JPH0328725B2 - - Google Patents
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- JPH0328725B2 JPH0328725B2 JP2335883A JP2335883A JPH0328725B2 JP H0328725 B2 JPH0328725 B2 JP H0328725B2 JP 2335883 A JP2335883 A JP 2335883A JP 2335883 A JP2335883 A JP 2335883A JP H0328725 B2 JPH0328725 B2 JP H0328725B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/265—Structure or manufacture of a head with more than one gap for erasing, recording or reproducing on the same track
- G11B5/2651—Manufacture
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Magnetic Heads (AREA)
Description
この発明は、磁気記録媒体との摺動特性及び耐
摩耗性のすぐれた構造部品用非磁性材料を有する
磁気ヘツドに関する。 一般に磁気ヘツドは、磁性材料からなるコア部
と、非磁性材料からなる構造部品とを、ガラス溶
着あるいは樹脂接着して組立られており、磁性材
料として、例えばMn−Znフエライト、Ni−Zn
フエライトが使用され、また、非磁性構造部品用
材料にはTiO2−CaO系磁器及びTiO2−BaO系磁
器が使用され、上記のフエライトは主に多結晶体
が使用される。 コア部が多結晶フエライトの場合、今日の記録
密度の向上及び磁気ヘツドの小形化にともないフ
エライトの高密度化の技術が進んでおり、熱間静
水圧プレス処理により気孔率0.1％以下のものが
すでに製品化されている。 しかし、構造部品用材料であるTiO2−CaO系
及びTiO2−BaO系磁器等の非磁性材料は、一般
に気孔率が非常に高い材料が使用されているた
め、次のような問題が生じている。 組立られた磁気ヘツドの研摩加工の際、緻密化
の不十分な気孔率の高い非磁性材料では表面欠陥
及びＲ面のエツジ部に凹凸が発生しやすいため、
例えば、フロツピーデイスク用の磁気ヘツド如
く、回転するデイスク上でその径方向にヘツドを
移動させ、順次信号を記録再生し作動させる場
合、記録媒体が非磁性材料に存在する気孔や表面
欠陥によつて削られて気孔や凹部に捕捉されて埋
まり、このため記録媒体が損傷したり、あるいは
記録媒体によつて非磁性材料の表面欠陥や凹凸が
削り取られ、ヘツドの走行時に線状疵が入り、こ
れによつて記録媒体側に疵を発生させる原因にも
なつていた。 すなわち、磁気ヘツドの構造部品用非磁性材料
に、気孔率の高い材料を使用すると、記録媒体の
みならず、それ自身も損傷することにより、記録
再生及び消去の効率が著しく低下し、SN比は悪
化するため、磁気ヘツドの不良率を高めたり、寿
命を著しく縮める問題があつた。 この発明は、上述の現状に鑑み、記録媒体に対
するすぐれた摺動特性及び高い耐摩耗性を有し、
かつ製品歩留の良好な磁気ヘツドを目的としてい
る。 すなわちこの発明は、熱間静水圧プレス処理を
施した気孔率0.1％以下の表面欠陥のないフエラ
イトからなるコア部と、気孔率0.1％以下で表面
欠陥の大きさが3μｍ以下のTiO2−CaO系及び
TiO2−BaO系磁器の非磁性材料からなる非磁性
構造部とで構成されたことを特徴とする磁気ヘツ
ドである。 この発明において、表面欠陥とは、材料の研摩
加工の際に発生する表面の凹み及び内部に存在す
る気孔である。 磁気ヘツドのコア材料には、Mn−Znフエライ
ト、Ni−Znフエライトが適当であり、構造部品
用非磁性材料には、TiO2−CaO系及びTiO2−
BaO系磁器が適している。 以下に、この発明を具体的に磁気ヘツド組立体
の構成に基づいて説明する。第１図は磁気ヘツド
の前面図であり、第２図は磁気ヘツド組立体の分
解斜視図である。 フロツピーデイスク用磁気ヘツド１は、中央の
記録再生部組立層１０と、その両側の消去部組立
層２０，３０と、各々の外側に配置される棒状の
TiO2−CaO系及びTiO2−BaO系磁器の非磁性補
強材４０，４１とから構成される。記録再生部組
立層１０は、Ｌ型コア１１とＩ型コア１２とをガ
ラス溶着して変換ギヤツプを形成した変換ヘツド
コア組立体に、これと同幅のTiO2−CaO系磁器
の非磁性材料からなるＬ型補強材１３をギヤツプ
に平行する端面すなわちＩ型コア１２の側端面に
固着して１枚の板に構成してある。 記録再生部組立層１０の両側面に樹脂またはガ
ラスで接着する２層の消去部組立層２０，３０
は、Ｌ型コア２１，３１とＩ型コア２２，３２と
をガラス溶着して消去ギヤツプを形成した消去ヘ
ツドコア組立体に、これと同幅のTiO2−BaO系
磁器の非磁性材料からなるＬ型補強材２３，３３
をギヤツプに平行する端面すなわちＩ型コア２
２，３２の側端面に固着して１枚の板に構成して
ある。 この消去部組立層２０，３０の消去ギヤツプの
トラツク幅は、組立層を積層した際の外側より記
録再生部組立層１０方向へ設けたＬ型コア２１，
３１の切欠部２４，３４により規制して所定幅に
形成される。 また、記録再生部組立層１０の両側面に２層の
消去部組立層２０，３０を各々樹脂またはガラス
で接着して積層組立するが、各組立層の磁気ギヤ
ツプは、消去部組立層２０，３０の消去ギヤツプ
がＬ型補強材１３に、記録再生部組立層１０の変
換ギヤツプがＬ型補強材２３，３３に隣接するよ
うに配列組立される。 このように各組立層を所定位置及び所定寸法関
係を保持し、樹脂またはガラス接着して積層組立
したのち、さらに棒状のTiO2−CaO系及びTiO2
−BaO系磁器の非磁性補強材４０，４１を接着
してこの組立体の底面を実質的に同一平面にし、
この磁気記録媒体の摺動面を例えばＲ研摩して磁
気ヘツド組立体に作製する。 以上の構成からなる磁気ヘツドにおいて、各コ
アを熱間静水圧プレス処理を施した気孔率0.1％
以下の表面欠陥のないMn−Znフエライト、Ni−
Znフエライトより作製し、各補強材を気孔率0.1
％以下で表面欠陥の大きさが3μｍ以下のTiO2−
CaO系及びTiO2−BaO系磁器より作製すること
によつて、磁気記録媒体との摺動特性及び耐摩耗
性に著しくすぐれ、かつ製品不良率の低い磁気ヘ
ツドが得られる。 以下に、この発明の実施例を示し、その効果を
明らかにする。 ここでは、上述したフロツピーデイスク用磁気
ヘツドにおいて、記録再生ヘツドコアにMn−Zn
フエライト、同補強材にTiO2−CaO系磁器、消
去ヘツドコアにNi−Znフエライト、同補強材に
TiO2−BaO系磁器を使用した例を説明する。 コア用のソフトフエライトは各々第１表に示す
特性を有し、ともに同一の熱間静水圧プレス処理
を施してあり、気孔率が0.05％である。 また、非磁性補強材のTiO2−CaO系磁器は、
TiO2 64.3wt％、CaO 25.5wt％、MgO 7.0wt％、
ZrO2 3.2wt％とした組成物で、TiO2−BaO系磁
器は、TiO2 82.7wt％、BaO 12.7wt％、ZrO2
3.1wt％、SiO2 1.5wt％とした組成物で、両者と
も、その気孔率を0.05％、0.1％、0.2％、0.5％、
１％と変化させたものを使用した。 以上の組み合せで、ガラス溶着により作製した
磁気ヘツドについて、表面のＲ研摩を表面欠陥が
種々異なるよう研摩し、気孔率及び表面欠陥と、
磁気ヘツドの走行時に非磁性補強材に発生する線
状疵の発生頻度との関係を調べた。結果は第２表
に示す。なお、表中の疵発生本数は、上記の磁気
ヘツドを500時間摺動走行たせのち、コア部非磁
性補強材表面に残された線状で幅2μｍ以上の疵
の本数を表わしたもので、表面欠陥は表面段差測
定器及び顕微鏡写真にて測定した結果である。 第２表から明らかなように、磁気ヘツドコアの
フエライトの差異に関係なく、非磁性補強材の気
孔率が0.1％を越える場合は研摩による表面欠陥
も大きくなり、非磁性補強材の疵発生本数も著し
く増加する。これに対して、非磁性補強材の気孔
率が0.1％以下で、かつ研摩による表面欠陥が3μ
ｍ以下の場合、疵発生が全くなく、摺動特性及び
耐摩耗性にすぐれていることが分る。
摩耗性のすぐれた構造部品用非磁性材料を有する
磁気ヘツドに関する。 一般に磁気ヘツドは、磁性材料からなるコア部
と、非磁性材料からなる構造部品とを、ガラス溶
着あるいは樹脂接着して組立られており、磁性材
料として、例えばMn−Znフエライト、Ni−Zn
フエライトが使用され、また、非磁性構造部品用
材料にはTiO2−CaO系磁器及びTiO2−BaO系磁
器が使用され、上記のフエライトは主に多結晶体
が使用される。 コア部が多結晶フエライトの場合、今日の記録
密度の向上及び磁気ヘツドの小形化にともないフ
エライトの高密度化の技術が進んでおり、熱間静
水圧プレス処理により気孔率0.1％以下のものが
すでに製品化されている。 しかし、構造部品用材料であるTiO2−CaO系
及びTiO2−BaO系磁器等の非磁性材料は、一般
に気孔率が非常に高い材料が使用されているた
め、次のような問題が生じている。 組立られた磁気ヘツドの研摩加工の際、緻密化
の不十分な気孔率の高い非磁性材料では表面欠陥
及びＲ面のエツジ部に凹凸が発生しやすいため、
例えば、フロツピーデイスク用の磁気ヘツド如
く、回転するデイスク上でその径方向にヘツドを
移動させ、順次信号を記録再生し作動させる場
合、記録媒体が非磁性材料に存在する気孔や表面
欠陥によつて削られて気孔や凹部に捕捉されて埋
まり、このため記録媒体が損傷したり、あるいは
記録媒体によつて非磁性材料の表面欠陥や凹凸が
削り取られ、ヘツドの走行時に線状疵が入り、こ
れによつて記録媒体側に疵を発生させる原因にも
なつていた。 すなわち、磁気ヘツドの構造部品用非磁性材料
に、気孔率の高い材料を使用すると、記録媒体の
みならず、それ自身も損傷することにより、記録
再生及び消去の効率が著しく低下し、SN比は悪
化するため、磁気ヘツドの不良率を高めたり、寿
命を著しく縮める問題があつた。 この発明は、上述の現状に鑑み、記録媒体に対
するすぐれた摺動特性及び高い耐摩耗性を有し、
かつ製品歩留の良好な磁気ヘツドを目的としてい
る。 すなわちこの発明は、熱間静水圧プレス処理を
施した気孔率0.1％以下の表面欠陥のないフエラ
イトからなるコア部と、気孔率0.1％以下で表面
欠陥の大きさが3μｍ以下のTiO2−CaO系及び
TiO2−BaO系磁器の非磁性材料からなる非磁性
構造部とで構成されたことを特徴とする磁気ヘツ
ドである。 この発明において、表面欠陥とは、材料の研摩
加工の際に発生する表面の凹み及び内部に存在す
る気孔である。 磁気ヘツドのコア材料には、Mn−Znフエライ
ト、Ni−Znフエライトが適当であり、構造部品
用非磁性材料には、TiO2−CaO系及びTiO2−
BaO系磁器が適している。 以下に、この発明を具体的に磁気ヘツド組立体
の構成に基づいて説明する。第１図は磁気ヘツド
の前面図であり、第２図は磁気ヘツド組立体の分
解斜視図である。 フロツピーデイスク用磁気ヘツド１は、中央の
記録再生部組立層１０と、その両側の消去部組立
層２０，３０と、各々の外側に配置される棒状の
TiO2−CaO系及びTiO2−BaO系磁器の非磁性補
強材４０，４１とから構成される。記録再生部組
立層１０は、Ｌ型コア１１とＩ型コア１２とをガ
ラス溶着して変換ギヤツプを形成した変換ヘツド
コア組立体に、これと同幅のTiO2−CaO系磁器
の非磁性材料からなるＬ型補強材１３をギヤツプ
に平行する端面すなわちＩ型コア１２の側端面に
固着して１枚の板に構成してある。 記録再生部組立層１０の両側面に樹脂またはガ
ラスで接着する２層の消去部組立層２０，３０
は、Ｌ型コア２１，３１とＩ型コア２２，３２と
をガラス溶着して消去ギヤツプを形成した消去ヘ
ツドコア組立体に、これと同幅のTiO2−BaO系
磁器の非磁性材料からなるＬ型補強材２３，３３
をギヤツプに平行する端面すなわちＩ型コア２
２，３２の側端面に固着して１枚の板に構成して
ある。 この消去部組立層２０，３０の消去ギヤツプの
トラツク幅は、組立層を積層した際の外側より記
録再生部組立層１０方向へ設けたＬ型コア２１，
３１の切欠部２４，３４により規制して所定幅に
形成される。 また、記録再生部組立層１０の両側面に２層の
消去部組立層２０，３０を各々樹脂またはガラス
で接着して積層組立するが、各組立層の磁気ギヤ
ツプは、消去部組立層２０，３０の消去ギヤツプ
がＬ型補強材１３に、記録再生部組立層１０の変
換ギヤツプがＬ型補強材２３，３３に隣接するよ
うに配列組立される。 このように各組立層を所定位置及び所定寸法関
係を保持し、樹脂またはガラス接着して積層組立
したのち、さらに棒状のTiO2−CaO系及びTiO2
−BaO系磁器の非磁性補強材４０，４１を接着
してこの組立体の底面を実質的に同一平面にし、
この磁気記録媒体の摺動面を例えばＲ研摩して磁
気ヘツド組立体に作製する。 以上の構成からなる磁気ヘツドにおいて、各コ
アを熱間静水圧プレス処理を施した気孔率0.1％
以下の表面欠陥のないMn−Znフエライト、Ni−
Znフエライトより作製し、各補強材を気孔率0.1
％以下で表面欠陥の大きさが3μｍ以下のTiO2−
CaO系及びTiO2−BaO系磁器より作製すること
によつて、磁気記録媒体との摺動特性及び耐摩耗
性に著しくすぐれ、かつ製品不良率の低い磁気ヘ
ツドが得られる。 以下に、この発明の実施例を示し、その効果を
明らかにする。 ここでは、上述したフロツピーデイスク用磁気
ヘツドにおいて、記録再生ヘツドコアにMn−Zn
フエライト、同補強材にTiO2−CaO系磁器、消
去ヘツドコアにNi−Znフエライト、同補強材に
TiO2−BaO系磁器を使用した例を説明する。 コア用のソフトフエライトは各々第１表に示す
特性を有し、ともに同一の熱間静水圧プレス処理
を施してあり、気孔率が0.05％である。 また、非磁性補強材のTiO2−CaO系磁器は、
TiO2 64.3wt％、CaO 25.5wt％、MgO 7.0wt％、
ZrO2 3.2wt％とした組成物で、TiO2−BaO系磁
器は、TiO2 82.7wt％、BaO 12.7wt％、ZrO2
3.1wt％、SiO2 1.5wt％とした組成物で、両者と
も、その気孔率を0.05％、0.1％、0.2％、0.5％、
１％と変化させたものを使用した。 以上の組み合せで、ガラス溶着により作製した
磁気ヘツドについて、表面のＲ研摩を表面欠陥が
種々異なるよう研摩し、気孔率及び表面欠陥と、
磁気ヘツドの走行時に非磁性補強材に発生する線
状疵の発生頻度との関係を調べた。結果は第２表
に示す。なお、表中の疵発生本数は、上記の磁気
ヘツドを500時間摺動走行たせのち、コア部非磁
性補強材表面に残された線状で幅2μｍ以上の疵
の本数を表わしたもので、表面欠陥は表面段差測
定器及び顕微鏡写真にて測定した結果である。 第２表から明らかなように、磁気ヘツドコアの
フエライトの差異に関係なく、非磁性補強材の気
孔率が0.1％を越える場合は研摩による表面欠陥
も大きくなり、非磁性補強材の疵発生本数も著し
く増加する。これに対して、非磁性補強材の気孔
率が0.1％以下で、かつ研摩による表面欠陥が3μ
ｍ以下の場合、疵発生が全くなく、摺動特性及び
耐摩耗性にすぐれていることが分る。
【表】
第１図は磁気ヘツドの前面図であり、第２図は
磁気ヘツド組立体の分解斜視図である。 １…磁気ヘツド、１０…記録再生部組立層、２
０，３０…消去部組立層、１１，２１，３１…Ｌ
型コア、１２，２２，３２…Ｉ型コア、１３，２
３，３３…Ｌ型補強材、２４，３４…切欠部、４
０，４１…非磁性補強材。
磁気ヘツド組立体の分解斜視図である。 １…磁気ヘツド、１０…記録再生部組立層、２
０，３０…消去部組立層、１１，２１，３１…Ｌ
型コア、１２，２２，３２…Ｉ型コア、１３，２
３，３３…Ｌ型補強材、２４，３４…切欠部、４
０，４１…非磁性補強材。
Claims (1)
- １ 熱間静水圧プレス処理を施した気孔率0.1％
以下の表面欠陥のないフエライトからなるコア部
と、気孔率0.1％以下で表面欠陥の大きさが3μｍ
以下のTiO2−CaO系及びTiO2−BaO系磁器の非
磁性材料からなる非磁性構造部とで構成されたこ
とを特徴とする磁気ヘツド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2335883A JPS59148112A (ja) | 1983-02-15 | 1983-02-15 | 磁気ヘツド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2335883A JPS59148112A (ja) | 1983-02-15 | 1983-02-15 | 磁気ヘツド |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59148112A JPS59148112A (ja) | 1984-08-24 |
| JPH0328725B2 true JPH0328725B2 (ja) | 1991-04-22 |
Family
ID=12108345
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2335883A Granted JPS59148112A (ja) | 1983-02-15 | 1983-02-15 | 磁気ヘツド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59148112A (ja) |
-
1983
- 1983-02-15 JP JP2335883A patent/JPS59148112A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59148112A (ja) | 1984-08-24 |
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