JPH0332779B2 - - Google Patents
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- JPH0332779B2 JPH0332779B2 JP15745483A JP15745483A JPH0332779B2 JP H0332779 B2 JPH0332779 B2 JP H0332779B2 JP 15745483 A JP15745483 A JP 15745483A JP 15745483 A JP15745483 A JP 15745483A JP H0332779 B2 JPH0332779 B2 JP H0332779B2
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-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/038—Macromolecular compounds which are rendered insoluble or differentially wettable
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- General Physics & Mathematics (AREA)
Description
本発明は感光性ジアリールヨードニウム塩とア
ルケニルオキシアルキルオキシ基を構成単位に含
む重合体からなることを特徴とする感光性組成物
に関するものである。 二重結合中に高い電子密度を有するビニル単量
体、オキシラン環化合物、環状エーテル、環状ス
ルフイド、環状アミン、環状ケイ素化合物と放射
エネルギーに暴露されるとルイス酸触媒を遊離す
ることによつて前記有機物質の重合を誘起し得る
有効量の光感受性芳香族オニウム塩の両成分から
なる組成物は、特開昭50−151976号公報、特公昭
52−14278号公報、特公昭52−14279号公報、特公
昭53−25686号公報などに開示され公知である。
また感光性芳香族ジアゾニウム塩とエポキシ樹脂
等からなる感光性組成物等も公知である。しかし
ながらジアゾニウムを使用したものは迅速に硬化
する組成物を与えるが、暗黒中下の貯蔵に際して
も、硬化、ゲル化が起り得る。またさらに、ジア
ゾニウム塩は一般に熱的に不安定であつて、組成
物より形成された塗膜等の加熱は好ましくない。
したがつて実用に際して制限が伴う。またジアリ
ールヨードニウム塩は、芳香族ジアゾニウム塩か
らなる組成物に伴うそのような欠点を有しない
が、ジアゾニウム塩のような速い硬化を与えな
い。また最近注目を浴びている感光性樹脂のプロ
セス技術である、いわゆるドライエツチングに対
しても上記の感光性組成物は耐ドライエツチング
性に乏しい。 本発明者らはこれら先行技術を改良すべく、鋭
意研究し、本発明をなすに至つた。 すなわち、本発明は、同一分子中に少なくとも 一般式(A) 一般式(B)
ルケニルオキシアルキルオキシ基を構成単位に含
む重合体からなることを特徴とする感光性組成物
に関するものである。 二重結合中に高い電子密度を有するビニル単量
体、オキシラン環化合物、環状エーテル、環状ス
ルフイド、環状アミン、環状ケイ素化合物と放射
エネルギーに暴露されるとルイス酸触媒を遊離す
ることによつて前記有機物質の重合を誘起し得る
有効量の光感受性芳香族オニウム塩の両成分から
なる組成物は、特開昭50−151976号公報、特公昭
52−14278号公報、特公昭52−14279号公報、特公
昭53−25686号公報などに開示され公知である。
また感光性芳香族ジアゾニウム塩とエポキシ樹脂
等からなる感光性組成物等も公知である。しかし
ながらジアゾニウムを使用したものは迅速に硬化
する組成物を与えるが、暗黒中下の貯蔵に際して
も、硬化、ゲル化が起り得る。またさらに、ジア
ゾニウム塩は一般に熱的に不安定であつて、組成
物より形成された塗膜等の加熱は好ましくない。
したがつて実用に際して制限が伴う。またジアリ
ールヨードニウム塩は、芳香族ジアゾニウム塩か
らなる組成物に伴うそのような欠点を有しない
が、ジアゾニウム塩のような速い硬化を与えな
い。また最近注目を浴びている感光性樹脂のプロ
セス技術である、いわゆるドライエツチングに対
しても上記の感光性組成物は耐ドライエツチング
性に乏しい。 本発明者らはこれら先行技術を改良すべく、鋭
意研究し、本発明をなすに至つた。 すなわち、本発明は、同一分子中に少なくとも 一般式(A) 一般式(B)
【式】および
【式】
(式中のR1は2価の有機基を示す)
で表わされるくり返し単位で連結された分子構造
を有する重合体と有効量の 一般式 (式中のR2、R3は水素原子、アルキル基、ニ
トロ基、アルコキシ基、Mはホウ素原子、リン、
ヒ素、アンチモンを示し、Xはハロゲン原子を示
す) で表わされるジアリールヨードニウム塩とからな
ることを特徴とする感光性組成物を提供するもの
である。 本発明において基幹成分として用いられる前記
一般式(A)で表わされる高分子化合物はフエノール
性水酸基を有するものでありかぎりいかなるもの
でもよい。その例としては2,3あるいは4−ヒ
ドロキシスチレン、4−ヒドロキシ−3−ニトロ
スチレンの単独重合体やこの単量体とアクリロニ
トリル、スチレン、α−メチルスチレン、酢酸ビ
ニル、アクリル酸アルキルエステル、メタクリル
酸アルキルエステル、無水マレイン酸のような線
状重合性単量体との共重合体をあげることができ
る。これら水酸基を有する高分子化合物の分子量
は2000〜200000程度のものが望ましい。一般式(B)
で表わされる単位は一般式(A)で表わされる重合体
に 一般式 XR2OCH=CH2 (Xはハロゲン原子、R2は2価の有機基を示す) で表わされるハロアルキルビニルエーテルを要す
れば縮合剤を存在させて反応することにより得ら
れる。また感光性ジアリールヨードニウム塩とし
ては、Macromolecules Vol.10,No.6,pp.1307
〜1315(1977)に記載されている化合物、テトラ
フルオロホウ酸ジフエニルヨードニウム、テトラ
フルオロホウ酸4−メトキシジフエニルヨードニ
ウム、テトラフルオロホウ酸4,4′−ジメチルジ
フエニルヨードニウム、テトラフルオロホウ酸
4,4′−イソプロピルジフエニルヨードニウム、
テトラフルオロホウ酸4,4′−t−ブチルジフエ
ニルヨードニウム、テトラフルオロホウ酸4,
4′−ジクロロジフエニルヨードニウム、テトラフ
ルオロホウ酸3,3′−ジニトロジフエニルヨード
ニウム等の一般式 (式中のR3、R4は水素原子、アルキル基、ニ
トロ基、アルコキシ基、Mはホウ素原子、リン、
ヒ素、アンチモンを示し、xはハロゲン原子を示
す) で表わされるジアリールヨードニウム塩をあげる
ことができる。 本発明の感光性組成物を製造するには、前記の
同一分子中に少なくとも一般式(A)及び一般式(B)で
表わされるくり返し単位で連結された分子構造を
有する重合体に有効量のジアリールヨードニウム
塩とを有機溶剤に溶かし混合すればよい。それら
の有機溶剤としては前記の重合体、ジアリールヨ
ードニウム塩を溶かすものであればよい。その例
としてはN,N−ジメチルホルムアミド、N,N
−ジメチルアセトアミド、ジオキサン、メチルセ
ロソルブ、エチルセロソルブ、メチルセロソルブ
アセテート、エチルセロソルブアセテート、イソ
ブチルケトン等があげられる。重合体の含有量
は、用途に応じ、必要な粘度になるよう選択され
る。また重合体に対するジアリールヨードニウム
塩の割合は広範囲に変えられるが、重合体の重量
に対して1〜20%のジアリールヨードニウム塩を
使用した場合、有効な結果が達成される。しかし
ながら、これらの量は前記の重合体の性質、活性
光の強度などにより、上記範囲以外を選択しても
よい。こうして得られた組成物は、常用の方法に
よつて、金属、ゴム、プラスチツク、紙、木材、
ガラス等の基体に塗布することができ、塗布され
たものに活性光を照射することにより、数秒ない
し数分で架橋硬化させることができる。 本発明の感光性組成物の利用分野としては製版
材料、光硬化性塗料、光硬化性印刷インキ、プリ
ント回路等のケミカルミリング用レジスト膜およ
び半導体や集積回路の微細加工用フオトレジスト
などへの応用が可能である。特に本発明の感光性
組成物の構成成分であるジアリールヨードニウム
塩は、紫外線吸収スペクトルにおいて200〜
300nmの領域に強い吸収を示すことから遠紫外線
微細加工用フオトレジストとして極めて有望であ
る。 次に参考例、実施例により本発明をさらに詳細
に説明する。 参考例 1 窒素導入した反応容器に、ヘキサンで洗浄した
50%水素ナトリウム4.8g(0.1モル)、乾燥したN,
N−ジメチルアセトアミド20gを仕込み、この溶
液にポリ−4−ビニルフエノール(重量平均分子
量21000)12gを乾燥したN,N−ジメチルアセ
トアミド70gに溶かした溶液を撹拌しながら加
え、約2時間撹拌を続けた。次いでこれに2−ク
ロロエチルビニルエーテル30g、無水炭酸ナトリ
ウム1.5g、トリエチルベンジルアンモニウムクロ
ライド0.05gを加え、80℃にて24時間反応させた
後、反応混合物を80℃で減圧蒸留することによ
り、大部分のN,N−ジメチルアセトアミド、未
反応の2−クロロエチルビニルエーテルを除去
し、残留物にジエチルエーテルを加え溶解させ
た。この溶液を飽和炭酸水素ナトリウム水溶液で
数回洗い、無水硫酸ナトリウムで乾燥した後、減
圧蒸留することにより液状成分を留去する。再び
残留物を少量の塩化メチレンを含むジエチルエー
テルに溶かし、撹拌しながら多量のヘキサンに注
加する。このようにしてビニロキシエチルエーテ
ル化されたポリマーを得た。 赤外線吸収スペクトルからビニル基に基づく吸
収を確認した。プロトン核磁気共鳴吸収スペクト
ルによりδ=4.08,4.22および6.45に二重結合に
基づく吸収を確認した。また赤外線吸収スペクト
ルおよび紫外線吸収スペクトルからフエノール性
水酸基が存在することを確認した。このことから
得られたポリマーはフエノール性水酸基およびビ
ニロキシアルキル基からなるくり返し単位で連結
された分子構造を有する重合体であることが確認
された。 参考例 2 参考例1と同様に出発物質として重量平均分子
量3450のポリ−4−ビニルフエノールを用いて、
ビニロキシエチルエーテル化されたポリマーを得
た。 参考例1と同様の方法により得られたポリマーは
フエノール性水酸基およびビニロキシアルキル基
からなるくり返し単位で連結された分子構造を有
する重合体であることが確認された。 実施例 1 重量平均分子量21000のポリ−4−ビニルフエ
ノールから参考例1の方法によつて得られたポリ
−4−ビニルフエニルビニロキシエチルエーテル
15g、テトラフルオロホウ酸ジフエニルヨードニ
ウム1.5gをN,N−ジメチルホルムアミド85gに
溶解し、感光性組成物を調整した。これをガラス
板上に約10μmの厚さに塗布し、2KWのキセノン
ランプより分光した230nmの光を照射し、メチル
イソブチルケトン−ブタノール(50/50体積比)
混合溶液で現像し、残膜率を測定したところ
20mJ/cm2の露光で90%以上の残膜が得られた。
また石英製ネガを介して露光し、未露光部を溶剤
で除去すると明瞭なパターンが得られ、最小線幅
は2μm以下であつた。 実施例 2 実施例1の組成物のテトラフルオロホウ酸ジフ
エニルヨードニウム塩の代りにヘキサフルオロリ
ン酸ジフエニルヨードニウムを用いて実施例1と
同様の処理を行つた。lOmJ/cm2の露光量で残膜
率は90%以上であつた。またマスクを介して露光
したものは明瞭なパターンを示した。 実施例 3 実施例1の組成物のテトラフルオロホウ酸ジフ
エニルヨードニウムの代りに、テトラフルオロホ
ウ酸4,4′−t−ブチルジフエニルヨードニウム
を用いて実施例1と同様の処理を行つたところ、
20mJ/cm2の露光量で90%以上の残膜収率を示し
た。 実施例 4 参考例2で得た重合体14gとヘキサフルオロホ
ウ酸ジフエニルヨードニウム1gを70mlのN,N
−ジメチルアセトアミドに溶解させ、実施例1と
同様の手続により露光を行つた。90%以上の残膜
率を得るには25mJ/cm2の露光で充分であつた。
またネガを介して露光し、未露光を除去すること
により明瞭な陰画像が得られた。
を有する重合体と有効量の 一般式 (式中のR2、R3は水素原子、アルキル基、ニ
トロ基、アルコキシ基、Mはホウ素原子、リン、
ヒ素、アンチモンを示し、Xはハロゲン原子を示
す) で表わされるジアリールヨードニウム塩とからな
ることを特徴とする感光性組成物を提供するもの
である。 本発明において基幹成分として用いられる前記
一般式(A)で表わされる高分子化合物はフエノール
性水酸基を有するものでありかぎりいかなるもの
でもよい。その例としては2,3あるいは4−ヒ
ドロキシスチレン、4−ヒドロキシ−3−ニトロ
スチレンの単独重合体やこの単量体とアクリロニ
トリル、スチレン、α−メチルスチレン、酢酸ビ
ニル、アクリル酸アルキルエステル、メタクリル
酸アルキルエステル、無水マレイン酸のような線
状重合性単量体との共重合体をあげることができ
る。これら水酸基を有する高分子化合物の分子量
は2000〜200000程度のものが望ましい。一般式(B)
で表わされる単位は一般式(A)で表わされる重合体
に 一般式 XR2OCH=CH2 (Xはハロゲン原子、R2は2価の有機基を示す) で表わされるハロアルキルビニルエーテルを要す
れば縮合剤を存在させて反応することにより得ら
れる。また感光性ジアリールヨードニウム塩とし
ては、Macromolecules Vol.10,No.6,pp.1307
〜1315(1977)に記載されている化合物、テトラ
フルオロホウ酸ジフエニルヨードニウム、テトラ
フルオロホウ酸4−メトキシジフエニルヨードニ
ウム、テトラフルオロホウ酸4,4′−ジメチルジ
フエニルヨードニウム、テトラフルオロホウ酸
4,4′−イソプロピルジフエニルヨードニウム、
テトラフルオロホウ酸4,4′−t−ブチルジフエ
ニルヨードニウム、テトラフルオロホウ酸4,
4′−ジクロロジフエニルヨードニウム、テトラフ
ルオロホウ酸3,3′−ジニトロジフエニルヨード
ニウム等の一般式 (式中のR3、R4は水素原子、アルキル基、ニ
トロ基、アルコキシ基、Mはホウ素原子、リン、
ヒ素、アンチモンを示し、xはハロゲン原子を示
す) で表わされるジアリールヨードニウム塩をあげる
ことができる。 本発明の感光性組成物を製造するには、前記の
同一分子中に少なくとも一般式(A)及び一般式(B)で
表わされるくり返し単位で連結された分子構造を
有する重合体に有効量のジアリールヨードニウム
塩とを有機溶剤に溶かし混合すればよい。それら
の有機溶剤としては前記の重合体、ジアリールヨ
ードニウム塩を溶かすものであればよい。その例
としてはN,N−ジメチルホルムアミド、N,N
−ジメチルアセトアミド、ジオキサン、メチルセ
ロソルブ、エチルセロソルブ、メチルセロソルブ
アセテート、エチルセロソルブアセテート、イソ
ブチルケトン等があげられる。重合体の含有量
は、用途に応じ、必要な粘度になるよう選択され
る。また重合体に対するジアリールヨードニウム
塩の割合は広範囲に変えられるが、重合体の重量
に対して1〜20%のジアリールヨードニウム塩を
使用した場合、有効な結果が達成される。しかし
ながら、これらの量は前記の重合体の性質、活性
光の強度などにより、上記範囲以外を選択しても
よい。こうして得られた組成物は、常用の方法に
よつて、金属、ゴム、プラスチツク、紙、木材、
ガラス等の基体に塗布することができ、塗布され
たものに活性光を照射することにより、数秒ない
し数分で架橋硬化させることができる。 本発明の感光性組成物の利用分野としては製版
材料、光硬化性塗料、光硬化性印刷インキ、プリ
ント回路等のケミカルミリング用レジスト膜およ
び半導体や集積回路の微細加工用フオトレジスト
などへの応用が可能である。特に本発明の感光性
組成物の構成成分であるジアリールヨードニウム
塩は、紫外線吸収スペクトルにおいて200〜
300nmの領域に強い吸収を示すことから遠紫外線
微細加工用フオトレジストとして極めて有望であ
る。 次に参考例、実施例により本発明をさらに詳細
に説明する。 参考例 1 窒素導入した反応容器に、ヘキサンで洗浄した
50%水素ナトリウム4.8g(0.1モル)、乾燥したN,
N−ジメチルアセトアミド20gを仕込み、この溶
液にポリ−4−ビニルフエノール(重量平均分子
量21000)12gを乾燥したN,N−ジメチルアセ
トアミド70gに溶かした溶液を撹拌しながら加
え、約2時間撹拌を続けた。次いでこれに2−ク
ロロエチルビニルエーテル30g、無水炭酸ナトリ
ウム1.5g、トリエチルベンジルアンモニウムクロ
ライド0.05gを加え、80℃にて24時間反応させた
後、反応混合物を80℃で減圧蒸留することによ
り、大部分のN,N−ジメチルアセトアミド、未
反応の2−クロロエチルビニルエーテルを除去
し、残留物にジエチルエーテルを加え溶解させ
た。この溶液を飽和炭酸水素ナトリウム水溶液で
数回洗い、無水硫酸ナトリウムで乾燥した後、減
圧蒸留することにより液状成分を留去する。再び
残留物を少量の塩化メチレンを含むジエチルエー
テルに溶かし、撹拌しながら多量のヘキサンに注
加する。このようにしてビニロキシエチルエーテ
ル化されたポリマーを得た。 赤外線吸収スペクトルからビニル基に基づく吸
収を確認した。プロトン核磁気共鳴吸収スペクト
ルによりδ=4.08,4.22および6.45に二重結合に
基づく吸収を確認した。また赤外線吸収スペクト
ルおよび紫外線吸収スペクトルからフエノール性
水酸基が存在することを確認した。このことから
得られたポリマーはフエノール性水酸基およびビ
ニロキシアルキル基からなるくり返し単位で連結
された分子構造を有する重合体であることが確認
された。 参考例 2 参考例1と同様に出発物質として重量平均分子
量3450のポリ−4−ビニルフエノールを用いて、
ビニロキシエチルエーテル化されたポリマーを得
た。 参考例1と同様の方法により得られたポリマーは
フエノール性水酸基およびビニロキシアルキル基
からなるくり返し単位で連結された分子構造を有
する重合体であることが確認された。 実施例 1 重量平均分子量21000のポリ−4−ビニルフエ
ノールから参考例1の方法によつて得られたポリ
−4−ビニルフエニルビニロキシエチルエーテル
15g、テトラフルオロホウ酸ジフエニルヨードニ
ウム1.5gをN,N−ジメチルホルムアミド85gに
溶解し、感光性組成物を調整した。これをガラス
板上に約10μmの厚さに塗布し、2KWのキセノン
ランプより分光した230nmの光を照射し、メチル
イソブチルケトン−ブタノール(50/50体積比)
混合溶液で現像し、残膜率を測定したところ
20mJ/cm2の露光で90%以上の残膜が得られた。
また石英製ネガを介して露光し、未露光部を溶剤
で除去すると明瞭なパターンが得られ、最小線幅
は2μm以下であつた。 実施例 2 実施例1の組成物のテトラフルオロホウ酸ジフ
エニルヨードニウム塩の代りにヘキサフルオロリ
ン酸ジフエニルヨードニウムを用いて実施例1と
同様の処理を行つた。lOmJ/cm2の露光量で残膜
率は90%以上であつた。またマスクを介して露光
したものは明瞭なパターンを示した。 実施例 3 実施例1の組成物のテトラフルオロホウ酸ジフ
エニルヨードニウムの代りに、テトラフルオロホ
ウ酸4,4′−t−ブチルジフエニルヨードニウム
を用いて実施例1と同様の処理を行つたところ、
20mJ/cm2の露光量で90%以上の残膜収率を示し
た。 実施例 4 参考例2で得た重合体14gとヘキサフルオロホ
ウ酸ジフエニルヨードニウム1gを70mlのN,N
−ジメチルアセトアミドに溶解させ、実施例1と
同様の手続により露光を行つた。90%以上の残膜
率を得るには25mJ/cm2の露光で充分であつた。
またネガを介して露光し、未露光を除去すること
により明瞭な陰画像が得られた。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 同一分子中に少なくとも 一般式(A) 一般式(B) 【式】および【式】 (式中のR1は2価の有機基を示す) で表わされるくり返し単位で連結された分子構造
を有する重合体と有効量の 一般式 (式中のR2、R3は水素原子、アルキル基、ニ
トロ基、アルコキシ基、Mはホウ素原子、リン、
ヒ素、アンチモンを示し、Xはハロゲン原子を示
す) で表わされるジアリールヨードニウム塩とからな
ることを特徴とする感光性組成物。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15745483A JPS6049334A (ja) | 1983-08-29 | 1983-08-29 | 感光性組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15745483A JPS6049334A (ja) | 1983-08-29 | 1983-08-29 | 感光性組成物 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6049334A JPS6049334A (ja) | 1985-03-18 |
| JPH0332779B2 true JPH0332779B2 (ja) | 1991-05-14 |
Family
ID=15650007
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15745483A Granted JPS6049334A (ja) | 1983-08-29 | 1983-08-29 | 感光性組成物 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6049334A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04330445A (ja) * | 1991-02-08 | 1992-11-18 | Fuji Photo Film Co Ltd | 光重合性組成物 |
| JPH075687A (ja) * | 1993-06-18 | 1995-01-10 | Mitsui Toatsu Chem Inc | 液状エッチングレジスト及びエッチングレジスト被膜を形成した銅張り積層板 |
-
1983
- 1983-08-29 JP JP15745483A patent/JPS6049334A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6049334A (ja) | 1985-03-18 |
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