JPH03192801A - モノリシック・マイクロ波集積回路 - Google Patents
モノリシック・マイクロ波集積回路Info
- Publication number
- JPH03192801A JPH03192801A JP33361689A JP33361689A JPH03192801A JP H03192801 A JPH03192801 A JP H03192801A JP 33361689 A JP33361689 A JP 33361689A JP 33361689 A JP33361689 A JP 33361689A JP H03192801 A JPH03192801 A JP H03192801A
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- Japan
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- circuit
- resistor
- capacitor
- bias
- bias circuit
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- Pending
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- Junction Field-Effect Transistors (AREA)
- Waveguide Connection Structure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は、UHFHF上の超高周波帯で動作するモノ
リシック・マイクロ波集積回路(以下、MMICと略称
する)(、,間するものであり、特に改良ざる。
リシック・マイクロ波集積回路(以下、MMICと略称
する)(、,間するものであり、特に改良ざる。
(従来の技術)
第3図は一般に用いられているMMICの等何回路図て
、(1)はMMIC中に形成される能動回路部である例
えばGaAS電界効果トランジスタ(以下、FETと称
す)てあり、そのソースは接地され、トレインは出力端
子(2)に接続され、ゲートは整合回路(3)を経てゲ
ート入力端子(4)−に接続されている。ゲート入力端
子(4)はまた整合回路(5)を経てFET (Hのゲ
ートにバイアス電圧を印加するためのバイアス回路(6
)に接続されている。バイアス回路(6)は小官にのキ
ャパシタ(8)と、抵抗(9)と、比較的大きな容量の
キャパシタ(10)とからなり、これらキャパシタ(8
)、抵抗(9)、キャパシタ(10)は、マイクロ波信
号かバイアス電源端子(11)に漏洩するのを防止し、
また漏洩したマイクロ波か反射して発振するのを防止す
るための濾波回路として作用する。
、(1)はMMIC中に形成される能動回路部である例
えばGaAS電界効果トランジスタ(以下、FETと称
す)てあり、そのソースは接地され、トレインは出力端
子(2)に接続され、ゲートは整合回路(3)を経てゲ
ート入力端子(4)−に接続されている。ゲート入力端
子(4)はまた整合回路(5)を経てFET (Hのゲ
ートにバイアス電圧を印加するためのバイアス回路(6
)に接続されている。バイアス回路(6)は小官にのキ
ャパシタ(8)と、抵抗(9)と、比較的大きな容量の
キャパシタ(10)とからなり、これらキャパシタ(8
)、抵抗(9)、キャパシタ(10)は、マイクロ波信
号かバイアス電源端子(11)に漏洩するのを防止し、
また漏洩したマイクロ波か反射して発振するのを防止す
るための濾波回路として作用する。
第4図は第3図のバイアス回路(6)を質重Cに実現し
た場合のパターンの平面図を示す。第4図で、第3図と
同等または相当部分には同じ参照番号を付す。第4図て
、半絶縁性GaAs基板(図示せず)」−に形成した導
電層からなる抵抗(9)の両端にはそれぞれ平行平板型
キャパシタ(8)と(10)か接続されている。小容量
の平行平板型キャパシタ(8)は下地電極(81)、絶
縁膜(82)、およびL地電極(83)からなり、下地
電極(81)は第3図の整合回路(5)および抵抗(9
)を形成する導電層に接続され、上地電極(83)は接
地されている。また、比較的大きな容量の平行平板型キ
ャパシタ(In)も同様に下地電極(91)、絶縁膜(
92)、および上地電極(93)からなり、下地電極(
91)はバイアス電源端子(11)および抵抗(9)を
形成する導電層に接続され、上地電極(93)は接地さ
れている。
た場合のパターンの平面図を示す。第4図で、第3図と
同等または相当部分には同じ参照番号を付す。第4図て
、半絶縁性GaAs基板(図示せず)」−に形成した導
電層からなる抵抗(9)の両端にはそれぞれ平行平板型
キャパシタ(8)と(10)か接続されている。小容量
の平行平板型キャパシタ(8)は下地電極(81)、絶
縁膜(82)、およびL地電極(83)からなり、下地
電極(81)は第3図の整合回路(5)および抵抗(9
)を形成する導電層に接続され、上地電極(83)は接
地されている。また、比較的大きな容量の平行平板型キ
ャパシタ(In)も同様に下地電極(91)、絶縁膜(
92)、および上地電極(93)からなり、下地電極(
91)はバイアス電源端子(11)および抵抗(9)を
形成する導電層に接続され、上地電極(93)は接地さ
れている。
(発明か解決しようとする課題)
上記のような従来のMMIGでは、バイアス回路(6)
の濾波回路を構成する小容量のキャパシタ(8)も比較
的大容量のキャパシタ(lO)と同様に平行平板型キャ
パシタとして構成されているため、この手合−1のキャ
パシタ(8)を構成する電極あるいは絶縁膜の周辺効果
の影響か強く表われ、各電極(81)、(83)の寸法
、絶縁膜(82)の厚み等を正確に調整しても、その容
ta値を所望の値に設定することか困難である。手合に
のキャパシタ(8)として所望の容重−値か得られない
場合は、マイクロ波が・漏洩し、バイアス回路(6)て
反射波か発生し、またこれによって不所望な発振が生ず
ることかあり、このため、ICの低反射化、低雑音化、
高利得化か困難になる等の問題かあった。
の濾波回路を構成する小容量のキャパシタ(8)も比較
的大容量のキャパシタ(lO)と同様に平行平板型キャ
パシタとして構成されているため、この手合−1のキャ
パシタ(8)を構成する電極あるいは絶縁膜の周辺効果
の影響か強く表われ、各電極(81)、(83)の寸法
、絶縁膜(82)の厚み等を正確に調整しても、その容
ta値を所望の値に設定することか困難である。手合に
のキャパシタ(8)として所望の容重−値か得られない
場合は、マイクロ波が・漏洩し、バイアス回路(6)て
反射波か発生し、またこれによって不所望な発振が生ず
ることかあり、このため、ICの低反射化、低雑音化、
高利得化か困難になる等の問題かあった。
この発明は、特に小容量のキャパシタ(8)の粘度を向
−卜させて、バイアス回路(6)における発振防11−
、マイクロ波阻1ト俺力を向上させ、バイアス回路(6
)ての反射か低く、低雑音、高利得のMMCをキlIる
ことを[1的とする。
−卜させて、バイアス回路(6)における発振防11−
、マイクロ波阻1ト俺力を向上させ、バイアス回路(6
)ての反射か低く、低雑音、高利得のMMCをキlIる
ことを[1的とする。
(課題を解決するための手段)
この発明によるMMICは、能動回路にバイアス電圧を
供給するバイアス回路として、基板1−に形成した導電
層からなる抵抗と、該抵抗の一端に接続され、小容量キ
ャパシタとして作用するマイクロストリップ線路よりな
るオーブンスタブと、上記抵抗の他端に接続された平行
平板型キャパシタとからなる回路か使用されている。
供給するバイアス回路として、基板1−に形成した導電
層からなる抵抗と、該抵抗の一端に接続され、小容量キ
ャパシタとして作用するマイクロストリップ線路よりな
るオーブンスタブと、上記抵抗の他端に接続された平行
平板型キャパシタとからなる回路か使用されている。
(作 用)
この発明によれば、小容量キャパシタとしてマイクロス
トリップ線路からなるスタブを使用しているから、その
容量値を精度よく設定することができ、バイアス回路(
6)における発振防止能力、マイクロ波阻止能力か向上
する。
トリップ線路からなるスタブを使用しているから、その
容量値を精度よく設定することができ、バイアス回路(
6)における発振防止能力、マイクロ波阻止能力か向上
する。
(実 施 例)
第1図はこの発明による質重Cの等何回路を示し、第2
図は第1図のMMIGで使用されるバイアス回路(6)
のパターンの平面図を示す、第1図および第2図の素子
中、第3図および第4図の従来のMMIGと同一素子に
ついては同じ参照番号を付す。
図は第1図のMMIGで使用されるバイアス回路(6)
のパターンの平面図を示す、第1図および第2図の素子
中、第3図および第4図の従来のMMIGと同一素子に
ついては同じ参照番号を付す。
すなわら、(1)は能動回路部である例えばGaAs
FETて、そのソースは接地され、トレインは出力端子
(2)に接続され、ゲートは整合回路(3)を経てゲー
ト入力端子(4)に接続されている。ゲート入力端子(
4)はまた整合回路(5)を経てFET(1)のゲート
にバイアス′1[圧を印加するためのバイアス回路(6
)に接続されている。バイアス回路(6)は、例えば半
絶縁性GaAs基板(図示せず)上に形成した導電層か
らなる抵抗(9)と、該抵抗(9)の一端に接続された
マイクロストリップ線路からなるオーブンスタフ(19
)と、」二記抵抗(9)の他端に接続された平行平板型
キャパシタ(10)とにより構成されている。オーブン
スター(19)は小容量のキャパシタとして作用し、そ
の容量値はオーブンスターj (+9)を構成するマイ
クロストリップ線路のインピーダンス値と、その電気長
とによって正確に決定することかてきる。オーブンスタ
ブ(19)の非オーブン側の接続端(13)は整合回路
(5)に接続されている。一方、平行平板型キャパシタ
(10)は下地’+jj、極(91)、絶縁膜(92)
、および上地電極(93)からなり、下地電極(91)
はバイアス電源端子(+1)に接続され、hJ′l!電
極(93)は接地されている。
FETて、そのソースは接地され、トレインは出力端子
(2)に接続され、ゲートは整合回路(3)を経てゲー
ト入力端子(4)に接続されている。ゲート入力端子(
4)はまた整合回路(5)を経てFET(1)のゲート
にバイアス′1[圧を印加するためのバイアス回路(6
)に接続されている。バイアス回路(6)は、例えば半
絶縁性GaAs基板(図示せず)上に形成した導電層か
らなる抵抗(9)と、該抵抗(9)の一端に接続された
マイクロストリップ線路からなるオーブンスタフ(19
)と、」二記抵抗(9)の他端に接続された平行平板型
キャパシタ(10)とにより構成されている。オーブン
スター(19)は小容量のキャパシタとして作用し、そ
の容量値はオーブンスターj (+9)を構成するマイ
クロストリップ線路のインピーダンス値と、その電気長
とによって正確に決定することかてきる。オーブンスタ
ブ(19)の非オーブン側の接続端(13)は整合回路
(5)に接続されている。一方、平行平板型キャパシタ
(10)は下地’+jj、極(91)、絶縁膜(92)
、および上地電極(93)からなり、下地電極(91)
はバイアス電源端子(+1)に接続され、hJ′l!電
極(93)は接地されている。
この発明のMMIGにおいては、抵抗(9)の一端に接
続された小容量のキャパシタの容量値をオーブンスタフ
(19)により極めて正確に設定することが一つ− できるから、該オープンスタツ(19)による小容量キ
ャパシタと、抵抗(9)、およびキャパシタ(10)と
からなる鑓波回路を所望の特性を呈するように構成する
ことかてきる。従って、接続端(13)からバイアス回
路(6)側を見た動作周波数帯域における電力反射係数
か1に極めて近い値になるように設計することかでき、
マイクロ波の漏洩を防止して発振か生ずるのを有効に防
止することかできる。
続された小容量のキャパシタの容量値をオーブンスタフ
(19)により極めて正確に設定することが一つ− できるから、該オープンスタツ(19)による小容量キ
ャパシタと、抵抗(9)、およびキャパシタ(10)と
からなる鑓波回路を所望の特性を呈するように構成する
ことかてきる。従って、接続端(13)からバイアス回
路(6)側を見た動作周波数帯域における電力反射係数
か1に極めて近い値になるように設計することかでき、
マイクロ波の漏洩を防止して発振か生ずるのを有効に防
止することかできる。
なお、を記の実施例ては、FET (1)のゲートにバ
イアス電圧を印加するためのバイアス回路(6)につい
て説明したか、トレイン電圧印加用、あるいはタイオー
ト等を含むMMIGの能動回路用のバイアス電圧を供給
するためのバイアス回路としても使用することがてきる
。また、上記実施例てはGa八へ基板を使用した例を示
したか、他の■−v族、II−Vl族化合物半導体基板
、Si基板を使用した装置にも適用てきることは言う迄
もない。
イアス電圧を印加するためのバイアス回路(6)につい
て説明したか、トレイン電圧印加用、あるいはタイオー
ト等を含むMMIGの能動回路用のバイアス電圧を供給
するためのバイアス回路としても使用することがてきる
。また、上記実施例てはGa八へ基板を使用した例を示
したか、他の■−v族、II−Vl族化合物半導体基板
、Si基板を使用した装置にも適用てきることは言う迄
もない。
以上のように、この発明のMMIGでは、バイアス回路
(6)として基板4二に導電層よりなる抵抗(9)を形
成し、その一方の端部に小容量キャパシタを構成するマ
イクロストリップ線路よりなるオープンスタツを接続し
、他方の端部に平行モ板型キャパシタを接続して構成さ
れたものを使用しているのて、特にL記小官聞キャパシ
タの容量値を精度よく設定することかてき1発振の防止
、バイアス回路でのマイクロ波の反射防1F効果か向上
し、低雑音、高利得のMMI(:を実現することかてき
る。
(6)として基板4二に導電層よりなる抵抗(9)を形
成し、その一方の端部に小容量キャパシタを構成するマ
イクロストリップ線路よりなるオープンスタツを接続し
、他方の端部に平行モ板型キャパシタを接続して構成さ
れたものを使用しているのて、特にL記小官聞キャパシ
タの容量値を精度よく設定することかてき1発振の防止
、バイアス回路でのマイクロ波の反射防1F効果か向上
し、低雑音、高利得のMMI(:を実現することかてき
る。
第1図はこの発明のモノリシック・マイクロ波集積回路
の一実施例のL要部の等価回路を示す図、第2図は第1
図に示すこの発明のモノリシック・マイクロ波集積回路
の一実施例て使用されるバイアス回路の一例の平面図、
第3図は従来のモノリシック・マイクロ波集積回路の−
・例の主要部の等価回路を示す図、第4図は第3図に示
す従来のそノリシック・マイクロ波集積回路て使用され
るバイアス回路の平面図である。 (1)・・・・FF、T (情動回路)、(6)・・
・・バイアス回路、(9)・・・・抵抗、(lO)・・
・・平行平板型キャパシタ、(19)・・・・マイクロ
ストリップ線路よりなるオーブンスタツ、(91)・・
・・第1の金属膜、(92)・・・・・・絶縁膜、(9
3)・・・・第2の金属膜。 Il’jl 図 代 理 人 大 石 増 雄
の一実施例のL要部の等価回路を示す図、第2図は第1
図に示すこの発明のモノリシック・マイクロ波集積回路
の一実施例て使用されるバイアス回路の一例の平面図、
第3図は従来のモノリシック・マイクロ波集積回路の−
・例の主要部の等価回路を示す図、第4図は第3図に示
す従来のそノリシック・マイクロ波集積回路て使用され
るバイアス回路の平面図である。 (1)・・・・FF、T (情動回路)、(6)・・
・・バイアス回路、(9)・・・・抵抗、(lO)・・
・・平行平板型キャパシタ、(19)・・・・マイクロ
ストリップ線路よりなるオーブンスタツ、(91)・・
・・第1の金属膜、(92)・・・・・・絶縁膜、(9
3)・・・・第2の金属膜。 Il’jl 図 代 理 人 大 石 増 雄
Claims (1)
- (1)基板上に形成された能動回路と、該能動回路にバ
イアス電圧を供給するバイアス回路とを具備し、上記バ
イアス回路は、上記基板上に形成した導電層からなる抵
抗と、該抵抗の一端に接続され、小容量キャパシタとし
て作用するマイクロストリップ線路よりなるオープンス
タブと、上記抵抗の他端に接続され、上記基板上に形成
された第1の金属膜と、該第1の金属膜上に絶縁膜を介
して形成された第2の金属膜とからなる平行平板型キャ
パシタとからなることを特徴とするモノリシック・マイ
クロ波集積回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33361689A JPH03192801A (ja) | 1989-12-21 | 1989-12-21 | モノリシック・マイクロ波集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33361689A JPH03192801A (ja) | 1989-12-21 | 1989-12-21 | モノリシック・マイクロ波集積回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03192801A true JPH03192801A (ja) | 1991-08-22 |
Family
ID=18268045
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33361689A Pending JPH03192801A (ja) | 1989-12-21 | 1989-12-21 | モノリシック・マイクロ波集積回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03192801A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5451905A (en) * | 1993-05-18 | 1995-09-19 | U.S. Philips Corporation | Microwave semiconductor device comprising stabilizing means |
| WO1998006174A1 (en) * | 1996-08-05 | 1998-02-12 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | High-frequency integrated circuit for high-frequency radio transmitter-receiver suppressed in influence of high-frequency power leakage |
| EP0940878A1 (en) * | 1998-03-06 | 1999-09-08 | Nec Corporation | Short-stub matching circuit |
| JP2000223501A (ja) * | 1999-01-28 | 2000-08-11 | Nec Corp | 半導体集積回路装置とその製造方法 |
| JP2008005128A (ja) * | 2006-06-21 | 2008-01-10 | Mitsubishi Electric Corp | マイクロ波増幅器 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62109410A (ja) * | 1985-11-07 | 1987-05-20 | Mitsubishi Electric Corp | マイクロ波増幅器用バイアス回路 |
| JPS62241401A (ja) * | 1986-04-14 | 1987-10-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | フイルタ−回路 |
-
1989
- 1989-12-21 JP JP33361689A patent/JPH03192801A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62109410A (ja) * | 1985-11-07 | 1987-05-20 | Mitsubishi Electric Corp | マイクロ波増幅器用バイアス回路 |
| JPS62241401A (ja) * | 1986-04-14 | 1987-10-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | フイルタ−回路 |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US5451905A (en) * | 1993-05-18 | 1995-09-19 | U.S. Philips Corporation | Microwave semiconductor device comprising stabilizing means |
| WO1998006174A1 (en) * | 1996-08-05 | 1998-02-12 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | High-frequency integrated circuit for high-frequency radio transmitter-receiver suppressed in influence of high-frequency power leakage |
| GB2331879A (en) * | 1996-08-05 | 1999-06-02 | Mitsubishi Electric Corp | High frequency intergrated circuit for high-frequency radio transmitter-receiver suppressed in influence of high-frequency power leakage |
| GB2331879B (en) * | 1996-08-05 | 2001-03-28 | Mitsubishi Electric Corp | Radio-frequency integrated circuit for a radio-frequency wireless transmitter-receiver with reduced influence by radio-frequency power leakage |
| US6308047B1 (en) | 1996-08-05 | 2001-10-23 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Radio-frequency integrated circuit for a radio-frequency wireless transmitter-receiver with reduced influence by radio-frequency power leakage |
| EP0940878A1 (en) * | 1998-03-06 | 1999-09-08 | Nec Corporation | Short-stub matching circuit |
| US6239670B1 (en) | 1998-03-06 | 2001-05-29 | Nec Corporation | Short-stub matching circuit |
| JP2000223501A (ja) * | 1999-01-28 | 2000-08-11 | Nec Corp | 半導体集積回路装置とその製造方法 |
| JP2008005128A (ja) * | 2006-06-21 | 2008-01-10 | Mitsubishi Electric Corp | マイクロ波増幅器 |
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