JPH033186B2 - - Google Patents

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JPH033186B2
JPH033186B2 JP56164705A JP16470581A JPH033186B2 JP H033186 B2 JPH033186 B2 JP H033186B2 JP 56164705 A JP56164705 A JP 56164705A JP 16470581 A JP16470581 A JP 16470581A JP H033186 B2 JPH033186 B2 JP H033186B2
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JP
Japan
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transistor
circuit
capacitor
output
diode
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JP56164705A
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JPS5866064A (ja
Inventor
Atsushi Ogawa
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Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority to JP56164705A priority Critical patent/JPS5866064A/ja
Priority to GB08228968A priority patent/GB2108791B/en
Priority to US06/434,485 priority patent/US4574202A/en
Priority to DE3238302A priority patent/DE3238302C2/de
Publication of JPS5866064A publication Critical patent/JPS5866064A/ja
Publication of JPH033186B2 publication Critical patent/JPH033186B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03GCONTROL OF AMPLIFICATION
    • H03G3/00Gain control in amplifiers or frequency changers
    • H03G3/20Automatic control
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/04Measuring peak values or amplitude or envelope of AC or of pulses
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/12Measuring rate of change
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • G01R19/16566Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533
    • G01R19/16585Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533 for individual pulses, ripple or noise and other applications where timing or duration is of importance

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  • Physics & Mathematics (AREA)
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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Rectifiers (AREA)
  • Networks Using Active Elements (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、例えばテープレコーダにおけるノ
イズリダクシヨンシステムやALC(自動レベル制
御)回路等に適用されるレベル検出回路の改良に
関する。
周知のように、例えばテープレコーダのノイズ
リダクシヨンシステム等においては、第1図に示
すようなレベル検出回路が用いられている。すな
わち、信号源11からの出力信号は、コンデンサ
12、増幅器13、コンデンサ14及び例えばゲ
ルマニウム等でなるダイオード15を介して検波
された後、コンデンサ16に供給され、抵抗17
を介してコンデンサ18に供給される。そして、
このコンデンサ18の端子電圧が出力信号とし
て、出力端子19を介して図示しない後段回路に
供給される。このときの時定数は、抵抗17の抵
抗値R1とコンデンサ18の容量C1とによつて、
略決定されることになる。ここで、上記信号源1
1からの出力信号レベルが急激に大きくなると、
例えばシリコン等でなるダイオード20がオン
し、上記出力信号は、ダイオード15を介した
後、ダイオード20を介してコンデンサ18に供
給されるようになる。このときの時定数は、ダイ
オード20のオン時の抵抗値と、コンデンサ18
の容量C1とによつて略決定され、先に抵抗17
とコンデンサ18とで決定された時定数よりも小
さくして、立ち上がり時間を短くするようにして
いる。
しかしながら、上記のような従来のレベル検出
回路では、集積回路(以下ICという)化する場
合、外付回路部品として2つのコンデンサ16,
18等が必要で部品点数が多くなり製作が困難に
なるとともに、ICパツケージのピン数も多く経
済的に不利になるという問題が生じる。
この発明は上記事情を考慮してなされたもの
で、外付回路部品を少なくして時定数を2段階に
切り換えることができ、IC化に好適する極めて
良好なレベル検出回路を提供することを目的とす
る。
以下、この発明の一実施例について図面を参照
して詳細に説明する。第2図において、21は信
号源で、その一端は接地され、多端は演算増幅回
路221のプラス出力端(+)に接続されてい
る。この演算増幅回路221の出力端は、抵抗2
31及び図示極性にダイオード241を直列に介
した後、出力端子25に接続されるとともに、該
演算増幅回路221のマイナス入力端(−)に接
続されている。そして、上記演算増幅回路22
1、抵抗231及びダイオード241よりなる回
路が半波整流特性を有し信号源21からの出力信
号のピーク検波を行なう検波回路261を構成す
るものである。
ここで、上記信号源21と出力端子25との間
には、上記検波回路261と同様な構成となされ
た複数の検波回路262,…,26n−1,26
nが並列に接続されている。なお、各検波回路2
61,262,…,26n−1の、演算増幅回路
221,222,…,22n−1とダイオード2
41,242,…,24n−1との間に接続され
る抵抗231,232,…,23n−1は、必要
に応じて種々の値に設定されるもので、検波回路
26nでは、ダイオード24n−1との間の抵抗
値はゼロに設定した例をしている。また、上記検
波回路261,262,…,26nの各演算増幅
回路221,222,…,22nのプラス入力端
(+)間には、それぞれ図示極性に定電圧源27
1,272,…,27n−1が介在されている。
そして、上記出力端子25は、コンデンサ28を
介して接地されている。
ここにおいて、上記各演算増幅回路221,2
22,…,22nは、それぞれの出力電流I1、
I2、…、Inが I1<I2<…<In となるように設定されている。また、演算増幅回
路221を除く他の演算増幅回路222,…,2
2nは、定電圧源271,272,…,27−1
によつて、それぞれオフセツトを与えられてい
る。
上記のような構成によるレベル検出回路におい
て、以下その動作を説明する。まず、信号源21
から出力される交流信号が、定電圧源271,2
72,…27n−1からの定電圧に重疂されて、
検波回路261に供給されている。そして、信号
源21の出力電圧振幅が小さく、そのプラス方向
のピークレベルと出力端子25の電圧レベルとの
差が、定電圧源271の電圧レベルよりも小さい
場合には、検波回路261のみが動作状態とな
る。
なぜならば、このような条件の下では、演算増
幅回路222のプラス入力端(+)の電圧レベル
は、演算増幅回路221のプラス入力端(+)の
電圧レベルよりも、常に定電圧源271の電圧レ
ベル分だけ低いので、演算増幅回路222のプラ
ス入力端(+)の電圧レベルが、そのマイナス入
力端(−)の電圧レベルよりも高くなることはな
い。このとき、演算増幅回路222の出力は、マ
イナス側に振り切れており、ダイオード242が
逆バイアスとなつて、検波回路262は非動作状
態となるからである。なお、他の検波回路26
3,…,26nについても、同様の理由で非動作
状態になることはもちろんである。
このため、動作状態にある検波回路261の演
算増幅回路221は、信号源21の信号レベルと
出力端子25の出力信号レベルとを比較し、その
差が予め定められた設定値以下のとき、出力電流
I1を発生する。この場合、信号源21の信号のプ
ラス側ピークで、入力端子25の出力信号レベル
よりも信号源21の信号レベルが高いとき、演算
増幅回路221はプラス側に最高出力電圧を発生
し、ダイオード241が導通してコンデンサ28
を充電し、出力端子25の出力信号レベルつまり
演算増幅回路221のマイナス入力端(−)の電
圧レベルを、プラス入力端(+)の電圧レベルに
近付けるように動作する。そして、コンデンサ2
8の端子電圧が、出力信号として出力端子25を
介して図示しない後段回路に供給されるものであ
る。
このとき、ダイオード241を流れる電流I1
は、演算増幅回路221の最大出力電圧をVmと
し、出力端子25の出力信号レベルをVoとし、
ダイオード241の順方向電圧降下を0.7Vとし、
抵抗231の抵抗値をR231とすると、 I1=(Vm−Vo−0.7)/R231 となり、コンデンサ28はこの電流I1で充電され
端子電圧が上昇することになる。このため、も
し、R231が大きいときは、I1は小さくなりコン
デンサ28の充電に時間がかかることになる。し
たがつて、コンデンサ28の充電時定数は、電流
I1に基づいて決定されると表現することができる
ので、出力端子25の出力信号レベルは、電流I1
に基づくコンデンサ28の充電時定数で立ち上が
ることになる。
次に、信号源21の信号振幅が急激に大きくな
つた場合について考える。すなわち、信号源21
の信号レベルと出力端子25の出力信号レベルと
の差が設定値を越え、信号源21の信号のプラス
側ピークレベルが、出力端子25の出力レベルと
定電圧源271の出力レベルとを加えたレベルよ
りも高くなつたとき、演算増幅回路222のプラ
ス入力端(+)の電圧レベルがマイナス入力端
(−)の電圧レベルよりも高くなるため、演算増
幅回路222からプラス側に最高出力電圧が発生
され、ダイオード242が導通してコンデンサ2
8が充電される。なお、このとき、演算増幅回路
221の出力も、プラス側に最高出力電圧が発生
している。
このとき、ダイオード242を流れる電流I2
は、演算増幅回路222の最大出力電圧をVmと
し、出力端子25の出力信号レベルをVoとし、
ダイオード242の順方向電圧降下を0.7Vとし、
抵抗232の抵抗値をR232とすると、 I2=(Vm−Vo−0.7)/R232 となり、この電流I2と演算増幅回路221からプ
ラス側に最高出力電圧が発生されることによりダ
イオード241を流れる電流I1とを加えた電流I1
+I2によつて、ダイオード28が充電される。こ
のため、コンデンサ28の充電時定数は、電流I1
+I2に基づいて決定され、出力端子25の出力信
号レベルは、電流I1+I2に基づくコンデンサ28
の充電時定数で立ち上がることになる。このとき
の充電時定数は、当然のことながら、先に述べた
電流I1のみのときよりも短くなつている。
すなわち、第9図aに示すように、信号源21
の出力信号が急激に増大した場合、同図bに示す
ように、検波回路261のみが動作状態のときは
時定数が長く出力信号レベルの立ち上がりが遅い
が、検波回路262も動作状態になると、時定数
が短くなり出力信号レベルの立ち上がりが急俊に
なることがわかる。なお、検波回路261のみの
場合は、出力信号は第9図cに示すような立ち上
がりとなる。このため、信号源21の信号レベル
の大きさに応じて時定数を切り換えることがで
き、出力端子25の出力信号の立ち上がりを、信
号源21の信号レベルに追従させるさせることが
できる。
以下、同様に、信号源21の信号レベルが高く
なると、検波回路263,…,26nが順次動作
状態となり、動作状態となつている各検波回路の
出力電流の総和でコンデンサ28が充電されるよ
うになる。このため、信号源21の信号レベルの
大きくなると、コンデンサ28の充電電流が順次
増加していくので、信号源21の信号レベルの大
きさに応じて、出力信号の立ち上がり時定数を変
化させることができる。
したがつて、上記実施例のような構成にすれ
ば、1個のコンデンサ28によつて時定数を変化
させるようにしたので、IC化した場合、外付回
路部品となるコンデンサ28が1個で済み、部品
点数が少く、製作を容易にすることができるとと
もに、ICパツケージのピン数もその分だけ少く
て済み経済的に有利となるものである。
第3図は、この発明の他の実施例を示すもので
ある。すなわち、信号源29の一端は接地され、
多端はコンデンサ30を介してPNP形のトラン
ジスタ31,32のベースに接続されている。こ
のトランジスタ31のベースとコンデンサ30と
の接続点は、抵抗33を介してバイアス電圧の印
加されるバイアス電源端子34に接続されてい
る。そして、上記トランジスタ31のコレクタは
接地され、エミツタは定電流回路35を介して直
流電圧+Vc.c.の印加される電源端子36に接続さ
れるとともに、図示極性にダイオード37を介し
て他のPNP形のトランジスタ38のエミツタに
接続されている。また、上記トランジスタ32の
エミツタは、他のPNP形のトランジスタ39の
エミツタに接続され、その接続点は定電流回路4
0を介して上記電源端子36に接続されている。
さらに、上記トランジスタ32のコレクタは、
NPN形のトランジスタ41のベースに接続され
るとともに、図示極性にダイオード42を介して
接地されている。また、上記トランジスタ39の
コレクタは接地され、ベースは上記トランジスタ
38のベースに共通接続されている。そして、上
記トランジスタ38のコレクタは、NPN形のト
ランジスタ43のベースに接続されるとともに、
図示極性にダイオード44を介して接地されてい
る。
ここで、上記トランジスタ41のエミツタは接
地され、コレクタは定電流回路45を介して上記
電源端子36に接続されている。また、上記トラ
ンジスタ43のエミツタは接地され、コレクタは
PNP形のトランジスタ46のベースに接続され
るとともに、図示極性にダイオード47及び抵抗
48を直列に介して上記電源端子36に接続され
ている。そして、上記トランジスタ46のエミツ
タは電源端子36に接続され、コレクタは上記ト
ランジスタ41のコレクタと定電流回路45との
接続点に接続された後、図示極性にダイオード4
9を介して出力端子50に接続されている。この
ダイオード49と出力端子50との接続点は、抵
抗51及びコンデンサ52を並列に介して接地さ
れるとともに、上記トランジスタ38,39のベ
ース共通接続点に接続されている。
第3図のような構成において、その動作を説明
する。まず、通常状態すなわち信号源29の出力
信号レベルが小さい場合には、ダイオード37が
オフしている。なぜならば、トランジスタ31,
38及びダイオード37は、差動回路を構成して
おり、ダイオード37が導通するためには、トラ
ンジスタ31のベース電圧がトランジスタ38の
ベース電圧よりも0.7V以上高くなることが必要
である。つまり、出力端子50の電圧よりも、
0.7V以上高い電圧がトランジスタ31のベース
に加わつたときのみしか、ダイオード37は導通
しないからである。
このため、トランジスタ38はカツトオフ状態
となつており、このときには、トランジスタ3
2,39,41、ダイオード42及び定電流回路
45よりなる増幅回路と、ダイオード49との作
用により、ピーク検波が行なわれる。すなわち、
定電流回路45の出力電流値が、定電流回路40
の出力電流値の1/2に設定してあるとする。する
と、出力端子50の電圧よりもトランジスタ32
のベース電圧の方が低い場合、つまり、入力信号
の下側半サイクル)では、トランジスタ41を流
れる電流が定電流回路45の出力電流よりも大き
くなり、トランジスタ41のコレクタ電圧は略接
地電位となつて、ダイオード49が逆バイアスと
なる。
この状態で、トランジスタ32のベース電圧
が、出力端子50の電圧よりも高くなると、トラ
ンジスタ41を流れる電流は定電流回路45の出
力電流よりも小さくなり、トランジスタ41のコ
レクタ電圧が高くなつてダイオード49が導通
し、定電流回路45の出力電流からトランジスタ
41のコレクタ電流を差し引いた差分の電流が、
ダイオード49を介してコンデンサ52を充電す
る。このようにコンデンサ52が充電されて、出
力端子50の電圧レベルが信号源29の信号振幅
に略等しくなると、コンデンサ52の充電電流が
流れなくなる。このため、出力端子50の電圧
は、信号源29の信号のプラス側ピークレベル略
等しくなり、このことは取りも直さず信号源29
の信号をピーク検波したことになる。このときの
出力信号の時定数は、定電流回路45の出力電流
からトランジスタ41のコレクタ電流を差し引い
た差分の電流でコンデンサ52が充電されること
から、定電流回路45の出力電流とコンデンサ5
2の容量とによつて決定され、例えば定電流回路
45の出力電流を小さくしておけば、充電電流が
減るため時定数を長くすることができる。
ここで、上記信号源29の出力信号レベルが大
きくなり、ダイオード37の両端の電位値が該ダ
イオード37をオンさせるに足る値以上になる
と、トランジスタ38がオンし、これに伴つてト
ランジスタ46もオンする。このため、定電流回
路45の出力電流からトランジスタ41のコレク
タ電流を差し引いた差分の電流に、トランジスタ
46のコレクタ電流を加えた電流で、コンデンサ
52が充電されることになり、出力信号の立ち上
がり時定数を短くすることができる。
ここにおいて、第3図では、主なトランジスタ
にPNP形のものを用いた一例を示したが、これ
は第4図に示すようにNPN形のトランジスタを
用いても同様に構成することができる。そして、
第4図の動作も上記第3図と略同様にして説明す
ることができるものである。
第5図は、この発明のさらに他の実施例を示す
ものである。すなわち、信号源53の一端は、
NPN形のトランジスタ54のベースに接続され、
該信号源53の他端は、コンデンサ55を介して
接地されている。そして、このトランジスタ54
のコレクタは、直流電圧+Vc.c.が印加された電源
端子56に接続され、該トランジスタ54のエミ
ツタは、抵抗57及び定電流回路58を直列に介
して接地されている。ここで、上記トランジスタ
54のエミツタと抵抗57との接続点は、NPN
形のトランジスタ59のベースに接続されてい
る。このトランジスタ59のエミツタは、他の
NPN形のトランジスタ60のエミツタに接続さ
れ、その接続点は、定電流回路61を介して接地
されている。また、上記トランジスタ59のコレ
クタは、他のPNP形のトランジスタ62のコレ
クタに接続され、その接続点は、他のPNP形の
トランジスタ63のベースに接続されるととも
に、図示極性にダイオード64を介して上記電源
端子56に接続されている。さらに、上記トラン
ジスタ60のコレクタは、上記トランジスタ62
のベースに接続されるとともに、図示極性にダイ
オード65を介して上記電源端子56に接続され
ている。また、上記トランジスタ62のエミツタ
は、上記電源端子56に接続されている。さら
に、上記トランジスタ63のエミツタは、上記電
源端子56に接続され、コレクタは、上記トラン
ジスタ60のベースとともに出力端子66に接続
されている。
そして、上記トランジスタ59,60,62,
63、ダイオード64,65及び定電流回路61
よりなる回路が、上記信号源53の出力信号レベ
ルが小さいとき動作する第1の回路67を構成す
るものである。
一方、上記抵抗57と定電流回路58との接続
点は、NPN形のトランジスタ68のベースに接
続されている。このトランジスタ68のエミツタ
は、他のNPN形のトランジスタ69のエミツタ
と接続され、その接続点は定電流回路70を介し
て接地されている。また、上記トランジスタ68
コレクタは、PNP形のトランジスタ71のコレ
クタに接続されるとともに、他のPNP形のトラ
ンジスタ72のベースに接続されている。さら
に、上記トランジスタ69のコレクタは、上記ト
ランジスタ71のベースに接続されるとともに、
図示極性のダイオード73を介して上記電源端子
56に接続されている。また、上記トランジスタ
71のエミツタは、上記電源端子56に接続され
ている。ここで、上記トランジスタ72のエミツ
タは、上記電源端子56に接続され、コレクタ
は、上記出力端子66に接続された後、上記トラ
ンジスタ69のベースに接続されるとともに、コ
ンデンサ74及び抵抗75を並列に介して接地さ
れている。
そして、上記トランジスタ68,69,71,
72、ダイオード73及び定電流回路70よりな
る回路が、上記信号源53の出力信号レベルが大
きいとき動作する第2の回路76を構成するもの
である。
ここで、上記定電流回路61,70は、それら
の出力電流をそれぞれIa、Ibとすると、 Ia≪Ib なる関係を有し、上記抵抗57の抵抗値をR、定
電流回路58の出力電流をIoとすると、第1及び
第2の回路67,76間には、R・Ioなるオフセ
ツト電圧が与えられている。
このため、信号源53の出力信号レベルが小さ
い場合には、第1の回路67が駆動され、この第
1の回路67の出力電流によつてコンデンサ74
が充電される。この場合、第1の回路67の出力
電流は少なく、コンデンサ74を充電するのに時
間がかかる。つまり、出力端子66の出力信号レ
ベルの立ち上がり時定数が長くなる。このため、
信号源53から第10図aに示すような比較的低
い周波数の信号が発生された場合でも、出力端子
66からは、同図bに示すように、リツプルの少
ない出力信号が得られるとになる。もし、このと
きのコンデンサ4の充放電時定数が短いと、出力
端子66から得られる出力信号は、第10図cに
示すように、リツプルを多く含むことになる。
また、信号源53の出力信号レベルが急激に大
きくなると、第1の回路67とともに第2の回路
76も駆動され、両回路67,76の出力電流を
加算した電流でコンデンサ74が充電されるた
め、第1の回路67のみが駆動されているときに
比して、コンデンサ74が急速に充電されるよう
になり、時定数を短くすることができるものであ
る。
ここで、第6図乃至第8図は、それぞれ時定数
を切り換えるためのオフセツトの与え形の変形例
を、第4図に示す回路を例にして示すものであ
る。すなわち、第6図に示すものは、第4図に示
すダイオード77に代えて抵抗78を用いたもの
である。また、第7図に示すものは、第4図に示
すトランジスタ79,80のエミツタ面積比を変
えたものである。さらに、第8図に示すものは、
トランジスタ79,80のベース電位に抵抗81
で差をもたせるようにしたものである。また、図
示していないが、増幅素子等を用いてオフセツト
を与えるようにしてもよいことはもちろんであ
る。
なお、この発明は上記各実施例に限定されるも
のではなく、この外その要旨を逸脱しない範囲で
種々変形して実施することができる。
したがつて、以上詳述したようにこの発明によ
れば、外付回路部品を少なくして時定数を2段階
に切り換えることができ、IC化に好適する極め
て良好なレベル検出回路を提供することができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のレベル検出回路を示す回路構成
図、第2図はこの発明に係るレベル検出回路の一
実施例を示す回路構成図、第3図乃至第5図はそ
れぞれこの発明の他の実施例を示す回路構成図、
第6図乃至第8図はそれぞれオフセツト電圧の与
え方の変形例を示す回路構成図、第9図は第2図
に示す実施例の効果を説明するための図、第10
図は第5図に示す実施例の効果を説明するための
図である。 11……信号源、12……コンデンサ、13…
…増幅器、14……コンデンサ、15……ダイオ
ード、16……コンデンサ、17……抵抗、18
……コンデンサ、19……出力端子、20……ダ
イオード、21……信号源、221,222,
…,22n……演算増幅回路、231,232、
……抵抗、241,242,…,24n……ダイ
オード、25……出力端子、261,262,
…,26n……検波回路、271,272,…,
27n−1……定電圧源、28……コンデンサ、
29……信号源、30……コンデンサ、31,3
2……トランジスタ、33……抵抗、34……バ
イアス電源端子、35……定電流回路、36……
電源端子、37……ダイオード、38,39……
トランジスタ、40……定電流回路、41……ト
ランジスタ、42……ダイオード、43……トラ
ンジスタ、44……ダイオード、45……定電流
回路、46……トランジスタ、47……ダイオー
ド、48……抵抗、49……ダイオード、50…
…出力端子、51……抵抗、52……コンデン
サ、53……信号源、54……トランジスタ、5
5……コンデンサ、56……電源端子、57……
抵抗、58……定電流回路、59,60……トラ
ンジスタ、61……定電流回路、62,63……
トランジスタ、64,65……ダイオード、66
……出力端子、67……第1の回路、68,69
……トランジスタ、70……定電流回路、71,
72……トランジスタ、73……ダイオード、7
4……コンデンサ、75……抵抗、76……第2
の回路、77……ダイオード、78……抵抗、7
9,80……トランジスタ、81……抵抗。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 入力信号レベルと出力信号レベルとを比較し
    その差成分が所定範囲内にある状態で前記入力信
    号を整流するレベル検波回路と、このレベル検波
    回路の出力信号の立ち上がり時定数を決定するコ
    ンデンサと、前記入力信号レベルと出力信号レベ
    ルとの差成分が所定範囲外となつた状態で駆動さ
    れるオフセツトレベルを有し、前記入力信号レベ
    ルの変化に応じて前記コンデンサに供給される電
    流を制御し、前記出力信号レベルの立ち上がり時
    定数を変化させる回路とを具備してなることを特
    徴とするレベル検出回路。
JP56164705A 1981-10-15 1981-10-15 レベル検出回路 Granted JPS5866064A (ja)

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US06/434,485 US4574202A (en) 1981-10-15 1982-10-15 Rectifier circuit with attack time variable in response to an input signal level
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JPH033186B2 true JPH033186B2 (ja) 1991-01-17

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DE3238302A1 (de) 1983-05-05
GB2108791B (en) 1985-06-05
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