの拡大図、第７図は外周計測プログラムにおけ
る計測ステツプを示す図、第８図は外周計測プロ
グラムによる計測態様を示す拡大図、第９図は内
径・端面サーチプログラムの一例を示すフローチ
ヤート、第１０図及び第１１図はＣ軸値指定形状
のワーク端面におけるサーチ態様を示す工程図、
第１２図は内径・端面計測においてＣ軸の移動角
度を計算するための拡大図、第１３図は内径・端
面計測プログラムにおける計測ステツプを示す
図、第１４図は内径・端面計測プログラムによる
計測態様を示す拡大図である。 １……旋盤、２０……ワーク、２０ａ……Ｃ軸
値指定形状（座部）、CZP……Ｃ軸原点、MP…
…加工基準点、α，β，γ，θ……角度、Ｍ１，
Ｍ２，Ｍ３，Ｍ４……計測点。
Claims (1)
- １ Ｃ軸原点を基準としたＣ軸制御による加工を
行い得る旋盤において、加工基準点に対するＣ軸
値が角度により指定されたＣ軸値指定形状を有す
るワークの、Ｃ軸制御による加工を行う際に、前
記Ｃ軸値指定形状のＣ軸方向の両側の計測点の、
前記Ｃ軸原点からの角度を測定し、それ等測定さ
れた角度及びＣ軸値指定形状の前記加工基準点に
対する指定角度から、前記加工基準点のＣ軸原点
からの角度を求めるようにして構成したＣ軸にお
ける加工基準点のサーチ方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60073304A JPS61230846A (ja) | 1985-04-05 | 1985-04-05 | Ｃ軸における加工基準点のサ−チ方法 |
| GB08606615A GB2173320B (en) | 1985-04-05 | 1986-03-18 | A method and apparatus for searching fiducial point of machining relating to c-axis |
| US06/847,316 US4736325A (en) | 1985-04-05 | 1986-04-02 | Method and apparatus for searching for a fiducial point of machining relating to C-axis |
| DE19863611266 DE3611266A1 (de) | 1985-04-05 | 1986-04-04 | Verfahren und vorrichtung zum bezugspunktsuchen des bearbeitungsbezugspunktes in bezug auf die c-achse |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60073304A JPS61230846A (ja) | 1985-04-05 | 1985-04-05 | Ｃ軸における加工基準点のサ−チ方法 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23398091A Division JPH054149A (ja) | 1991-08-20 | 1991-08-20 | Ｃ軸制御旋盤 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61230846A JPS61230846A (ja) | 1986-10-15 |
| JPH0248387B2 true JPH0248387B2 (ja) | 1990-10-24 |
Family
ID=13514285
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60073304A Granted JPS61230846A (ja) | 1985-04-05 | 1985-04-05 | Ｃ軸における加工基準点のサ−チ方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4736325A (ja) |
| JP (1) | JPS61230846A (ja) |
| DE (1) | DE3611266A1 (ja) |
| GB (1) | GB2173320B (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0620492U (ja) * | 1992-02-28 | 1994-03-18 | キハラ製図機産業株式会社 | パッチワーク用定規 |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB8626499D0 (en) * | 1986-11-06 | 1986-12-10 | Busm Co Ltd | Treating workpieces |
| GB8918704D0 (en) * | 1989-08-16 | 1989-09-27 | T & N Technology Ltd | Cnc machine tools |
| JP2743622B2 (ja) * | 1991-06-17 | 1998-04-22 | 三菱電機株式会社 | 数値制御装置 |
| JPH06230817A (ja) * | 1993-01-29 | 1994-08-19 | Fanuc Ltd | 加工位置回転プログラムシフト方法 |
| JP4186286B2 (ja) * | 1998-12-11 | 2008-11-26 | 日本精工株式会社 | 位相合わせ装置 |
| JP2004268167A (ja) * | 2003-03-06 | 2004-09-30 | Hitachi Metals Ltd | 軽合金ホイール用のマシニング装置 |
| US7191535B2 (en) * | 2005-02-28 | 2007-03-20 | United Technologies Corporation | On-machine automatic inspection of workpiece features using a lathe rotary table |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3532863A (en) * | 1967-09-13 | 1970-10-06 | Xerox Corp | Dynamic cam tester |
-
1985
- 1985-04-05 JP JP60073304A patent/JPS61230846A/ja active Granted
-
1986
- 1986-03-18 GB GB08606615A patent/GB2173320B/en not_active Expired
- 1986-04-02 US US06/847,316 patent/US4736325A/en not_active Expired - Lifetime
- 1986-04-04 DE DE19863611266 patent/DE3611266A1/de active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0620492U (ja) * | 1992-02-28 | 1994-03-18 | キハラ製図機産業株式会社 | パッチワーク用定規 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3611266A1 (de) | 1987-10-15 |
| GB2173320B (en) | 1988-06-29 |
| GB2173320A (en) | 1986-10-08 |
| GB8606615D0 (en) | 1986-04-23 |
| US4736325A (en) | 1988-04-05 |
| JPS61230846A (ja) | 1986-10-15 |
| DE3611266C2 (ja) | 1993-07-22 |
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Legal Events
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