JPH0322536A - 樹脂封止型半導体装置 - Google Patents

樹脂封止型半導体装置

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JPH0322536A
JPH0322536A JP15590589A JP15590589A JPH0322536A JP H0322536 A JPH0322536 A JP H0322536A JP 15590589 A JP15590589 A JP 15590589A JP 15590589 A JP15590589 A JP 15590589A JP H0322536 A JPH0322536 A JP H0322536A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
wiring
semiconductor device
end parts
sealed
Prior art date
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Pending
Application number
JP15590589A
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English (en)
Inventor
Junichi Mimura
三村 淳一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は樹脂封止型半導体装置における配線の構造に関
するものである。
(従来の技術) ICチップを封止する方法として、セラミック封止等の
・・−メチック封止や樹脂体を用いた樹脂封止があるが
、ローコスト等のため後者が主流となっている。近年で
はICの集積化が進み、チッグサイズの大型化金もたら
しておシ、樹脂封止型を用いた場合、温度サイクル等の
熱衝撃によるストレスがICチップに悪影響を及し、具
体的にはAtスライド等を発生させていた。
これを解決するため、種々の提案がなされている。第2
図に、その1例を示す。第2図(A)は平面図であシ、
第2図(B)は、第2図(A)のA − A’の断面図
である。
半導体基板1上に絶R膜4を介して配線2が敷設されて
いる。この配fR2には、配線2の延在方向に沿ってス
リソト3が形成されて卦シ、保護膜5を介して樹脂封止
がなされる。配線2にスリソト3を設けることによシ配
線に集中する封脂応カ金分散し、Atスライド現象を防
止しようとするものである。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、前述の様な構造は、応力が小さいものに
ついては有効であるが、大型化したICにかいては樹脂
応力も大きく、実質的に配線幅金小さくする前述の構成
では完全にAtスライド現象を防ぐことはできるもので
はなかった。
(課題金解決するための手段) 上述の問題点に鑑み、本発明の構成は、半導体の素子領
域を接続する配線層の断面端部にテー・ぐ形状を設けた
ものとする。
(作用) 本発明は、上記構戒としたため樹脂の熱応力がテー・ぐ
部に沿って逃げるため、配線に対し横方向からの応力が
大幅に減少する作用がある。
(実施例) 本発明の一実施例金第1図に示す。半導体基板1上に厚
みが7000〜soooXの層間絶縁膜4全形成する。
次に、この層間絶縁膜2上に厚みが1μm程度の所望の
At配線/ぐターン6を形成した後、その端部がテーパ
形状を有するようにエッチング套処理金施す.このテー
/−,O角度は、60度以下とすることが望1しい。
その後、5000〜8000X厚の保護膜7金形成し、
樹脂材8によシ封止される。
(効果) 以上、詳細に説明したように本発明の様な配線/ぐター
ンとすることで、通常発生する横方向からの樹脂応力は
テーパに沿って逃がすことができる。
又、配線幅も実質的に同一であるため、その他の原因に
よるAt配線の断線防止力も従来のスリソ1・を有する
配線パターンに比べ向上する。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明にかかる樹脂封止型半導体装置の断面
図である。第2図(A)は、従来技術にかかる樹脂封止
型半導体装置の平面図である。第2図(B)は、第2図
(A)にかけるA − A’の断面図である。 1・・・半導体基板、2,6・・・配線、3・・・スリ
ット、4・・・絶縁膜、5,7・・・保護膜、8・・・
封止樹脂。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 半導体基板の一主面上に形成された素子領域と、前記素
    子領域を接続する配線層とを有し、前記基板を樹脂体に
    て封止した半導体装置において、前記配線層は断面テー
    パー形状であることを特徴とする樹脂封止型半導体装置
JP15590589A 1989-06-20 1989-06-20 樹脂封止型半導体装置 Pending JPH0322536A (ja)

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