JPH03132005A - 磁性薄膜およびこれを用いた磁気ヘッド - Google Patents
磁性薄膜およびこれを用いた磁気ヘッドInfo
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- JPH03132005A JPH03132005A JP26893389A JP26893389A JPH03132005A JP H03132005 A JPH03132005 A JP H03132005A JP 26893389 A JP26893389 A JP 26893389A JP 26893389 A JP26893389 A JP 26893389A JP H03132005 A JPH03132005 A JP H03132005A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
本発明は低保磁力、高透磁率、高飽和磁束密度を有する
磁性薄膜に関し、特に磁気ディスク装置、VTRなどに
用いる磁気ヘッドおよび磁気ヘッドのコア材料に適した
磁性薄膜に関する。
磁性薄膜に関し、特に磁気ディスク装置、VTRなどに
用いる磁気ヘッドおよび磁気ヘッドのコア材料に適した
磁性薄膜に関する。
近年、磁気記録技術の発展は著しく、記B密度の向上が
進められている。記録密度を高くするためには高保磁力
の記録媒体を使用する必要があり。 また高保磁力の記録媒体を磁化するためには、高飽和磁
束密度を有する磁極材料が必要となる。 アール・エム・ボゾルス、フェロマグネテイズム、19
Qページから209ページ(R,M、Bozorth、
Ferromagnetism。 pp190−209)において論じられているようにF
e−Co系合金は2.4T程度の高い飽和磁束密度を有
し、またバルク材料では優れた軟磁気特性を有する。
進められている。記録密度を高くするためには高保磁力
の記録媒体を使用する必要があり。 また高保磁力の記録媒体を磁化するためには、高飽和磁
束密度を有する磁極材料が必要となる。 アール・エム・ボゾルス、フェロマグネテイズム、19
Qページから209ページ(R,M、Bozorth、
Ferromagnetism。 pp190−209)において論じられているようにF
e−Co系合金は2.4T程度の高い飽和磁束密度を有
し、またバルク材料では優れた軟磁気特性を有する。
しかし、Fe−Co系合金は薄膜にすると軟磁気特性が
劣化し、磁気ヘッド材料として用いることができないと
いう問題があった。 本発明の目的は、上述のFe−Co系合金の薄膜化によ
る軟磁気特性劣化の問題を解消し、低保磁力、高透磁率
ならびに高飽和磁束密度を有する磁性薄膜およびこれを
用いた磁気ヘッドを提供することにある。
劣化し、磁気ヘッド材料として用いることができないと
いう問題があった。 本発明の目的は、上述のFe−Co系合金の薄膜化によ
る軟磁気特性劣化の問題を解消し、低保磁力、高透磁率
ならびに高飽和磁束密度を有する磁性薄膜およびこれを
用いた磁気ヘッドを提供することにある。
本発明者らはFe−Co系合金にC,B、Nを添加した
磁性薄膜について、鋭意研究を行った結果、上記Fe−
8〜40at%CO合金薄膜にC2B、Hの少なくとも
1種を0.1〜10at%(但しCは0.1〜16a
t%)添加することにより、Fe−Co系合金の軟磁気
特性を向上させることができることを明らかにし、本発
明を完成するに至った。 また上記磁性薄膜にCr、Mo、W、V、Nb。 Ta、Ti、Zr、Hfの少なくとも1種を0゜1〜1
5at%添加することによりさらに軟磁気特性を向上さ
せることができる。 また上記磁性薄膜に他の組成の層を挿入することにより
さらに軟磁気特性を向上させることができる。 またさらに、本発明の磁性薄膜を磁気ヘッドの磁気回路
の少なくとも一部に用いることにより、優れた記録特性
を有する磁気ヘッドを得ることができる。
磁性薄膜について、鋭意研究を行った結果、上記Fe−
8〜40at%CO合金薄膜にC2B、Hの少なくとも
1種を0.1〜10at%(但しCは0.1〜16a
t%)添加することにより、Fe−Co系合金の軟磁気
特性を向上させることができることを明らかにし、本発
明を完成するに至った。 また上記磁性薄膜にCr、Mo、W、V、Nb。 Ta、Ti、Zr、Hfの少なくとも1種を0゜1〜1
5at%添加することによりさらに軟磁気特性を向上さ
せることができる。 また上記磁性薄膜に他の組成の層を挿入することにより
さらに軟磁気特性を向上させることができる。 またさらに、本発明の磁性薄膜を磁気ヘッドの磁気回路
の少なくとも一部に用いることにより、優れた記録特性
を有する磁気ヘッドを得ることができる。
以下に本発明の一実施例を挙げ、図表を参照しながらさ
らに具体的に説明する。 [実施例1] まず、Fe−Co系合金のCo濃度と飽和磁束密度との
関係について調べた。磁性薄膜の作製にはイオンビーム
・スパッタリング装置を用いた。 スパッタリングは以下の条件で行った。 イオンガス・・・Ar 装置内Arガス圧力・・・2.5X1002Pa蒸着用
イオンガン加速電圧・・・1200V蒸着用イオンガン
イオン電流・・・120mAターゲット基板間距離・・
・127mmFe−Co系合金のCo濃度と飽和磁束密
度との関係を第4図に示す、同図のようにFeにCOを
添加すると飽和磁束密度が増加する。Co濃度が40a
t%以上になると飽和磁束密度が減少する。Coが8
〜40at%の組成範囲で2.3T以上の飽和磁束密度
が得られる。従ってCo濃度は8〜40at%の範囲と
することが好ましい。 またCo濃度を12〜38at%とすると2.35T以
上の飽和磁束密度が得られる。 [実施例2] 実施例1と同様の条件でF e −30a t%C。 合金にCを添加した合金薄膜を作製した。また磁気特性
を測定する前に磁性膜を500℃で1時間、熱処理した
。C濃度と保磁力および比透磁率との関係を第1図に示
す。第1図の保磁力のC濃度依存性11に示すように、
Fe−30at%CO合金にCを0.1at%以上添加
すると保磁力が減少する。C濃度が9at%の時に保磁
力は極小となる。C濃度が16a t%より大きくなる
と、保磁力はCを添加しないときより大きくなる。従っ
て、Cの添加は0.1〜16a t%の範囲が好ましい
。また比透磁率のC濃度依存性12に示すように、比透
磁率の変化は保磁力の変化にほぼ対応している。またF
e−8〜40a t%Coの組成範囲の合金においても
C添加による保磁力の減少が見られた。 次に、Fe−30at%Co合金にBを添加した合金薄
膜を作製した。B濃度と保磁力および比透磁率との関係
を第2図に示す。第2図の保磁力のC濃度依存性21に
示すように、Fe−30at%Go合金にBを0.1a
t%以上添加すると保磁力が減少する。B濃度が5.!
5at%の時に保磁力は極小となる。B濃度が10at
%より大きくなると、保磁力はBを添加しないときより
大きくなる。従って、Bの添加は0.1〜10at%の
範囲が好ましい。また比透磁率のB濃度依存性22に示
すように、比透磁率の変化は保磁力の変化にほぼ対応し
ている。またFe−8〜40at%Coの組成範囲の合
金においてもB添加による保磁力の減少が見られた。 次に、Fe−30at%Co合金にNを添加した合金薄
膜を作製した。N1度と保磁力および比透磁率との関係
を第3図に示す。第3図の保磁力のN濃度依存性31に
示すように、Fe−30at%Co合金にNをQ、la
t%以上添加すると保磁力が減少する。N濃度が5.2
at%の時に保磁力は極小となる。N濃度が10at%
より大きくなると、保磁力はNを添加しないときとほぼ
同等となる。従って、Nの添加は0.1〜10aむ%の
範囲が好ましい。また比透磁率のNa変度依存32に示
すように、比透磁率の変化は保磁力の変化にほぼ対応し
ている。またFe−8〜40at%Coの組成範囲の合
金においてもN添加による保磁力の減少が見られた。 また、Fe−30at%Co合金にC,B、Nの中の2
種類以上を添加したときにも軟磁気特性が向上する。こ
の時も、これらの元素の添加量の合計は0.1〜10a
t%の範囲が好ましい。またFe−8〜40at%C
oの組成範囲の合金においてもC,B、N添加による保
磁力の減少が見られた。 [実施例3] 実施例1と同様の条件で、多M磁性7;!を膜を形成し
た。 多層磁性薄膜の断面図を第5図に示す。本実施例では、
主磁性層51として膜厚450人のFe−27at%C
o −9a t%C合金薄膜、中間層52として膜厚5
o人の各種材料、基板53としてコーニング社製705
9ガラス基板を用いた。多N磁性薄膜全体の膜厚は50
00人とし、主磁性層51の暦数は10層である。なお
、磁気特性を測定する前に磁性膜を500°Cで1時間
、熱処理した。中間層材料と磁性薄膜の保磁力との関係
を第1表に示す。 第1表に示すごとく、Fe−Co−C系合金に他の組成
の中間層を挿入すると保磁力が減少する。 しかし、同表のように、中間層として5in2、Al2
O,を用いた多層磁性薄膜はほかの多層磁性薄膜よりも
保磁力が大きい。これはS i O,、Al2O、等の
酸化物が多孔質であり、そのためこれらの直上に蒸着し
た磁性層も空孔等の欠陥を多く含むためと考えられる。 従って、中間層材料としては、金属およびB、C,Si
、BN、B、C。 SiC等の半金属が好ましい。また、多層化による飽和
磁束密度の低下を防ぐ観点からは、磁性中間層を用いる
ことが好ましい。 第1表 また、Fe−Go−B、Fe−Co−N系合金およびF
e−GoにC,B、Hの中の2種類以上を添加した合金
を多層化しても保磁力が減少する。 [実施例4コ 実施例1と同様の条件でFe−27at%C。 −9at%C合金にTaを添加した合金薄膜を形成した
。第6図の保磁力のTa添加量依存性55に示すように
、Taを0.1at%以上添加すると保磁力が減少する
。Ta添加量が15at%より多くなると、Taを添加
しない場合よりも保磁力が大きくなる。また比透磁率の
Ta添加量依存性56に示すように、比透磁率の変化は
保磁力の変化に対応している。以上の結果からFe−C
。 −C系合金に対するTaの添加量はQ、lat%から1
5at%が好ましい。 またFe−27at%Co−9at%C合金にCr、M
o、W、V、Nb、Ta、Ti、Zr。 Hfを8.5at%添加した時の保磁力の値を第2表に
示す。 第2表に示すように、Fe−Co7C系合金にCr、M
at W、V、Nb、Ta、Ti、Zr。 Hfを添加すると保磁力が減少する。 また上記元素の添加量はQ、1at%から15at%が
好ましい。また上記元素を2種類以上添加しても良い。 また上記元素の添加による保磁力の減少はF e −C
o −B系合金およびFe−C。 −N系合金においても見られた。 第2表 [実施例5] 本発明のFe−27at%Co−9at%C/N1多層
膜(主磁性層450人、Ni中間N50人、積層周期5
00人、総膜厚約2000人)ないし従来の実用材料で
あるパーマロイ(Ni−20at%Fe)合金薄膜(膜
厚2000人)を用い第7図に示すような垂直磁気記録
用単磁極型磁気ヘッド71を作製した。垂直磁気記録用
単磁極型磁気ヘッド71の作製工程を以下に述べる。 第7図(a)に示すM n −Z nフェライト61お
よび高融点ガラス62からなる基板63を用い、その表
面に第7図(b)に示すように上記磁性薄膜64をイオ
ンビームスパッタリング法で形成した。さらにその上に
接着用ガラス膜をイオンビームスパッタリング法により
形成し、第7図(a)に示す基板63を重ねあわせて4
50℃で30分間加熱し、上記ガラス膜を溶融固着させ
、第7図(C)に示す主磁極ブロック65を作製した。 そして第7図(d)に示すM n −Z nフェライト
66および高融点ガラス67からなる補助コアブロック
68を用意し、接合面7oに上記と同様の接着用ガラス
膜を形成した後、主磁極ブロック65を補助コアブロッ
ク68の接合面によって挾み、450℃で30分間加熱
することにより、上記ガラス膜を溶融固着させて接合ブ
ロック69を作製した。次に第7図(d)に示す二点鎖
線部を切断し、第7図(e)に示す垂直磁気記録用単磁
極型磁気ヘッド71を得た。 上述の工程によって作製した磁気ヘッドの記録特性をC
o−Cr垂直磁気記録媒体を用いて謂定した。再生ヘッ
ドとしてはフェライトヘッドを用いた。その結果、本発
明の多層磁性薄膜を用いた磁気ヘッドは、パーマロイ合
金を用いた磁気ヘッドと比較して、約6dB高い出力を
示した。これは本発明の多層磁性薄膜がパーマロイ合金
の飽和磁束密度の約2倍の飽和磁束密度を有するためと
考えられる。
らに具体的に説明する。 [実施例1] まず、Fe−Co系合金のCo濃度と飽和磁束密度との
関係について調べた。磁性薄膜の作製にはイオンビーム
・スパッタリング装置を用いた。 スパッタリングは以下の条件で行った。 イオンガス・・・Ar 装置内Arガス圧力・・・2.5X1002Pa蒸着用
イオンガン加速電圧・・・1200V蒸着用イオンガン
イオン電流・・・120mAターゲット基板間距離・・
・127mmFe−Co系合金のCo濃度と飽和磁束密
度との関係を第4図に示す、同図のようにFeにCOを
添加すると飽和磁束密度が増加する。Co濃度が40a
t%以上になると飽和磁束密度が減少する。Coが8
〜40at%の組成範囲で2.3T以上の飽和磁束密度
が得られる。従ってCo濃度は8〜40at%の範囲と
することが好ましい。 またCo濃度を12〜38at%とすると2.35T以
上の飽和磁束密度が得られる。 [実施例2] 実施例1と同様の条件でF e −30a t%C。 合金にCを添加した合金薄膜を作製した。また磁気特性
を測定する前に磁性膜を500℃で1時間、熱処理した
。C濃度と保磁力および比透磁率との関係を第1図に示
す。第1図の保磁力のC濃度依存性11に示すように、
Fe−30at%CO合金にCを0.1at%以上添加
すると保磁力が減少する。C濃度が9at%の時に保磁
力は極小となる。C濃度が16a t%より大きくなる
と、保磁力はCを添加しないときより大きくなる。従っ
て、Cの添加は0.1〜16a t%の範囲が好ましい
。また比透磁率のC濃度依存性12に示すように、比透
磁率の変化は保磁力の変化にほぼ対応している。またF
e−8〜40a t%Coの組成範囲の合金においても
C添加による保磁力の減少が見られた。 次に、Fe−30at%Co合金にBを添加した合金薄
膜を作製した。B濃度と保磁力および比透磁率との関係
を第2図に示す。第2図の保磁力のC濃度依存性21に
示すように、Fe−30at%Go合金にBを0.1a
t%以上添加すると保磁力が減少する。B濃度が5.!
5at%の時に保磁力は極小となる。B濃度が10at
%より大きくなると、保磁力はBを添加しないときより
大きくなる。従って、Bの添加は0.1〜10at%の
範囲が好ましい。また比透磁率のB濃度依存性22に示
すように、比透磁率の変化は保磁力の変化にほぼ対応し
ている。またFe−8〜40at%Coの組成範囲の合
金においてもB添加による保磁力の減少が見られた。 次に、Fe−30at%Co合金にNを添加した合金薄
膜を作製した。N1度と保磁力および比透磁率との関係
を第3図に示す。第3図の保磁力のN濃度依存性31に
示すように、Fe−30at%Co合金にNをQ、la
t%以上添加すると保磁力が減少する。N濃度が5.2
at%の時に保磁力は極小となる。N濃度が10at%
より大きくなると、保磁力はNを添加しないときとほぼ
同等となる。従って、Nの添加は0.1〜10aむ%の
範囲が好ましい。また比透磁率のNa変度依存32に示
すように、比透磁率の変化は保磁力の変化にほぼ対応し
ている。またFe−8〜40at%Coの組成範囲の合
金においてもN添加による保磁力の減少が見られた。 また、Fe−30at%Co合金にC,B、Nの中の2
種類以上を添加したときにも軟磁気特性が向上する。こ
の時も、これらの元素の添加量の合計は0.1〜10a
t%の範囲が好ましい。またFe−8〜40at%C
oの組成範囲の合金においてもC,B、N添加による保
磁力の減少が見られた。 [実施例3] 実施例1と同様の条件で、多M磁性7;!を膜を形成し
た。 多層磁性薄膜の断面図を第5図に示す。本実施例では、
主磁性層51として膜厚450人のFe−27at%C
o −9a t%C合金薄膜、中間層52として膜厚5
o人の各種材料、基板53としてコーニング社製705
9ガラス基板を用いた。多N磁性薄膜全体の膜厚は50
00人とし、主磁性層51の暦数は10層である。なお
、磁気特性を測定する前に磁性膜を500°Cで1時間
、熱処理した。中間層材料と磁性薄膜の保磁力との関係
を第1表に示す。 第1表に示すごとく、Fe−Co−C系合金に他の組成
の中間層を挿入すると保磁力が減少する。 しかし、同表のように、中間層として5in2、Al2
O,を用いた多層磁性薄膜はほかの多層磁性薄膜よりも
保磁力が大きい。これはS i O,、Al2O、等の
酸化物が多孔質であり、そのためこれらの直上に蒸着し
た磁性層も空孔等の欠陥を多く含むためと考えられる。 従って、中間層材料としては、金属およびB、C,Si
、BN、B、C。 SiC等の半金属が好ましい。また、多層化による飽和
磁束密度の低下を防ぐ観点からは、磁性中間層を用いる
ことが好ましい。 第1表 また、Fe−Go−B、Fe−Co−N系合金およびF
e−GoにC,B、Hの中の2種類以上を添加した合金
を多層化しても保磁力が減少する。 [実施例4コ 実施例1と同様の条件でFe−27at%C。 −9at%C合金にTaを添加した合金薄膜を形成した
。第6図の保磁力のTa添加量依存性55に示すように
、Taを0.1at%以上添加すると保磁力が減少する
。Ta添加量が15at%より多くなると、Taを添加
しない場合よりも保磁力が大きくなる。また比透磁率の
Ta添加量依存性56に示すように、比透磁率の変化は
保磁力の変化に対応している。以上の結果からFe−C
。 −C系合金に対するTaの添加量はQ、lat%から1
5at%が好ましい。 またFe−27at%Co−9at%C合金にCr、M
o、W、V、Nb、Ta、Ti、Zr。 Hfを8.5at%添加した時の保磁力の値を第2表に
示す。 第2表に示すように、Fe−Co7C系合金にCr、M
at W、V、Nb、Ta、Ti、Zr。 Hfを添加すると保磁力が減少する。 また上記元素の添加量はQ、1at%から15at%が
好ましい。また上記元素を2種類以上添加しても良い。 また上記元素の添加による保磁力の減少はF e −C
o −B系合金およびFe−C。 −N系合金においても見られた。 第2表 [実施例5] 本発明のFe−27at%Co−9at%C/N1多層
膜(主磁性層450人、Ni中間N50人、積層周期5
00人、総膜厚約2000人)ないし従来の実用材料で
あるパーマロイ(Ni−20at%Fe)合金薄膜(膜
厚2000人)を用い第7図に示すような垂直磁気記録
用単磁極型磁気ヘッド71を作製した。垂直磁気記録用
単磁極型磁気ヘッド71の作製工程を以下に述べる。 第7図(a)に示すM n −Z nフェライト61お
よび高融点ガラス62からなる基板63を用い、その表
面に第7図(b)に示すように上記磁性薄膜64をイオ
ンビームスパッタリング法で形成した。さらにその上に
接着用ガラス膜をイオンビームスパッタリング法により
形成し、第7図(a)に示す基板63を重ねあわせて4
50℃で30分間加熱し、上記ガラス膜を溶融固着させ
、第7図(C)に示す主磁極ブロック65を作製した。 そして第7図(d)に示すM n −Z nフェライト
66および高融点ガラス67からなる補助コアブロック
68を用意し、接合面7oに上記と同様の接着用ガラス
膜を形成した後、主磁極ブロック65を補助コアブロッ
ク68の接合面によって挾み、450℃で30分間加熱
することにより、上記ガラス膜を溶融固着させて接合ブ
ロック69を作製した。次に第7図(d)に示す二点鎖
線部を切断し、第7図(e)に示す垂直磁気記録用単磁
極型磁気ヘッド71を得た。 上述の工程によって作製した磁気ヘッドの記録特性をC
o−Cr垂直磁気記録媒体を用いて謂定した。再生ヘッ
ドとしてはフェライトヘッドを用いた。その結果、本発
明の多層磁性薄膜を用いた磁気ヘッドは、パーマロイ合
金を用いた磁気ヘッドと比較して、約6dB高い出力を
示した。これは本発明の多層磁性薄膜がパーマロイ合金
の飽和磁束密度の約2倍の飽和磁束密度を有するためと
考えられる。
以上詳細に説明したごとく、Fe−8〜40at%Co
合金薄膜にC,B、Nの少なくとも1種を0.1〜10
at%(但しCは0.1〜b七%)添加することにより
、Fe−Co系合金の軟磁気特性を向上させることがで
きる。 また上記磁性薄膜にCr、Mo、W、V、Nb。 Ta、Ti、Zr、Hfの少なくとも1種を0゜1〜1
5at%添加することによりさらに軟磁気特性を向上さ
せることができる。 また上記磁性薄膜に他の組成の層を挿入することにより
さらに軟磁気特性を向上させることができる。 またさらに、本発明の磁性薄膜を磁気ヘッドの磁気回路
の少なくとも一部に用いることにより、優れた記録特性
を有する磁気ヘッドを得ることができる。
合金薄膜にC,B、Nの少なくとも1種を0.1〜10
at%(但しCは0.1〜b七%)添加することにより
、Fe−Co系合金の軟磁気特性を向上させることがで
きる。 また上記磁性薄膜にCr、Mo、W、V、Nb。 Ta、Ti、Zr、Hfの少なくとも1種を0゜1〜1
5at%添加することによりさらに軟磁気特性を向上さ
せることができる。 また上記磁性薄膜に他の組成の層を挿入することにより
さらに軟磁気特性を向上させることができる。 またさらに、本発明の磁性薄膜を磁気ヘッドの磁気回路
の少なくとも一部に用いることにより、優れた記録特性
を有する磁気ヘッドを得ることができる。
第1図はFe−Co系合金の軟磁気特性に与えるC濃度
の効果を示すグラフ、第2図はFe−C0系合金の軟磁
気特性に与えるB′a度の効果を示すグラフ、第3図は
Fe−Co系合金の軟磁気特性に与えるN濃度の効果を
示すグラフ、第4図はFe−Co系合金の飽和磁束密度
のCo濃度依存性を示すグラフ、第5図は多層磁性薄膜
の断面図、第6図は本発明のFe−Co−C系合金の軟
磁気特性に与えるTa添加の効果を示すグラフ、第7図
は本発明の磁性薄膜を用いた垂直磁気記録用単磁極型磁
気ヘッドの作製工程を示す斜視図である。 符号の説明 51・・・主磁性層、52・・・中間層、53・・・基
板、61 、66− M n −Z nフェライト、6
2.67−・・高融点ガラス、63・・・基板、64・
・・磁性薄膜、65・・・主磁極ブロック、68・・・
補助コアブロック。 69・・・接合ブロック、70・・・接合面、71・・
・垂直磁気記録用単磁極型磁気ヘッド 后 喝 C濃度 (at’10) 第 回 8凍度((2を給) 21保不′ム刀/IB濠崖イF< 6□r’!−22’
E’F=二ミ’l、、s七ど)ミ?“dワ F)/17
¥イ鵡・1生拓 目 N4崖(αt%) 第 4 図 Cσ儂崖(a−tカ 猶 3 差1反 )J− 力 図 5 5Δ
の効果を示すグラフ、第2図はFe−C0系合金の軟磁
気特性に与えるB′a度の効果を示すグラフ、第3図は
Fe−Co系合金の軟磁気特性に与えるN濃度の効果を
示すグラフ、第4図はFe−Co系合金の飽和磁束密度
のCo濃度依存性を示すグラフ、第5図は多層磁性薄膜
の断面図、第6図は本発明のFe−Co−C系合金の軟
磁気特性に与えるTa添加の効果を示すグラフ、第7図
は本発明の磁性薄膜を用いた垂直磁気記録用単磁極型磁
気ヘッドの作製工程を示す斜視図である。 符号の説明 51・・・主磁性層、52・・・中間層、53・・・基
板、61 、66− M n −Z nフェライト、6
2.67−・・高融点ガラス、63・・・基板、64・
・・磁性薄膜、65・・・主磁極ブロック、68・・・
補助コアブロック。 69・・・接合ブロック、70・・・接合面、71・・
・垂直磁気記録用単磁極型磁気ヘッド 后 喝 C濃度 (at’10) 第 回 8凍度((2を給) 21保不′ム刀/IB濠崖イF< 6□r’!−22’
E’F=二ミ’l、、s七ど)ミ?“dワ F)/17
¥イ鵡・1生拓 目 N4崖(αt%) 第 4 図 Cσ儂崖(a−tカ 猶 3 差1反 )J− 力 図 5 5Δ
Claims (4)
- 1.Fe−8〜40at%Co合金薄膜にC,B,Nの
少なくとも1種を0.1〜10at%(但しCは0.1
〜16at%)添加したことを特徴とする磁性薄膜。 - 2.特許請求の範囲第1項に記載の磁性薄膜にCr,M
o,W,V,Nb,Ta,Ti,Zr,Hfの少なくと
も1種を0.1〜15at%添加したことを特徴とする
磁性薄膜, - 3.特許請求の範囲第1項ないし第2項に記載の磁性薄
膜に他の組成の層を挿入したことを特徴とする磁性薄膜
。 - 4.特許請求の範囲第1項から第3項に記載の磁性薄膜
を磁気回路の少なくとも一部に用いた磁気ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26893389A JPH03132005A (ja) | 1989-10-18 | 1989-10-18 | 磁性薄膜およびこれを用いた磁気ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26893389A JPH03132005A (ja) | 1989-10-18 | 1989-10-18 | 磁性薄膜およびこれを用いた磁気ヘッド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03132005A true JPH03132005A (ja) | 1991-06-05 |
Family
ID=17465302
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26893389A Pending JPH03132005A (ja) | 1989-10-18 | 1989-10-18 | 磁性薄膜およびこれを用いた磁気ヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03132005A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0529143A (ja) * | 1990-07-27 | 1993-02-05 | Fuji Photo Film Co Ltd | 軟磁性薄膜 |
| US6132892A (en) * | 1997-09-17 | 2000-10-17 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Soft magnetic alloy film and manufacturing method thereof, and magnetic head incorporating the same |
| US7532433B2 (en) | 2003-01-22 | 2009-05-12 | Hitachi Global Storage Technologies Japa | Thin film perpendicular magnetic recording head, their fabrication process and magnetic disk drive using it |
-
1989
- 1989-10-18 JP JP26893389A patent/JPH03132005A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0529143A (ja) * | 1990-07-27 | 1993-02-05 | Fuji Photo Film Co Ltd | 軟磁性薄膜 |
| US6132892A (en) * | 1997-09-17 | 2000-10-17 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Soft magnetic alloy film and manufacturing method thereof, and magnetic head incorporating the same |
| US7532433B2 (en) | 2003-01-22 | 2009-05-12 | Hitachi Global Storage Technologies Japa | Thin film perpendicular magnetic recording head, their fabrication process and magnetic disk drive using it |
| US7813079B2 (en) | 2003-01-22 | 2010-10-12 | Hitachi Global Storage Technologies Japan, Ltd. | Thin film perpendicular magnetic recording head, their fabrication process and magnetic disk drive using it |
| US8085499B2 (en) | 2003-01-22 | 2011-12-27 | Hitachi Global Storage Technologies Japan, Ltd. | Thin film perpendicular magnetic recording head, their fabrication process and magnetic disk drive using it |
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