JPH03197320A - 薄膜超電導体の製造方法 - Google Patents

薄膜超電導体の製造方法

Info

Publication number
JPH03197320A
JPH03197320A JP1339012A JP33901289A JPH03197320A JP H03197320 A JPH03197320 A JP H03197320A JP 1339012 A JP1339012 A JP 1339012A JP 33901289 A JP33901289 A JP 33901289A JP H03197320 A JPH03197320 A JP H03197320A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thin film
oxygen
manufacturing
substrate
film superconductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP1339012A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH07106904B2 (ja
Inventor
Shigenori Hayashi
重徳 林
Hideaki Adachi
秀明 足立
Kentaro Setsune
瀬恒 謙太郎
Takashi Hirao
孝 平尾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP1339012A priority Critical patent/JPH07106904B2/ja
Publication of JPH03197320A publication Critical patent/JPH03197320A/ja
Publication of JPH07106904B2 publication Critical patent/JPH07106904B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E40/00Technologies for an efficient electrical power generation, transmission or distribution
    • Y02E40/60Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment

Landscapes

  • Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
  • Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
  • Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、高臨界温度を持つ酸化物超電導体の薄膜超電
導導体製造方法、特にN d2CuOa型結晶構造の酸
化物超電導体薄膜の製造方法に関するものである。
従来の技術 高い超電導転移温度を持つ酸化物超電導体として、Ba
−La−Cu−0系の超電導体が発見された[シーエイ
、シー、ヘードノルフ ?シトー ケイ、■−、ミュラ
ー(J 、G、Bedno−rz  and  に、A
、Muller)wブフイトシ1リフト フ1? フイ
シー−り(ZeitshriFtfur  Physi
k  B)−Condensed  Matter、v
ol、64゜189−193(+986)]。これ以来
数々の新しい酸化物超電導体が発見されるに至った。
ところで最近、これら従来の酸化物超電導体とは常電導
状態における電荷輸送担体が異なる、N d−Ce−C
u−0に代表されるN d2 C110A型結晶構造の
新しい酸化物超電導体が発見された[ワ仁トクラ、エイ
J、りh4−7ント″ ニス、つ子ター(Y、Toku
ra、H,Takagi  andS、Uchida)
、2イf+−(Nature)vol 、337,34
5−347(1989)]。この種の材料の超電導機構
の詳細は明らかではないが、転移温度がさらに高くなる
可能性があり、また新しいデバイスの実現等の有望な応
用が期待される。
発明が解決しようとする課題 しかしながら、N d−Ce−Cu−0系の材料は、現
在の技術では主として焼結という過程でしか形成できな
いため、セラミックの粉末あるいはブロックの形状でし
か得られない。一方、この種の材料を実用化する場合、
薄膜状に加工することが強く要望されているが、従来の
技術では、良好な超電導特性を有する薄膜作製は非常に
困難とされてい本発明は、このような従来技術の課題を
解決することを目的とするものである。
課題を解決するための手段 本発明は、主成分が、Nd2CuOn型結晶構造の(A
 1− * B x ) 2 Cu O4で表わされる
複合酸化物の超電導薄膜を作製するため、基本的にスパ
ッタ蒸着法を用いて、適当な基体上に結晶性の高い薄膜
を形成すると共に、酸素欠損の導入を行うことにより酸
素の含有量を化学量論比より少ない最適値にするという
ものである。ここで、AはNd、  Ss。
P「のうちの少なくとも一種、BはCe、Thのうちの
少なくとも一種の元素を示す。また、Xは、0.06≦
X≦0.08の範囲の数値である。
作用 本発明は、上記のような構成によって、良質で高性能な
Nd2CLIOa型結晶構造の薄膜超電導体を再現性良
く得ることが可能となった。
実施例 本発明者らはこのN d2Cuo a型結晶構造の酸化
物超電導体に対して、スパッタ蒸着法による薄膜作製を
行ない、作製条件と薄膜の超電導性の関係について詳細
に調べた。スパッタリングターゲットとしては、A元素
、B元素、Cuを含む酸化物を大気中において高温で熱
処理して得た焼結体を用いた。ただしAはNd、  S
m、  Prのうちの少なくとも一種、BはCe、Th
のうちの少なくとも一種の元素を示す。その結果400
℃〜1000℃に加熱した単結晶基体上に、例えばNd
+、5sCe@、+5Cubaの薄膜を、NdとCeと
Cuを含むターゲットをスパッタして成膜させ、結晶化
r4膜を得ることが出来た。そして単結晶基板の使用は
、アルミナのような非結晶材料を基板として用いた場合
に比べてNd+、5sCeu、+5CIJOJ薄膜の結
晶性を改善するという作用があることを確認した。M8
0単結晶を基板として用いた場合には、 (001)、
  あるいは(110)の結晶軸方向に配向する。特に
5rTi03.BaTio3.LaAlO3,LaGa
O3等のペロブスカイト型の結晶構造を有する単結晶を
基板として使用した場合には、その結晶軸にそフて N
IL、5sCee、+5CuOaの結晶軸が配向し、良
好な結晶性を持つ薄膜が得られることを発明者らは見い
だした。
さらに、通常酸化物薄膜の作製の場合、スパッタガスと
して、アルゴンなどの不活性ガスと酸素または酸化ガス
をほぼ等量混合して用いる。ところがN To CuO
a型結晶構造の酸化物超電導体においては、スパッタガ
ス中の酸素あるいは酸化ガスの分圧を極端に低くして成
膜すると、意外にも良好な超電導性が、すなわち、セラ
ミックス材料とほぼ等しい20にのものが、再現性良く
得られることを得られることを本発明者らは発見した。
この原因は現在のところ明らかではないが、この種の材
料のセラミックスの焼結においては還元雰囲気がよいと
も言われており、スパッタ蒸着中の酸素分圧を低くする
ことにより不必要な酸素が薄膜の結晶構造中に入らない
、あるいは、薄膜の組成が、Nd+、5sCes、+5
CuOa−uと適当な量yの酸素欠損が導入されている
ため、良い結果が得られているのではないかと思われる
。さらに、酸素あるいは酸化ガスを全く含まない不活性
ガスのみの場合にも良好な超電導特性が得られることを
見いだした。不活性ガスとしてはアルゴンが比較的利用
し易く、また結果も良いことを確認した。これらの理由
は、Nd2CuOn型の結晶構造を作るにはある程度の
酸素が必要ではあるが、その酸素はターゲットから十分
供給することが可能であると思われる。
スパッタ蒸着した膜、特に、基体温度を750℃〜10
00℃とした膜の結晶性は、超電導特性を得るには十分
であるが、さらに大気中もしくは10−3気圧以上の酸
素を含んだ雰囲気で、900℃〜1100℃の温度範囲
で一定時間加熱することによって結晶性を高めることが
でき、さらに優れた超電導特性を得ることができること
を確認した。あわせて、熱処理後、室温以下に急冷する
ことが、酸素含有量を少なくして後の還元処理を容易に
することを見いだした。
また、本発明者らは、適当な還元処理を行い、酸素欠損
の導入により酸素の含有量を化学量論比より少ない最適
値にすることによって、最適の超電導特性を得ることが
できることを見いだした。
還元処理の方法としては、真空中もしくは酸素分圧10
−3気圧以下のアルゴン等の不活性ガス雰囲気で、加熱
することが有効であることを見いだした。その際の、酸
素の脱離量あるいは欠損量は、酸素の拡散過程に強く依
存する。すなわち、加熱する際の処理温度!!囲として
は、500℃〜900℃が適当であるが、必要な処理時
閏は、超電導体の膜厚及び表面状態によっても影響を受
けるが、処理温度が高いほど短い時間で済むことを見い
だした。しかしながら、処理時閏が長すぎると、かえっ
て超電導性を損なわせる結果となり、各処理温度には最
適な処理時間が存在することを見いだした。
もう一つの還元処理の方法として、少なくともフッ素ガ
スを含んだ雰囲気下で加熱することによって酸素をフッ
素と置換すれば、超電導特性を得ることができることを
見いだした。
以下に、更に具体的な実施例を示す。
NdとCeとCuを含む酸化物セラミックス焼結体をタ
ーゲットとして用い、チタン酸ストロンチウム(100
)面の基体上に、高周波プレナーマグネトロンスバッタ
により薄膜作製を行なった。このターゲットは、Nd2
O3、CeO2、CuOを大気中1050℃で8時閉熱
処理し得た焼結体を用いた。スパッタガスは純アルゴン
ガスとしたが、良好な結晶性の薄膜が形成可能であった
。この理由は、N d2Cuo a型の結晶構造を作る
にはある程度の酸素が必要で、その酸素はターゲットか
ら供給されるのが一番適していることによると思われる
蒸着中の基体の温度としては400℃〜1000℃とし
た場合に、低温で薄膜の電気抵抗に超伝導の兆候が認め
られたが、特に750℃〜1000℃で形成した薄膜に
おいては、ゼロ抵抗が20に程度で確認され、また結晶
性も良く再現性もすぐれていた。
以下本発明の内容を深く理解されるために、さらに具体
的な実施例を示す。
Nd+、5sCei、+sCu’50x の酸化物セラ
ミックス焼結体をターゲットとして用い、Mgo、  
あるいは、SrT 1o3の (100) −あるいは
(110)面の単結晶基体上に、薄膜形成を行なフた。
スパッタ電力160W、スパッタガス圧力3X10−3
T orrの条件のもとで、約1時閏スパッタ蒸着する
ことにより、約0. 5〜0. 8μm厚の薄膜が得ら
れた。スパッタガスは純アルゴンガスとし、この際の基
体温度を変化させて、結晶性および出現する超伝導特性
との関係を調べた。上記過程の後、薄膜の組成を調べた
ところ、金属元素の比率はNd: Ce: Cu=1.
85:  0.15:  1.Oとほぼ化学量論比にな
っていた。また薄膜の結晶構造は、X線回折法により調
べられた。
この結果、基板として5rTiO3(100)基板を用
いた場合、形成されたtilllH,tc軸が基板に垂
直に配向したN d2CuOa型の結晶構造であること
が判った。  5rT1C)3(110)基板を用いた
場合には、 (103)面の薄膜が成長し、Mg0(1
00)面には、 (110)ii、  (110)面に
は、(100)面が、それぞれ成長した。基体温度を7
50℃〜1000℃とした膜の結晶性は、超電導特性を
得るには十分であるが、さらに大気中もしくはlo−3
気圧以上の酸素を含んだ雰囲気で、900℃〜1100
℃の温度範囲で1時間〜2時閘加熱することによって結
晶性を高めることができ、さらに優れた超電導特性を得
ることができることを確認した。優れた超電導特性を与
える薄膜の結晶構造は、C軸が基板に垂直に配向したも
のが適していることが分かった。その意味で基体として
は、5rTio3(100)基板のほか、BaTio3
.LaAlO3,LaGaO3等のペロブスカイト型の
結晶構造を有する単結晶の(100)基板が優れている
ことを確認した。
得られた薄膜の中には、成膜後あるいは上述の結晶化を
促進させるための加熱処理後に、超電導特性を示すもの
もあったが、その超電導特性は、適当な還元処理をによ
フて、さらに高めることができ、また、超電導特性を示
さなかったものについても、最適の超電導特性を得るこ
とができることを見いだした。また、熱処理後、室温以
下に急冷することが、酸素含有量を少なくして後の還元
処理を容易にすることを見いだした。還元処理の方法と
しては、真空中もしくは酸素分圧1o−a気圧以下のア
ルゴン等の不活性ガス雰囲気で、加熱することが有効で
あることを見いだした。膜厚5000Aの代表的な薄膜
について、処理温度および処理時間を変化させて、真空
中で加熱した際の電気抵抗の温度依存性を図に示す。曲
線11は還元処理前、曲線12.13.14は、600
’Cでツレぞれ2.16.52時間処理したもの、曲線
15は、800℃で2時間処理したものである。
転移温度22に以上の優れた超電導特性を得るのに必要
な処理時間は、600℃で8〜30時間、800℃で1
〜3時間処理であった。これより、酸素の脱離量あるい
は欠損量は、酸素の拡散過程に強く依存し、加熱する際
の処理温度範囲としては、500℃〜900℃が適当で
あるが、最適な処理時間は、超電導体の膜厚及び表面状
態によっても影響を受けるが、処理温度が高いほど短い
時間で済むが、最適時間範囲は狭いことを見いだしさら
に、本発明者らは、蒸着膜を還元し酸素含有量を少なく
する方法として、フッ素との置換効果を利用することが
有効であることを確認した。
例えば、フッ素を含んだフロンガス等の雰囲気で放電を
起こし、活性なフッ素に薄膜を曝せば、フッ素との置換
効果によって酸素量を減らすことができ良好な超電導薄
膜を形成することが出来ることを確認した。
なおこの結果は、Ndの代わりにS+w、Prあるいは
この少なくとも一種を含む組合せ、またCeの代わりに
Thあるいはこの少なくとも一種を含む組合せでも、同
様であることが確認された。
発明の効果 本発明により、良質で高性能なN d2Cuo a型結
晶構造の薄膜超電導体を再現性良く得ることが可能とな
った0本発明の製造方法は、この種の物質を用いたデバ
イス等の応用には必須であり、本発明の工業的価値は大
きい。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の一実施例において製造された薄膜超電導体
の、電気抵抗の温度依存性を示す図である。 1・l・・・還元処理前、12.13.14・・・60
0℃で2.16.52時間処理、15・・・800℃で
2時閏処理。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基体上の、主成分がNd_2CuO_4型結晶構
    造の(A_1_−_xB_x)_2CuO_4で表され
    る複合酸化物のスパッタ蒸着膜に対し、還元処理を施す
    (ここで、AはNd,Sm,Prのうちの少なくとも一
    種、BはCe,Thのうちの少なくとも一種の元素を示
    す。 また、xは、0.06≦x≦0.08の範囲の数値であ
    る)ことを特徴とする薄膜超電導体の製造方法。
  2. (2)基体として、ペロブスカイト型の結晶構造を有す
    る単結晶基板を用いることを特徴とする請求項1記載の
    薄膜超電導体の製造方法。
  3. (3)スパッタ蒸着した後、更に大気中もしくは10^
    −^3気圧以上の酸素を含んだ雰囲気で、900℃〜1
    100℃の温度範囲で一定時間加熱して得た蒸着膜を用
    いることを特徴とする請求項1記載の薄膜超電導体の製
    造方法。
  4. (4)還元処理の方法として、真空中もしくは酸素分圧
    10^−^3気圧以下の不活性ガス雰囲気で、500℃
    〜900℃の温度範囲で一定時間加熱することを特徴と
    する請求項1記載の薄膜超電導体の製造方法。
  5. (5)還元処理の方法として、少なくともフッ素ガスを
    含んだ雰囲気下にさらすことを特徴とする請求項1記載
    の薄膜超電導体の製造方法。
JP1339012A 1989-12-26 1989-12-26 薄膜超電導体の製造方法 Expired - Fee Related JPH07106904B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1339012A JPH07106904B2 (ja) 1989-12-26 1989-12-26 薄膜超電導体の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1339012A JPH07106904B2 (ja) 1989-12-26 1989-12-26 薄膜超電導体の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH03197320A true JPH03197320A (ja) 1991-08-28
JPH07106904B2 JPH07106904B2 (ja) 1995-11-15

Family

ID=18323437

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1339012A Expired - Fee Related JPH07106904B2 (ja) 1989-12-26 1989-12-26 薄膜超電導体の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07106904B2 (ja)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02211678A (ja) * 1989-02-10 1990-08-22 Sony Corp 超伝導金属酸化物材料の製造方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02211678A (ja) * 1989-02-10 1990-08-22 Sony Corp 超伝導金属酸化物材料の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH07106904B2 (ja) 1995-11-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH01305580A (ja) 半導体素子製造用超電導セラミック薄膜形成単結晶ウエハー材
JPS63239742A (ja) 薄膜超電導体の製造方法
JPH01167221A (ja) 超電導薄膜の作製方法
JPH03197320A (ja) 薄膜超電導体の製造方法
JPH01208327A (ja) 薄膜超電導体の製造方法
JPH026394A (ja) 超伝導薄層
JPH01166419A (ja) 超電導薄膜の作製方法
JPH02252697A (ja) 超伝導セラミックス薄膜の製法
JPH02311396A (ja) 薄膜超伝導体とその製造方法
JPH01167218A (ja) 超電導薄膜の作製方法
JPH07106902B2 (ja) 薄膜超電導体の製造方法
JPH02170311A (ja) 酸化物超電導薄膜作製法
JPH0317253A (ja) 薄膜超電導体の製造方法
JPH03197319A (ja) 薄膜超電導体の製造方法
JP2544761B2 (ja) 超電導薄膜の作製方法
JPH03242321A (ja) 薄膜超電導体とその製造方法
JPS63257127A (ja) 薄膜超電導体の製造方法
JPH01167223A (ja) 超電導薄膜の作製方法
JPH02311312A (ja) 薄膜超電導体の製造方法
JPH01188661A (ja) 複合酸化物超電導薄膜とその作製方法
JPH02237082A (ja) 超電導体薄膜を有する半導体基板と、その製造方法
JPH01212215A (ja) 高温酸化物超電導体薄膜の製造方法
JPH0244782A (ja) 超伝導素子およびその製造方法
JPS63276824A (ja) 高温超電導薄膜の製造方法
JPH01166412A (ja) 複合酸化物超電導薄膜とその作製方法

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees