JPH0281233A - 情報処理装置の試験方法 - Google Patents
情報処理装置の試験方法Info
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- JPH0281233A JPH0281233A JP63234443A JP23444388A JPH0281233A JP H0281233 A JPH0281233 A JP H0281233A JP 63234443 A JP63234443 A JP 63234443A JP 23444388 A JP23444388 A JP 23444388A JP H0281233 A JPH0281233 A JP H0281233A
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F17/00—Digital computing or data processing equipment or methods, specially adapted for specific functions
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
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- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、情報処理装置の試験方式に関し、特に大量生
産時の検査工程の無人化のための無人化試験プログラム
方式に関するものである。
産時の検査工程の無人化のための無人化試験プログラム
方式に関するものである。
（従来の技術〕
製造工程において、ワークステーション等の処理装置の
量産検査ラインは、エージング槽内の複数検査工程から
形成されているため、操作具の介入は不可能である。ま
た、エージング槽内の各工程では、温度等の環境条件を
変化させて、試験項目を変化させる必要がある。このた
め、試験プログラムは無人状態で自動的に、かつ工程ご
とに所定の試験を実行し、その結果を蓄積して、全試験
が終了した後にその試験結果を表示するような機能が必
要であった。
量産検査ラインは、エージング槽内の複数検査工程から
形成されているため、操作具の介入は不可能である。ま
た、エージング槽内の各工程では、温度等の環境条件を
変化させて、試験項目を変化させる必要がある。このた
め、試験プログラムは無人状態で自動的に、かつ工程ご
とに所定の試験を実行し、その結果を蓄積して、全試験
が終了した後にその試験結果を表示するような機能が必
要であった。
従来の自動試験方式では１例えば、特開昭６２−２４７
４３４号公報に記載された方法のように、診断プログラ
ムモニタ内に自動運転モードのフラグを設け、プログラ
ムの実行手順を規定することにより、診断プログラムを
外部記憶装置に記憶した後、診断プログラムモニタを主
記憶装置に自動的にロードして、オペレータの操作を介
さずに一般診断プログラムを自動的に実行できるように
している。このように、従来の試験方式でも、一般診断
プログラムを自動的に実行できるようになっているが、
試験工程が複数ではなく、しかも各工程に合わせて試験
内容を変えることはできなかった。また、工程移動に伴
う電源のオン・オフの繰り返しについても、追従できる
機能は具備されていなかった。
４３４号公報に記載された方法のように、診断プログラ
ムモニタ内に自動運転モードのフラグを設け、プログラ
ムの実行手順を規定することにより、診断プログラムを
外部記憶装置に記憶した後、診断プログラムモニタを主
記憶装置に自動的にロードして、オペレータの操作を介
さずに一般診断プログラムを自動的に実行できるように
している。このように、従来の試験方式でも、一般診断
プログラムを自動的に実行できるようになっているが、
試験工程が複数ではなく、しかも各工程に合わせて試験
内容を変えることはできなかった。また、工程移動に伴
う電源のオン・オフの繰り返しについても、追従できる
機能は具備されていなかった。
上述のように、従来の、試験プログラムでは、無人化対
策としてエンドレスで試験を実行するヒートラン試験が
行われていた。しがし、この方法は、被試験システムが
試験中に通電状態であることを前提としているため、試
験環境を変化させて、被試験システムに負担をかけるよ
うに工程が分かれている場合には、自動的な工程ライン
の移動に伴う電源のオン・オフ、およびコールドスター
ト試験のための電源オン・オフを含めた無人化という点
については、何も配慮されてぃなかった。その結果、工
程ラインの移動は自動的に行うことができなかった。
策としてエンドレスで試験を実行するヒートラン試験が
行われていた。しがし、この方法は、被試験システムが
試験中に通電状態であることを前提としているため、試
験環境を変化させて、被試験システムに負担をかけるよ
うに工程が分かれている場合には、自動的な工程ライン
の移動に伴う電源のオン・オフ、およびコールドスター
ト試験のための電源オン・オフを含めた無人化という点
については、何も配慮されてぃなかった。その結果、工
程ラインの移動は自動的に行うことができなかった。
本発明の目的は、このような従来の課題を解決し、自動
的な工程ラインの移動に伴う電源オン・オフを含めて、
人手を介さずに無人で運転することができ、省力化と誤
操作防止と安全性向上が可能な情報処理装置の試験方式
を提供することにある。
的な工程ラインの移動に伴う電源オン・オフを含めて、
人手を介さずに無人で運転することができ、省力化と誤
操作防止と安全性向上が可能な情報処理装置の試験方式
を提供することにある。
上記目的を達成するため、本発明による情報処理装置の
試験方式は、（ｉ）複数の情報処理装置を試験対象とし
て、試験プログラムにより異なる温湿度環境の下で連続
して試験を行う複数の試験工程において、各工程ごとに
異なる試験項目と手順をテーブルに格納し、かつ該テー
ブルのポインタを試験対象である不揮発性の読み書き可
能なメモリ上に記憶し、電源オンにより試験プログラム
と上記テーブルを試験対象である主メモリ内にローディ
ングした後、初期試験工程で上記不揮発メモリの内容を
イニシャライズすることにより、上記試験プログラムは
電源オンの度ごとに上記ポインタを参照して、上記テー
ブルに示された手順に従って試験を実施し、該試験工程
の終了ごとに上記ポインタの値を更新して、自動的に各
工程ごとの異なる試験プログラムを実行することに特徴
がある。また、（ｉｉ）上記手順テーブル上に、磁気記
録装置の書き込みと読み込みの試験を、異なる温湿度環
境下で行うように指示しておくことにより、磁気記録装
置を試験対象として温湿度変化試験を自動的に実施する
ことにも特徴がある。また（市）上記手順テーブル上に
、書き込み情報を維持するためリフレッシュを必要とす
るメモリの試験を、該メモリへ情報を書き込んでから予
め定めた時間が経過した後に読み出すように指示してお
くことにより、リフレッシュメモリの試験を自動的に実
施することにも特徴がある。また、（ｉｖ）上記手順テ
ーブル上に、電源電圧をプログラムで変動させる手段を
備えた処理装置の試験を、電圧を変化させる手順を指示
しておくことにより、各試験工程において異なった電圧
で自動的に試験を実施することにも特徴がある。また、
（Ｖ）上記読み書き可能な不揮発性メモリ上に、再書き
込み不可能な追記形記録媒体の試験を行うため、書き込
み可能なアドレスを記憶しておくことにより、試験プロ
グラムが該アドレスを参照し、更新することにより、上
記再書き込み不可能な追記形記録媒体への害き込み試験
を自動的に実施することにも特徴がある。
試験方式は、（ｉ）複数の情報処理装置を試験対象とし
て、試験プログラムにより異なる温湿度環境の下で連続
して試験を行う複数の試験工程において、各工程ごとに
異なる試験項目と手順をテーブルに格納し、かつ該テー
ブルのポインタを試験対象である不揮発性の読み書き可
能なメモリ上に記憶し、電源オンにより試験プログラム
と上記テーブルを試験対象である主メモリ内にローディ
ングした後、初期試験工程で上記不揮発メモリの内容を
イニシャライズすることにより、上記試験プログラムは
電源オンの度ごとに上記ポインタを参照して、上記テー
ブルに示された手順に従って試験を実施し、該試験工程
の終了ごとに上記ポインタの値を更新して、自動的に各
工程ごとの異なる試験プログラムを実行することに特徴
がある。また、（ｉｉ）上記手順テーブル上に、磁気記
録装置の書き込みと読み込みの試験を、異なる温湿度環
境下で行うように指示しておくことにより、磁気記録装
置を試験対象として温湿度変化試験を自動的に実施する
ことにも特徴がある。また（市）上記手順テーブル上に
、書き込み情報を維持するためリフレッシュを必要とす
るメモリの試験を、該メモリへ情報を書き込んでから予
め定めた時間が経過した後に読み出すように指示してお
くことにより、リフレッシュメモリの試験を自動的に実
施することにも特徴がある。また、（ｉｖ）上記手順テ
ーブル上に、電源電圧をプログラムで変動させる手段を
備えた処理装置の試験を、電圧を変化させる手順を指示
しておくことにより、各試験工程において異なった電圧
で自動的に試験を実施することにも特徴がある。また、
（Ｖ）上記読み書き可能な不揮発性メモリ上に、再書き
込み不可能な追記形記録媒体の試験を行うため、書き込
み可能なアドレスを記憶しておくことにより、試験プロ
グラムが該アドレスを参照し、更新することにより、上
記再書き込み不可能な追記形記録媒体への害き込み試験
を自動的に実施することにも特徴がある。
さらに、（ｖｉ）上記読み書き可能な不揮発性メモリ上
に、各試験工程ごとの試験結果を蓄積し、全、試験が終
了した後に、該試験結果を一覧性のある形式に編集して
、表示することにも特徴がある。
に、各試験工程ごとの試験結果を蓄積し、全、試験が終
了した後に、該試験結果を一覧性のある形式に編集して
、表示することにも特徴がある。
本発明においては、不揮発メモリまたは外部記憶装置に
、テーブルおよびそのテーブルのポインタをそれぞれ記
憶しておき、テーブルには工程ごとの試験プログラムと
試験項目と手順を記載しておき、電源がオンになったタ
イミングで、上記ポインタで示されるテーブル上の手順
に従って試験を実行し、上記ポインタの値を電源オンに
なるごとに更新する。これにより、検査工程が複数であ
り、連続的に検査工程を移動する場合、電源がオン・オ
フを繰り返しても、試験プログラムが常に上記ポインタ
を参照して更新し、ポインタに示されたテーブルの試験
項目と手順に従って所定の試験を実行する。この結果、
一連の検査工程を操作具の介入なしに、自動的に実行す
ることができる。
、テーブルおよびそのテーブルのポインタをそれぞれ記
憶しておき、テーブルには工程ごとの試験プログラムと
試験項目と手順を記載しておき、電源がオンになったタ
イミングで、上記ポインタで示されるテーブル上の手順
に従って試験を実行し、上記ポインタの値を電源オンに
なるごとに更新する。これにより、検査工程が複数であ
り、連続的に検査工程を移動する場合、電源がオン・オ
フを繰り返しても、試験プログラムが常に上記ポインタ
を参照して更新し、ポインタに示されたテーブルの試験
項目と手順に従って所定の試験を実行する。この結果、
一連の検査工程を操作具の介入なしに、自動的に実行す
ることができる。
以下、本発明の実施例を、図面により詳細に説明する。
第１図は、本発明の一実施例を示す検査ラインの概念図
である。
である。
第１図において、１−１は温度等の環境を変化させる環
境変化槽、１−２は低温槽、１−３は温度変化槽、１−
４は高温槽、１−５はコンベアライン、１−６は情報処
理装置（製品）である、また、電源のオン・オフの状態
レベルが示され、工程２では、電圧変動の高レベル、０
レベル、低レベルへの変化が示されている。
境変化槽、１−２は低温槽、１−３は温度変化槽、１−
４は高温槽、１−５はコンベアライン、１−６は情報処
理装置（製品）である、また、電源のオン・オフの状態
レベルが示され、工程２では、電圧変動の高レベル、０
レベル、低レベルへの変化が示されている。
自動検査ライン工程は、第１図に示すように、組立工程
の後にコンベアライン１−５で連続しており、第１工程
の初期試験工程、環境変化槽１−１内で実施される複数
の試験工程（環境・エージング試験工程）、 および最
終確認試験工程からなる。そして、検査ラインの後には
、梱包工程がある。初期試験工程と最終確認工程では操
作員が立ち合い、また初期試験工程では試験プログラム
媒体のセットおよび簡易試験による初期試験が行われる
。また、最終確認工程では、環境変化槽１−１内の試験
結果が判別され、試験対象機器１−６の選別が行われる
。環境変化槽１−１内は低温槽１−２、温度変化槽１−
３、高温槽１−４からなり、無人状態になっている。コ
ンベアライン１−５は、環境変化槽内の単位時間ごとに
分かれた複数工程を自動的に流れている。コンベアライ
ン上の試験対象機器１−６は、工程の移動に伴って、プ
ログラムまたは機械的による電源オンおよび電源オフが
行われる。各工程にわたって、予め試験項目が設定され
ており、各工程内も詳細な試験項目が定められていて、
電圧変化も試験項目に含められる。−例として、試験対
象機器１−６が磁気ディスク装置の場合には、低温槽１
−２で特定アドレスに書き込んだ試験データについては
、高温槽１−４に至るまで読み込みのみの試験を行い、
高温槽１−４で最初に読み込み試験を行った後、再書き
込みの試験を行う。
の後にコンベアライン１−５で連続しており、第１工程
の初期試験工程、環境変化槽１−１内で実施される複数
の試験工程（環境・エージング試験工程）、 および最
終確認試験工程からなる。そして、検査ラインの後には
、梱包工程がある。初期試験工程と最終確認工程では操
作員が立ち合い、また初期試験工程では試験プログラム
媒体のセットおよび簡易試験による初期試験が行われる
。また、最終確認工程では、環境変化槽１−１内の試験
結果が判別され、試験対象機器１−６の選別が行われる
。環境変化槽１−１内は低温槽１−２、温度変化槽１−
３、高温槽１−４からなり、無人状態になっている。コ
ンベアライン１−５は、環境変化槽内の単位時間ごとに
分かれた複数工程を自動的に流れている。コンベアライ
ン上の試験対象機器１−６は、工程の移動に伴って、プ
ログラムまたは機械的による電源オンおよび電源オフが
行われる。各工程にわたって、予め試験項目が設定され
ており、各工程内も詳細な試験項目が定められていて、
電圧変化も試験項目に含められる。−例として、試験対
象機器１−６が磁気ディスク装置の場合には、低温槽１
−２で特定アドレスに書き込んだ試験データについては
、高温槽１−４に至るまで読み込みのみの試験を行い、
高温槽１−４で最初に読み込み試験を行った後、再書き
込みの試験を行う。
第２図は、本発明の一実施例を示す試験対象の情報処理
装置の構成図である。
装置の構成図である。
第２図において、２−１は試験の対象である中央処理装
置、２−２は主メモ１ハ２−３は命令解析機構、２−４
は電気変動機構、２−５は電源部、２−６は不揮発メモ
リ、２−７は被試験機器、２−８は主メモリ２−２に格
納された試験プログラム、２−９は主メモリ２−２に格
納さ九た試験手順テーブル、２−１０は不揮発メモリ２
−６に格納されたテーブルのポインタ、２−１１は試験
正常終了回数格納エリア、２−１２はエラーメッセージ
ログング・エリアである。
置、２−２は主メモ１ハ２−３は命令解析機構、２−４
は電気変動機構、２−５は電源部、２−６は不揮発メモ
リ、２−７は被試験機器、２−８は主メモリ２−２に格
納された試験プログラム、２−９は主メモリ２−２に格
納さ九た試験手順テーブル、２−１０は不揮発メモリ２
−６に格納されたテーブルのポインタ、２−１１は試験
正常終了回数格納エリア、２−１２はエラーメッセージ
ログング・エリアである。
第２図からも明らかなように、本発明の情報処理袋＠２
−１は試験対象機器であるとともに、その中の主メモリ
２−２には試験のための手順を記憶したテーブル２−９
と、試験を実行する試験プログラム２−８とが格納され
ている。また、中央処理装置２−１に接続される外部記
憶装置の不揮発メモリ２−６には、このテーブルを検索
するポインタが格納されているので、外部からこのポイ
ンタ２−１０を初ｒｇｉ設定することにより、人手を介
さずに自動的に被試験機器内のテーブルから試験手順を
読み出し、試験プログラム２−８を実行することにより
、手順に従って試験を行う。
−１は試験対象機器であるとともに、その中の主メモリ
２−２には試験のための手順を記憶したテーブル２−９
と、試験を実行する試験プログラム２−８とが格納され
ている。また、中央処理装置２−１に接続される外部記
憶装置の不揮発メモリ２−６には、このテーブルを検索
するポインタが格納されているので、外部からこのポイ
ンタ２−１０を初ｒｇｉ設定することにより、人手を介
さずに自動的に被試験機器内のテーブルから試験手順を
読み出し、試験プログラム２−８を実行することにより
、手順に従って試験を行う。
ここで、情報処理装置は、自ら試験対象である中央処理
装置２−１と、これに含まれる主メモリ２−２、命令解
析機構２−３、電圧変動機構２−４、電源部２−５、不
揮発メモリ２−６、および被試験機器群２−７からなる
。主メモリ２−２内には、電源オンにより自動的に被試
験機器２−７の中のプログラム格納機器（外部記憶装置
）から試験プログラムと試験手順テーブルとがローディ
ングされる。不揮発メモリ２−６内には、試験手順テー
ブル等のポインタ２−１０と試験正常終了回数エリア２
−１１とエラーメツセージロギングエリア２−１２とが
格納される。不揮発メモリ２−６の内容は、第１図で示
した初期試験工程でイニシャライズされる。第１図に示
す工程２以降では、電源オンの度ごとに試験手順テーブ
ル２−９のポインタ２−１０を参照し、試験手順テーブ
ル２−９に示された試験を実施して、その試験が終了し
た後、そのポインタ２−１０の値を更新する。
装置２−１と、これに含まれる主メモリ２−２、命令解
析機構２−３、電圧変動機構２−４、電源部２−５、不
揮発メモリ２−６、および被試験機器群２−７からなる
。主メモリ２−２内には、電源オンにより自動的に被試
験機器２−７の中のプログラム格納機器（外部記憶装置
）から試験プログラムと試験手順テーブルとがローディ
ングされる。不揮発メモリ２−６内には、試験手順テー
ブル等のポインタ２−１０と試験正常終了回数エリア２
−１１とエラーメツセージロギングエリア２−１２とが
格納される。不揮発メモリ２−６の内容は、第１図で示
した初期試験工程でイニシャライズされる。第１図に示
す工程２以降では、電源オンの度ごとに試験手順テーブ
ル２−９のポインタ２−１０を参照し、試験手順テーブ
ル２−９に示された試験を実施して、その試験が終了し
た後、そのポインタ２−１０の値を更新する。
また、その試験が正常終了であれば、不揮発メモリ２−
６の試験正常終了回数を更新する。エラー終了であれば
、試験正常終了回数の更新を行わずに、エラー終了を示
すエラーメツセージを不揮発メモリ２−６のエラーメツ
セージロギングエリア２−１２に蓄積する６次に、上記
ポインタを参照し、試験手順テーブル２−９に示された
試験を実施する。以降、この処理を繰り返し行う。
６の試験正常終了回数を更新する。エラー終了であれば
、試験正常終了回数の更新を行わずに、エラー終了を示
すエラーメツセージを不揮発メモリ２−６のエラーメツ
セージロギングエリア２−１２に蓄積する６次に、上記
ポインタを参照し、試験手順テーブル２−９に示された
試験を実施する。以降、この処理を繰り返し行う。
なお、試験手順テーブル２−９には、電圧変動の手順や
１４次工程に移るための電圧オフまで待機する手順も含
まれている。最終確認工程では、同じようにして、ポイ
ンタ２−１０に示された試験手順テーブルの処理として
、試験正常終了回数と蓄積されているエラーメッセージ
ログングの内容を表示し、また必要に応じてこれを印字
する。最終確認工程の操作員は、前記試験結果の表示ま
たは印字により、試験結果を即時に判定することができ
る。
１４次工程に移るための電圧オフまで待機する手順も含
まれている。最終確認工程では、同じようにして、ポイ
ンタ２−１０に示された試験手順テーブルの処理として
、試験正常終了回数と蓄積されているエラーメッセージ
ログングの内容を表示し、また必要に応じてこれを印字
する。最終確認工程の操作員は、前記試験結果の表示ま
たは印字により、試験結果を即時に判定することができ
る。
本実施例においては、情報処理装置の環境変化、温湿度
変化、１１！圧変化等の外部変化に対応した所定の組合
わせ試験を、連続して無人で実施することができ、かつ
試験結果を直ちに判定することが可能である。
変化、１１！圧変化等の外部変化に対応した所定の組合
わせ試験を、連続して無人で実施することができ、かつ
試験結果を直ちに判定することが可能である。
また、書き込み情報の維持にリフレッシュを必要とする
メモリの試験を、メモリへ書き込み後、一定時間経過し
た後に読み出すように、試験手順テーブル２−９に記載
することによって、リフレッシュメモリの試験も実施す
ることができる。
メモリの試験を、メモリへ書き込み後、一定時間経過し
た後に読み出すように、試験手順テーブル２−９に記載
することによって、リフレッシュメモリの試験も実施す
ることができる。
電源電圧を変化させる手順を、試験手順テーブル２−９
に記載することによって、電源電圧をプログラムで変動
できる機構を備えた情報処理装置の試験を行うことがで
きる。
に記載することによって、電源電圧をプログラムで変動
できる機構を備えた情報処理装置の試験を行うことがで
きる。
また、再書き込みが不可能な追記形記録媒体（例えば、
光ディスク等）の試験を行うためには、書き込み可能な
アドレスを不揮発性の読み書き可能な記録媒体に設けて
おき、このアドレスを参照更新することによって、書き
込み試験を行うことが可能である。その場合、書き込み
可能なアドレスが、最低１箇所は追記形記録媒体に存在
することが必要となる。
光ディスク等）の試験を行うためには、書き込み可能な
アドレスを不揮発性の読み書き可能な記録媒体に設けて
おき、このアドレスを参照更新することによって、書き
込み試験を行うことが可能である。その場合、書き込み
可能なアドレスが、最低１箇所は追記形記録媒体に存在
することが必要となる。
第３図は、本発明の一実施例を示す試験方式の動作フロ
ーチャートである。
ーチャートである。
先ず、電源がオンすることにより、試験プログラムおよ
び手順テーブルを情報処理装置内の主メモリにローディ
ングする（ステップ１０１）。次に、扱者により不揮発
性メモリがイニシャライズされたか否かを判断しくステ
ップ１０２）、イニシャライズされていれば、次の試験
工程（ここでは、第二の試験工程）にコンベアで移動し
たか否かを判断しくステップ１ｏ３）、移動が完了して
いれば、その工程での電源をオンして（ステップ１０４
）、その工程へのポインタを参照し、テーブルに示され
た手順で試験を実施する（ステップ１０５）。試験が終
了したならば（ステップ１０６）、試験結果が正常か否
かを判定しくステップ１０７）、正常であれば、不揮発
メモリの正常終了回数を更新する（ステップ１０８）、
また、エラーで終了したならば、エラーメツセージをロ
ギングに蓄積する（ステップ１０９）。そして、ポイン
タが終了するまでステップ１０３にループして、繰り返
し同一の動作を行う（ステップ１０３〜１０９）。
び手順テーブルを情報処理装置内の主メモリにローディ
ングする（ステップ１０１）。次に、扱者により不揮発
性メモリがイニシャライズされたか否かを判断しくステ
ップ１０２）、イニシャライズされていれば、次の試験
工程（ここでは、第二の試験工程）にコンベアで移動し
たか否かを判断しくステップ１ｏ３）、移動が完了して
いれば、その工程での電源をオンして（ステップ１０４
）、その工程へのポインタを参照し、テーブルに示され
た手順で試験を実施する（ステップ１０５）。試験が終
了したならば（ステップ１０６）、試験結果が正常か否
かを判定しくステップ１０７）、正常であれば、不揮発
メモリの正常終了回数を更新する（ステップ１０８）、
また、エラーで終了したならば、エラーメツセージをロ
ギングに蓄積する（ステップ１０９）。そして、ポイン
タが終了するまでステップ１０３にループして、繰り返
し同一の動作を行う（ステップ１０３〜１０９）。
以上説明したように、本発明によれば、試験槽内の試験
を含む複数の工程からなる情報処理装置の試験において
、人手を介すことなく運転することができるので、手数
が不要となり、かつ人手による誤操作が防止され、しか
も安全性が確保されるとともに、大量生産が可能である
。
を含む複数の工程からなる情報処理装置の試験において
、人手を介すことなく運転することができるので、手数
が不要となり、かつ人手による誤操作が防止され、しか
も安全性が確保されるとともに、大量生産が可能である
。
第１図は本発明の一実施例を示す自動検査ライン工程の
ブロック図、第２図は被試験機器である情報処理装置の
構成図第３図は本発明の一実施例を示す試験方式の動作
フローチャートである。 １−１＝環境変化槽、１−２：低温槽、１−３：温度変
化槽、１−４：高温槽、１−５：コンベアライン、１−
６：情報処理装置（被試験機器）、２−１：中央処理装
置、２−２：主メモリ、２−３：命令解析機構、２−４
：？！！圧変動機構、２−５二重源部、２−６：不揮
発メモリ、２−７：被試験機器、２−８：試験プログラ
ム、２−９：試験手順テーブル、２−１０：ポインタ、
２−１１：試験正常終了回数エリア、２−１２：エラー
メツセージロギングエリア。 第 図
ブロック図、第２図は被試験機器である情報処理装置の
構成図第３図は本発明の一実施例を示す試験方式の動作
フローチャートである。 １−１＝環境変化槽、１−２：低温槽、１−３：温度変
化槽、１−４：高温槽、１−５：コンベアライン、１−
６：情報処理装置（被試験機器）、２−１：中央処理装
置、２−２：主メモリ、２−３：命令解析機構、２−４
：？！！圧変動機構、２−５二重源部、２−６：不揮
発メモリ、２−７：被試験機器、２−８：試験プログラ
ム、２−９：試験手順テーブル、２−１０：ポインタ、
２−１１：試験正常終了回数エリア、２−１２：エラー
メツセージロギングエリア。 第 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、複数の情報処理装置を試験対象として、試験プログ
ラムにより異なる温湿度環境の下で連続して試験を行う
複数の試験工程において、各工程ごとに異なる試験項目
と手順をテーブルに格納し、かつ該テーブルのポインタ
を試験対象である不揮発性の読み書き可能なメモリ上に
記憶し、電源オンにより試験プログラムと上記テーブル
を試験対象である主メモリ内にローディングした後、初
期試験工程で上記不揮発メモリの内容をイニシャライズ
することにより、上記試験プログラムは電源オンの度ご
とに上記ポインタを参照して、上記テーブルに示された
手順に従って試験を実施し、該試験工程の終了ごとに上
記ポインタの値を更新して、自動的に各工程ごとの異な
る試験プログラムを実行することを特徴とする情報処理
装置の試験方式。 ２、上記手順テーブル上に、磁気記録装置の書き込みと
読み込みの試験を、異なる温湿度環境下で行うように指
示しておくことにより、磁気記録装置を試験対象として
温湿度変化試験を自動的に実施することを特徴とする請
求項１記載の情報処理装置の試験方式。 ３、上記手順テーブル上に、書き込み情報を維持するた
めリフレッシュを必要とするメモリの試験を、該メモリ
へ情報を書き込んでから予め定めた時間が経過した後に
読み出すように指示しておくことにより、リフレッシュ
メモリの試験を自動的に実施することを特徴とする請求
項１記載の情報処理装置の試験方式。 ４、上記手順テーブル上に、電源電圧をプログラムで変
動させる手段を備えた処理装置の試験を、電圧を変化さ
せる手順を指示しておくことにより、各試験工程におい
て異なった電圧で自動的に試験を実施することを特徴と
する請求項１記載の情報処理装置の試験方式。 ５、上記読み書き可能な不揮発性メモリ上に、再書き込
み不可能な追記形記録媒体の試験を行うため、書き込み
可能なアドレスを記憶しておくことにより、試験プログ
ラムが該アドレスを参照し、更新することにより、上記
再書き込み不可能な追記形記録媒体への書き込み試験を
自動的に実施することを特徴とする請求項１記載の情報
処理装置の試験方式。６、上記読み書き可能な不揮発性
メモリ上に、各試験工程ごとの試験結果を蓄積し、全試
験が終了した後に、該試験結果を一覧性のある形式に編
集して、表示することを特徴とする請求項１記載の情報
処理装置の試験方式。
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