JPH03204967A - 集積回路用コンデンサおよびその製造方法 - Google Patents
集積回路用コンデンサおよびその製造方法Info
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- JPH03204967A JPH03204967A JP2097783A JP9778390A JPH03204967A JP H03204967 A JPH03204967 A JP H03204967A JP 2097783 A JP2097783 A JP 2097783A JP 9778390 A JP9778390 A JP 9778390A JP H03204967 A JPH03204967 A JP H03204967A
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- Semiconductor Memories (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は集積回路の製造に関するものである。
特に、本発明は集積回路に用いられるコンデンサ用多層
電極構造体に関するものである。
電極構造体に関するものである。
強誘電性コンデンサすなわち高誘電率コンデンサを製造
する場合には、2個の単層電極を誘電体によって分離し
てコンデンサを形成する。各電極は白金、アルミニウム
または銀のような単一材料から製造する。
する場合には、2個の単層電極を誘電体によって分離し
てコンデンサを形成する。各電極は白金、アルミニウム
または銀のような単一材料から製造する。
各集積回路におけるすべての構成部品またはデバイスは
、集積回路を大規模に製造する場合には、いくつかの必
要条件を満たす必要がある。このような必要条件として
は良好な接着特性、高導電率、プラズマ中におけるエツ
チング性、反応性イオンエンチング剤中におけるエツチ
ング性、適切な誘電体薄膜を成長させるための配向した
格子面、耐酸化性、耐拡散性および安い価格がある。コ
ンデンサ電極として標準的に選択された材料である白金
、アルミニウムおよび銀はこれらの必要条件のいくつか
を満たすことができるが、集積回路におけるコンデンサ
の多くの異なる用途においてこれらの必要条件のすべて
を満たすことはない。
、集積回路を大規模に製造する場合には、いくつかの必
要条件を満たす必要がある。このような必要条件として
は良好な接着特性、高導電率、プラズマ中におけるエツ
チング性、反応性イオンエンチング剤中におけるエツチ
ング性、適切な誘電体薄膜を成長させるための配向した
格子面、耐酸化性、耐拡散性および安い価格がある。コ
ンデンサ電極として標準的に選択された材料である白金
、アルミニウムおよび銀はこれらの必要条件のいくつか
を満たすことができるが、集積回路におけるコンデンサ
の多くの異なる用途においてこれらの必要条件のすべて
を満たすことはない。
従って、本発明の目的はこれらの必要条件のすべてを満
たす集積回路用コンデンサ電極を提供することにある。
たす集積回路用コンデンサ電極を提供することにある。
本発明の目的および利点は集積回路において多層コンデ
ンサ構造体を形成することによって達成される。本発明
の1つの面においては、第1電極は、基板上に少なくと
も1個の層を形成し、次いでこの形成された層の上にプ
レート層を形成することにより形成する。第2電極は、
誘電体層上にプレート層を形成し、次いでこのプレート
層の上に少なくとも1個の追加層を形成することにより
形成する。各層に1種以上の作用をさせることができる
。
ンサ構造体を形成することによって達成される。本発明
の1つの面においては、第1電極は、基板上に少なくと
も1個の層を形成し、次いでこの形成された層の上にプ
レート層を形成することにより形成する。第2電極は、
誘電体層上にプレート層を形成し、次いでこのプレート
層の上に少なくとも1個の追加層を形成することにより
形成する。各層に1種以上の作用をさせることができる
。
本発明の他の例においては、第1電極は、基板上に少な
くとも1個の層を形成し、次いでこの形成された層の上
にプレート層を形成することにより形成する。第1電極
の上に誘電体層を形成する。
くとも1個の層を形成し、次いでこの形成された層の上
にプレート層を形成することにより形成する。第1電極
の上に誘電体層を形成する。
次いで、生成した構造体を好ましくは酸素雰囲気中で加
熱して下側層を酸化する。第2電極は第1電極とは逆の
順序で誘電体層の上に形成する。
熱して下側層を酸化する。第2電極は第1電極とは逆の
順序で誘電体層の上に形成する。
選定した製造方法とは関係なく、本発明はまた、従来の
ように一方の電極が他方の電極から分離されているが、
少なくとも一方の電極が多層であるコンデンサ構造体を
提供する。例えば、電極はプレート層、拡散障壁層およ
び電気的コンタクト層を具えることができる。各層は他
の層とは異なるものとすることができる。しかも、電極
を半導体基板に接触させようとする場合には、接着層を
半導体基板のすぐ近くに、好ましくは底部電極の最下層
として設けることができる。
ように一方の電極が他方の電極から分離されているが、
少なくとも一方の電極が多層であるコンデンサ構造体を
提供する。例えば、電極はプレート層、拡散障壁層およ
び電気的コンタクト層を具えることができる。各層は他
の層とは異なるものとすることができる。しかも、電極
を半導体基板に接触させようとする場合には、接着層を
半導体基板のすぐ近くに、好ましくは底部電極の最下層
として設けることができる。
底部電極に使用する物質は、例えば、チタン、窒化チタ
ンおよび白金とすることができる。誘電体層は標準誘電
体層または強誘電体層とすることができる。頂部電極に
おける物質は、例えば、白金、チタンおよびアルミニウ
ムとすることができる。
ンおよび白金とすることができる。誘電体層は標準誘電
体層または強誘電体層とすることができる。頂部電極に
おける物質は、例えば、白金、チタンおよびアルミニウ
ムとすることができる。
次に本発明を図面を参照して例について説明する。
第1図は本発明のコンデンサの一例の断面図である。集
積回路用コンデンサは基板上に形成するのか通例である
ので、以下に説明する例はこれに沿って行う。しかし、
本発明に係る多層電極構造は他のコンデンサ配列にも適
用することができる。
積回路用コンデンサは基板上に形成するのか通例である
ので、以下に説明する例はこれに沿って行う。しかし、
本発明に係る多層電極構造は他のコンデンサ配列にも適
用することができる。
例示のために、多層コンデンサ10を集積回路デバイス
の基板12の上に形成する。−船釣にコンデンサ10は
、当業界において知られているように第1電極すなわち
底部電極14、誘電体層16、および第2電極すなわち
頂部電極18を具える。底部電極14および頂部電極1
8はいずれも本発明に係る多層構造を有する。普通、第
1図に示すように、底部電極14は例えば4種の別個の
材料層から形成され、各層は異なる作用をする。しかし
、この例は本発明のコンデンサの1個の一例であるにす
ぎず、各電極における層の数がこれにより多い場合また
は少ない場合も本発明の範囲内にある。
の基板12の上に形成する。−船釣にコンデンサ10は
、当業界において知られているように第1電極すなわち
底部電極14、誘電体層16、および第2電極すなわち
頂部電極18を具える。底部電極14および頂部電極1
8はいずれも本発明に係る多層構造を有する。普通、第
1図に示すように、底部電極14は例えば4種の別個の
材料層から形成され、各層は異なる作用をする。しかし
、この例は本発明のコンデンサの1個の一例であるにす
ぎず、各電極における層の数がこれにより多い場合また
は少ない場合も本発明の範囲内にある。
底部電極14の第1層20は接着層から構成するのが好
ましい。第1層20は底部電極14、従ってコンデンサ
10の全体の基板12に対する接着を促進する。
ましい。第1層20は底部電極14、従ってコンデンサ
10の全体の基板12に対する接着を促進する。
接着層20の上に第2層22を形成する。第2層22は
拡散障壁層から構成するのか好ましい。拡散障壁層22
は当業界において知られているように上側層すなわち追
加層の材料が例えばヒルオック(hilloak)によ
って下側層のなかに拡散すなわち移動して、下側層のな
かに意図しない電気通路および不純物が形成するのを防
止する。
拡散障壁層から構成するのか好ましい。拡散障壁層22
は当業界において知られているように上側層すなわち追
加層の材料が例えばヒルオック(hilloak)によ
って下側層のなかに拡散すなわち移動して、下側層のな
かに意図しない電気通路および不純物が形成するのを防
止する。
第3層24は電気的コンタクト層とすることができ、こ
の層はコンデンサ10を集積回路上の他のデバイスおよ
び構成部品に電気的に接続する作用をする。
の層はコンデンサ10を集積回路上の他のデバイスおよ
び構成部品に電気的に接続する作用をする。
第4層26は底部電極14における他の層の上に形成す
ることができる。第4層26はプレート層とすることが
でき、この層はコンデンサにおいて普通に見られるよう
に電極またはプレートの作用をする。また、この例にお
いては、第4層26は以下に説明するように誘電体を成
長させるための核形成層を提供することができる。
ることができる。第4層26はプレート層とすることが
でき、この層はコンデンサにおいて普通に見られるよう
に電極またはプレートの作用をする。また、この例にお
いては、第4層26は以下に説明するように誘電体を成
長させるための核形成層を提供することができる。
第1図のコンデンサを上方向に続けて説明する。
誘電体層16を当業界において知られているように第1
電極すなわち底部電極14の上に成長、堆積あるいは他
の方法によって形成する。
電極すなわち底部電極14の上に成長、堆積あるいは他
の方法によって形成する。
第2電極すなわち頂部電極18は誘電体層16の頂面上
に多層構造として形成することができ、第2電極18の
構造は第1電極の多層構造と類似なものとすることがで
きるが、その鏡像である。すなわち、第2電極18の底
部層30は誘電体層16の上に形成したプレート層とす
ることができる。第2電極18の第2層32はプレート
層30の上に形成することができる。第2電極18の第
2層32は、当業界において知られかつ先に底部電極1
4の第2層22に関連して説明したように、拡散障壁層
とすることができる。
に多層構造として形成することができ、第2電極18の
構造は第1電極の多層構造と類似なものとすることがで
きるが、その鏡像である。すなわち、第2電極18の底
部層30は誘電体層16の上に形成したプレート層とす
ることができる。第2電極18の第2層32はプレート
層30の上に形成することができる。第2電極18の第
2層32は、当業界において知られかつ先に底部電極1
4の第2層22に関連して説明したように、拡散障壁層
とすることができる。
第2電極すなわち頂部電極18の第3層34は第2層3
2の上に形成することができる。第2層32は、例えば
、集積回路において近く (または他の場所)に位置す
る他の構成部品またはデイバイスとの回路または接続部
を形成する第2電気的コンタクト層とすることができる
。次いで、集積回路の追加層を当業界において知られて
いるようにコンデンサの上に形成することができる。
2の上に形成することができる。第2層32は、例えば
、集積回路において近く (または他の場所)に位置す
る他の構成部品またはデイバイスとの回路または接続部
を形成する第2電気的コンタクト層とすることができる
。次いで、集積回路の追加層を当業界において知られて
いるようにコンデンサの上に形成することができる。
第2図は本発明のコンデンサの他の例の断面図であり、
多層電極コンデンサを製造するのに使用することができ
る種々の屓および材料を示す。第2図に例示するコンデ
ンサを符号110で示す。コンデンサ110は、第1図
のコンデンサ10と同じく、集積回路の基板112上に
形成され、第1電極すなわち底部電極114、該電極1
14上の誘電体層116および核層116によって底部
電極114から離間されている第2電極すなわち頂部電
極118を具える。
多層電極コンデンサを製造するのに使用することができ
る種々の屓および材料を示す。第2図に例示するコンデ
ンサを符号110で示す。コンデンサ110は、第1図
のコンデンサ10と同じく、集積回路の基板112上に
形成され、第1電極すなわち底部電極114、該電極1
14上の誘電体層116および核層116によって底部
電極114から離間されている第2電極すなわち頂部電
極118を具える。
画電極114および118は本発明に従って多層構造に
形成する。
形成する。
第2図に示す例のコンデンサは当業界において知られて
いるように、排気した室内において、好ましくは該層を
別個に2回排気または[ポンプ排気(pump dow
n)J して、形成する。第1電極すなわち底部電極1
14および誘電体層116は第1ポンプ排気中に形成し
、第2電極すなわち頂部電極118は第2ポンプ排気中
に形成する。以下の説明において、厚さはすべて約+1
00%〜−50%の範囲内で変えることができる。
いるように、排気した室内において、好ましくは該層を
別個に2回排気または[ポンプ排気(pump dow
n)J して、形成する。第1電極すなわち底部電極1
14および誘電体層116は第1ポンプ排気中に形成し
、第2電極すなわち頂部電極118は第2ポンプ排気中
に形成する。以下の説明において、厚さはすべて約+1
00%〜−50%の範囲内で変えることができる。
第2図に示す例のコンデンサにおいては、底部電極11
4は基板112の上の3個の層から構成される。基板1
12は半導体基村上の絶縁材料、例えば、SiまたはG
aAs上に堆積させたSiO□から構成することができ
る。あるいはまた、基板112はMOSトランジスタの
ドレインおよびバイポーラトランジスタのエミッタのよ
うな半導体材料から構成することができる。
4は基板112の上の3個の層から構成される。基板1
12は半導体基村上の絶縁材料、例えば、SiまたはG
aAs上に堆積させたSiO□から構成することができ
る。あるいはまた、基板112はMOSトランジスタの
ドレインおよびバイポーラトランジスタのエミッタのよ
うな半導体材料から構成することができる。
第1層120はチタンから構成することができ、この層
は基板112とコンデンサ110との間の接着層として
作用する。チタン層120は後述のように約0.5ミク
ロンの好ましい厚さに形成する。
は基板112とコンデンサ110との間の接着層として
作用する。チタン層120は後述のように約0.5ミク
ロンの好ましい厚さに形成する。
第1電極114の第2層124は例えば窒化チタンから
構成することができる。この層124は第2図のコンデ
ンサの底部電極114と集積回路上の他のデイバイスと
の間の電気的コンタクト層として作用し、また拡散障壁
層として作用する。窒化チタンからなる第2層124は
約0.1 ミクロンの好ましい厚さに堆積させる。
構成することができる。この層124は第2図のコンデ
ンサの底部電極114と集積回路上の他のデイバイスと
の間の電気的コンタクト層として作用し、また拡散障壁
層として作用する。窒化チタンからなる第2層124は
約0.1 ミクロンの好ましい厚さに堆積させる。
第1電極114の第3層126は白金から構成すること
ができ、この層はいくつかの作用をする。白金層126
は電極プレートとして作用することができる。白金は誘
電体層116の核形成にとって良好な材料である。白金
は誘電体層116と導電体層124との間の化学的不活
性界面である。白金からなる第3層126は既知手段に
よって約0.05ミクロンの好ましい厚さに堆積させる
。第1電極114はこの点において実質的に完成する。
ができ、この層はいくつかの作用をする。白金層126
は電極プレートとして作用することができる。白金は誘
電体層116の核形成にとって良好な材料である。白金
は誘電体層116と導電体層124との間の化学的不活
性界面である。白金からなる第3層126は既知手段に
よって約0.05ミクロンの好ましい厚さに堆積させる
。第1電極114はこの点において実質的に完成する。
このコンデンサにおける次の層は誘電体層116である
。この層は当業界において知られている方法で堆積させ
ることができ、あるいは当業界において知られているよ
うにして成長させることができる。誘電体は強誘電性材
料すなわち高誘電率材料とすることができる。誘電体層
116の厚さは選定した材料に依存する。高誘電率材料
の厚さはコンデンサの所望のキャパシタンスに逆比例し
て変化する。強誘電体層の厚さは下側の回路の動作電圧
に依存する。約5ボルトという代表的な動作電圧の場合
には、強誘電体層の厚さは約0.4ミクロンである。
。この層は当業界において知られている方法で堆積させ
ることができ、あるいは当業界において知られているよ
うにして成長させることができる。誘電体は強誘電性材
料すなわち高誘電率材料とすることができる。誘電体層
116の厚さは選定した材料に依存する。高誘電率材料
の厚さはコンデンサの所望のキャパシタンスに逆比例し
て変化する。強誘電体層の厚さは下側の回路の動作電圧
に依存する。約5ボルトという代表的な動作電圧の場合
には、強誘電体層の厚さは約0.4ミクロンである。
第2電極すなわち頂部電極118の第1層130を誘電
体層116の上に堆積させることができる。第1層13
0は例えば白金から形成することができる。
体層116の上に堆積させることができる。第1層13
0は例えば白金から形成することができる。
白金層130は頂部電極プレートとして作用し、誘電体
層116と導電体層との間の化学的に不活性な界面とし
て動作する。第2電極118の白金層130は当業界に
おいて知られている方法により約0.05ミクロンの好
ましい厚さまで堆積させる。
層116と導電体層との間の化学的に不活性な界面とし
て動作する。第2電極118の白金層130は当業界に
おいて知られている方法により約0.05ミクロンの好
ましい厚さまで堆積させる。
次いで、第2層132を第1層130の上に堆積あるい
は他の方法により形成する。第2層132はチタンから
構成するのが好ましい。チタン層132は頂部電極11
8において拡散障壁および接着層として作用する。チタ
ン層132は既知手段により約0.1ミクロンの好まし
い厚さまで堆積させる。
は他の方法により形成する。第2層132はチタンから
構成するのが好ましい。チタン層132は頂部電極11
8において拡散障壁および接着層として作用する。チタ
ン層132は既知手段により約0.1ミクロンの好まし
い厚さまで堆積させる。
第2図の例において、頂部電極118の第3層134は
アルミニウムから形成するのが好ましい。アルミニウム
からなる第3層134は集積回路における他のデイバイ
スに対する頂部電極の電気的コンタクト層として作用す
る。アルミニウムからなる第3層134は約0.1ミク
ロンの好ましい厚さまで堆積させる。
アルミニウムから形成するのが好ましい。アルミニウム
からなる第3層134は集積回路における他のデイバイ
スに対する頂部電極の電気的コンタクト層として作用す
る。アルミニウムからなる第3層134は約0.1ミク
ロンの好ましい厚さまで堆積させる。
上述のように、頂部電極および底部電極のいずれにおい
ても各層はいくつかの既知技術によって堆積または形成
することができる。これらの既知技術は層およびこれを
取巻く構成部品のために選定した材料にとって適当であ
ることが必要であるにすぎない。適当な方法としてはス
パッタリング、蒸着、化学的気相堆積、分子線エタピキ
シーおよびスピンコーティングがあるが、これらの方法
に限定されるものではない。さらに、多層電極構造の最
終形態は堆積層または成長層の制御された化学反応によ
って達成することができる。
ても各層はいくつかの既知技術によって堆積または形成
することができる。これらの既知技術は層およびこれを
取巻く構成部品のために選定した材料にとって適当であ
ることが必要であるにすぎない。適当な方法としてはス
パッタリング、蒸着、化学的気相堆積、分子線エタピキ
シーおよびスピンコーティングがあるが、これらの方法
に限定されるものではない。さらに、多層電極構造の最
終形態は堆積層または成長層の制御された化学反応によ
って達成することができる。
第3図および第4図には本発明のコンデンサの他の例を
示す。この例においては、多層構造は堆積層の制御され
た化学反応によって形成される。
示す。この例においては、多層構造は堆積層の制御され
た化学反応によって形成される。
第3図に部分的に完成された本発明のコンデンサ210
の断面を示す。この例のコンデンサ210は基板212
の上に形成され、第1電極すなわち底部電極214、該
電極の上の誘電体層216および頂部電極(図示せず)
を具える。この例においては材料の堆積を1回のポンプ
排気で行うのが好ましい。
の断面を示す。この例のコンデンサ210は基板212
の上に形成され、第1電極すなわち底部電極214、該
電極の上の誘電体層216および頂部電極(図示せず)
を具える。この例においては材料の堆積を1回のポンプ
排気で行うのが好ましい。
この例においては、チタンからなる第1層220を上述
の当業界において知られている方法によって基板212
の上に堆積させることができる。チタンからなる第1層
220は厚さを0.15ミクロンとするのが好ましい(
また、この例においてはすべての層の厚さを約+100
%〜−50%の範囲で変えることができる)。
の当業界において知られている方法によって基板212
の上に堆積させることができる。チタンからなる第1層
220は厚さを0.15ミクロンとするのが好ましい(
また、この例においてはすべての層の厚さを約+100
%〜−50%の範囲で変えることができる)。
白金からなる第2層226を第1層220の上に0.0
5ミクロンの好ましい厚さまで堆積させる。次に、上述
の好適例の場合と同様に、誘電体層216を白金からな
る第2層226の上に堆積させる。
5ミクロンの好ましい厚さまで堆積させる。次に、上述
の好適例の場合と同様に、誘電体層216を白金からな
る第2層226の上に堆積させる。
次に第4図について説明する。第3図について説明した
ようにして形成した構造体を酸素雰囲気中で約750℃
まで加熱する。この結果、第3図のチタンからなる第1
層220は第4図では二酸化チタン層220Aになる。
ようにして形成した構造体を酸素雰囲気中で約750℃
まで加熱する。この結果、第3図のチタンからなる第1
層220は第4図では二酸化チタン層220Aになる。
第4図に示すように、基板212A、白金からなる第2
層226A、および誘電体層216Aはこの工程による
影響を相対的に受けない。次いで、全く同じかあるいは
同様な方法によって頂部電極または第2電極を形成する
。
層226A、および誘電体層216Aはこの工程による
影響を相対的に受けない。次いで、全く同じかあるいは
同様な方法によって頂部電極または第2電極を形成する
。
第3図のチタン層220が酸化すると白金の接着が改善
され、薄膜の応力が低下する。この例の多層電極には回
路、所要の結線などに応じて他の層を加えることができ
る。
され、薄膜の応力が低下する。この例の多層電極には回
路、所要の結線などに応じて他の層を加えることができ
る。
上述のように、好適例においては、集積回路におけるコ
ンデンサの両方の電極を2個または3個以上の異なる層
から形成し、各層に1種または2種以上の作用をさせる
ことができる。勿論、所定の適用分野が一方の電極のみ
を本発明に従って多層にすることを要求している場合に
は、両方の電極を多層に形成する必要はない。
ンデンサの両方の電極を2個または3個以上の異なる層
から形成し、各層に1種または2種以上の作用をさせる
ことができる。勿論、所定の適用分野が一方の電極のみ
を本発明に従って多層にすることを要求している場合に
は、両方の電極を多層に形成する必要はない。
第1図は本発明のコンデンサの一例の断面図、第2図は
本発明のコンデンサの他の例の断面図、第3図は本発明
のコンデンサのさらに他の例の部分的に完成した状態に
ある部分断面図、第4図は第3図の次に酸化工程を施し
た後の第3図のコンデンサのなお部分的に完成した状態
にある部分断面図である。 10・・・コンデンサ 12・・・基板14
・・・第1電極(底部電極)16・・・誘電体層18・
・・第2電極(頂部電極)20・・・第1層(接着層)
22・・・第2層(拡散障壁層) 24・・・第3層(電気的コンタクト層)26・・・第
4層(プレートおよび核形成層)30・・・底部層(プ
レート層) 32・・・第2層(拡散障壁層) 34・・・第3層(電気的コンタクト層)110・・・
コンデンサ 112・・・基板114・・・第
1電極(底部電極) 116・・・誘電体層 118・・・第2電極(頂部電極) 120・・・第1層(チタン層、接着層)124・・・
第2層(窒化チタン層、導電体層、電気的コンタクト層
) 126・・・第3層(白金層、プレートおよび核形成層
)130・・・第1層(白金層、プレート層)132・
・・第2層(チタン層、拡散障壁および接着層)134
・・・第3層(アルミニウム層、電気的コンタクト層) 210、210A・・・コンデンサ 212、212A・・・基板 214、214A・・・第1電極(底部電極)216A
・・・誘電体層 220・・・第1層(チタン層) 220A・・・二酸化チタン層
本発明のコンデンサの他の例の断面図、第3図は本発明
のコンデンサのさらに他の例の部分的に完成した状態に
ある部分断面図、第4図は第3図の次に酸化工程を施し
た後の第3図のコンデンサのなお部分的に完成した状態
にある部分断面図である。 10・・・コンデンサ 12・・・基板14
・・・第1電極(底部電極)16・・・誘電体層18・
・・第2電極(頂部電極)20・・・第1層(接着層)
22・・・第2層(拡散障壁層) 24・・・第3層(電気的コンタクト層)26・・・第
4層(プレートおよび核形成層)30・・・底部層(プ
レート層) 32・・・第2層(拡散障壁層) 34・・・第3層(電気的コンタクト層)110・・・
コンデンサ 112・・・基板114・・・第
1電極(底部電極) 116・・・誘電体層 118・・・第2電極(頂部電極) 120・・・第1層(チタン層、接着層)124・・・
第2層(窒化チタン層、導電体層、電気的コンタクト層
) 126・・・第3層(白金層、プレートおよび核形成層
)130・・・第1層(白金層、プレート層)132・
・・第2層(チタン層、拡散障壁および接着層)134
・・・第3層(アルミニウム層、電気的コンタクト層) 210、210A・・・コンデンサ 212、212A・・・基板 214、214A・・・第1電極(底部電極)216A
・・・誘電体層 220・・・第1層(チタン層) 220A・・・二酸化チタン層
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、基板の上に集積回路用コンデンサを製造するに当り
、 誘電体層によって分離された第1電極および第2電極を
形成し、 前記電極の少なくとも一方を多層に形成し、前記多層の
1個の層を前記誘電体層に隣接するプレート層から構成
することを特徴とする集積回路用コンデンサの製造方法
。 2、接着層を形成し、前記誘電体層に隣接しかつ前記接
着層の上に位置するプレート層を形成することにより、
前記一方の電極を形成することを特徴とする請求項1記
載の方法。 3、前記一方の電極を形成する工程において、下側層を
形成し、該層の上にプレート層を形成し、次いで前記下
側層を反応させて前記接着層を形成することを特徴とす
る請求項2記載の方法。 4、集積回路用多層電極コンデンサを製造するに当り、 (a)基板上に接着層を形成し、(b)該接着層の上に
拡散障壁層を形成し、(c)該拡散障壁層の上に導電体
層を形成し、(d)該導電体層の上にプレートおよび核
形成層を形成することにより第1多層電極を形成し; (a)誘電体層の上に第2プレート層を形成し、(b)
該該第2プレート層の上に第2拡散障壁層を形成し、(
c)該第2拡散障壁層の上に第2導電体層を形成するこ
とにより第2多層電極を形成することを特徴とする集積
回路用コンデンサの製造方法。 5、集積回路用コンデンサにおいて、第1電極および第
2電極と、第1電極と第2電極との間に位置する誘電体
層とを具え、前記電極の一方は前記誘電体層に隣接する
プレート層および少なくとも1個の追加層を具えること
を特徴とする集積回路用コンデンサ。 6、前記追加層は拡散障壁層から構成されることを特徴
とする請求項5記載のコンデンサ。 7、前記追加層は電気的コンタクト層から構成されるこ
とを特徴とする請求項5記載のコンデンサ。 8、前記追加層は接着層から構成されることを特徴とす
る請求項5記載のコンデンサ。 9、前記一方の電極はプレート層および2個の追加層を
具えることを特徴とする請求項5記載のコンデンサ。 10、前記一方の電極は少なくとも3個の異なる層を具
えることを特徴とする請求項9記載のコンデンサ。 11、前記電極の他方は第2プレート層および少なくと
も1個の第2追加層を具えることを特徴とする請求項1
0記載のコンデンサ。 12、前記一方の電極は前記プレート層、電気的コンタ
クト層、接着層および拡散障壁層を具えることを特徴と
する請求項10記載のコンデンサ。 13、基板上の接着層と、いずれも前記プレート層と前
記基板との間に位置する拡散障壁層および電気的コンタ
クト層とを具えることを特徴とする請求項5記載のコン
デンサ。 14、前記一方の電極において前記追加層は電気的コン
タクト層および拡散障壁層を具えることを特徴とする請
求項5記載のコンデンサ。 15、さらに接着層を具えることを特徴とする請求項1
4記載のコンデンサ。 16、前記追加層はチタンまたは窒化チタンから構成さ
れていることを特徴とする請求項5記載のコンデンサ。 17、集積回路用コンデンサにおいて、 第1電極および第2電極と、第1電極と第2電極との間
に位置する誘電体層とを具え、前記電極の一方は前記誘
電体層に隣接するプレート層および少なくとも1個の追
加層を具え、該追加層はチタン層および窒化チタン層を
具えることを特徴とする集積回路用コンデンサ。 18、前記追加層はさらにアルミニウム層を具えること
を特徴とする請求項17記載のコンデンサ。 19、集積回路用コンデンサを製造するに当り、誘電体
層によって分離された第1電極および第2電極を形成し
、 この際、前記電極の一方を、(a)少なくとも1個の層
を形成し、(b)該少なくとも1個の層のうちの頂部層
の上にプレート層を前記誘電体層に隣接させて形成し、
(c)前記一方の電極を酸化して前記少なくとも1個の
層を酸化することにより形成することを特徴とする集積
回路用コンデンサの製造方法。 20、前記電極の他方を、(a)第2プレート層を前記
誘電体層に隣接させて形成し、(b)前記第2プレート
層の上に少なくとも1個の追加層を形成し、(c)前記
他方の電極を酸化して前記追加層を酸化することにより
形成する特許請求の範囲第19項記載の方法。
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