JPH03183601A - 酸化物超伝導膜の製造方法 - Google Patents
酸化物超伝導膜の製造方法Info
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- JPH03183601A JPH03183601A JP1317618A JP31761889A JPH03183601A JP H03183601 A JPH03183601 A JP H03183601A JP 1317618 A JP1317618 A JP 1317618A JP 31761889 A JP31761889 A JP 31761889A JP H03183601 A JPH03183601 A JP H03183601A
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- Y02E40/60—Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment
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- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
- Oxygen, Ozone, And Oxides In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は小型にして超高感度、超高速、高効率な超伝導
デバイスの基本構成要素である酸化物超伝導膜の製造方
法に関するものである。
デバイスの基本構成要素である酸化物超伝導膜の製造方
法に関するものである。
(従来の技術)
超伝導性を利用したデバイスには、(1)キャビティ、
フィルタ等に代表される超伝導高周波部品、(2)SQ
υI[)等に代表される超伝導センサー、等がある。例
えば、フィルタ、コイルなどの2次元的な薄膜デバイス
では面内等方向な超伝導特性が要求され、同時に信号線
接続領域では厚さ方向にも同等の超伝導特性が望ましい
。また、超伝導センサーに用いられるトンネル接合領域
では厚さ方向に長いコヒーレンス長が要求される。第5
図はBi25r2Ca2Cu30x超伝導膜における結
晶の単位格子と結晶方位の関係を示した図である。酸化
物超伝導膜は金属系超伝導膜に比べ、臨界温度は著しく
高いという利点を有するものの、第5図のような層状構
造をとるため結晶方位によってその超伝導特性は大きく
異なるという問題がある。例えば、層面内(a、b軸方
向)はコヒーレンス長も33−4nと長く超伝導電流も
流れやすい、反面、層に鉛直方向(C軸方向)は0.2
−0.5nmと短く超伝導電流も流れにくい。そのため
、面内等方法が要求される薄膜デバイスでは膜厚方向を
C軸とする結晶配向膜(C軸配向膜と称する)がベース
となるが、信号線接続、並びにトンネル接合等を考慮す
れば、膜厚方向をa、b軸とする微少な結晶が一定の割
合で混在し、膜面内並びに膜厚方向にも等方向な電気的
特性を有する酸化物超伝導膜が望ましい。従って、超伝
導薄膜デバイスを製造する上で結晶配向を制御できる酸
化物超伝導膜の製造方法が重要となる。
フィルタ等に代表される超伝導高周波部品、(2)SQ
υI[)等に代表される超伝導センサー、等がある。例
えば、フィルタ、コイルなどの2次元的な薄膜デバイス
では面内等方向な超伝導特性が要求され、同時に信号線
接続領域では厚さ方向にも同等の超伝導特性が望ましい
。また、超伝導センサーに用いられるトンネル接合領域
では厚さ方向に長いコヒーレンス長が要求される。第5
図はBi25r2Ca2Cu30x超伝導膜における結
晶の単位格子と結晶方位の関係を示した図である。酸化
物超伝導膜は金属系超伝導膜に比べ、臨界温度は著しく
高いという利点を有するものの、第5図のような層状構
造をとるため結晶方位によってその超伝導特性は大きく
異なるという問題がある。例えば、層面内(a、b軸方
向)はコヒーレンス長も33−4nと長く超伝導電流も
流れやすい、反面、層に鉛直方向(C軸方向)は0.2
−0.5nmと短く超伝導電流も流れにくい。そのため
、面内等方法が要求される薄膜デバイスでは膜厚方向を
C軸とする結晶配向膜(C軸配向膜と称する)がベース
となるが、信号線接続、並びにトンネル接合等を考慮す
れば、膜厚方向をa、b軸とする微少な結晶が一定の割
合で混在し、膜面内並びに膜厚方向にも等方向な電気的
特性を有する酸化物超伝導膜が望ましい。従って、超伝
導薄膜デバイスを製造する上で結晶配向を制御できる酸
化物超伝導膜の製造方法が重要となる。
超伝導デバイスを構成する酸化物超伝導膜の製造方法に
は、真空蒸着、スパッタリング法に代表される物理的気
相成長、並びにMO−CVD法に代表される化学分解を
利用した化学的気相成長方法がある。また、これらの方
法により成長させた酸化物膜の超伝導特性を発現させる
ためには、(1)成長させた膜を堆積後に熱処理する方
法、(2)基板温度を上げながら成長させることによっ
て熱処理無しに超伝導特性を発現させる方法、がある。
は、真空蒸着、スパッタリング法に代表される物理的気
相成長、並びにMO−CVD法に代表される化学分解を
利用した化学的気相成長方法がある。また、これらの方
法により成長させた酸化物膜の超伝導特性を発現させる
ためには、(1)成長させた膜を堆積後に熱処理する方
法、(2)基板温度を上げながら成長させることによっ
て熱処理無しに超伝導特性を発現させる方法、がある。
現在、結晶配向を制御するためには、主に基板温度を上
げながら膜を成長させる方法が取られており、配向性の
制御には基板材料とその結晶面方位、並びに基板温度が
重要である。この方法は高周波信号領域で誘電損失が大
きい5rTi03単結晶基板とY−Ba−Cu−0系超
伝導膜の組合せでは有効である。しかし、誘電損失は小
さいもののY−Ba−Cu−0やB 1−3r−Ca−
Cu−0系超伝導膜に対して格子整合性が悪いMgO単
結晶基板には適用出来ないという問題があった。また、
基板温度を上げながら膜成長させる結晶配向制御方法は
、エピタキシャルに近い膜成長であるため、膜厚方向を
a軸、あるいはb@とじた配向膜では膜面内の特定方向
がC軸となり、強い異方性が膜面内に生じる。これによ
り、薄膜デバイスに要求される面内等方性が保証出来な
いという問題があった。一方、堆積後の熱処理では特殊
なアニール[特願平1−2067261を行うことによ
り、MgO車結晶基板上に極めて強いC軸配向のB1−
5r−Ca−Cu−0系超伝導膜が得られるものの、C
軸以外の配向制御は困難であるという問題があった。
げながら膜を成長させる方法が取られており、配向性の
制御には基板材料とその結晶面方位、並びに基板温度が
重要である。この方法は高周波信号領域で誘電損失が大
きい5rTi03単結晶基板とY−Ba−Cu−0系超
伝導膜の組合せでは有効である。しかし、誘電損失は小
さいもののY−Ba−Cu−0やB 1−3r−Ca−
Cu−0系超伝導膜に対して格子整合性が悪いMgO単
結晶基板には適用出来ないという問題があった。また、
基板温度を上げながら膜成長させる結晶配向制御方法は
、エピタキシャルに近い膜成長であるため、膜厚方向を
a軸、あるいはb@とじた配向膜では膜面内の特定方向
がC軸となり、強い異方性が膜面内に生じる。これによ
り、薄膜デバイスに要求される面内等方性が保証出来な
いという問題があった。一方、堆積後の熱処理では特殊
なアニール[特願平1−2067261を行うことによ
り、MgO車結晶基板上に極めて強いC軸配向のB1−
5r−Ca−Cu−0系超伝導膜が得られるものの、C
軸以外の配向制御は困難であるという問題があった。
(発明が解決しようとする課題)
以上のようじ、結晶方位によって特性の異なる酸化物超
伝導膜を主な構成要素とする超伝導薄膜デバイスは2次
元デバイスであるため、面内等方性を保証できる超伝導
膜、即ちC軸配向膜がベースとなる。さらに、デバイス
部品の信号線接続領域やトンネル接合領域では膜厚方向
にも面内とほぼ同程度の超伝導特性が要求される。従っ
て、これらの領域に比べ十分に小さく、同時に膜厚方向
にa軸、あるいはb軸を含む結晶を一定の割合で含んだ
C軸配向膜が望ましい。従来、Y−Ba−Cu−0系超
伝導膜では5rTi(hの面方位と基板温度によって配
向制御が行われてきたが、B 1−5r−Ca−Cu−
0系超伝導膜とMgO基板の組合せでは制御できないと
いう問題があった。
伝導膜を主な構成要素とする超伝導薄膜デバイスは2次
元デバイスであるため、面内等方性を保証できる超伝導
膜、即ちC軸配向膜がベースとなる。さらに、デバイス
部品の信号線接続領域やトンネル接合領域では膜厚方向
にも面内とほぼ同程度の超伝導特性が要求される。従っ
て、これらの領域に比べ十分に小さく、同時に膜厚方向
にa軸、あるいはb軸を含む結晶を一定の割合で含んだ
C軸配向膜が望ましい。従来、Y−Ba−Cu−0系超
伝導膜では5rTi(hの面方位と基板温度によって配
向制御が行われてきたが、B 1−5r−Ca−Cu−
0系超伝導膜とMgO基板の組合せでは制御できないと
いう問題があった。
本発明は、酸化物超伝導膜を基本要素とする超伝導デバ
イスにおいて、面内並びに膜厚方向にも等方向な超伝導
特性を有する酸化物超伝導膜を実現することによって、
酸化物超伝導膜の利点を損なうことなく高性能な超伝導
デバイスを実現・提供することを目的とする。
イスにおいて、面内並びに膜厚方向にも等方向な超伝導
特性を有する酸化物超伝導膜を実現することによって、
酸化物超伝導膜の利点を損なうことなく高性能な超伝導
デバイスを実現・提供することを目的とする。
本発明はMgO単結晶の(110)結晶面上にBi、S
r。
r。
Ca、Cu,Oから成る酸化物膜を堆積させ、その表面
をMgO単結晶の(100)結晶面で被覆しつつ熱処理
することによって、該酸化物膜に超伝導性を付与するこ
とを特徴とする。
をMgO単結晶の(100)結晶面で被覆しつつ熱処理
することによって、該酸化物膜に超伝導性を付与するこ
とを特徴とする。
(作 用)
本発明においては、超伝導デバイスを構成するB 1−
5r−(:a−Cu−0系酸化物膜をMg0(110)
単結晶基板上に形威し、その表面をMgO(100)単
結晶で被覆しながら熱処理することにより、膜厚方向を
C軸とする結晶と膜厚方向をa、b軸とする結晶とを一
定の割合で混在させることを主要な特徴とする。従来の
技術では、高性能超伝導デバイスに必要な面内、並びに
膜厚方向に等方的な超伝導特性を得ること、即ちB1−
5r−Ca−Cu−0系超伝導膜の結晶配向制御は困難
であった。本発明では、膜厚方向をC軸とする結晶と膜
厚方向をa、b軸とする結晶とを一定の割合で混在でき
るため、面内、並びに膜厚方向に等方的な超伝導特性が
得られることが従来の技術とは大きく異なる。
5r−(:a−Cu−0系酸化物膜をMg0(110)
単結晶基板上に形威し、その表面をMgO(100)単
結晶で被覆しながら熱処理することにより、膜厚方向を
C軸とする結晶と膜厚方向をa、b軸とする結晶とを一
定の割合で混在させることを主要な特徴とする。従来の
技術では、高性能超伝導デバイスに必要な面内、並びに
膜厚方向に等方的な超伝導特性を得ること、即ちB1−
5r−Ca−Cu−0系超伝導膜の結晶配向制御は困難
であった。本発明では、膜厚方向をC軸とする結晶と膜
厚方向をa、b軸とする結晶とを一定の割合で混在でき
るため、面内、並びに膜厚方向に等方的な超伝導特性が
得られることが従来の技術とは大きく異なる。
第1図は本発明の実施例を示す。第1図(a)はMg0
(110)基板にll 1−5r−Ca−Cu−0系の
膜を堆積させた断面図、第1図(b)はB 1−5r−
Ca−Cu−0系膜の最表面をMg0(100)単結晶
板で被覆した状態の断面図である。1はMgo(no)
基板、2はスパッタ等の気相成長法で形成した[1i−
5「−Ca−Cu−0系酸化物膜、3は熱処理時に使用
する表面被覆用MgO(100)単結晶板である。第1
図(a)のように、鏡面研磨したMgO(110)単結
晶基板1の上に、気相成長法等により酸化物薄膜2を堆
積させる。次に、第1図(b)のように、酸化物薄膜の
最表面を鏡面研磨したMgO(100)単結晶板3で被
覆し酸素雰囲気下で熱処理を行う。熱処理後、被覆した
MgO(100)単結晶板を除去することにより、超伝
導デバイス用の酸化物超伝導膜とする。
(110)基板にll 1−5r−Ca−Cu−0系の
膜を堆積させた断面図、第1図(b)はB 1−5r−
Ca−Cu−0系膜の最表面をMg0(100)単結晶
板で被覆した状態の断面図である。1はMgo(no)
基板、2はスパッタ等の気相成長法で形成した[1i−
5「−Ca−Cu−0系酸化物膜、3は熱処理時に使用
する表面被覆用MgO(100)単結晶板である。第1
図(a)のように、鏡面研磨したMgO(110)単結
晶基板1の上に、気相成長法等により酸化物薄膜2を堆
積させる。次に、第1図(b)のように、酸化物薄膜の
最表面を鏡面研磨したMgO(100)単結晶板3で被
覆し酸素雰囲気下で熱処理を行う。熱処理後、被覆した
MgO(100)単結晶板を除去することにより、超伝
導デバイス用の酸化物超伝導膜とする。
第2図は上記のようにして形成したB1−5r−Ca−
Cu−0系酸化物超伝導膜表面の模式図である。4は平
板の鉛直方向をC軸とする平板状結晶、5は平板状結晶
が立った状態の4−5μm長の針状結晶である。第1図
で説明した方法でB1−5r−Ca−f:u−0系酸化
物膜を形成することにより、平板状結晶4と多くの針状
結晶5が混在した膜状態を実現できる。
Cu−0系酸化物超伝導膜表面の模式図である。4は平
板の鉛直方向をC軸とする平板状結晶、5は平板状結晶
が立った状態の4−5μm長の針状結晶である。第1図
で説明した方法でB1−5r−Ca−f:u−0系酸化
物膜を形成することにより、平板状結晶4と多くの針状
結晶5が混在した膜状態を実現できる。
MgO(1001単結晶基板上にB 1−5r−Ca−
Cu−0系の膜を堆積させ、MgO(100)単結晶板
で被覆し熱処理した場合、平板状結晶4のみから構成さ
れた超伝導膜が得られる。MgO(110)!−結晶板
で被覆し熱処理した場合、平板状結晶4に加えて小数の
針状結晶5が混在する。一方、Mg0(110)単結晶
基板上にB1−5r−Ca−Cu−0系の膜を堆積させ
、MgO(100)単結晶板で被覆し熱処理した場合、
並びに被覆を行わない熱処理の場合には、平板状結晶4
に加え小数の針状結晶5が混在する。なかでも、針状結
晶5の割合を増すには、Mg0(110)単結晶基板上
にB 1−5r−f;a−Cu−0系の膜を堆積させ、
Mg0(100)!#結晶板で被覆し熱処理する方法が
最も効果的であった。
Cu−0系の膜を堆積させ、MgO(100)単結晶板
で被覆し熱処理した場合、平板状結晶4のみから構成さ
れた超伝導膜が得られる。MgO(110)!−結晶板
で被覆し熱処理した場合、平板状結晶4に加えて小数の
針状結晶5が混在する。一方、Mg0(110)単結晶
基板上にB1−5r−Ca−Cu−0系の膜を堆積させ
、MgO(100)単結晶板で被覆し熱処理した場合、
並びに被覆を行わない熱処理の場合には、平板状結晶4
に加え小数の針状結晶5が混在する。なかでも、針状結
晶5の割合を増すには、Mg0(110)単結晶基板上
にB 1−5r−f;a−Cu−0系の膜を堆積させ、
Mg0(100)!#結晶板で被覆し熱処理する方法が
最も効果的であった。
第3図に一例として、Mg0(110)単結晶基板上に
堆積させ、その後熱処理したBi25r2CaCu20
x膜のX線回折パターンを示す。(a)はMgO(10
0)単結晶板で被覆し熱処理した膜、(b)はMgO(
110)11結晶板て被覆熱処理した膜、(c)は表面
被覆を行わずに熱処理した膜のX線回折パターンである
。
堆積させ、その後熱処理したBi25r2CaCu20
x膜のX線回折パターンを示す。(a)はMgO(10
0)単結晶板で被覆し熱処理した膜、(b)はMgO(
110)11結晶板て被覆熱処理した膜、(c)は表面
被覆を行わずに熱処理した膜のX線回折パターンである
。
すべての試料はほぼ1μmの膜厚である。(a)。
(b)、および(C)とともに典型的なC軸配向の回折
パターンを示しているが、被覆熱処理を行うことにより
C軸配向性はより強調される。ここで、MgO(too
)単結晶板で被覆し熱処理したBi25r2CaCu2
0x膜[第3図(a)]では、典型的なC軸配向パター
ンに加えて強い(2200) X線回折ピークが混在し
ている。即ち、平板状結晶が立った状態の針状結晶5は
(2200)結晶面より構成されており、このことは針
状結晶が膜厚方向にa、b軸を含む配向結晶であること
を意味している。
パターンを示しているが、被覆熱処理を行うことにより
C軸配向性はより強調される。ここで、MgO(too
)単結晶板で被覆し熱処理したBi25r2CaCu2
0x膜[第3図(a)]では、典型的なC軸配向パター
ンに加えて強い(2200) X線回折ピークが混在し
ている。即ち、平板状結晶が立った状態の針状結晶5は
(2200)結晶面より構成されており、このことは針
状結晶が膜厚方向にa、b軸を含む配向結晶であること
を意味している。
本発明は、Bi25r2CaCu20.以外のB 1−
5r−Ca−Cu−0系超伝導酸化膜にも適用できる。
5r−Ca−Cu−0系超伝導酸化膜にも適用できる。
本発明を用いてB 1−5r−Ca−Cu−0膜を形成
することにより実現できる配向結晶を第4図に模式的に
示す。6はMg0(110)単結晶基板、7はa、b軸
配向に相当する結晶、8はC軸配向に相当する結晶であ
る。
することにより実現できる配向結晶を第4図に模式的に
示す。6はMg0(110)単結晶基板、7はa、b軸
配向に相当する結晶、8はC軸配向に相当する結晶であ
る。
以上のように、Mg0(110)単結晶基板上にB1−
5r−Ca−Cu−0系膜を堆積し、MgO(100)
結晶板で被覆し熱処理を行うことにより、C軸配向した
平板状結晶と、a、b軸配向した多数の針状結晶が混在
した酸化物超伝導膜を実現できる。従って、C軸配向結
晶によって面内等方法を確保でき、しかも多数のa、b
@配向結晶によって十数μm以上の大きさを有する信
号線接続、並びにトンネル接合領域における膜厚方向の
超伝導特性も面内の特性に近づけることができ、酸化物
超伝導膜の長所を損なうことなく高性能な超伝導デバイ
スを実現できるという特徴がある。
5r−Ca−Cu−0系膜を堆積し、MgO(100)
結晶板で被覆し熱処理を行うことにより、C軸配向した
平板状結晶と、a、b軸配向した多数の針状結晶が混在
した酸化物超伝導膜を実現できる。従って、C軸配向結
晶によって面内等方法を確保でき、しかも多数のa、b
@配向結晶によって十数μm以上の大きさを有する信
号線接続、並びにトンネル接合領域における膜厚方向の
超伝導特性も面内の特性に近づけることができ、酸化物
超伝導膜の長所を損なうことなく高性能な超伝導デバイ
スを実現できるという特徴がある。
以上説明したように、本発明による熱処理を行うことに
よって、超伝導デバイスの基本構成要素である酸化物超
伝導膜の配向性を制御することができ、それにより、膜
面内、並びに膜厚方向にも等方向な超伝導特性を保証で
きる。従って、酸化物超伝導膜の長所を活かした高性能
な超伝導デバイスが可能となるという利点がある。
よって、超伝導デバイスの基本構成要素である酸化物超
伝導膜の配向性を制御することができ、それにより、膜
面内、並びに膜厚方向にも等方向な超伝導特性を保証で
きる。従って、酸化物超伝導膜の長所を活かした高性能
な超伝導デバイスが可能となるという利点がある。
第1図は本発明の詳細な説明する図、
第2図は本発明によって形成した超伝導膜表面の模式図
、 第3図はBi25r2CaCu20.膜の熱処理後のX
線回折パターン、 第4図はMg0(110)基板上に成長した超伝導結晶
の模式図、 第5図はBi25r2Ca2Cu、、OX超伝導膜にお
ける結晶の単位格子と結晶方位の関係を示す図である。 ・・・Mg0(lto)単結晶基板、 ・−Bi−5r−Ca−Cu−0系酸化物薄膜、・・・
表面被覆用単結晶板、 ・・・平板状結晶、 ・・・針状結晶、 ・・・Mg0(110)基板の最表面、・・・a、b
@配向結晶、 ・・・C軸配向結晶。
、 第3図はBi25r2CaCu20.膜の熱処理後のX
線回折パターン、 第4図はMg0(110)基板上に成長した超伝導結晶
の模式図、 第5図はBi25r2Ca2Cu、、OX超伝導膜にお
ける結晶の単位格子と結晶方位の関係を示す図である。 ・・・Mg0(lto)単結晶基板、 ・−Bi−5r−Ca−Cu−0系酸化物薄膜、・・・
表面被覆用単結晶板、 ・・・平板状結晶、 ・・・針状結晶、 ・・・Mg0(110)基板の最表面、・・・a、b
@配向結晶、 ・・・C軸配向結晶。
Claims (1)
- 1)MgO単結晶の(110)結晶面上にBi,Sr,
Ca,Cu,Oから成る酸化物膜を堆積させ、その表面
をMgO単結晶の(100)結晶面で被覆しつつ熱処理
することによって、該酸化物膜に超伝導性を付与するこ
とを特徴とする酸化物超伝導膜の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1317618A JPH03183601A (ja) | 1989-12-08 | 1989-12-08 | 酸化物超伝導膜の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1317618A JPH03183601A (ja) | 1989-12-08 | 1989-12-08 | 酸化物超伝導膜の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03183601A true JPH03183601A (ja) | 1991-08-09 |
Family
ID=18090192
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1317618A Pending JPH03183601A (ja) | 1989-12-08 | 1989-12-08 | 酸化物超伝導膜の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03183601A (ja) |
-
1989
- 1989-12-08 JP JP1317618A patent/JPH03183601A/ja active Pending
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