JPH03194992A - プリント基板の製造方法 - Google Patents
プリント基板の製造方法Info
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- JPH03194992A JPH03194992A JP33405489A JP33405489A JPH03194992A JP H03194992 A JPH03194992 A JP H03194992A JP 33405489 A JP33405489 A JP 33405489A JP 33405489 A JP33405489 A JP 33405489A JP H03194992 A JPH03194992 A JP H03194992A
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Landscapes
- Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
- Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、安価で信頼性の高いプリント基板の製造方法
に関する。
に関する。
従来、プリント配線板の製造方法において、無電解めっ
き法としては1例えばテンティング法と半田剥離法があ
る。
き法としては1例えばテンティング法と半田剥離法があ
る。
上記テンティング法は、基板の穴明は工程と。
Cuめっき工程と、レジスト被膜形成工程と、エツチン
グ工程と、レジスト被膜の剥離工程と、ソルダーレジス
ト形成工程と、Niめっき、Auめっき工程とよりなる
。
グ工程と、レジスト被膜の剥離工程と、ソルダーレジス
ト形成工程と、Niめっき、Auめっき工程とよりなる
。
一方、上記半田剥離法は、上記テンティング法における
エツチング工程とレジスト被膜の剥離工程に代えて、C
uめっき工程と、半田めっき工程と、該半田の剥離工程
と、エツチング工程とを行うものである。
エツチング工程とレジスト被膜の剥離工程に代えて、C
uめっき工程と、半田めっき工程と、該半田の剥離工程
と、エツチング工程とを行うものである。
したがって2画法は、ソルダーレジスト形成工程と、N
iめっき、Auめっき工程を行う点で共通する。また、
基板の穴明は工程と、Cuめっき工程と、レジスト被膜
形成工程とを行う点でも共通する。
iめっき、Auめっき工程を行う点で共通する。また、
基板の穴明は工程と、Cuめっき工程と、レジスト被膜
形成工程とを行う点でも共通する。
そして5両法とも、プリント基板のパターン形成を行う
ために、実施される点においても共通する。
ために、実施される点においても共通する。
即ち1両法を用いたプリント基板の製造方法としては1
例えば第8図〜第14図に示す方法がある。
例えば第8図〜第14図に示す方法がある。
まず、第8図に示すごとく、出発材料として。
例えば両面に銅箔8を接合した銅張り基Fi、9が使用
される。
される。
次に、第9図に示すごとく、上記基板9には。
例えばスルーホール形成用の穴7が明けられる。
次いで、第1O図に示すごとく9w4めっき膜8を形成
するためのCuめっきが行われる。これにより、上記銅
V18の表面には、第1銅めっき膜61が形成される。
するためのCuめっきが行われる。これにより、上記銅
V18の表面には、第1銅めっき膜61が形成される。
また、上記穴7内には、導通用の銅めっきM2Oが形成
され、スルーホール71が形成される。
され、スルーホール71が形成される。
また、上記第1銅めっき膜61及びスルーホール71内
の銅めっき膜60の表面には、レジスト被膜(但し2図
示時)が形成される。そして、上記半田剥離法において
は、第11図に示すごとく上記第1銅めっき膜61及び
スルーホール71内の銅めっき膜60の表面に、第2C
uめっき62が形成される。
の銅めっき膜60の表面には、レジスト被膜(但し2図
示時)が形成される。そして、上記半田剥離法において
は、第11図に示すごとく上記第1銅めっき膜61及び
スルーホール71内の銅めっき膜60の表面に、第2C
uめっき62が形成される。
次いで、上記レジスト被膜及び半田めっき膜は剥離され
る。これにより、第11図に示すごとく。
る。これにより、第11図に示すごとく。
基板露出部42が形成される。
また、第12図に示すごとく、後工程において。
Niめっき、Auめっきが行われない部分には。
ソルダーレジスト被膜52が形成される。そして。
Niめっきが行われる部分は、脱脂等のコンディショニ
ング処理が施される(図示時)、これにより、当該部分
は、ぬれ性が向上する。
ング処理が施される(図示時)、これにより、当該部分
は、ぬれ性が向上する。
次に、第12図に示すごとく、上記Niめっきが行われ
る部分にはパラジウム(Pd)触媒53が吸着される。
る部分にはパラジウム(Pd)触媒53が吸着される。
これにより、第13図に示すごとく、上記Niめっきが
行われる部分54は活性化される。ここで、上記パラジ
ウム触媒53は、Niめっきが円滑にかつ迅速に行われ
るように作用する。つまり5該パラジウム触媒53は、
無電解めっき法であるNiめっき、Auめっきの後工程
の処理において、it位差が生じ易くなるよう第2銅め
っき膜62の表面を活性化するためのものである。
行われる部分54は活性化される。ここで、上記パラジ
ウム触媒53は、Niめっきが円滑にかつ迅速に行われ
るように作用する。つまり5該パラジウム触媒53は、
無電解めっき法であるNiめっき、Auめっきの後工程
の処理において、it位差が生じ易くなるよう第2銅め
っき膜62の表面を活性化するためのものである。
そして、第14図に示すごとく、活性化された第2w4
めっき膜62の表面には、ニッケルめつきl!!3及び
金めつき膜2が形成される。該二・シケルめっき膜3は
、比較的厚く、また該金めつき膜2は比較的薄く形成さ
れる。
めっき膜62の表面には、ニッケルめつきl!!3及び
金めつき膜2が形成される。該二・シケルめっき膜3は
、比較的厚く、また該金めつき膜2は比較的薄く形成さ
れる。
しかしながら、上記従来技術には2次の問題点がある。
即ち、上記Niめっき及びAuめっきを行うに当たって
、パラジウム触媒を用いることは高価となる。つまり、
パラジウムは卑金属で高価であるため、プリント基板の
製造費が高くなる。また。
、パラジウム触媒を用いることは高価となる。つまり、
パラジウムは卑金属で高価であるため、プリント基板の
製造費が高くなる。また。
上記半田剥離法においては、−旦形成した半田めっき膜
を剥離してしまう、これは、不経済である。
を剥離してしまう、これは、不経済である。
本発明は、かかる従来の問題点に鑑みてなされたもので
、安価で信軌性の高いプリント基板の製造方法を提供し
ようとするものである。
、安価で信軌性の高いプリント基板の製造方法を提供し
ようとするものである。
〔課題の解決手段]
本発明は、基板に穴明けを行い1次に該基板にCuめっ
きを行い5次いで該Cuめっき上にエツチングレジスト
被膜を形成し、その後エツチングによりパターンを形成
し2次いでソルダーレジストを形成し、然る後Ni−A
uめっきを行うプリント基板の製造方法において、上記
エツチングレジスト被膜はNiめっきにより形成するこ
とを特徴とするプリント基板の製造方法にある。
きを行い5次いで該Cuめっき上にエツチングレジスト
被膜を形成し、その後エツチングによりパターンを形成
し2次いでソルダーレジストを形成し、然る後Ni−A
uめっきを行うプリント基板の製造方法において、上記
エツチングレジスト被膜はNiめっきにより形成するこ
とを特徴とするプリント基板の製造方法にある。
本発明において最も注目すべきことは、上記エツチング
レジスト被膜は、Niめっきにより形成することにある
。
レジスト被膜は、Niめっきにより形成することにある
。
上記Niめっきは、無電解めっき法によって。
例えば銅めっき膜の表面にニッケルめっき膜を形成する
ことにより行う、該ニッケルめっき膜は。
ことにより行う、該ニッケルめっき膜は。
例えば厚さが5〜7μmと比較的厚い金属めっき膜であ
る。また、該ニッケルめっき膜には、ピンホール、凹凸
等の欠陥がないことが好ましい、その理由は、エツチン
グ工程において、上記ニッケルめっき膜は、その下層の
第2銅めっき膜、更にはその下層の第2&lilめっき
膜を、ソルダーレジストとして保護する作用を有するか
らである。
る。また、該ニッケルめっき膜には、ピンホール、凹凸
等の欠陥がないことが好ましい、その理由は、エツチン
グ工程において、上記ニッケルめっき膜は、その下層の
第2銅めっき膜、更にはその下層の第2&lilめっき
膜を、ソルダーレジストとして保護する作用を有するか
らである。
本発明においては、エツチングレジスト被膜としてのN
iめっきを行う。
iめっきを行う。
即ち、基板上にパターンを形成した後、該パターン以外
の部分にはソルダーレジストを形成する。
の部分にはソルダーレジストを形成する。
また、該ソルダーレジストを形成していない銅めっき膜
の表面には、ニッケルめっき膜を形成する。
の表面には、ニッケルめっき膜を形成する。
ところで、該ニアケルめっき膜は、従来のパラジウム触
媒と同様に、無電解めっきを行うに当り。
媒と同様に、無電解めっきを行うに当り。
触媒作用を有する。そのため、上記ニッケルめっき膜は
、その表面に該ニッケルめっき膜板外の金属めっき膜を
形成するに当たり、パラジウムのごとき他触媒を吸着さ
せる必要がない。
、その表面に該ニッケルめっき膜板外の金属めっき膜を
形成するに当たり、パラジウムのごとき他触媒を吸着さ
せる必要がない。
その理由は、上記ニッケルめっき膜は、その表面が活性
化された状態にあり、該ニッケルめっき膜の表面に形成
する他の金属めっき膜との間に電位差が生じるためと考
えられる。
化された状態にあり、該ニッケルめっき膜の表面に形成
する他の金属めっき膜との間に電位差が生じるためと考
えられる。
上記のごとく3本発明においてはパラジウム等の触媒を
特に必要としない、したがって、これによりコスト低減
が可能となり、安価なプリント基板を得ることができる
。
特に必要としない、したがって、これによりコスト低減
が可能となり、安価なプリント基板を得ることができる
。
また、−上記ニッケルめっき膜は、エツチングレジスト
としての下層の保護作用を存する。即ち該ニッケルめっ
き膜は、エツチング工程において。
としての下層の保護作用を存する。即ち該ニッケルめっ
き膜は、エツチング工程において。
下層にある第2銅めっき膜62を、エツチング液により
、溶解除去されないよう保護する。
、溶解除去されないよう保護する。
そのため、これにより信転性の高い金属めっき膜を有す
るプリント基板を得ることができる。
るプリント基板を得ることができる。
以上のごとく1本発明によれば、安価で信顛性の高いプ
リント基板の製造方法を提供することができる。
リント基板の製造方法を提供することができる。
本発明の実施例にかかるプリント基板の製造方法につき
、第1図〜第7図を用いて説明する。
、第1図〜第7図を用いて説明する。
まず1本例の製造方法の概要は、第1図〜第7図に示す
ごとく、基板9にCuめっきを行い1次いで該Cuめっ
き上にエツチングレジスト被膜としてのニッケルめっき
膜lを形成し、その後エツチングによりパターン10を
形成し2次いでソルダーレジスト52を形成し、Ni
−Auめっきを行うことにより、プリント基板を製造す
るものである。
ごとく、基板9にCuめっきを行い1次いで該Cuめっ
き上にエツチングレジスト被膜としてのニッケルめっき
膜lを形成し、その後エツチングによりパターン10を
形成し2次いでソルダーレジスト52を形成し、Ni
−Auめっきを行うことにより、プリント基板を製造す
るものである。
ここで注目すべきことは、上記Cuめっき上にエンチン
グレジスト被膜としてのニッケルめっき膜1を形成する
ことにある。かかるニッケルめっき膜1の形成方法は、
後述する。
グレジスト被膜としてのニッケルめっき膜1を形成する
ことにある。かかるニッケルめっき膜1の形成方法は、
後述する。
即ち1本例の製造方法は、第1図に示すごとく。
基板9の銅tI38上に第1銅めっき膜61を形成する
第1Cuめっき工程と、第2図に示すごとく上記第1銅
めっき膜61の表面にレジスト被膜51を形成するレジ
スト被膜形成工程と1次いで。
第1Cuめっき工程と、第2図に示すごとく上記第1銅
めっき膜61の表面にレジスト被膜51を形成するレジ
スト被膜形成工程と1次いで。
該メンキレジスト被膜51以外の部分に第2銅めっき膜
62を形成する第2Cuめっき工程と、第3図に示すご
とく、エツチングレジスト被膜としてのニッケルめっき
膜1を形成するエツチングレジスト形成工程と、第4図
に示すごと(、上記ニッケルめっき膜1を形成した部分
以外をエツチングにより除去するエツチング工程と、該
エツチング工程により第5図に示すごとく、不要めっき
部分41を除去してパターン10を形成するパターン形
成工程と、第6図に示すごとく、上記パターン10の一
部の表面にソルダーレジスト被M452を形成するソル
ダーレジスト形成工程と、第7図に示すごとく、上記ソ
ルダーレジスト被膜52を形成した部分以外のニッケル
めっき膜1の表面に金めっきll112を形成するAu
めっき工程とよりなる。
62を形成する第2Cuめっき工程と、第3図に示すご
とく、エツチングレジスト被膜としてのニッケルめっき
膜1を形成するエツチングレジスト形成工程と、第4図
に示すごと(、上記ニッケルめっき膜1を形成した部分
以外をエツチングにより除去するエツチング工程と、該
エツチング工程により第5図に示すごとく、不要めっき
部分41を除去してパターン10を形成するパターン形
成工程と、第6図に示すごとく、上記パターン10の一
部の表面にソルダーレジスト被M452を形成するソル
ダーレジスト形成工程と、第7図に示すごとく、上記ソ
ルダーレジスト被膜52を形成した部分以外のニッケル
めっき膜1の表面に金めっきll112を形成するAu
めっき工程とよりなる。
上記基板9は、IRfI3Bを有し、該銅箔8の表面に
第1銅めっき膜61を有する。また、上記基板9は2表
面と裏面の第1銅めっき膜61...61を導通するた
めのスルーホール71を有する。なお。
第1銅めっき膜61を有する。また、上記基板9は2表
面と裏面の第1銅めっき膜61...61を導通するた
めのスルーホール71を有する。なお。
該基板9に穴明けを行う工程は、従来と同様である(第
2図参照)。また、上記銅箔8の表面に第1w4めっき
膜61を形成する工程も従来と同様である(第10図参
照)。
2図参照)。また、上記銅箔8の表面に第1w4めっき
膜61を形成する工程も従来と同様である(第10図参
照)。
また、上記メツキレジスト被膜51は1次工程において
、第2w4めっきM62を形成しない、上記第1銅めっ
き膜61上に形成する。
、第2w4めっきM62を形成しない、上記第1銅めっ
き膜61上に形成する。
つまり、上記第2銅めっき膜62は、第2図に示すごと
く、上記メツキレジスト被膜51が形成された部分以外
の第1銅めっき膜61の表面に形成される。
く、上記メツキレジスト被膜51が形成された部分以外
の第1銅めっき膜61の表面に形成される。
次に、上記エツチングレジスト被膜としてのニッケルめ
っき膜1は、第3図に示すごとく、上記第2wAめっき
膜62の表面に形成される。
っき膜1は、第3図に示すごとく、上記第2wAめっき
膜62の表面に形成される。
ここで、上記ニッケルめっき膜1を形成する方法につい
て、詳述する。
て、詳述する。
即ち、上記ニッケルめっきIAIを形成するに当たり、
めっき液としては、液温60°Cで1組成が硫酸ニッケ
ルと塩化ニッケルとホウ酸とを含有する溶液を用いる。
めっき液としては、液温60°Cで1組成が硫酸ニッケ
ルと塩化ニッケルとホウ酸とを含有する溶液を用いる。
そして、上記めっき槽中に上記めっき液を入れ。
電流密度2A/dm”で、約20分間、Niめっきを行
う。該Niめっきは、無電解めっき法により、上記めっ
き液中に溶解したNiを化学的に。
う。該Niめっきは、無電解めっき法により、上記めっ
き液中に溶解したNiを化学的に。
上記第2銅めっき膜62の表面に還元析出させて行う。
そして、銅めっき膜は、第1銅めっき膜61と第2銅め
っき膜62とよりなる。そして、その膜厚さは合計して
43μmである。
っき膜62とよりなる。そして、その膜厚さは合計して
43μmである。
その結果、上記第2銅めっきMB2の表面には。
平均膜厚さが5μmのニッケルめっき膜Iを形成するこ
とができた。
とができた。
次に、第4図に示すごとく、上記ソルダーレジスト被膜
52を剥離して、上記ニッケルめっき膜1を形成した部
分以外の第1銅めっき膜61を露出させる。
52を剥離して、上記ニッケルめっき膜1を形成した部
分以外の第1銅めっき膜61を露出させる。
次いで9第5図に示すごとく、上記露出した第1w4め
っき膜61をエツチングにより除去する。
っき膜61をエツチングにより除去する。
該エツチングには、アルカリエツチング液を用いる。こ
れにより、上記スルーホール71及びパターン10以外
の部分においては、基板9の表面が露出した部分42を
有するプリント基板を得る。
れにより、上記スルーホール71及びパターン10以外
の部分においては、基板9の表面が露出した部分42を
有するプリント基板を得る。
また、第6図に示すごとく、上記ニッケルめっき膜lの
表面のうち1次工程の無電解Ni−Au膜を形成しない
第2銅めっきl!62の表面にはソルダーレジスト被膜
52を形成する。ここで最も注目すべきことは9次工程
の無電解N1−AUめっき膜を形成する第2銅めっき膜
62の表面には、ニッケルめっき膜1が形成されている
ことである。
表面のうち1次工程の無電解Ni−Au膜を形成しない
第2銅めっきl!62の表面にはソルダーレジスト被膜
52を形成する。ここで最も注目すべきことは9次工程
の無電解N1−AUめっき膜を形成する第2銅めっき膜
62の表面には、ニッケルめっき膜1が形成されている
ことである。
ところで、上記ニッケルめっきIt!I lは、その表
面に該ニッケルめっき膜1以外の金属めっき膜を形成す
るに当たり、触媒作用を有する。そのため。
面に該ニッケルめっき膜1以外の金属めっき膜を形成す
るに当たり、触媒作用を有する。そのため。
該ニッケルめっきIIIの表面には、Pdのごとき触媒
を吸着する必要がない。
を吸着する必要がない。
そのため、上記ニッケルめっき膜1の表面は。
活性化された状態にあり、Pd等の触媒を特に必要とし
ない。したがって、これによりコスト低減が可能となり
、安価なプリント基板を得ることができる。
ない。したがって、これによりコスト低減が可能となり
、安価なプリント基板を得ることができる。
また、上記ニッケルめっき膜lは、ソルダーレジストと
しての下層の保護作用を有する。即ち該ニッケルめっき
膜1は、その下層にある第2銅めっき膜62等を、エン
チング工程にといて、エンチング液により溶解除去され
ないよう保護する。
しての下層の保護作用を有する。即ち該ニッケルめっき
膜1は、その下層にある第2銅めっき膜62等を、エン
チング工程にといて、エンチング液により溶解除去され
ないよう保護する。
そのため、これにより、信頬性の高い金属めっき膜を有
するプリント基板を得ることができる。
するプリント基板を得ることができる。
そして、上記ニッケルめっき膜lの表面には。
第7図に示すごとく、無電解めっき法により、Niめっ
き膜22次いでAuめっき膜3を形成する。
き膜22次いでAuめっき膜3を形成する。
以上のごとく5本例によれば、プリント基板の製造時に
おいて、安価で信顛性の高い無電解めっき法による金属
めっきを形成することができる。
おいて、安価で信顛性の高い無電解めっき法による金属
めっきを形成することができる。
第1図〜第7図は本発明の実施例にかかるプリント基板
の製造工程を示す断面図、第8図〜第14図は従来のプ
リン)M板の製造工程を示す断面図である。 l。 10゜ 2゜ 3゜ 51゜ 52゜ 61゜ 62゜ 8゜ 9゜ ニッケルめっき膜。 パターン。 無電解Niめっき膜 無電解Auめっき膜。 レジスト被膜。 ソルダーレジスト被膜 第1銅めっき膜。 第2銅めっき膜。 銅箔 基板 61 第6図 第7!2′1 z 第4図 第11 区j 第12図 第13図 1 第14図
の製造工程を示す断面図、第8図〜第14図は従来のプ
リン)M板の製造工程を示す断面図である。 l。 10゜ 2゜ 3゜ 51゜ 52゜ 61゜ 62゜ 8゜ 9゜ ニッケルめっき膜。 パターン。 無電解Niめっき膜 無電解Auめっき膜。 レジスト被膜。 ソルダーレジスト被膜 第1銅めっき膜。 第2銅めっき膜。 銅箔 基板 61 第6図 第7!2′1 z 第4図 第11 区j 第12図 第13図 1 第14図
Claims (1)
- 基板に穴明けを行い,次に該基板にCuめっきを行い
,次いで該Cuめっき上にエッチングレジスト被膜を形
成し,その後エッチングによりパターンを形成し,次い
でソルダーレジストを形成し,然る後,Ni−Auめっ
きを行うプリント基板の製造方法において,上記エッチ
ングレジスト被膜はNiめっきにより形成することを特
徴とするプリント基板の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33405489A JPH03194992A (ja) | 1989-12-23 | 1989-12-23 | プリント基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33405489A JPH03194992A (ja) | 1989-12-23 | 1989-12-23 | プリント基板の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03194992A true JPH03194992A (ja) | 1991-08-26 |
Family
ID=18272996
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33405489A Pending JPH03194992A (ja) | 1989-12-23 | 1989-12-23 | プリント基板の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03194992A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6074567A (en) * | 1997-02-12 | 2000-06-13 | Shinko Electric Industries Co., Ltd. | Method for producing a semiconductor package |
| KR100749444B1 (ko) * | 1998-09-18 | 2007-08-17 | 훈츠만 어드밴스트 머티리얼스(스위처랜드)게엠베하 | 에칭된 회로의 제조방법 |
-
1989
- 1989-12-23 JP JP33405489A patent/JPH03194992A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6074567A (en) * | 1997-02-12 | 2000-06-13 | Shinko Electric Industries Co., Ltd. | Method for producing a semiconductor package |
| KR100749444B1 (ko) * | 1998-09-18 | 2007-08-17 | 훈츠만 어드밴스트 머티리얼스(스위처랜드)게엠베하 | 에칭된 회로의 제조방법 |
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