JPH03263348A - Icキャリアおよび吸着搬送装置 - Google Patents

Icキャリアおよび吸着搬送装置

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JPH03263348A
JPH03263348A JP2061556A JP6155690A JPH03263348A JP H03263348 A JPH03263348 A JP H03263348A JP 2061556 A JP2061556 A JP 2061556A JP 6155690 A JP6155690 A JP 6155690A JP H03263348 A JPH03263348 A JP H03263348A
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JP
Japan
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carrier
suction
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sucking
pad
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Masaru Tateishi
立石 勝
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 完成した半導体ICを所定の試験装置に搬送するICの
吸着搬送装置に関し、 該ICを容易且つ確実に吸着しチャックすることで生産
性の向上を図ることを目的とし、キャリアに収容されて
いるICをリード線折り曲げ方向と反対側の面で該キャ
リアと共に吸着し所定位置に搬送するICの吸着搬送装
置であって、前記キャリアをカバーするに足る大きさの
弾性板を吸着パッドとするバキュームピンセットと、該
バキュームピンセットで吸着される吸着面を備えたキャ
リアとで構成し、キャリアの上記吸着面には、バキュー
ムピンセットの上記吸着パッドを該キャリアの吸着面の
所定位置近傍に押圧したときに該吸着パッドで閉空間が
形成されるような肉抜き領域が設けられ、バキュームピ
ンセットの吸着パッドの上記閉空間に対応する位置には
、該閉空間を吸引する貫通孔を設けて構成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明は完成した半導体IC(以下単にICとする)を
試験装置に搬送する搬送装置に係り、特に該ICを容易
且つ確実に吸着しチャックすることで生産性の向上を図
ったICの吸着搬送装置に関する。
例えば完成したICを試験装置等に装着するには、リー
ド線の曲がりや変形を防止するためのキャリアに収容さ
れたICを該キャリアと共にバキュームピンセットで吸
着して搬送するようにしているが、該ICの大きさや形
状によってキャリアが異なるため上記バキュームピンセ
ットの吸着パッドも変えなければならず、また該キャリ
アの構成によっては吸着面積を充分に取ることができな
いため確実な吸着ひいてはチャックが行われず吸着果ス
すなわちチャックミスが発生することがあり、更にIC
表面を直接吸着しなければならない等のことからその解
決が望まれている。
〔従来の技術〕 第2図は従来のIC吸着搬送方法を説明する図であり、
(1)はICとキャリアを示す図、(2)はICがスト
ッカとしてのトレーに収容された状態を示す図、(3)
は試験装置への装着を示す図である。
また第3図は他のIC吸着搬送装置を説明する図である
。
第2図(1)で、所要の被検ICLの各周辺から外部に
突出する複数の各リード線1aは、周面から出た後該I
CIの片面(図では上)側に曲げられ更にその先端部1
bが外側に曲げられて底形されている。
通常かかるICでは各リード線が変形したり隣接リード
線同志が接触したりすることが多い。
そこで通常は、該リード線の変形を防ぐと共に該IC自
体を保護するキャリアに収容した状態で、上記ICを保
管したり工程間の搬送やまた試験装置への装着等を行う
ようにしている。
図の2は上記各リード線1aの変形を防ぎながら上記I
CIを保護する#A脂成型品等からなるキャ=3 リアを示しているが、特に例えば平面視口”の字形の該
キャリア2には、その片面(図では上面)から上記IC
1を上述した図示の状態で挿入したときに該ICIがガ
タなく嵌合できるような該ICIの外形に倣った凹部が
形成されていると共に、該ICIの各リード線1aの先
端部1bが位置決めできる溝2aが各先端部1bと対応
する位置に形成されている。
なお該キャリア2は、成型時の内部歪によって発生する
成型後の反りや変形を避けるため各部分の肉厚を出来る
だけ等しくする必要があり、そのため裏面側に肉抜き領
域2bを図示のように設けるようにしている。
従って上記ICIを3印R1のように該キャリア2に挿
入すると、該ICIの各リード線1aの先端部1bはそ
れぞれに対応する溝2aの中に別々に位置することにな
り、結果的に各リード線の変形や隣接するリード線同志
の接触を抑制することができる。
そこで上記ICIを挿入した状態で図示されな4 いロック機構で該ICIをキャリア2に固定すると、(
1−a)に示す状態とすることができる。
なおこの場合には、該ICIの裏面(図面下側)lcは
その周囲を除いて露出した状態にある。
ストッカとしてのトレーに収容された状態を示す(2)
で、個々に(1)で説明したキャリア2に収容されてい
る複数個のICIは、裏面1cが表面に露出するように
トレー3の各仕切枠内に1個ずつ収容されている。
また中心軸に沿う貫通孔を備えた軸4aと該軸4aの先
端部に装着した導電ゴムからなる先開きロート状の吸着
パッド4bとで構成されるバキュームピンセット4は、
該軸4aの他端側に繋がるバイブ5で図示されない真空
ポンプに接続されている。
なお該バキュームピンセット4は、軸4a部分で該バキ
ュームピンセット4を長手方向に移動可能なように保持
する保持具6で保持されており、該保持具6と上記吸着
パッド4bとの間に挿入したコイルバネ7によって上記
吸着パッド4bと被吸着物間の接触圧力が緩衝されるよ
うになっている。
更に(3)で示す8は試験装置9の入出力端子部を示し
ており、特に該入出力端子部8の複数の各接続端子8a
の端部8bは上記ICIの各リード線1aの上述した折
り曲げ部近傍の対応する位置に配設されており、上記I
CIが挿入固定されているキャリア2を位置決めした状
態で該入出力端子部8に接合させたときにICIの各リ
ード線1aと各接続端子8aとがそれぞれの対応を保っ
て接触するようになっている。
そこで(2)で示すように、上記バキュームピンセット
4の吸着パッド4bをトレー3上のICIの露出面1c
の図示領域Aに矢印aのように降下させて図示されない
真空ポンプを動作させると、該バキュームピンセット4
がICIを吸着する。
なお、該ICIの表面に帯電している静電気は導電ゴム
からなる吸着パッド4bで放電させられるためICIの
特性を損なうことがない。
次いで上記バキュームピンセット4に吸着されたICI
をキャリア2と共に破線Cで示す位置に矢印すのように
搬送し、入出力端子部8の所定位置に該キャリア2をセ
ツティングすることでIC1を試験装W9と接続するこ
とができる。
かかるICIの搬送方法の場合では、バキュームピンセ
ット4による吸着面積を大きくすることができるため確
実な吸着すなわちチャックが行なえるメリットがある。
しかし、ICIの面1cを直接吸着するのでバキューム
ピンセット4の押圧力が直接ICIのリード線1a部分
にかかる欠点がある。
かかる欠点を避ける装置を示した第3図で、第2図同様
の被検ICIは第2図で説明したキャリア2に挿入され
固定された状態でトレー3に収容されている。
また図の12は、第2図で説明したバキュームピンセッ
ト4と同様の構成になる4個のバキュームピンセット1
1が上記バキュームピンセット4と同様に長手方向に移
動可能なように装着されている保持具を表わしており、
また13は該保持具12と上記各バキュームピンセット
11の先端に装着した吸着パッドllaとの間に挿入さ
れているコイルバネ=7− を示している。
特にこの場合の各バキュームピンセット11の配設位置
は、上記キャリア2の上面でICIの周囲に形成されて
いる平坦面2cの四隅に相当する図示B領域に対応する
ようになっている。
なお該各バキュームピンセット11の他端側はパイプ1
4によって図示されない真空ポンプに接続されている。
そこで第2図の場合と同様に保持具12を降下させて上
記各zくキュームピンセット11の吸着パッド11aを
トレー3上のキャリア2の上記領域Bに接触させた状態
で図示されない真空ポンプを動作させると、該各バキュ
ームピンセット11がキャリア2を吸着する。
なお、ICIの表面に帯電している静電気が導電ゴムか
らなる吸着パッドllaで放電させられることは第2図
の場合と同様である。
以下該4個のバキュームピンセット11に吸着されたキ
ャリア2をICIと共に第2図の試験装置に搬送しセツ
ティングすることで、該ICIを試一 験装置と接続できることも第2図の場合と同様である。
特にこの場合にはキャリア2を吸着するため、ICIの
リード線に該バキュームピンセット11の押圧力がかか
ることがない。
しかし、キャリアの構造や形状的に平坦部分が細いとき
や複雑な場合には上記の如き円形の吸着パッドでは必要
とする吸着力を得るに充分な吸着面積を確保することが
困難なためキャリアに合った吸着パッドを準備する必要
があり、またキャリアの吸着領域Bに各バキュームピン
セット11を正確に位置合わせする必要がある。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来のIC吸着搬送装置では、ICの面を直接吸着する
場合には該ICを損なうことがあると言う問題があり、
またキャリア上の平坦部分を吸着する場合にはキャリア
に合った吸着パッドを準備すると共にキャリアの吸着領
域に各バキュームピンセットを合致させなければならな
いと言う問題があった。
〔課題を解決するための手段〕
上記問題点は、キャリアに収容されているICをリード
線折り曲げ方向と反対側の面で該キャリアと共に吸着し
所定位置に搬送するICの吸着搬送装置であって、前記
キャリアをカバーするに足る大きさの弾性板を吸着パッ
ドとするバキュームピンセットと、該バキュームピンセ
ットで吸着される吸着面を備えたキャリアとで構成し、
キャリアの上記吸着面には、バキュームピンセットの上
記吸着パッドを該キャリアの吸着面の所定位置近傍に押
圧したときに該吸着パッドで閉空間が形成されるような
白抜き領域が設けられ、バキュームピンセットの吸着パ
ッドの上記閉空間に対応する位置には、該閉空間を吸引
する貫通孔が設けられているICの吸着搬送装置によっ
て解決される。
〔作 用〕
吸着領域が限定される先開きロート状の吸着パッドを平
板状の吸着パッドに置き換えると、吸着領域の位置的な
制約をなくすことができる。
本発明ではキャリアに形成する白抜き用の溝を吸着領域
として流用できるように該キャリアを構成すると共に、
ICが挿入固定されている該キャリアを吸着する吸着パ
ッドを導電性ゴムからなる平板で構成している。
従って、ICひいてはキャリアの大きさや形状に左右さ
れることなく充分な吸着面積を得ることができるため、
損なうことのないICを確実に搬送することができる。
〔実施例〕
第1図は本発明になるICの吸着搬送装置を説明する図
であり、(A)は該装置の構成例を示す図。
(B)はICの吸着搬送状態を示す図である。
なお図では本発明に係わる主要部について表わしている
。
図(A)で、第2図(1)同様に平面視口°゛の字形を
したキャリア15の表面(図では下面)15a側1 には第2図(1)で説明した複数の溝15bが形威され
ており、該溝15bに対応させて表面15a側から挿入
した被検ICIが図示されないロック機構で固定されて
いることは第2図(1−a)の場合と同様である。
なおこの場合には、該ICIの裏面(図面上側)lcは
その周囲を除いて露出した状態にあることは第2図の場
合と同様である。
また該キャリア15の裏面(図の上面)15Cには、第
2図(1)で説明した有底の白抜き領域15dが周辺に
沿う内側に周回状に設けられているが、特にこの場合の
該キャリア15の裏面15cは該白抜き領域15dを除
く部分全部、すなわち図の場合では該裏面15cの周辺
に沿うドツト領域Cと該白抜き領域15dの内側に沿う
ドツト領域り、が同一面をなす吸着面として形威されて
いる。
従って、少なくとも該キャリア15の裏面(以下吸着面
とする)15cの全域がカバーできる大きさの平坦な板
材を該キャリア15の吸着面15cに接触させると、上
記白抜き領域15dが閉空間を形威す12 ることになる。
一方、少なくとも上記キャリア15の吸着面15cの全
域がカバーできる大きさのフランジ16aを備えた吸着
ヘッド16と該フランジ16aの端面に接着等の手段で
添着されている導電ゴム等の弾性体からなる板状の吸着
パッド17とで構成されるバキュームピンセット18は
、該フランジ16aに対して垂直に繋がる軸16b部分
で該バキュームピンセット18を該軸16bの長手方向
に移動可能なように保持する第2図で説明した保持具6
で保持されており、更に該保持具6と上記軸16bのフ
ランジ16a側に設けた凹の段差部16cとの間に挿入
したコイルバネ7で上記吸着パッド17と被吸着物間の
接触圧力が緩衝されるようになっていることは第2図の
場合と同様である。
この内、上記吸着ヘッド16のフランジ16aの端面に
は周辺に沿う周状領域Eを残して該端面より凹の段差面
16dが形成されており、該段差面16dには上記軸1
6bを軸方向に貫通する貫通孔16eが開口するように
なっている。
なお該吸着ヘッド16は、軸16bの他端側に繋がるパ
イプ5で図示されない真空ポンプに接続されている。
また上記吸着パッド17には、上述したキャリア15の
肉抜き領域15dと対応する位置に少なくとも複数個の
貫通孔17aが形成されている。
そこで、第2図で説明したトレー3内のICIが固定さ
れたキャリア15に位置的に対応させながら、上記バキ
ュームピンセット18を3印R2のように降下して該吸
着パッド■7をキャリア15の吸着面15cに接触させ
ると、(B)に示す状態となる。
この際、キャリア15の肉抜き領域15dと上記吸着ヘ
ッド16の貫通孔16eとは吸着バンド17の貫通孔1
7aを介して連絡している。
従って、この状態で図示されない真空ポンプを動作させ
ることによってICIひいてはキャリア15を該バキュ
ームピンセット18で吸着することができる。
そこで該バキュームピンセット18を第2図で説明した
ように搬送することで該ICIを所定の試験装置に装着
することができる。
なお、ICIの表面に帯電している静電気は導電ゴムか
らなる吸着パッドエフで放電させられることは第2図の
場合と同様である。
かかる構成になるICの吸着搬送装置の場合には、直接
ICIを吸着しないので該ICIを損なうことがなく、
更に吸着パッド17に設ける複数の貫通孔17aをキャ
リア15の肉抜き領+Ax5dに対応させて形成するこ
とで如何なる大きさや構造のキャリアにも適用できる利
点があると共に、該肉抜き領域15d全体が吸着面積と
なるため該バキュームピンセット18とキャリアI5を
厳密に位置合わせすることなくICIと該キャリア15
とを同時に吸着し搬送するに足る吸着面積を容易に得る
ことができる。
(発明の効果) 上述の如く本発明により、ICを容易且つ確実に吸着し
チャックすることで生産性の向上を図ったICの吸着搬
送装置を提供することができる。
5 なお本発明の説明ではキャリアに設けている肉抜き領域
が連続した周状に形成されている場合について行ってい
るが、該肉抜き領域が非連続に分散して配置されている
場合でも同等の効果が得られることを実験的に確認して
いる。
6 16aはフランジ、  16bは軸、 16cは段差部、   16dは段差面、16eは貫通
孔、   17は吸着パッド、17aは貫通孔、18は
バキュームピンセット、をそれぞれ表わす。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明になるICの吸着搬送装置を説明する図
、 第2図は従来のrc吸着搬送方法を説明する図、第3図
は他のIC吸着搬送装置を説明する図、である。 図において、 1は半導体IC,laはリード線、 lcは裏面、      3はトレー 5はパイプ、     6は保持具、 7はコイルバネ、  15はキャリア、15aは表面、
    15bは溝、 15cは吸着面(裏面)、 15dは肉抜き領域、 16は吸着ヘッド、4I:L −32【

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  キャリアに収容されているICをリード線折り曲げ方
    向と反対側の面で該キャリアと共に吸着し所定位置に搬
    送するICの吸着搬送装置であって、前記キャリアをカ
    バーするに足る大きさの弾性板を吸着パッド(17)と
    するバキュームピンセット(18)と、該バキュームピ
    ンセット(18)で吸着される吸着面(15c)を備え
    たキャリア(15)とで構成し、キャリア(15)の上
    記吸着面(15c)には、バキュームピンセット(18
    )の上記吸着パッド(17)を該キャリア(15)の吸
    着面(15c)の所定位置近傍に押圧したときに該吸着
    パッド(17)で閉空間が形成されるような肉抜き領域
    (15d)が設けられ、バキュームピンセット(18)
    の吸着パッド(17)の上記閉空間に対応する位置には
    、該閉空間を吸引する貫通孔(17a)が設けられてい
    ることを特徴としたICの吸着搬送装置。
JP2061556A 1990-03-13 1990-03-13 Icキャリアおよび吸着搬送装置 Expired - Lifetime JP2748644B2 (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05209931A (ja) * 1992-01-13 1993-08-20 Nec Corp 半導体素子測定装置
CN102183716A (zh) * 2009-12-18 2011-09-14 株式会社爱德万测试 载体装配装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05209931A (ja) * 1992-01-13 1993-08-20 Nec Corp 半導体素子測定装置
CN102183716A (zh) * 2009-12-18 2011-09-14 株式会社爱德万测试 载体装配装置

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