JPH03237663A - ディスク記憶装置の記録媒体欠陥検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、固定ディスク装置等のディスク記憶装置の記
録媒体の欠陥を検査する方法であって、専用の検査装置
を用いずにディスク記憶装置自体で欠陥を検査する方法
に関する。

〔従来の技術〕

周知のように、ディスク記憶装置のディスク面にはフェ
ライト、クロム、コバルト等の磁性体の薄膜が記録媒体
としてめっきや蒸着法で付けられるが、この記録媒体に
は薄膜中の微視的な不均一性や外物との接触傷による欠
陥が若干とも発生することは避けられない、このため、
ディスク単独の状態で精密な表面検査により不良品を排
除するのはもちろん、ディスク記憶装置に組み込んだ後
にその全面について欠陥の有無を検査し、欠陥数の多い
ものは不良品とするが、許容限以下のものは欠陥個所を
除外してフォーマツティングを施すことにより、実質上
は無欠陥ディスクとして使用できるようにする。

従来から、装置に組み込まれたディスクの欠陥検査には
、欠陥テスタ等の専用の検査装置が用いられて来た。こ
の専用検査装置は、まず高周波の書込信号をディスク記
憶装置に与えてディスクの全面に書き込んで直き、次に
それを読み出した信号中の各ピークのアナログ値を正確
に評価して、それが規定レベルに達しない個所を欠陥個
所として登録するものである。さらに、この書込内容を
イレーズした後に消し残った内容を読み出し、その信号
のアナログ値が規定レベルよりも高い個所も欠陥個所と
して登録される。

〔発明が解決しようとする課題〕

かかる従来の専用装置を用いる欠陥検査法は、書込信号
の周波数を上げることにより微小な欠陥を検出でき、か
つ続出信号のアナログ値に対する規定レベルの選択によ
り欠陥の管理レベルを任意に設定できる利点があるが、
欠陥検査に時間と手間が掛かって１台で検査できるディ
スク記憶装置の台数が限られるので、装置費が嵩むほか
あまり量産向きでない問題がある。

かかる従来の欠陥検査法が抱えているもう一つの問題点
は、欠陥の検出精度がいくら高くてもその検査結果から
各ディスク記憶装置に許容できる欠陥か否かを決める尺
度に必ずしもならないことである。すなわち、ある欠陥
が許容できるか否かは欠陥の程度だけで決まらず、ディ
スク記憶装置のデータ記録上の変調方式、ディスクのフ
ォーマツティング様式、読取信号の処理回路系の性能。

ヘッド操作系の位置決め精度等の種々な因子により左右
されるからである。

また、最近の技術進歩によりディスクの欠陥数とくに重
欠陥数が少なくなり、許容可否がむしろディスク記憶装
置の全体性能で決まる程度の重欠陥がほとんどになって
来ているので、従来方法では検査規準が徒に厳しくある
いは甘きに過ぎることにもなりかねない。

このように、量産されるディスク記憶装置に対しては、
それぞれの性能により則した形で、かつあまり手間を掛
けずに多数台数を同時処理できる欠陥検査方法が望まれ
る。

本発明はかかる現状に鑑み、専用の検査装置を用いるこ
となくディスク記憶装置自体によりその性能に最も則し
た合理的な欠陥検査ができ、かつとくに量産用に適する
実用的な記録媒体欠陥検査方法を得ることを目的とする
。

〔課題を解決するための手段〕

この目的は本発明方法によれば、ヘッドをディスク内の
各トラックの正規位置からずらせた位置に置いた状態で
検査データを各セクタに書き込む書込ステップと、この
検査データを読み取ってその読取エラーの有無から欠陥
を検査する読取検査ステップとを組み合わせ、あるいは
ヘッドをディスク内の各トラック上に置いて検査データ
を各セクタに書き込む書込ステップと、この検査データ
を読み取った読取パルス列とそれに同期したクロックパ
ルス列の間のタイミングをずらせた状態で検査データを
読み取ってその読取エラーの有無から欠陥を検査する読
取ステップとを組み合わせ、いずれの場合にも欠陥が検
出されたセクタをディスク内に登録することによって達
成される。

〔作用〕

本発明の特徴は、上記構成にいう書込ステップや読取検
査ステップをディスク記憶装置内に装荷ないし組み込ん
で置いて専用の検査装置を用いることなくディスク記憶
装置自体でそのディスクの記録媒体を自動的に検査でき
るようにし、さらに欠陥検査をすべてディスクのフォー
マツティング時に設定された各トラック内のセクタ単位
で行なう点にある。

従って、本発明方法の書込ステップで各セクタに書き込
まれる検査データは、従来のような特殊な内容のもので
なく、すべてディスク記憶装置が読み書きするふつうの
データであり、従って読取検査ステップでもこれをふつ
うのデータとして読み取り、その際の読取エラーの有無
からセクタ内の欠陥の有無を検査する。このため、本発
明では欠陥をそのディスク記憶装置がもつ性能に応じた
規準で検出でき、従来のように検査規準が徒に厳しくあ
るいは甘きに過ぎるおそれなく実用的かつ合理的な規準
で欠陥検査できる。

しかし、このように欠陥検査をセクタ単位で行なうと、
従来はどはディスクを全面に亘り細かく検査するわけで
はないので、主にはセクタが設定されたトラック内の欠
陥を検出することになり、トラックに隣接する範囲内の
欠陥が見落とされると、ディスク記憶装置の使用中にヘ
ッドの位置決め精度が不測の原因で低下したとき読取エ
ラーが発生するおそれがある。この点の解決には、前記
構成のように書込ステップ時にヘッドをディスク内の各
トラックの正規位置からずれた位置に直いた状態で検査
データを書き込むことにより、欠陥の検査範囲を広げる
ことができる。

さらに、読取検査ステップでディスク記憶装置の読取信
号の処理回路系により検査データを読み取るので、軽微
な欠陥によって読取信号の波形が多少狂っていても、信
号処理回路系内で吸収できる程度であれば正規のデータ
として読み取ってしまってこの欠陥を見落とすことがあ
り、ディスク記憶装置の使用中に信号処理回路系の動作
が検査時と異なると読取エラーが発生し得る。

この点の解決には、前記構成にいうように読取検査ステ
ップにおいて、検査データを読み取った読取パルス列と
それに同期したクロンクパルス列の間のタイミングをず
らせて、いわばわざと読み取り難くした状態で検査デー
タを読み取ることにより、読取信号波形を僅かに狂わせ
る程度の軽微な欠陥をも精度よく検出できる。

もちろん、このパルス列のタイミングをずらせる読取検
査ステップを前述のトラックからずれた位置に検査デー
タを書き込む書込ステップと組み合わせれば、ディスク
のほぼ全域内の軽微なものを含めた実際上すべての欠陥
を高精度で検出することができる。

〔実施例〕

以下、図を参照しながら本発明方法の具体実施例を説明
する。第１図は本発明による記録媒体欠陥検査方法の実
施に関連する部分を示すディスク記憶装置の構成図であ
る。なお、以下に説明する実施例ではディスク記憶装置
は固定ディスク装置であるものとする。

図ではディスク記憶装置８０が一点鎖線で囲んで示され
ており、そのふつうは複数枚のディスク１はスピンドル
モータ２によって駆動され、この例ではその各面にヘッ
ド３の位置を検出するためのサーボ情報５１が扇形領域
内に書き込まれ、これを基準にディスク１をフォーマツ
ティングすることににより数百条のトラックＴが設定さ
れている。

この実施例では、これらの内の最外径トラックＴＯに本
発明による欠陥検査によって検出される欠陥セクタが登
録されるものとする。

ディスク面ごとに設けられたヘッド３は、薄い板ばねを
介して図の左右方向に移動自在に案内されたキャリッジ
４に支承され、これに機械的に密に結合されたヘッド操
作モータ５によりそのディスクｌ上の径方向位置が操作
される。この例ではヘッド操作モータ５に２相ステツピ
ングモータが用いられ、それ用の駆動回路５ａから所定
の極性と大きさの相電流ＩａおよびＩｂを与えることに
より、ヘッド３をディスク１の任意の径方向位置に位置
決めできるものとする。

第２図はこの位置決めの要領を２個の相電流ＩｍとＩｂ
が作る電気角上のベクトルＶで示すもので、この実施例
では駆動回路５ａに操作指令データ００を与えて図の４
個の基準ベクトルＶ中のいずれかを指定することにより
、ヘッド３を基準ベクトルに対応するトラックＴ上に置
くことができ、また基準ベクトルＶより進んだベクトル
ｖＥまたは遅れたベクトルｖＬを指定することによって
、ヘッド３の位置をトラックＴ上から所望量だけずらせ
ることができるものとする。

すべてのヘッド３はリードライト回路６に接続されてお
り、ヘッド選択指令Ｉｓにより指定されたヘッドがリー
ドライト指令Ｒ−に応じて読み取りないし書き込み状態
に置かれる。その下に示された復調回路７はピーク検出
回路等を含み、上述のリードライト回路６の読取出力Ｒ
からのアナログな読取信号Ｒ３を受け、その波形中のピ
ークの位置を検出してこれを所定の変調方式２例えばＭ
ＦＭ方式の読取パルス列信号Ｒ５Ｏに変換して、エンコ
ーダ・デコーダ回路９に出力する。

オフトラック検出回路８は、上述のアナログな読取信号
Ｒ３と、スピンドルモータ２に内蔵されたパルス発生器
２ａからディスク１の回転に同期して発せられるインデ
ックスパルスＩＸとを受け、読取信号ＦＩＳの中に含ま
れるサーボ情報ＳＩの続出部分から、インデックスパル
スＩＸに同期してヘッド３のトラックＴ上の正規の位置
からのずれを表すオフトラック量Ｓを検出する。

エンコーダ・デコーダ回路９は読取パルス列信号１１Ｓ
Ｏを受け、同期分離回路ＩＯとの連携下で例えばＮＲＺ
方式のデータパルス列信号Ｎ５にデコードするとともに
、データパルス列信号ＮＳを逆に所定の変調方式の書込
信号−５にエンコードしてリードライト回路６の書込入
力Ｗに与えるものである。

同期分離回路１０は読取パルス列信号Ｒ３Ｏを受け、通
例のようにＰＬＬ動作によりそれから分離したクロック
パルスＣＰと別の読取パルス列信号１？ｓｌとをエンコ
ーダ・デコーダ回路に出力するが、この実施例では後述
のパルス列シフト回路７０が本発明の実施のためこれに
組み込まれる。

ディスク記憶装置８０内には、通例のようにその内部総
括制御のためプロセッサ２０が組み込まれており、本発
明の実施に関連しては、駆動回路５ａには操作指令デー
タＤＯを、リードライト回路６にはヘッド選択指令Ｈ５
とリードライト指令１１１１を、同期分離回路１０内の
パルス列シフト回路７０にはタイミングシフト指令ＴＳ
と遅速指令ＥＬをそれぞれ与え、かつオフトラック検出
回路８からはインデックスパルスＩＸに同期してオフト
ラック量Ｓを読み取る動作を行なう。

また、このプロセッサ２０は内部バス２１．　　インタ
フェース回路２２および外部バス２３を介して図示しな
いホストの計算機と接続される。

データ制御回路３０も簡単な特殊プロセッサで、エンコ
ーダ・デコーダ回路９から受けるシリアルなデータパル
ス列信号ＮＳをパラレルデータに変換して内蔵ＲＡＭ３
１に記憶し、あるいは逆にデータをデータパルス列信号
ＭＳに変換してエンコーダ・デコーダ回路９に与える動
作を行ない、連絡バス２４を介してプロセッサ２０と連
系される。

また、このデータ制御回路３０は通例のようにそのＲＡ
Ｍ３１内にディスク１から読み取った例えばトラック１
個分のデータを一時的に記憶し、その各セクタのデータ
が正しく読み取られたか否かを各データ内のエラーチエ
ツクコードにより検定した上で、読み取りエラーの有無
を連絡バス２４を介してプロセッサ２０に知らせる機能
をもつ、なお、ＲＡＭ３１は計算機との書込データや読
取データの受は渡しのため内部バス２１と接続される。

本発明方法における書込ステップ４０および読取検査ス
テップ６０用のソフトウェアは、図示のようにプロセッ
サ２０内に装荷されて後で第７図を参照して説明する一
連の動作を行ない、この実施例では読取検査ステップ６
０用のソフトウェアは、同期分離回路１０内の前述のパ
ルス列シフト回路７０との連携下で動作するようになっ
ている。さらにこの実施例では、書込ステップ４０はヘ
ッドをトランクからずらせる前述の動作を、読取検査ス
テップ６０はパルス列のタイミングをずらせる前述の動
作をそれぞれ行なうものとする。

第３図と第４図は、本発明の書込ステップ４０において
ヘッド３をトラックＴの正規位置からずらせる動作の意
味を例示するものである。第３図はトラックＴに対する
欠陥りないし傷の位置を例示するもので、いま図のよう
に欠陥りがトラックＴからその隣接部にかけてたまたま
存在するものとする。第４図（ａ）は、ある検査データ
がトラックＴに書き込まれている場合について、それを
読み取った前述のアナログな読取信号Ｒ５の波形を示し
、第３図の欠陥りに相当する波形のくびれが発生してい
ることがこれかられかる。

第４図（ロ）はこれに対応する第１図の復調回路７から
の読取パルス列信号Ｒ５Ｏを示す、復＃１回路７内のピ
ーク検出回路はアナログな読取信号Ｒ５中の正負のピー
クの位置を検出して図のようにパルスを発生するが、同
図（萄の例では欠陥りによる読取信号Ｆ！Ｓの波形の乱
れがそのゼロクロス点付近なので、同図（ロ）の読取パ
ルス列信号Ｒ３Ｏ内の各パルスはかかる波形の乱れによ
って惑わされることなく正しいタイミングで発生される
。

第４図（Ｃ）は、同図（ａ）の場合と異なる検査データ
がトラックＴに書込まれている場合の読取信号ＲＳを示
し、欠陥りによる波形の乱れが図示のようにそのピーク
の付近で発生している。従って同図（イ）の読取パルス
列信号１？ＳＯのパルスのタイミングが狂うおそれがあ
るが、この例では第３図のように欠陥りの一部がトラッ
クＴにかかっているだけなので、読取信号Ｒ３の波形の
乱れが比較的少なく、読取パルス列信号ＲＳＯの各パル
スは正しいタイミングで発生している。このように、欠
陥りはその一部のみがトラックＴにかかっているような
場合に見落とされやすい。

第４図（ｅ）は、第３図のようにトラックＴからδだけ
ずれた位置Ｔ３に同図（Ｃ）と同じ検査データを書き込
み、これを読み取った場合の読取信号Ｒ５を示す、この
ずれた位置Ｔｓは欠陥りの位置とほぼ一致するので読取
信号ＩＩＳの波形は大きく乱れ、同図（ｆ）の読取パル
ス列信号Ｒ５Ｏには、これに対応して図で破線で示した
正規の位置からずれたタイもングの偽のパルスＲ５ｅが
含まれる。

読取パルス列信号Ｒ５Ｏ中のかかる偽パルスＲ３ｅは、
そのタイもングずれがエンコーダ・デコーダ回路９内で
補償できる限度を越えると、もちろん読み取りエラーと
なっ゛ζデータ制御回路３ｏによりその旨が検出される
。このようにして本発明方法では、その書込ステップ４
０にヘッドをトラックの正規位置からずらせる動作をさ
せることにより、トラックに隣接する範囲内の欠陥をデ
ィスク記憶装置のデータ読み取り性能に則した実際的な
規準で検出することができる。

第５図に第１図の同期分離回路１０の具体構成例を示す
、ＰＬＬ回路１１は読取パルス列信号１？ＳＯをその照
合人力ｒに受け、通例のようにそれに含まれるデータ中
の同期化データの読み出しパルスに同期したクロックパ
ルスＣＰＯを確立する。ふつうの同期分離回路では、読
取パルス列信号Ｒ３Ｏをその同期回路１２によりクロッ
クパルスＣＰＯに同期化させた読取パルス列信号Ｒ５Ｉ
を作るが、本発明では両パルス列のタイミングを相互に
ずらせるためパルス列シフト回路７０が組み込まれる。

パルス列シフト回路７０内の遅延回路７１は、読取パル
ス列信号Ｒ５Ｏを受け、これを遅延時間ｄ例えば１０μ
ｓだけ遅らせた読取パルス列信号Ｒ３ｄを出力して同期
回路１２に与え、もう一つの遅延回路７２はクロックパ
ルスＣＰＯを受けてこれを遅延時間ｄと２ｄだけ遅らせ
た２個のクロックパルスを作る。

アンドゲート７３はタイミングシフト指令ＴＳが０のと
きに付属のインバータ７３ａを介してイネーブルされ、
クロックパルスＣＰＯを短時間ｄだけ遅らせたクロック
パルスＣＰを出力する。アンドゲート７４はタイミング
シフト指令ＴＳが１でかつ遅速指令［！ＬがＯのときに
インバータ７４ａを介してイネーブルされ、クロックパ
ルスＣＰＯを遅延時間２ｄだけ遅らせたインデックスパ
ルスＣＰを出力する。同様にアンドゲート７５はタイミ
ングシフト指令ＴＳが１で遅速指令ＢＬが１のときイネ
ーブルされ、クロックパルスＣＰＯをそのままクロック
パルスＣＰとして出力する。これらの３個のアンドゲー
ト７３〜７５から出力されるクロックパルスＣＰは、オ
アゲート７６を介して同期分離回路１０から出力される
。

同期回路１２は、上述の遅延された読取パルス列信号Ｉ
ＩＳからエンコーダ・デコーダ回路９に与えるべきクロ
ックパルスＣＰに同期された読取パルス列信号Ｒ５Ｉを
作るもので、例えばクロックパルスＣＰが鴇であること
を条件に読取パルス列信号Ｒ５ｄの立ち上がりでセット
されるＤ形フリップフロップと付属回路からなる。

第６図は本発明の読取検査ステップにおいて、読取パル
ス列とクロックパルス列との間のタイミングを上述のよ
うにパルス列シフト回路７０によりずらせる意味を説明
するものである。同図（ａ）は元の読取パルス列信号Ｒ
３Ｏを示し、その図の３番目のパルスの発生タイミング
が欠陥りのために破線で示した本来の位置からずれてい
るものとする。

同図（ロ）は遅延回路７１によりこれから時間ｄだけ遅
らされた読取パルス列信号Ｒ３ｄである。同図（Ｃ）は
タイミングシフト指令ＴＳが０の場合のクロックパルス
ＣＰであって、それがｈである期間のほぼ中央で同図（
ロ）の読取パルス列信号Ｒ３ｄの正規のパルスが発生す
るようになっている。

第６図（切はこのタイミングシフト指令ＴＳが０の場合
に出力される読取パルス列信号Ｒ５ｌである。

読取パルス列信号Ｒ５ｄ中の欠陥りによってずれたパル
スの立ち上がりも同図（Ｃ）のクロックパルスＣＰのｈ
の期間内なので、読取パルス列信号Ｒ３ｄがそのまま読
取パルス列信号Ｒ３Ｉとなる。

第６図（ｅ）および（ｆ）は、タイ旦ングシフト指令Ｒ
３が１で遅速指令ＥＬがｌの場合のクロックパルスＣＰ
および読取パルス列信号Ｒ５Ｉをそれぞれ示す、この場
合のクロックパルスＣＰは同図（Ｃ）の場合よりも時間
ｄだけ進んでいるが、前と同しく読取パルス列信号Ｒ３
ｄがそのまま読取パルス列信号Ｒ５Ｉとして出力される
。

第６図（鎖および（ロ）は、タイミングシフト指令Ｒ３
が１で遅速指令ＥＬがＯの場合のクロックパルスＣＰお
よび読取パルス列信号Ｒ５Ｉをそれぞれ示す、この場合
のクロックパルスＣＰは同図（Ｃ）の場合よりも時間ｄ
だけ遅れているので、図かられかるようにそれがｈにな
る前に読取パルス列信号Ｒ５ｄ中のずれたパルスが立ち
上がってしまう。

従って、この場合の読取パルス列信号Ｒ５Ｉ中には図で
破線で示すように読取パルス列信号Ｒ５ｄ中のずれたパ
ルスに対応するパルスが欠落する。この欠落パルスＲ５
ｆがある読取パルス列信号Ｒ３Ｉはエンコーダ・デコー
ダ回路９によりデコードされた上でデータ制御回路３０
に与えられるが、当然それによって読取エラーが検出さ
れる。

これかられかるように、読取パルス列信号Ｒ３ｄとクロ
ックパルスＣＰとの間のタイミングを適宜な時間ｄずつ
前後にずらせることにより、元の読取パルス列信号Ｒ５
Ｏ中のパルスの僅かなタイミングのずれから微細な欠陥
りを時間ｄの設定に応じた所望の精度で検出することが
できる。

以上で、本発明に関連するディスク記憶装置の構成例の
説明とその書込ステップおよび読取検査ステップがもつ
役割の説明を終えたので、ついで第７図を参照してその
全体動作例を説明する０図では、書込ステップ４０およ
び読取検査ステップ６０としての動作ステップがそれぞ
れ一点鎖線で囲んで示されている。

最初のステップＳ１では、動作の流れを制御するフラグ
Ｆに１を立てて検査動作中の旨を指定し、ついでステッ
プＳ２でディスクの全面にフォーマツティングを施し、
かつヘッドのオフトラック量を指定するための変数Ｓに
Ｏを入れる。

なお、上述のフォーマツティングに際しては、ヘッドを
ディスク内のふつうは０番トラックである最外径トラッ
クＴＯから始まる各トラックの上に順次置きながら、各
トラックの全体に前述の同期分離回路ｌＯにより利用さ
れる同期化データを含むフォーマンティングデータを書
き込むことによりふつう数十個のセクタを設定する。か
かるフォーマツティングデータの書込範囲にも欠陥が存
在し得るが、この例では書込ステップ４０内にその検出
ステップが含められる。

次のステップＳ３ではフラグＦが０か否かが判定される
が、いまは否なので動作をステップＳ４に移し、本発明
方法により検出するディスク内の欠陥セクタ数を表す変
敗ｎを０にリセットしかつ検査回数を表す変数ｌに０を
入れる。

なお、この実施例では検査データを順次切り繕えながら
検査を繰り返えすので、上述の変数１はその回数を示す
ものである。この変数ｌの値は次のステップＳ５で１だ
け歩進され、これにより１回目の検査が指定される。続
くステップＳ６ではこの変数１の値に応じて流れを切り
換えるが、いまはその値が１なので動作はステップＳ７
に移り、検査データＴＤとして書込信号周波数が最高の
データＤＢ例えばデータ記録がＭＦＭｌ調方式の場合１
６進法の００やＦＦの繰り返えしを指定する。

ついで、流れは書込ステップ４０としての動作に入り、
その最初のステップＳ４０ではヘッドを置くべきトラッ
クの番号を表す変数ｊにＯを入れて、最外径トラックか
ら動作を開始すべきことを指定する０次のステップ３４
１では変数ｊで指定されたトラックＴｊ上にヘッドをシ
ークないし移動させた上で、上述の変数Ｓによる指定量
だけトラックの正規位置からずらせる動作を行なうが、
いまはこの変数Ｓの指定値がＯなのでトラックの正規位
置にヘッドを位置決めする。

次のステップ３４２では、リードライト指令Ｒ１１によ
りリードライト回路６を読み取り状態に置いた上で、前
のステップＳ２で書き込まれたフォーマツティングデー
タＦＤをデータ制御回路３０内に読み取らせる。データ
制御回路３０はこれを１トラック分そのＲＡＭ３１内に
記憶した上で、正しく読み取れたか否かを検定し、読取
エラーの有無と、エラーありの場合の欠陥セクタ番号と
をプロセッサ２０に知らせる。つづくステップＳ４３で
はこのエラーの有無によって動作が切り換えられる。

エラーありの場合、動作はステップＳ４４に移ってフラ
グＦがＯか否かが判定されるが、フラグＦには最初のス
テップＳ１で１が立っているから動作はさらにステップ
Ｓ４５に移り、欠陥が検出されたセクタ番号をプロセッ
サ２０内に記憶し、かつ欠陥セクタ数を表す変敗ｎに１
を加えた上で、動作をステシブＳ４７に移す、エラーな
しの場合、動作はステップ３４６に移って同様にフラグ
Ｆが０か否かが判定されるが、判定結果はもちろん否と
出て、動作はステップ５−４７に移る。

なお、上述のステップＳ４２〜Ｓ４６の動作は前述のよ
うに書込ステップ４ｏの動作の流れを利用してフォーマ
ツティングデータが書き込まれる範囲内の欠陥を検査す
るものである。

ステップＳ４７が書込ステップ４ｏとしての本来の動作
ステップであって、ステップＳ４１により所望のトラッ
ク上に位置決めされたヘッドを介して、ステップＳ７で
指定された検査データＴＤをトラック内の各セクタに書
き込む、この際、検査データＴＤをデータ制御回路３０
にまず与えて置いて、リードライト回路６を書込状態に
置きながらデータ制御回路３０からエンコーダ・デコー
ダ回路９を介して検査データＴＤＯ書込信号−５をリー
ドライト回路６に与える。また、この検査データ↑Ｄの
書き込みはステップＳ４２と３４３による検査で無欠陥
であったセクタに対してのみ行なうのがよい。

次のステップ３４Ｂではトラック番号変数ｊがその最大
値Ｊ＋ｗよりも小か否かを判定し、然りである限りステ
ップ３４９で変数ｊを歩進させた上で動作の流れをステ
ップ３４１に戻す。

これにより、ヘッドを次のトラックに順次修動させなが
らステップ５４１−３４９の動作が繰り返えされ、検査
データＴＤがディスクの全面に書き込まれて変数ｊの値
が最大値」−に達した時、動作の流れはステップ３４８
からループを抜けてステップＳ８に移る。このステップ
ではフラグＦがＯか否かが判定されるが、判定結果はも
ちろん否と出て流れは読取検査ステップ６０の動作に移
る。

その最初のステップ５６０では、トラック番号用変数ｊ
が０に戻される０次のステップＳ６１では、ヘッドを変
数ｊで指定された３番目のトラックＴｊにシークしてそ
の正規位置から変数Ｓの値だけずらせて位置決めし、次
のステップ３６２では前述のタイミングシフト指令ＴＳ
と遅速指令ＥＬに０を入れる。ステップＳ６３と３６４
が読取検査ステップ６０としての本来の動作ステップで
あり、ステップＳ６３では同期分離回路ｌＯ内のパルス
列シフト回路７０を両指令ＴＳとＥＬによる指定どおり
に置いた状態で、データ制御回路３０内に検査データＴ
Ｄを読み取らせかつ読取エラーの有無を検定させる。

ステップ３６４ではこのエラーの有無により流れを振り
分け、エラーなしの場合はステップＳ６６に動作を移す
が、エラーありの場合はステップＳ６５において欠陥セ
クタを例えばそのトラック番号とセクタ番号によりプロ
セッサ２ｏ内に記憶し、それが新しく検出された欠陥セ
クタであれば欠陥数を表す変数ｎに１を加える。

ステップ３６６〜３６９は読取パルス列信号Ｒ５Ｉに対
するクロックパルスＣＰのシフト量の切り換え用ステッ
プである。最初はタイミングシフト指令ＴＳがＯなので
、ステップ３６６からステップＳ６７に動作が移り、タ
イミングシフト指令ＴＳを１にした上で流れをステップ
Ｓ６３に戻すことにより、今度は遅速指令ＨＬがＯ９す
なわちクロックパルスＣＰを早めた状態で検査データの
読み取りと欠陥セクタの検出動作を繰り返えす、その後
はステップ３６６とステシブ３６８を経てステップ３６
９に動作が移り、遅速指令ＥＬを１にした上で流れをス
テップＳ６３に戻すことにより、逆にクロックパルスＣ
Ｐを遅らせた状態で同じ動作を繰り返えす。

以上のように、クロックパルスＣＰの正規の状態と早め
た状態と遅らせた状態の３個の場合について、検査デー
タを読み取り欠陥セクタを検出する動作を繰り返えした
後に、流れはステップ３６Ｂからループを抜けてステッ
プＳ７０に移り、トラック番号変数ｊが最大値ｊ−より
小な限りステップＳ７１で変数ｊを歩進させた上で流れ
をステップＳ６１に戻し、読取検査ステップ６０として
の動作を順次に次のトラックに対して繰り返えす。

ディスクの全面について読取検査ステップ６０の動作が
終了して変数ｊが最大値ｊ−に達したとき、動作はステ
ップＳ７０からループを抜けて再び書込ステップ４０内
の図の右側に示された動作に入る。

図のステップＳ５０〜Ｓ５３は検査データ書き込み時の
ヘッドのずれ量の設定ステップで、その最初のステップ
Ｓ５０でずれ指定変数ＳがＯか否かが判定されるが、ス
テップＳ３でこれがＯにセットされたままなので動作は
ステップＳ５２に移り、ずれ指定変敗Ｓにδを入れた上
で流れを書込ステップ４０の最初のステップ３４０に戻
す。

以降は、書込ステップ４０のステップＳ４１において変
数Ｓで指定された値だけヘッドをトラックの中心からず
らせた後に検査データを書き込み、それを読取検査ステ
ップ６０内で読み取りながら欠陥セクタを検出する。な
お上のステップＳ４１では、第１図のヘッド３のトラッ
クＴの正規位置からのずれが変数Ｓによる指定値になる
よう、第２図の進んだベクトルｖＥや遅れたベクトルｖ
Ｌを指定する操作指令データＯＤをヘッド操作モータ駆
動回路５ａに送り、オフトラック検出回路１０から読み
取ったオフトラック量Ｓが変数Ｓの値と等しくなるよう
ヘッド３の位置をクローズトループ制御する。

ヘッドのずれが正のδの場合につき検査を終了した後、
動作はステップＳ５０からステップＳ５２に入り、変数
Ｓが正であるからさらにステップ３５３に動作が移って
、今度は変数Ｓに負のずれ−δを指定した状態で同じ動
作を繰り近見す、その終了後は動作がステップＳ５２か
らステップＳ９に移り、これで検査データＴＤに高い周
波数の検査データＤＨを用いる１回目の欠陥検査が終了
する。

ステップＳ９では欠陥セクタ数を表す変数ｎがその許容
限度Ｎより小か否かを調べ、否であれば図で破線で示す
ように検査中のディスクが不良である旨を表示等の手段
だ知らせた上で流れを直ちに終結させるが、然りであれ
ばさらにステップ３１０で検査回数を示す変数１が最大
値五−に達したか否かを調べ、未満である限り流れをス
テップＳ５に戻す、このステップＳ５では変数ｉが２に
なるので、今回の動作はステップＳ６からステップＳｌ
ｌを経てステップＳ１２に移り、検査データＴＤに低い
周波数の検査データロし例えば００や８８の繰り返えし
データが指定される。

かかる新しい検査データＯＬを用いる欠陥検査が終了し
た後は、上と同様に流れはステップＳ１０からステップ
Ｓ５に戻され、さらにそれからの動作がステップＳ６と
ステップＳｌｌを経てステップＳ１３に移り、以降はラ
ンダム発生された検査データＤｌｌが検査データとして
指定され、これによる欠陥検査は変数ｌの値が最大値ｌ
■１例えば５に達するまで繰り返えされる。

かかる所定回数の欠陥検査を欠陥セクタ数ｎが最大値Ｎ
に達することなく終了した後は、動作がステップＳＩＯ
からステップＳ１４に移り、フラグＦをＯにした上でデ
ィスクをフォーマツティングし直すために流れをステッ
プＳ２に戻す、フラグＦが０の場合のステップＳ２によ
る２回目のフォーマツティングは、最初と異なりそれま
での検査で検出済みの欠陥セクタ部を除外して行なわれ
、これによって外部からは全く欠陥がないディスクとし
て使用できるようになる。

この再フオーマツテイング終了後のステップＳ３では、
フラグＦが０なので判定が然りと出て動作はステップＳ
１５に移り、それまでにステップ３４６とステップＳ６
５でプロセッサ２０内に記憶している欠陥セクタをディ
スクの前述の最外径トラックＴ。

に記録する。これで、本発明方法の動作はすべて完了す
るが、この例では再フオーマツテイングを書込ステップ
４０を利用して確認するために、次のステップ３１６で
トラック番号変数ｊを０にセットした上で流れをステッ
プＳ４１に入れる。

このステ、ツブＳ４１では、変数ＳがステップＳ２で０
にセットされているのでヘッドはトラックＴｊ上の正規
位置に置かれ、ステップＳ４２でフォーマツティングデ
ータＦＤを読み取り、ステップＳ４４でそのエラーの有
無を判定する。もちろんエラーなしが当然なので動作は
ステップＳ４７に移り、さらにステップＳ４９およびＳ
５０を経て変数ｊを歩進させながら流れをステップＳ４
１に戻す、しかし、万一エラーが検出された場合は、動
作はステップＳ４５に移り、図では破線で示すように必
要な異常表示等を行なった上で動作を終結させる。

ディスクの全面につき再フオーマツテイングの確認が済
むと流れはステップ３４８からステップｓ８に移り、フ
ラグＦが０なのでこのステップの判定結果が然りと出て
、これで全動作が完了する。

以上説明した本発明方法では、従来の専用装置を用いる
場合より動作時間は掛かるが、ディスク記憶装置自体で
欠陥検査を行なえるので、何台でも並行して検査を進め
ることができ、その量産に際して多大の利便が得られる
。

以上説明した実施例に限らず、本発明は種々の態様で実
施をすることができる０例えば、上述の実施例ではヘッ
ドをトラックの正規位置からずれた位置に置いた状態で
検査データを書き込む書込ステップと、その読取パルス
列とクロックパルス列の間のタイミングをずらせた状態
で検査データを読み取りその読取エラーの有無から欠陥
を検査する読取検査ステップを併用するようにしたが、
両ステップ中の一方をヘッド位置や両パルス列間のタイ
ミングをずらせない単純な構成としても、本発明方法を
その主な効果を減じることな〈実施することができる。

また、実施例では読取検査ステップ中でヘッドの位置を
変数Ｓの値に応じてトラックの正規位置からずらせるよ
うにしたが、ヘッドをトランクの正規位置上に置いた状
態、すなわちずれた位置に書き込まれた検査データをわ
ざと読み取り難くした状態で読取検査を行なう方が、ず
れ量をとくに大きくしない限りにおいて欠陥の検出感度
を向上する上でむしろ有効な場合もある。

なお、実施例には従来の専用検査装置を用いる記録内容
のイレーズ検査の機能がないが、例えば第７図のステッ
プＳＩＯから流れをステップＳ５に戻すかわりに、ディ
スクの全面をイレーズした上でステップＳ２に戻すよう
にすれば、従来のイレーズ検査とほぼ等価な機能を本発
明方法にももたせることができる。

〔発明の効果〕

以上述べたように本発明方法によれば、ヘッドを各トラ
ンクの正規位置からずらせた状態で検査データを書き込
む書込ステップと、検査データを読み取って読取エラー
の有無から欠陥を検出する読取検査ステップとを組み合
わせることにより、あるいは、ヘッドを各トラック上の
正規位置に置いて検査データを書き込む書込ステップと
、検査データの読取パルス列とそれに同期したクロック
パルス列の間のタイミングをずらせた状態で検査データ
を読み取って読取エラーの有無から欠陥を検査する読取
検査ステップを組み合わせることによって、次の効果を
上げることができる。

（ａ）専用の検査装置を用いずに、ディスク記憶装置自
体でディスクの記録媒体の欠陥検査を自動的に行なうこ
とができる。従って、ディスク記憶装置の量産時に専用
装置の能力により制約されず何台でも並行して欠陥検査
を進めることができる。

（ｂ）ディスク記憶装置の読取信号回路系やヘッド位置
制御系を用いながら、その性能や精度に則した最も合理
的な規準で記録媒体を欠陥検査することができ、従来の
ように検査規準が徒に厳しくあるいは逆に甘きに過ぎる
不合理がなくなる。

（Ｃ）ヘッドをずらせて検査データを書き込み、読取パ
ルス列とクロックパルス列の間のタ゛イξングをずらせ
ながら検査データを読み取ることにより、トランク隣接
部を含む範囲の欠陥を効率よく検出できるので、検査デ
ータを数回切り換えるだけで短時間内に欠陥検査を済ま
せることができる。

（ｄ）通常のデータを検査データとしてセクタ単位で書
き込みかつ読み取ればよいので、ディスク記憶装置にソ
フトウェアを装荷して容易に本発明方法を実施すること
ができる。

本発明方法は、専用の欠陥検査装置による場合のように
非常に微小な欠陥の検出したり、欠陥の分布状態を把握
して記録媒体のプロセス条件改良のための情報を得る目
的にはあまり適しないが、上述かられかるようにディス
ク記憶装置の量産に際し能率的に欠陥検査工程を進め、
かつ合理的な品質管理規準で検査できる実用性の高い記
録媒体の欠陥検査方法を提供するものである。

【図面の簡単な説明】

図はすべて本発明に関し、第１図は本発明による記録媒
体欠陥検査方法が実施されるディスク記憶装置の要部の
構成を例示するその構成回路図、第２図はヘッド操作モ
ータがステンピングモータである場合の相電流が作るベ
クトル図、第３図はトラックと欠陥の関連を示すディス
クの一部拡大展開図、第４図は検査データ書き込み時に
ヘッドをトラックの正規位置からずらせる効果を説明す
るための１取信号と読取パルス列信号の波形図、第５図
は同期分離回路およびパルス列シフト回路の具体構成例
を示す回路図、第６図は読取パルス列とクロックパルス
列の間のタイミングをずらせる効果を説明するための読
取パルス列信号およびクロックパルスの波形図、第７図
は書込ステップおよび読取検査ステップの具体動作例を
示す流れ図である０図において、 １：ディスク、２ニスピンドルモータ、２ａ：パルス発
生器、３：ヘッド、４：キャリッジ、５：ヘッド操作モ
ータ、５ａ：ヘッド操作モータ駆動回路、６：リードラ
イト回路、７：復調回路、８：オフトラック検出回路、
９：エンコーダ・デコーダ回路、ｌＯ二同期分離回路、
１１：ＰＬＬ回路、１２：同期回路、２０：ディスク記
憶装置の内蔵プロセッサ、２１：内部バス、２２：イン
タフェース回路、２３：外部バス、２４：連絡バス、３
０：データ制御回路、３ｉ：　ＲＡＭ、４０：書込ステ
ップ、６０：読取検査ステップ、７０：パルス列シフト
回路、７１，７２ｉ遅延回路、７３〜７５：アンドゲー
ト、？３ａ、７４ａ　：インバータ、７６：オアゲート
、８０：ディスク記憶装置、ＣＰ：クロックパルス、Ｃ
ＰＯ：元のクロックパルス、Ｄ：欠陥、ｄ：遅延時間、
ＤＤ：ヘッド操作指令データ、ＤＨ：高い周波数の検査
データ、ＤＬ：低い周波数の検査データ、ＤＲ：ランダ
ム発生される検査データ、δ：検査データの書込位置の
ずれ、！！Ｌ：遅速指令、Ｆ：フラゾ、ＦＤ：フォーマ
ツティングデータ、Ｈ８：ヘッド選択指令、ｉ：検査回
数を示す変数、ｌ■：変数ｌの最大値、ｊニドラック番
号変数、ｊ−：変数ｊの最大値、Ｉａ、Ｉｂ：ヘッド操
作モータの相電流、■ｘ：インデックスパルス、Ｎ：欠
陥セクタ数の許容限度、ｎ：欠陥セクタ数を示す変数、
ＮＳ：データパルス列信号、Ｒ５：読取信号、Ｒ５ｄ：
遅延された読取パルス列信号、ＦＩＳｅ：偽の読取パル
ス、Ｒ５ｆ：欠落した読取パルス、Ｒ５（１元の読取パ
ルス列信号、Ｒ５Ｉ：読取パルス列信号、Ｑ−：リード
ライト指令、Ｓ：オフトラック量ないしヘッドずれ指定
変数、８１〜３１６：動作ステップ、Ｓ４０〜Ｓ５３：
書込ステップを構成する動作ステップ、Ｓ６０〜Ｓ７１
：読取検査ステップを構成する動作ステップ、Ｔニドラ
ック、ＴＤ＝検査データ、Ｔｊ：３番目のトラック、Ｔ
Ｓ：タイミングシフト指令、丁３：ずらされたトラック
、ＴＯ：最外径トラック、Ｖ：相電流ベクトル、ｖＥ：
進んだベクトル、ｖＬ：遅れたベクトル、１１Ｓ；書込
信号、である。 ６

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）ヘッドをディスク内の各トラックの正規位置からず
   れた位置に置いた状態で検査データを各セクタに書き込
   む書込ステップと、検査データを読み取ってその読取エ
   ラーの有無から欠陥を検査する読取検査ステップとを含
   み、欠陥が検出されたセクタをディスク内に登録するよ
   うにしたディスク記憶装置の記録媒体欠陥検査方法。 ２）ヘッドをディスク内の各トラック上に置いて検査デ
   ータを各セクタに書き込む書込ステップと、検査データ
   を読み取った読取パルス列とそれに同期したクロックパ
   ルス列の間のタイミングをずらせた状態で検査データを
   読み取りその読取エラーの有無から欠陥を検査する読取
   検査ステップとを含み、欠陥が検出されたセクタをディ
   スク面内に登録するようにしたディスク記憶装置の記録
   媒体欠陥検査方法。