JPH03242551A - 金属成分分析装置 - Google Patents

金属成分分析装置

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JPH03242551A
JPH03242551A JP3872090A JP3872090A JPH03242551A JP H03242551 A JPH03242551 A JP H03242551A JP 3872090 A JP3872090 A JP 3872090A JP 3872090 A JP3872090 A JP 3872090A JP H03242551 A JPH03242551 A JP H03242551A
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JP
Japan
Prior art keywords
reagent
sample liquid
supply path
impurities
switching valve
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Pending
Application number
JP3872090A
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English (en)
Inventor
Miwako Sasaki
佐々木 美和子
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Tokico Ltd
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Publication date
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  • Investigating Or Analyzing Non-Biological Materials By The Use Of Chemical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分析」 この発明は、イオン交換分離性を用いて、特に、超純水
中の微量な金属成分を効率良く分析できる金属成分の分
析装置に関するものである。
「従来の技術」 従来の肢体成分分析装置として、例えば特願昭63−1
80521号公報に示される技術が知られている。
この肢体成分分析装置について第2図を参照して説明す
ると、まず、図中符号lは自動流路切換弁である。
この自動流路切換弁■の出口には試料液供給路30か接
続され、この試料を夜供給路30には、上床から下流に
向かって順次、加圧ポンプ2、反応器3、オーバーフロ
ー容器4、三方自動切換弁5、加圧ポンプ6、圧力スイ
ッチ6Aが取り付けられている。そしてこの試料11f
fi供給路3oは最終的に第1四方切換弁7に接続され
ている。
この第1四方切換弁7には、第1濃縮カラム8への流入
路8aと第2 :14縮カラム9への流入路9aと溶離
液供給路31が接続されている。溶離液供給路31には
、圧力スイッチ17Aと加圧ポンプ17と溶離液貯留部
18がそれぞれ設けられている。
前記第1濃縮カラム8からの流出路8bと第2濃縮カラ
ム9からの流出路9bは第2四方切換弁10に接続され
ている。この第2四方切換弁IOには、さらに分離カラ
ム11と吸光光度計12とからなる分析手段32につな
がるライン33と排水路34につなかるライン35が接
続されている。
ライン35には流量計19が取り付けられている。
また試料液供給路30の反応器3の上流側には、試料液
中の金属をイオン化する試薬を供給する反応液供給路3
7か接続されている。そしてこの反応液供給路37には
加圧ポンプ16と反応液貯留部15が設けられている。
さらに分析手段32の分離カラム■1と吸光光度計12
との間には、金属イオンを発色させる試薬を供給ための
発色液供給路3Bか接続されている。この発色液供給路
38には、加圧ポンプ20と発色肢貯留部21か設けら
れている。
つぎにこの金属成分分析装置の動作を説明する。
前記自動流路切換弁1には、6つの試料液流入路1A〜
IFか接続されている。そしてこれら試料t&流入路I
A〜IFの一つか試料液供給路30に選択的に接続され
る。
試料液供給路30に流入した試料液(金属が含有される
)は加圧ポンプ2によって反応器3に送られる。その間
に試料液には反応液供給路37から反応液が添加される
。この反応液が添加された試料液は反応器3中で所定温
度で混合される。
この反応器3を通過した試料液はオーバーフロー容器4
に一旦貯留されるとともに、一定の貯留量を越えた試t
1液は符号り、で示すラインを通じてυ[水路34に排
出される。オーバーフロー容器4を通過した試料液は三
方切換弁5に達する。三方自動切換弁5は、試料液供給
路30を流れる試料1夜の一部を、符号L3で示すライ
ンを通じて排水路34に導くものである。すなわち前記
自動流路切換弁1が切り換えられて別の試料液が供給さ
れた場合に、まず、ラインL3側に流路を切り換えて、
自動流路切換弁1と三方切換弁5との間に残留していた
先の試料液を完全に洗い流す。そしてこの後、lJ!を
路を切り換えて試料液を試料液供給路30に沿って庵す
三方切換弁5を通過した試料?夜は加圧ポンプ6により
再び加圧される。加圧ポンプ6て加圧された試料液は、
第1四方切換弁7によって第11農縮カラム8あるいは
第2tR縮カラム9に供給される。
この第1四方切換弁7と第2四方切換弁10は、試料液
供給路30から供給される試料を夜を濃縮カラム8ある
いは9を通過せしめたあとライン35を経てtJF水路
34に導く金属イオン濃縮工程の流路と、溶離液供給路
31か乙供給される/8離肢をA縮カラム9あるいは8
を通過せしめたあと分析手段32に導く金属イオン溶離
工程の流路とを、濃縮カラム8,9に対して交互に形成
するものである。この四方切換弁7,10の切り換えは
、庵潰計19を通過する試料液の流量値が設定の値にヘ
ーたときに制御部Cから発信される信号によって行なわ
れる。
試料液が濃縮カラム8あるいは9を通過すると試料液中
の金属イオンかカラム8あるいは9に吸着される。この
カラム8あるいは9に吸着された金属イオンは、溶離液
供給路31から供給されるfatlf液にまりカラム8
あるいは9からm klされて分析手段32に運ばれる
分析手段32に運ばれた金属イオンは、分離カラム11
で精製されたあと発色液供給路38からの発色液により
発色され、吸光光度計12で濃度測定される。
なお、上記金属成分分析装置において、溶離酸It給路
31、加圧ポンプ17、圧力スイノチ17A、溶離f伎
貯留部I8により溶離液供給手段39か構成される。
「発明が解決しようとする課題」 ところで、上記のように構成された金属成分分析装置で
は、反応l戊供給路37により供給される反応液中に微
量金属成分か不純物として混入していることがあり、こ
れによって、該微量金属戊分が、自動流路切換弁1によ
り供給された試料液中の金属成分とともに測定されてし
まい、正確な測定ができないという問題かあった。
この発明は、上記の事情に鑑みてなされたものであって
、反応1夜供給路37により供給される反応液中の微量
金属が、試料液に混入されることを防止し、これによっ
て該試料液中に含有される金属を正確に定量することか
できる金属成分分析装置の提供を目的とする。
「課題を解決するための手段」 」二記目的を達成するために、 第1の発明では、試f’l i(l供給路へ金属を含有
する試料液を供給する試料液供給手段と、試料液[%給
路に接続され、試料液中の金属をイオン化させる試薬を
供給する試薬供給手段と、前記イオン化された金属を吸
着する濃縮手段と、この濃縮手段に吸着された金属イオ
ンを溶出させる溶離岐を供給する溶離液供給手段と、前
記l層線手段から溶出された金属イオンを分析する分析
手段とを具備し、前記試薬供給手段と試料液供給路とを
接続する供給路の途中に、試薬中の不純物を除去する不
純物除去手段を設けるようにしている。
第2の発明では、前記不純物除去手段により除去された
不純物を洗浄し、排除する手段を設けるようにしている
「作用」 第1の発明によれば、試薬供給手段に、試薬中の不純物
を除去する不純物除去手段が設けられていることから、
該試薬中の不純物が試料液にd人することが防止される
第2の発明によれば、不純物除去手段により除去された
不純物を洗浄して排除する手段が更に設けられているこ
とから、前記不純物除去手段内を不純物の1吸い状態に
維持することができる。
「実施例」 以下、第1図を参照して本発明の金属成分分析装置を詳
細に説明する。
なお、本実施例に示す金属成分分析装置は、従来例に示
す金属成分分析装置と基本構成が同一であり、よって構
成を共通とする部分に同一符号を付し説明を簡略化する
第1図において符号100て示すものは反応k 3の直
前に設けされた試薬供給手段である。
この試薬供給手段+00は、六方切換弁40を有し、こ
の六方切換弁40の各ポート40A〜40Fに、試薬(
!(袷路37,41、配管42、洗浄液(1(給路43
、排水路34に通じるラインL4かそれぞれ接続されて
なるものである。
117j記洛ボート40A〜40Fに接続された供給路
、配管、ラインについて説明すると、まず、前記、試込
1j給路37は、六方切換弁4oのポート40Aと試料
液供給路3oとを接続するものであり、まTコ、前記試
薬供給路41は、六方切換弁40の一+;−+−,10
Bと試1−’l液に含有される金属をイオン(ヒさせる
試坊を貯留する試薬貯留部44とを接続するものである
。また、前記試薬供給路41の途中には:X薬を輸送す
る加圧ポンプ45が設けられている。
また、前記配管42は六方切換弁40のポートIGcと
ポート40Dとを接続するものであって、前記配管42
の途中には、試薬中に含有される金属等の不純物を除去
する不純物除去カラム46が設けられている。
また、洗浄液供給路43は、六方切換弁40のポート4
0Eと純水等の洗浄液を貯留する洗浄液貯留部47とを
接続するものであって、前記洗浄液供給路43の途中に
は試薬を輸送する加圧ポンプ48が設けられている。
なお、前記試薬供給手段+00として設けられた六方切
換弁40、加圧ポンプ45・48は、制御部Cからの制
御信号Xに基づきコントロールされる。
次に、上記のように構成された試薬供給手段100の動
作について工程順に説明する。
(−)  まず、通常の金属成分の測定の際には、制御
部Cからの制御信号Xにより、六方切換弁40を実線て
示す位置に設定するとともに、加圧ポンプ45を駆動す
る。
これによって、試薬貯留部44に貯留された試薬が、加
圧ポンプ45により、試薬供給路41、六方切換弁40
のポート40B〜40C,配管42、六方切換弁40の
ポート40D〜4OA、試薬供給路37を順次経由して
試料液供給路30に供給され、その結果、該試料r夜供
給路30を通じて供給された試料l夜と混合されて、該
試料液中の金属をイオン化させる。
そして、このとき、前記試薬に含有される金属等の不純
物は、配管42の途中に設けられた不純物除去カラム4
6により有効に捕捉され、除去されるようになっている
(ニ)制御部C内に設けられたタイマー(図示路)によ
って一定時間(予め設定しておく)か経過した場合に、
該制御部Cから、六方切換弁40の点線で示す位置への
切り換え、加圧ポンプ45の駆動停止、加圧ポンプ48
の駆動を行わせる制御信号Xをそれぞれ出力する。
これによって、前記不純物除去カラム46により除去さ
れ、かつ捕捉されていた金属等の不純物か、加圧ポンプ
48により洗浄液供給路43、六方切換弁40のポート
40E〜40Dを経由して供給された洗浄液により洗い
流される。そして、前記不純物を含む洗浄液は、更に配
管42、六方切換弁40のポート40C〜40Fを経由
して、ライン上4.排水路34に案内される。
(三)制御部C内に設けられたタイマー(図示路)によ
って更に一定時間(予め設定しておく)が経過したなら
ば、制御信号Xにより、再度、上記(−)に示す動作、
つまり、六方切換弁40の実線で示す位置への設定、加
圧ポンプ45の駆動開始を行う。
なれ、このとき、洗fpi(lを供給する加圧ボンフ4
Bの駆動を停止させるか否かは任意である。そして、前
記加圧ポンプ48を停止させず、駆動させ続けた場合に
は、洗浄液貯留部47の浣浄l夜は、洗浄l夜供給路4
3、六方切換弁40のポート40E〜40Fを経由して
、ラインL、、排水路34に案内される。
以上、本実施例に示す金属成分分析装置によれば、試薬
供給手段100に、試薬中の不純物を除去する不純物除
去カラム46が設けられていることから、該試薬中の不
純物か、試料液供給路30を搬送される試料液に混入す
ることが防止され、これによって、該試料液に含有され
る測定対象である金属を正確に定量することができると
いう効果が得られる。
また、前記不純物除去カラム46により除去された不純
物は、制御部Cのタイマーに設定された時間毎に排水路
34に通じるラインL4に案内され、外部の系に排除さ
せるようにしたので、前記不純物除去カラム46内を不
純物の無い状態に維持することかでき、該不純物除去カ
ラム46により、試薬中の不純物を高い効率で除去し続
けることかできるという効果か得られる。
なお、本実施例に示す六方切換弁40、試薬供給路41
、配管42、試薬貯留部44、加圧ポンプ45、不純物
除去カラム46、試薬供給路37により不純物を除去す
る手段が構成される。
また、六方切換弁40、配管42、洗浄液供給路43、
洗浄液貯留部47、加圧ポンプ48によりl先、争手段
か構成され、また、六方切換弁40、配管42、ライン
L4により、不純物を排除する手段か構成される。
「発明の効果」 以上説明したように、 第1の発明によれば、試薬供給手段に、試薬中の不純物
を除去する不純物除去手段か設けられていることから、
該試薬中の不純物か試料液にa人することか防止され、
これによって、該試料液に含有される金属を正確に定量
することかできるという効果か得られる。
第2の発明によれば、不純物除去手段により除去された
不純物を洗浄して排除する手段か更に設けられているこ
とから、前記不純物除去手段内を不純物の無い状態に維
持することかでき、これによって試薬中の不純物を高い
効率で除去し続けることができる効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す概略図、第2図は従来
の金属成分分析装置の構成を示す概略図である。 1 ・・ 8 30・ 2 7 9 00 ・自動流路切換弁(試料液供給手段)、第1濃縮カラム
(濃縮手段)、 ・第2a縮カラム(濃縮手段)、 試料液供給路、 ・分析手段、 試薬供給路(供給路) ・・溶離肢供給手段、 試薬供給手段(不純物除去手段、 不純物を洗浄し排除する手段)。 出和人 トキコ株式会社

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)試料液供給路へ金属を含有する試料液を供給する
    試料液供給手段と、試料液供給路に接続され、試料液中
    の金属をイオン化させる試薬を供給する試薬供給手段と
    、前記イオン化された金属を吸着する濃縮手段と、この
    濃縮手段に吸着された金属イオンを溶出させる溶離液を
    供給する溶離液供給手段と、前記濃縮手段から溶出され
    た金属イオンを分析する分析手段とを具備し、 前記試薬供給手段と試料液供給路とを接続する供給路の
    途中に、試薬中の不純物を除去する不純物除去手段が設
    けられていることを特徴とする金属成分分析装置。
  2. (2)前記不純物除去手段により除去された不純物を洗
    浄し、排除する手段とを設けたことを特徴とする請求項
    (1)記載の金属成分分析装置。
JP3872090A 1990-02-20 1990-02-20 金属成分分析装置 Pending JPH03242551A (ja)

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