JPH03242321A - 薄膜超電導体とその製造方法 - Google Patents

薄膜超電導体とその製造方法

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JPH03242321A
JPH03242321A JP2037611A JP3761190A JPH03242321A JP H03242321 A JPH03242321 A JP H03242321A JP 2037611 A JP2037611 A JP 2037611A JP 3761190 A JP3761190 A JP 3761190A JP H03242321 A JPH03242321 A JP H03242321A
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JP
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thin film
superconductor
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JP2037611A
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English (en)
Inventor
Shigenori Hayashi
重徳 林
Hideaki Adachi
秀明 足立
Masatoshi Kitagawa
雅俊 北川
Kentaro Setsune
瀬恒 謙太郎
Takashi Hirao
孝 平尾
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E40/00Technologies for an efficient electrical power generation, transmission or distribution
    • Y02E40/60Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment

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  • Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
  • Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
  • Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明(友 高臨界温度を持つ酸化物超電導体薄膜とそ
の製造方法に関し 特iQ  N d sCu Q a
型結晶構造の酸化物超電導体薄膜を第−層として用いた
積層型薄膜超電導体とその製造方法に関するものである 従来の技術 超伝導体として、A15型2元化合物である窒化ニオブ
(NbNM’、  ゲルマニウムニオブ(Nb*Ge)
などが知られていた力丈 これらの材料の超伝導転移温
度はたかだか24K(ケルビン)であっ九 ペロブスカ
イト系化合物である Ba−La−Cu−0系の高温超
伝導体は これより高い転移温度を持つものとして発見
された[J、 G、へ゛トリルブ (Bednorz)
  and  K、 A、  ミューラ−(MtIll
er)、  7yイト シxリフト ’7xア 74シ
゛−り (Zeitshrift  fGr  phy
sik  B)−Condensed Matter 
64.189−193 (1986)]。さらぺ 近年
発見された酸化物超伝導体の中に1よ その超伝導遷移
温度が液体窒素温度(77、3K)を越えるものがあり
、超伝導体の応用分野を大きく広げるものと思われも 
特に Bi層状構造酸化物により形成されたB i−8
r−Ca−Cu−0系の超伝導体11100に以上の超
伝導転移温度を示すことも発見され九[H,マエタ゛、
Y、タナカ。
M、 7クトミ and  T、  アサノ、 シ゛↑
へ°ニース゛ シ゛↑−ナル オフ゛ ア7゜ライト′
 フィシ′7クス (Japanese  Journ
al  of  Applied  Physics)
 Vol、27.L209−210(1988)]  
最近ではTlBa−Ca−Cu−0系の材料が120に
以上で超伝導転移を示すことが報告されており、Bl系
と共に層状構造酸化物であることがわかってい&   
[Z、  Z、  シェンク’(Sheng)  an
d  A、 M、  八−v7(Hermann)、 
 ネイチg−(Letter  to  Nature
)  Vol、332. 138−139 (1988
)]。
これら従来の酸化物超伝導体は常伝導状態における電荷
担体が正孔である力(最近 電子がその電荷担体である
NdzCuO4型結晶構造の新しい酸化物超伝導体であ
るL n 2−XCe xCu○4−、が発見された。
   [Y、 トクラ (Tokura)、  H,タ
カキ゛ (Takagi) and S、ウチタ’ (
Uchida)、  ネイチャー (Nature)v
ol、 337.345−347(1989)]。この
種の材料の超伝導機構の詳細は明らかではない力交 転
移温度がさらに高くなる可能性があり、新しい超伝導応
用が期待されも 発明が解決しようとする課題 しかしなが収 N d −Ce −Cu−0系の材料(
戴現在の技術では主として焼結という過程でしか形成で
きないたヘ セラミックの粉末あるいはブロックの形状
でしか得られな1.%  −X  この種の材料を実用
化する場合、薄膜状に加工することが強く要望されてい
るパ 従来の技術で(よ 良好な超伝導特性を得るため
に800℃以上の高温でのプロセスが必要であり、さら
にこの材料は酸化に対して従来の高温超伝導体とは異な
った特性変化を示すことが明かとなっており、これを同
一の工程に於て薄膜化囮 積層構造を有する薄膜超伝導
体を形成することは非常に困難と考えられも課題を解決
するための手段 高温プロセスを必要とするNdzCu04型複合酸化物
薄膜超伝導体を単結晶基板表面に第−層として形成し 
適当な還元処理を行ない十分な超電導特性が得られる状
態にしたのflxcu−o層を含む従来のいわゆるLa
&  YK  Bi&  あるいはTl系の酸化物超伝
導体焦 さらには金属慝絶縁層を積層すム 特に 前記単結晶基板をMgOあるいは5rTlOIと
し 熱処理と還元処理によって十分な結晶性と超電導特
性をもたせることができれ(戯NdaCuQ4型複合酸
化物薄膜超伝導体沫 Cu−0層を含む従来のいわゆる
La&  YK  Bi&あるいはTl系の酸化物超伝
導体A さらには金属凰 絶縁層の形成プロセスに耐え
うろことができ、形成された各層に良好な特性を得るこ
とが可能となム 作用 上記の構成によれば 良質で高性能LNd2C110a
型結晶構造の薄膜超電導体を第−層とした積層型薄膜超
電導体を再現性良く得ることが可能となム 実施例 本発明者らはこのNd2CuOa型結晶構造の酸化物超
電導体に対して、スパッタ蒸着法による薄膜作製を行な
八 作製条件と薄膜の超電導性の関係について詳細に調
べ九 スパッタリングターゲットとしては A元iB元
秦 Cuを含む酸化物を大気中において高温で熱処理し
て得た焼結体を用い九 ただしAはNd、S亀 Prの
うちの少なくとも一種 BはCe、Thのうちの少なく
とも一種の元素を示す。その結果 400℃〜1000
℃に加熱した単結晶基体上に 例え(LNd +、*6
Ce s、+sCu Oaの薄膜を、NdとCeとCu
を含むターゲットをスパッタして成膜させ、結晶化薄膜
を得ることが出来九 特4Q  S r T l○s、
BaTi○s、LaAlOs、LaGaOs等のペロブ
スカ、イト型の結晶構造を有する単結晶を基板として使
用した場合には その結晶軸にそってN d +、@s
Ce @、lSCu 04の結晶軸か配向し良好な結晶
性を持つ薄膜が得られることを発明者らは見いだした さらに 通常酸化物薄膜の作製の場合、スパッタガスと
して、アルゴンなどの不活性ガスと酸素または酸化ガス
をほぼ等量混合して用いる。ところがN d 2Cu 
Oa型結晶構造の酸化物超電導体において1よ スパッ
タガス中の酸素あるいは酸化ガスの分圧を掻端に低くし
て成膜すると、以外にも良好な超電導性力(すなわ板 
セラミックス材料とほぼ等しい20にのもの力(再現性
良く得られることを得られることを本発明者らは発見し
九この原因は現在のところ明らかではない力丈 この種
の材料のセラミックスの焼結においては還元雰囲気がよ
いとも言われており、スパッタ蒸着中の酸素分圧を低く
することにより不必要な酸素が薄膜の結晶構造中に入ら
なl、X、あるいは 薄膜の組成力<  Nd+、5s
Ces、+5CuO4−vと適当な量yの酸素欠損が導
入されているた数 良い結果が得られているのではない
かと思われも さらに 酸素あるいは酸化ガスを全く含
まない不活性ガスのみの場合にも良好な超電導特性が得
られることを見いだした 不活性ガスとしてはアルゴン
が比較的利用し易く、また結果も良いことを確認した 
これらの理由+&  Nd2Cu04型の結晶構造を作
るにはある程度の酸素が必要ではある力(その酸素はタ
ーゲットから十分供給することが可能であると思われる
スパッタ蒸着したA 特に 基体温度を750℃〜10
00 ℃とした膜の結晶性cヨ  超電導特性を得るに
は十分である力交 さらに大気中もしくは10−s気圧
以上の酸素を含んだ雰囲気で、 900℃〜1100℃
の温度範囲で一定時間加熱することによって結晶性−を
高めることができ、さらに優れた超電導特性を得ること
ができることを確認し九 あわせて、熱処理後、室温以
下に急冷すること力(酸素含有量を少なくして後の還元
処理を容易にすることを見いだし九 また 本発明者ら(よ 適当な還元処理を行し\酸素欠
損の導入により酸素の含有量を化学量論比より少ない最
適値にすることによって、最適の超電導特性を得ること
ができることを見いだした還元処理の方法として(上 
真空中もしくは酸素分圧10−3気圧以下のアルゴン等
の不活性ガス雰囲気で、加熱することが有効であること
を見いだし九 その際へ 酸素の脱離量あるいは欠損量
(よ酸素の拡散過程に強く依存すa すなわ板 加熱す
る際の処理温度範囲としてiL、500℃〜900℃が
適当である力丈 必要な処理時間は 超電導体の膜厚及
び表面状態によっても影響を受けるバ処理温度が高いほ
ど短い時間で済むことを見いだし九 しかしなか収 処
理時間が長すぎると、かえって超電導性を損なわせる結
果となり、各処理温度には最適な処理時間が存在するこ
とを見いだした このようにNd*CuO4型結晶構造の酸化物超電導体
沫 その結晶性と超電導特性を十分に高めるに4160
0℃以上の比較的高温のプロセスを必要とするめ(−旦
形成されると、 600℃以下のプロセスに対しては 
酸化性あるいは還元性いずれに対しても比較釣針えつる
ようで、積層型の薄膜超電導体の第−層として十分に用
いることができも しかしLD−E−Cu−○で構成さ
れる複合化合物被膜すなわ板 従来のいわゆるLa臥 
YXBi&  あるいはTI系の酸化物超電導体A 金
属A 絶縁膜において(よ すでに600℃以下のプロ
セスが確立されていも ここで、DはTL  BiS 
Sc、Yおよびランタン系列元素(原子番号57〜71
)のうちの少なくとも一種EはIIa族元素のうち少な
くとも一種の元素を示本発明者ら(友 上述の方法で得
られたNdaCuoA型結晶構造の酸化物超電導体の上
に LaKY&Bi&  あるいはTI系の酸化物超伝
導薄膜を形成し 形成された全ての層について、良好な
超電導特性を得ることができることを確認し九Cu−0
層を含む金属恩 絶縁層を積層した場合にも双方の特性
(よ 十分に発揮されることを確認し九 以下本発明の内容を深く理解されるため番へ  さらに
具体的な実施例を示す。
NdとCeとCuを含む酸化物セラミックス焼結体をタ
ーゲットとして用(X、チタン酸ストロンチウム(10
0)面の基体上(ζ 高周波プレナーマグネトロンスバ
ッタにより薄膜作製を行なつ九このターゲットIt  
N d a Oa、CeO2、CuOを大気中1050
℃で8時間熱処理し得た焼結体を用い九 スパッタガス
は純アルゴンガスとした力丈良好な結晶性の薄膜が形成
可能であっ九 この理由1;LNdzCu○4型の結晶
構造を作るにはある程度の酸素が必要で、その酸素はタ
ーゲットから供給されるのが一番適していることによる
と思われも 蒸着中の基体の温度としては 400℃〜1000℃ 
とした場合に 低温で薄膜の電気抵抗に超伝導の兆候が
認められた力(特に750℃〜1000℃で形成した薄
膜において(表 ゼロ抵抗が 20に程度で確認され 
また結晶性も良く再現性もすぐれてい九 以下本発明の
内容を深く理解されるために さらに具体的な実施例を
示す。
N d +、*6(:、 6 @、lSCu”08の酸
化物セラミックス焼結体をターゲットとして用1.X、
Mg○、 あるい11  S rT i 03の (1
00)、  あるいは(110)面の単結晶基体上に 
薄膜形成を行なつt島  スパッタ電力160W、  
スパッタガス圧力3xlO−”Torr  の条件のも
とで、約1時間スパッタ蒸着することにより、約 0.
5〜0.8μm厚の薄膜が得られた スパッタガスは純
アルゴンガスとし この際の基体温度を変化させて、結
晶性および出現する超伝導特性との関係を調べた上記過
程の抵 薄膜の組成を調べたとこへ 金属元素の比率は
Nd:  Ce:  Cu=1. 85:  0゜15
:  1. 0とほぼ化学量論比になっていた また薄
膜の結晶構造+t  X線回折法により調べられた。
この結果 基板として5rTiOs  (100)基板
を用いた場合、形成された薄膜はC軸が基板に垂直に配
向したNd2CuOa型の結晶構造であることが判っf
:、、5rTiOs  (110)基板を用いた場合に
+;L(103)面の薄膜が成長しMgO(100)面
に1よ (110)砥 (110)面に+1(100)
面力丈 それぞれ成長した基体温度を750℃〜100
0 ℃とした膜の結晶性1よ 超電導特性を得るには十
分である力交 さらに大気中もしくは10−3気圧以上
の酸素を含んだ雰囲気で、 900℃〜1100℃の温
度範囲で1時間〜2時間加熱することによって結晶性を
高めることかで叔 さらに優れた超電導特性を得ること
ができることを確認し九 優れた超電導特性を与える薄
膜の結晶構造は C軸が基板に垂直に配向したものが適
していることが分かつ九 その意味で基体としてl& 
 5rTiOs(100)基板のは力\ BaTi○s
、LaAlOs、LaGaOs等のペロブスカイト型の
結晶構造を有する単結晶の(100)基板が優れている
ことを確認した得られた薄膜の中に(よ 成膜後あるい
は上述の結晶化を促進させるための加熱処理後にに超電
導特性を示すものもあった力(その超電導特性は適当な
還元処理によって、さらに高めることができ、また 超
電導特性を示さなかったものについてL 超電導特性を
向上させることができることを見いだした また 熱処
理後、室温以下に急冷すること力(酸素含有量を少なく
して後の還元処理を容易にすることを見いだし九 還元
処理の方法としては 真空中もしくは酸素分圧10−3
気圧以下のアルゴン等の不活性ガス雰囲気で、加熱する
ことが有効であることを見いだした 膜厚0゜5μmの
代表的な薄膜について、処理温度および処理時間を変化
させて、真空中で加熱することにより還元処理を行った
 臨界温度22に以上の優れた超電導特性を得るのに必
要な処理時間(よ 600℃で8〜30時肌 800℃
で1〜3時間処理であっf、  これより、酸素の脱離
量あるいは欠損量(よ 酸素の拡散過程に強く依存し 
加熱する際の処理温度範囲として+、1.500℃〜9
00℃が適当である力丈 最適な処理時間(表 超電導
体の膜厚及び表面状態によっても影響を受ける力交 処
理温度が高いほど短い時間で済む力交 最適時間範囲は
狭いことを見いだした 上述の適当な還元処理によって、臨界温度22に以上の
優れた超電導特性を示すようになったものに対し 更に
還元処理と酸化処理を行っ總 電気抵抗の温度依存性を
第1図に示す。曲線11.12、13(L それぞれ処
理前のもα 真空東600t、20時間の還元処理を行
ったもα 酸素雰囲気1気圧 600t、  5時間の
酸化処理したものである。いずれも超電導特性の低下は
みられるものへ 処理時間の更に短い範囲で(表 比較
的良好な超電導特性が保持されていることを確認しt島 さらに 第2図に示すようL  適当なマスクを使って
基体21である5rTi03 (100)面上番;  
Nd+、5sCes、+5CuOx薄膜22を形成し上
述の適当な還元処理によって、臨界温度22に以上の優
れた超電導特性を示すようになった状態で、Y系超電導
体であるGd Ba2cuso、薄膜23を積層し九 
Gd B azc uso−薄膜(L 高周波マグネト
ロンスパッタ法を用1.X  スパッタ電力160W、
スパッタガスAr(50%)+02(50%)、スパッ
タガス圧力3XIQ−’Torr  の条件のもとゑ 
約1時間スパッタ蒸着することにより、約 0. 5μ
m厚の薄膜として得られ丸 いずれの薄膜も結晶性の高
いC軸配向膜であり、各層について、良好な超電導特性
を示すことを確認した 第3図の電気抵抗の温度依存性
に示すように N d 1e6Ce e、+t−Cu 
OX薄膜とGc:Ba2Cu s Ov薄膜の界面を介
した場合にも超電導性が確認され島 図のようt、−9
0におよび50に付近で、GdBa2CuaO+薄膜の
超電導転移開始及び終了が観測さh  20におよびI
OK付近で、Nd +、5sCe @、+sCu OX
薄膜の超電導転移開始及び終了が観測さh4.2にで完
全な超電導状態が確認され總 なおこの結果ft、Ndの代わりに5rrK Prある
いはこの少なくとも一種を含む組合せ、またCeの代わ
りにThあるいはこの少なくとも一種を含む組合せでL
 同様であることが確認され九まf−、G d B a
 2 Cu s Ov薄膜の代わりに他のY&あるいf
;L  La&  Bi&  Tl系の酸化物超伝導薄
膜を用いてもほぼ同様で、Cu−0層を含む金属服 絶
縁層を積層した場合にも双方の特性は十分に発揮される
ことを確認した 発明の効果 本発明によれ(戴 良質で高性能なNd2Cu○4型結
晶構造の薄膜超電導体を第−層とした 積層型薄膜超電
導体を再現性良く得ることが可能となム 本発明の製造
方法(よ この種の物質を用いたデバイス等の応用には
必須であり、本発明の工業的価値は犬き賎
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例において製造された薄膜超電
導体へ 還元処理及び酸化処理による電気抵抗の温度依
存性の変化を示す諷 第2図は本発明の一実施例におい
て製造された薄膜超電導体の積層構造を示す匝 第3図
はN d +、ssCe s、+5CuO−薄膜とGd
 Bazcusov薄膜の界面を介した電気抵抗の温度
依存性図である。 21 ・−基体  5rTi○3(100)i22 ”
・N d +、ssCe s、+5CuQ X薄IK 
  23−・・GdBa2Cu30u薄穐

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基体上に、第一層として主成分がNd_2CuO
    _4型結晶構造の(A_1_−_xB_x)_2CuO
    _4で表される複合酸化物超電導体を形成したのち、D
    −E−Cu−Oで構成される複合化合物被膜を積層した
    ことを特徴とする薄膜超電導体。 ここで、AはNd、Sm、Prのうちの少なくとも一種
    、BはCe、Thのうちの少なくとも一種の元素を示す
    。また、xは、0.06≦x≦0.08の範囲の数値で
    ある。また DはTl、Bi、Sc、Yおよびランタン
    系列元素(原子番号57〜71)のうちの少なくとも一
    種、EはIIa族元素のうち少なくとも一種の元素を示す
  2. (2)基体上に、第一層として主成分がNd_2CuO
    _4型結晶構造の(A_1_−_xB_x)_2CuO
    _4で表される複合酸化物超電導体を形成したのち、還
    元処理を行い、その後さらにD−E−Cu−Oで構成さ
    れる複合化合物被膜を積層することを特徴とする薄膜超
    電導体の製造方法。 ここで、AはNd、Sm、Prのうちの少なくとも一種
    、BはCe、Thのうちの少なくとも一種の元素を示す
    。また、xは、0.06≦x≦0.08の範囲の数値で
    ある。また、DはTl、Bi、Sc、Yおよびランタン
    系列元素(原子番号57〜71)のうちの少なくとも一
    種、EはIIa族元素のうち少なくとも一種の元素を示す
  3. (3)還元処理の方法として、真空中もしくは酸素分圧
    10^−^3気圧以下の不活性ガス雰囲気で、500℃
    〜900℃の温度範囲で一定時間加熱することを特徴と
    する請求項2記載の薄膜超電導体の製造方法。
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