JPH03135704A - 板状体の歪検査方法 - Google Patents
板状体の歪検査方法Info
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- JPH03135704A JPH03135704A JP27354189A JP27354189A JPH03135704A JP H03135704 A JPH03135704 A JP H03135704A JP 27354189 A JP27354189 A JP 27354189A JP 27354189 A JP27354189 A JP 27354189A JP H03135704 A JPH03135704 A JP H03135704A
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Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は板ガラスなどの板状体の反射歪および透視歪を
検査する方法に関する。
検査する方法に関する。
[従来の技術]
従来、平面あるいは曲面形状を有する板状体の歪検査方
法として、格子模様などの明暗模様を板状体に反射させ
るか、透過させたものを検査員が目視によって限度見本
と比較する反射歪、透視歪の検査(官能検査)が一般的
に行なわれていた。
法として、格子模様などの明暗模様を板状体に反射させ
るか、透過させたものを検査員が目視によって限度見本
と比較する反射歪、透視歪の検査(官能検査)が一般的
に行なわれていた。
また、官能検査の欠点を解消するために、画像処理によ
って定量的に検査する目的で特開昭60−119404
号、特開平1−165907号などが提案されている。
って定量的に検査する目的で特開昭60−119404
号、特開平1−165907号などが提案されている。
しかしながら、特開昭60−119404号にあっては
、装置が複雑となるばかりか、CCDカメラの出力をス
レッシェホールドレベルと比較してこれより高レベル”
1”か低レベル”0”のビット数を基準値と比較するこ
とにより歪を検査するものであるから、明暗部の境が不
鮮明となり(高レベル”1”のビット数が減少し、低レ
ベル”0”のビット数が増加する)、この部分の模様暗
部の幅が歪により小さくなるとビット数が相殺され検出
不能となる。
、装置が複雑となるばかりか、CCDカメラの出力をス
レッシェホールドレベルと比較してこれより高レベル”
1”か低レベル”0”のビット数を基準値と比較するこ
とにより歪を検査するものであるから、明暗部の境が不
鮮明となり(高レベル”1”のビット数が減少し、低レ
ベル”0”のビット数が増加する)、この部分の模様暗
部の幅が歪により小さくなるとビット数が相殺され検出
不能となる。
また、特開平1−165907にあっては、格子線の中
心部の位置データにより曲率を計算して検査するもので
あるから、歪により格子8j様の幅が基準値より大きく
なっても、歪によって生じた格子模様中心部の位置デー
タが基準位置に重なるような場合には、検出できなとと
いう欠点がある。
心部の位置データにより曲率を計算して検査するもので
あるから、歪により格子8j様の幅が基準値より大きく
なっても、歪によって生じた格子模様中心部の位置デー
タが基準位置に重なるような場合には、検出できなとと
いう欠点がある。
[発明の目的]
本発明はこのような欠点を解消するものであり、平面形
状の板状体は勿論、特に曲面形状の板状体の反射歪、透
視歪を正確に検査することを可能にした方法を提供する
ことを目的とする。
状の板状体は勿論、特に曲面形状の板状体の反射歪、透
視歪を正確に検査することを可能にした方法を提供する
ことを目的とする。
[問題点を解決するための手段]
本発明は、線あるいは点から構成される明暗模様を板状
体を介して撮像し、画像処理することにより板状体歪を
検査する方法において、透明板状体の表面凹凸に応じて
、大きいところでは、前記の線あるいは点の幅のはらつ
きを測定し、小さいところでは、線と線あるいは点と点
の間隔のばらつきを測定し、基準値と比較することによ
り良否を判定するようにしたことを特徴とする。
体を介して撮像し、画像処理することにより板状体歪を
検査する方法において、透明板状体の表面凹凸に応じて
、大きいところでは、前記の線あるいは点の幅のはらつ
きを測定し、小さいところでは、線と線あるいは点と点
の間隔のばらつきを測定し、基準値と比較することによ
り良否を判定するようにしたことを特徴とする。
[作用]
曲面形状を有する板状体、例えば重力曲げ法などにより
加工される板ガラスはモールドと呼ばれる型に載置して
曲げ加工されるので、周辺部は表面凹凸が大きく、その
他の部分は表面凹凸が格段に小さい0本発明者は、重力
曲げ法などにより曲げ加工された板状体の周辺部など表
面凹凸の大きなところを介して得られる格子模様などの
明暗模様は歪によりその線あるいは点の幅が大きく変り
、その他の表面凹凸の小さなところを介して得られる明
暗模様は歪により線あるいは点の幅より線と線あるいは
点と点の間隔が比較的大きく変わることに着目して本発
明をなしたものであり、特に、これらのばらつきを測定
して基準値と比較することにより板状体の歪を正確に検
査することができる。
加工される板ガラスはモールドと呼ばれる型に載置して
曲げ加工されるので、周辺部は表面凹凸が大きく、その
他の部分は表面凹凸が格段に小さい0本発明者は、重力
曲げ法などにより曲げ加工された板状体の周辺部など表
面凹凸の大きなところを介して得られる格子模様などの
明暗模様は歪によりその線あるいは点の幅が大きく変り
、その他の表面凹凸の小さなところを介して得られる明
暗模様は歪により線あるいは点の幅より線と線あるいは
点と点の間隔が比較的大きく変わることに着目して本発
明をなしたものであり、特に、これらのばらつきを測定
して基準値と比較することにより板状体の歪を正確に検
査することができる。
[実施例]
以下、図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。
第1図〜第4図はいずれも本発明の実施例に係り、第1
図は本発明の方法を実施するための装置概略図、第2図
は板状体を画像処理するためにブロックに分割した図、
第3図(a> 、(b)は板状体の周辺部とその他の部
分のそれぞれ、1小ブロツクを介して得られる明暗模様
図、第4図は各ブロックのばらつきを示す分布図であり
、車両用前部窓ガラスとして使用される合わせガラスな
どの板状体1の透視歪を検査する場合について説明する
。
図は本発明の方法を実施するための装置概略図、第2図
は板状体を画像処理するためにブロックに分割した図、
第3図(a> 、(b)は板状体の周辺部とその他の部
分のそれぞれ、1小ブロツクを介して得られる明暗模様
図、第4図は各ブロックのばらつきを示す分布図であり
、車両用前部窓ガラスとして使用される合わせガラスな
どの板状体1の透視歪を検査する場合について説明する
。
第1図において、模様板2に形成された格子模様などの
明暗模様3は板状体1を通してCCDカメラ4により撮
像される。
明暗模様3は板状体1を通してCCDカメラ4により撮
像される。
CCDカメラ4は昇降と回転の機能を有するテーブル5
により自在に駆動され、板状体1全面が盪影されて得ら
れた電気信号がイメージ情報として画像処理装置6に出
力される。
により自在に駆動され、板状体1全面が盪影されて得ら
れた電気信号がイメージ情報として画像処理装置6に出
力される。
画像処理装置6において、予めCCDカメラ4の駆動順
序にしたがって板状体lを、曲率に応じて、実線で区分
される大ブロックB!〜B8に、−点鎖線で区分される
表面凹凸の大きな周辺部S、s(Sは上下辺部、Sは側
辺部)とその他の中央部Cに、それぞれ分割し、さらに
大ブロツク毎に周辺部と中央部をそれぞれ点線で区分さ
れる小ブロックSit〜see・Sit〜sss\C1
l〜C89にそれぞれ分割しておき、小ブロツク毎に格
子間隔、格子の幅の最大値を計測し、ホストコンビニ−
タフに記憶させる。
序にしたがって板状体lを、曲率に応じて、実線で区分
される大ブロックB!〜B8に、−点鎖線で区分される
表面凹凸の大きな周辺部S、s(Sは上下辺部、Sは側
辺部)とその他の中央部Cに、それぞれ分割し、さらに
大ブロツク毎に周辺部と中央部をそれぞれ点線で区分さ
れる小ブロックSit〜see・Sit〜sss\C1
l〜C89にそれぞれ分割しておき、小ブロツク毎に格
子間隔、格子の幅の最大値を計測し、ホストコンビニ−
タフに記憶させる。
ホストコンピュータ7において、大ブロツク毎にばらつ
きを演算して基準値と比較することにより歪の良否を判
定する。
きを演算して基準値と比較することにより歪の良否を判
定する。
(周辺部について)
ブロックB2の小ブロックS21〜S29.52〜32
9について具体的に説明する。
9について具体的に説明する。
CCDカメラ4がブロックB2で透視される格子模様を
撮像すると画像処理袋W6で予め設定された小ブロツク
毎に、S21からS29.821から329まで順次処
理を行う、この中で例えば小ブロックs24で透視され
る格子像は第3図(a)に示すようになっており、濃淡
模様がビット数に相当する高レベル”1”のドツトと低
レベル”0°゛のドツトで表わされる。
撮像すると画像処理袋W6で予め設定された小ブロツク
毎に、S21からS29.821から329まで順次処
理を行う、この中で例えば小ブロックs24で透視され
る格子像は第3図(a)に示すようになっており、濃淡
模様がビット数に相当する高レベル”1”のドツトと低
レベル”0°゛のドツトで表わされる。
CCDカメラ4がブロックB2で透視される格子模様を
撮像すると画像処理装置6で予め設定された小ブロツク
毎に、S21からS29、S2□からS2Gまで順次処
理を行う。
撮像すると画像処理装置6で予め設定された小ブロツク
毎に、S21からS29、S2□からS2Gまで順次処
理を行う。
画像処理装置6では、各ドツト毎に水平、垂直、斜めの
あらゆる方向にドツト(高レベル”1”)が連続するド
ツト数を計測して最小のものを求め、さらにこの中で最
大のもの、ブロックS24ではW24 (2W24が
小ブロック524における格子の最大幅を表わす)をも
とめる。このような手順によりS21から329%S2
1からszeまで順次格子の最大幅W21〜W29 、
W21〜W211をそれぞれ求め、ホストコンピュータ
7に入力する。
あらゆる方向にドツト(高レベル”1”)が連続するド
ツト数を計測して最小のものを求め、さらにこの中で最
大のもの、ブロックS24ではW24 (2W24が
小ブロック524における格子の最大幅を表わす)をも
とめる。このような手順によりS21から329%S2
1からszeまで順次格子の最大幅W21〜W29 、
W21〜W211をそれぞれ求め、ホストコンピュータ
7に入力する。
ホストコンピュータ7では、W2□〜W29、W21〜
W211の中における最小値W烏、W−と、小ブロック
521〜329のそれぞれの最大幅W21〜W20.5
21〜S29のそれぞれの最大幅W2、〜wzeとの差
W−W21 ’ ・・W−−W29、W霞−W21 ・
・・W a −W 2 gの絶対値を各小ブロックのば
らつきとして演算し、このばらつきが基準値Aより小さ
ければ、ブロックB2の透視歪は小さく良品、大きけれ
ば透視歪が大きく、不良品と判定する。
W211の中における最小値W烏、W−と、小ブロック
521〜329のそれぞれの最大幅W21〜W20.5
21〜S29のそれぞれの最大幅W2、〜wzeとの差
W−W21 ’ ・・W−−W29、W霞−W21 ・
・・W a −W 2 gの絶対値を各小ブロックのば
らつきとして演算し、このばらつきが基準値Aより小さ
ければ、ブロックB2の透視歪は小さく良品、大きけれ
ば透視歪が大きく、不良品と判定する。
(中央部について)
中央部の処理についても、ブロック毎にB1から86ま
で順次、周辺部の処理とともに行うものであるがブロッ
クB3について説明する。
で順次、周辺部の処理とともに行うものであるがブロッ
クB3について説明する。
この中で例えば小ブロックC31で透視される格子模様
は第3図(b)に示すようになっている。
は第3図(b)に示すようになっている。
画像処理装置6では、格子線のエツジの各ドツト毎に対
向する格子線に垂直に低レベルsunのビット数を計測
して最大のもの(格子間隔)を求め、さらに同様の処理
によりこのブロックB3の総ての格子線に対して格子間
隔を求め、この中での最大([B31をホストコンピュ
ータ7に入カスる。
向する格子線に垂直に低レベルsunのビット数を計測
して最大のもの(格子間隔)を求め、さらに同様の処理
によりこのブロックB3の総ての格子線に対して格子間
隔を求め、この中での最大([B31をホストコンピュ
ータ7に入カスる。
このような手順により、小ブロックC32からC3Gま
での格子間隔の最大値L32〜L39を求め、ホストコ
ンピュータ7に入力する。
での格子間隔の最大値L32〜L39を求め、ホストコ
ンピュータ7に入力する。
ホストコンピュータ7では、L31〜L39における最
小値り、とL31〜L3Gとの差り、−B31 ・・
・L、−L3.の絶対値を各小ブロックのばらつきとし
て演算し、このばらつきが基準値A′より小さければ、
ブロックB3中央部の透視歪は小さく良品、大きければ
透視歪が大きく不良品と判定する。
小値り、とL31〜L3Gとの差り、−B31 ・・
・L、−L3.の絶対値を各小ブロックのばらつきとし
て演算し、このばらつきが基準値A′より小さければ、
ブロックB3中央部の透視歪は小さく良品、大きければ
透視歪が大きく不良品と判定する。
以上のような処理をCCDカメラ4を駆動させて総ての
ブロックB1〜B6の周辺部と中央部について行い、ば
らつきを演算する。この一連の処理でほぼ正確にばらつ
きを求めることができるが、小ブロックの境界上に歪ん
だ格子線が重なる場合に格子線の間隔、幅の計測が正確
にできないので、本発明では、さらに前記一連の処理を
、格子間隔の約1/2はとCODカメラ始発点をずらし
て行いばらつきを求める。2回の処理で得られたばらつ
きの大きい値と基準値と比較することにより良否を判定
する。板状体全面のばらつきの分布状態を不良品の場合
で例示すると第4図のようになる。
ブロックB1〜B6の周辺部と中央部について行い、ば
らつきを演算する。この一連の処理でほぼ正確にばらつ
きを求めることができるが、小ブロックの境界上に歪ん
だ格子線が重なる場合に格子線の間隔、幅の計測が正確
にできないので、本発明では、さらに前記一連の処理を
、格子間隔の約1/2はとCODカメラ始発点をずらし
て行いばらつきを求める。2回の処理で得られたばらつ
きの大きい値と基準値と比較することにより良否を判定
する。板状体全面のばらつきの分布状態を不良品の場合
で例示すると第4図のようになる。
この場合の基準値は、周辺部においては総て5であり、
ばらつきの最大値が3であり歪の程度が小さく合格であ
るが、中央部においては基準値2に対してばらつきがブ
ロックB2において3.4となる個所があり不合格であ
り、この板状体は不良品と判定される。
ばらつきの最大値が3であり歪の程度が小さく合格であ
るが、中央部においては基準値2に対してばらつきがブ
ロックB2において3.4となる個所があり不合格であ
り、この板状体は不良品と判定される。
このようにして板状体1枚処理するのに、本実施例のよ
うにCODカメラ1台で処理すると約40秒、2台使用
してイメージ情報を取り込むと、20秒以内と、きわめ
て短時間に処理することができる。
うにCODカメラ1台で処理すると約40秒、2台使用
してイメージ情報を取り込むと、20秒以内と、きわめ
て短時間に処理することができる。
以上、好適な実施例により説明したが、本発明はこれら
限定されるものではなく、種々の応用が可能である。
限定されるものではなく、種々の応用が可能である。
実施例では、透視歪を検査する場合について説明したが
、格子模様などの明暗模様が板状体によって反射されて
進む光路にCCDカメラ等の撮像手段を配置すれば、同
様の方法で反射歪の検査も行うことができる。
、格子模様などの明暗模様が板状体によって反射されて
進む光路にCCDカメラ等の撮像手段を配置すれば、同
様の方法で反射歪の検査も行うことができる。
明暗模様を撮像する手段としては、CCDカメラ以外に
も、MOS FET型あるいはフォトダイオードアレイ
型のイメージセンサ−1各種の逼像管などを用いてもよ
く、この場合に1台だと経済的であり、2台以上設ける
と処理時間を短縮することができる。
も、MOS FET型あるいはフォトダイオードアレイ
型のイメージセンサ−1各種の逼像管などを用いてもよ
く、この場合に1台だと経済的であり、2台以上設ける
と処理時間を短縮することができる。
被検査物としの板状体については、合わせガラスに限ら
ず、単板ガラスを曲げ加工したもの(強化したものを含
む)、平板ガラス、アクリルあるいはポリカーボネート
などの透明樹脂板等にも応用することができる。
ず、単板ガラスを曲げ加工したもの(強化したものを含
む)、平板ガラス、アクリルあるいはポリカーボネート
などの透明樹脂板等にも応用することができる。
また、透明板状体に限らず、鏡などの反射板状体、壁、
天井、床などの構築物にも応用することができる。構築
物の場合には明暗模様を投射して構築物に結像した明暗
模様を撮像すればよい。
天井、床などの構築物にも応用することができる。構築
物の場合には明暗模様を投射して構築物に結像した明暗
模様を撮像すればよい。
分割するブロックの数は、曲率に応じて、大きい場合に
は多く、小さい場合には少なくすればよい、平板ガラス
の場合には、全面、曲率が同じであるので大ブロックに
分ける必要はなく、ばらつきを測定するための小ブロッ
クのみ設定すればよい、また、平板ガラスのように表面
凹凸が全面均一な場合には、実施例の中央部における処
理、すなわち明暗g4様の線と線あるいは点と点のばら
つきのみで判定すればよい。
は多く、小さい場合には少なくすればよい、平板ガラス
の場合には、全面、曲率が同じであるので大ブロックに
分ける必要はなく、ばらつきを測定するための小ブロッ
クのみ設定すればよい、また、平板ガラスのように表面
凹凸が全面均一な場合には、実施例の中央部における処
理、すなわち明暗g4様の線と線あるいは点と点のばら
つきのみで判定すればよい。
小ブロックの数については、検査精度に応じて適宜選択
すればよい、小ブロツク数を多くすると処理時間が長く
なるが、不良個所を高精度で検出できという効果がある
。
すればよい、小ブロツク数を多くすると処理時間が長く
なるが、不良個所を高精度で検出できという効果がある
。
ばらつきについては、小ブロックにおいて各測定値の最
大値の中の最小値を基準にしだが、最小値の中の最大値
を基準にしてもよい、また、小ブロックにおいて各測定
値の最大値と最小値を求め大ブロツク毎に、その中の最
大値と小ブロックの最小値との差あるいはその中の最小
値と小ブロックの最大値との差をばらつきとしてもよい
。
大値の中の最小値を基準にしだが、最小値の中の最大値
を基準にしてもよい、また、小ブロックにおいて各測定
値の最大値と最小値を求め大ブロツク毎に、その中の最
大値と小ブロックの最小値との差あるいはその中の最小
値と小ブロックの最大値との差をばらつきとしてもよい
。
明暗模様については、格子模様が好ましいが、線で構成
されるゼブラ模様、点で構成される水玉模様なども採用
することができる。
されるゼブラ模様、点で構成される水玉模様なども採用
することができる。
[発明の効果]
本発明によれば、官能検査による検査精度のばらつきを
なくし、平板形状は勿論、曲面形状を有する板状体に対
しても、その歪の程度を測定して良否を正確に、しかも
短時間に判定することができるものである。
なくし、平板形状は勿論、曲面形状を有する板状体に対
しても、その歪の程度を測定して良否を正確に、しかも
短時間に判定することができるものである。
第1図〜第4図はいずれも本発明の実施例に係り、第1
図は本発明の方法を実施するための装置概略図、第2図
は板状体を画像処理するためにブロックに分割した図、
第3図(a)、(b)は板状体の周辺部とその他の部分
のそれぞれ、1小ブロツクを介して得られる明暗模様図
、第4図は各ブロックのばらつきを示す分布図である。 第1図 1・・・板状体 3・・・明暗模様 4・・・CCDカメラ 6・・・画像処理装置 7・・・ホストコンピュータ 第2図
図は本発明の方法を実施するための装置概略図、第2図
は板状体を画像処理するためにブロックに分割した図、
第3図(a)、(b)は板状体の周辺部とその他の部分
のそれぞれ、1小ブロツクを介して得られる明暗模様図
、第4図は各ブロックのばらつきを示す分布図である。 第1図 1・・・板状体 3・・・明暗模様 4・・・CCDカメラ 6・・・画像処理装置 7・・・ホストコンピュータ 第2図
Claims (1)
- 線あるいは点から構成される明暗模様を板状体を介して
撮像し、画像処理することにより板状体歪を検査する方
法において、板状体の表面凹凸に応じて、大きいところ
では、前記の線あるいは点の幅のはらつきを測定し、小
さいところでは、線と線あるいは点と点の間隔のばらつ
きを測定し、基準値と比較することにより良否を判定す
るようにしたことを特徴とする板状体の歪検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27354189A JPH0629705B2 (ja) | 1989-10-20 | 1989-10-20 | 板状体の歪検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27354189A JPH0629705B2 (ja) | 1989-10-20 | 1989-10-20 | 板状体の歪検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03135704A true JPH03135704A (ja) | 1991-06-10 |
| JPH0629705B2 JPH0629705B2 (ja) | 1994-04-20 |
Family
ID=17529269
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27354189A Expired - Lifetime JPH0629705B2 (ja) | 1989-10-20 | 1989-10-20 | 板状体の歪検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0629705B2 (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002001422A1 (en) * | 2000-06-27 | 2002-01-03 | Asahi Glass Company, Limited | Method for evaluating dynamic perspective distortion of transparent body and method for supporting designing of three-dimensional shape of transparent body |
| WO2002018893A1 (en) * | 2000-08-31 | 2002-03-07 | Center For Advanced Science And Technology Incubation, Ltd. | Optical tactile sensor |
| JP2002507742A (ja) * | 1998-03-25 | 2002-03-12 | ラゾー ラザー ゾルター ゲーエムベーハー | 板ガラスの中の欠陥、特にドリップ、スレッド及び線を検出するための方法及び装置 |
| US7769223B2 (en) | 2006-01-19 | 2010-08-03 | Fujifilm Corporation | Surface defect inspector and method of inspecting surface defect |
| US7869061B2 (en) | 2005-09-15 | 2011-01-11 | Jfe Steel Corporation | Surface-distortion measuring device and method |
| CN105865359A (zh) * | 2015-01-20 | 2016-08-17 | 德律科技股份有限公司 | 板弯量测装置和其板弯量测方法 |
| JP2016218025A (ja) * | 2015-05-26 | 2016-12-22 | 富士フイルム株式会社 | 検査方法及び装置 |
| JP2022096044A (ja) * | 2020-12-17 | 2022-06-29 | 株式会社トプコン | 画像処理方法及び画像処理装置 |
| JP2022096043A (ja) * | 2020-12-17 | 2022-06-29 | 株式会社トプコン | 検査システム及び検査方法 |
-
1989
- 1989-10-20 JP JP27354189A patent/JPH0629705B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002507742A (ja) * | 1998-03-25 | 2002-03-12 | ラゾー ラザー ゾルター ゲーエムベーハー | 板ガラスの中の欠陥、特にドリップ、スレッド及び線を検出するための方法及び装置 |
| JP4736304B2 (ja) * | 2000-06-27 | 2011-07-27 | 旭硝子株式会社 | 透明体の動的透視歪み評価方法および透明体の三次元形状設計支援方法 |
| US7162398B2 (en) | 2000-06-27 | 2007-01-09 | Asahi Glass Company, Limited | Method for evaluating the dynamic perspective distortion of a transparent body and method for supporting the designing of a three-dimensionally curved shape of a transparent body |
| WO2002001422A1 (en) * | 2000-06-27 | 2002-01-03 | Asahi Glass Company, Limited | Method for evaluating dynamic perspective distortion of transparent body and method for supporting designing of three-dimensional shape of transparent body |
| WO2002018893A1 (en) * | 2000-08-31 | 2002-03-07 | Center For Advanced Science And Technology Incubation, Ltd. | Optical tactile sensor |
| US6909084B2 (en) | 2000-08-31 | 2005-06-21 | Toudai Tlo, Ltd | Optical tactile sensor having a transparent elastic tactile portion |
| KR100846305B1 (ko) * | 2000-08-31 | 2008-07-16 | 가부시키가이샤 도쿄다이가쿠 티엘오 | 광학식 촉각센서 |
| US7869061B2 (en) | 2005-09-15 | 2011-01-11 | Jfe Steel Corporation | Surface-distortion measuring device and method |
| US7769223B2 (en) | 2006-01-19 | 2010-08-03 | Fujifilm Corporation | Surface defect inspector and method of inspecting surface defect |
| CN105865359A (zh) * | 2015-01-20 | 2016-08-17 | 德律科技股份有限公司 | 板弯量测装置和其板弯量测方法 |
| JP2016218025A (ja) * | 2015-05-26 | 2016-12-22 | 富士フイルム株式会社 | 検査方法及び装置 |
| JP2022096044A (ja) * | 2020-12-17 | 2022-06-29 | 株式会社トプコン | 画像処理方法及び画像処理装置 |
| JP2022096043A (ja) * | 2020-12-17 | 2022-06-29 | 株式会社トプコン | 検査システム及び検査方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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| JPH0629705B2 (ja) | 1994-04-20 |
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