JPH0348825A - アクティブマトリクス液晶表示パネルの製造方法 - Google Patents
アクティブマトリクス液晶表示パネルの製造方法Info
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- JPH0348825A JPH0348825A JP1185336A JP18533689A JPH0348825A JP H0348825 A JPH0348825 A JP H0348825A JP 1185336 A JP1185336 A JP 1185336A JP 18533689 A JP18533689 A JP 18533689A JP H0348825 A JPH0348825 A JP H0348825A
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- liquid crystal
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Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、上部電極−非線形抵抗膜−下部電極構造、い
わゆるMIM素子構造よりなる非線形抵抗素子を基板上
に形成したアクティブマトリクス液晶表示パネルの製造
方法に関する。
わゆるMIM素子構造よりなる非線形抵抗素子を基板上
に形成したアクティブマトリクス液晶表示パネルの製造
方法に関する。
近年液晶パネルを用いた表示装置は、大容量の一途をた
どっているが、単純マ) IJソクス構成の表示装置に
マルチプレックス駆動を用いる方式は、高時分割化する
に従ってコントラストの低下を生じ、200本程鹿の走
査線を有する場合では、十分なコントラストを得ること
が稚しくなってくる。
どっているが、単純マ) IJソクス構成の表示装置に
マルチプレックス駆動を用いる方式は、高時分割化する
に従ってコントラストの低下を生じ、200本程鹿の走
査線を有する場合では、十分なコントラストを得ること
が稚しくなってくる。
そこで、このような欠点を除去するために、個々の画素
にスイッチング素子をもうけたアクティブマトリクス液
晶表示パネルが採用されてきた。
にスイッチング素子をもうけたアクティブマトリクス液
晶表示パネルが採用されてきた。
該アクティブマトリクス液晶パネルの方式には大別する
と薄膜トランジスタを用いる三端子系と非線形素子を用
いる二端子系とが有るが構造、製造工程が簡単な点で二
端子系が優れている。また、二端子系にはダイオード型
、バリスタ型、MIM型等が開発されているが、そのな
かでもMIM型は構造が簡単で製造工程が短い特徴があ
る。
と薄膜トランジスタを用いる三端子系と非線形素子を用
いる二端子系とが有るが構造、製造工程が簡単な点で二
端子系が優れている。また、二端子系にはダイオード型
、バリスタ型、MIM型等が開発されているが、そのな
かでもMIM型は構造が簡単で製造工程が短い特徴があ
る。
こうした基本的な製造技術は特開昭55−161273
号公報に開示されている。ところで、この構造のMIM
素子の製造には、合計3枚のマスクを必要とする。
号公報に開示されている。ところで、この構造のMIM
素子の製造には、合計3枚のマスクを必要とする。
これに対して第2図に示す構造のMIM素子は2枚のマ
スクで作ることができる。第2図(blは、第2図(a
)の平面図におけるA−A線での拡大した断面図である
。このMIM素子について製造工程に従って第2図をも
ちいて説明する。まず、ガラス基板1上にTa膜2をス
パッタリング法で形成し、フォトエツチング法によりT
a膜2をパターンニングし、これにより、配線3とMI
Mの下部電極4とをTa膜2で形成する。次に、Ta膜
2を陽極酸化法により化成し、酸化層からなる非線形抵
抗膜5を形成する。更・に、MIMの上部電極6と液晶
駆動用電極7を兼ねるI T O(Indinum−4
’1n−Qxide )膜8をスパッタリング法で形成
しフォトエツチング法によりパターンニングする。
スクで作ることができる。第2図(blは、第2図(a
)の平面図におけるA−A線での拡大した断面図である
。このMIM素子について製造工程に従って第2図をも
ちいて説明する。まず、ガラス基板1上にTa膜2をス
パッタリング法で形成し、フォトエツチング法によりT
a膜2をパターンニングし、これにより、配線3とMI
Mの下部電極4とをTa膜2で形成する。次に、Ta膜
2を陽極酸化法により化成し、酸化層からなる非線形抵
抗膜5を形成する。更・に、MIMの上部電極6と液晶
駆動用電極7を兼ねるI T O(Indinum−4
’1n−Qxide )膜8をスパッタリング法で形成
しフォトエツチング法によりパターンニングする。
すなわち、この構造のMIM素子は、Ta膜2、および
上部電極6と液晶駆動用電極7とを兼ねるITON8の
パターンニングの各工程に1枚ずつ合計2枚のマスクを
必要とするのみで、また構造も簡単である。この構造に
関する製造技術は特開昭57−122476号公報に開
−示されている。
上部電極6と液晶駆動用電極7とを兼ねるITON8の
パターンニングの各工程に1枚ずつ合計2枚のマスクを
必要とするのみで、また構造も簡単である。この構造に
関する製造技術は特開昭57−122476号公報に開
−示されている。
第2図のようなMIM素子は少ないマスクで製造でき構
造も簡単であるという利点が有るが、ITO膜のクロス
オーバ一部分での断線欠陥が発生し画素欠陥を発生し易
い。
造も簡単であるという利点が有るが、ITO膜のクロス
オーバ一部分での断線欠陥が発生し画素欠陥を発生し易
い。
これを、第3図(a)、(b)を用いて説明する。第3
図(a)は上部電極6としてのITOTaO2厚が5Q
nm以下の場合で下部電極4と非線形抵抗膜50段差部
で十分ステップカバーできていないため段差部で上部電
極6の断線欠陥が発生している。
図(a)は上部電極6としてのITOTaO2厚が5Q
nm以下の場合で下部電極4と非線形抵抗膜50段差部
で十分ステップカバーできていないため段差部で上部電
極6の断線欠陥が発生している。
次に、第3図(b)は上部電極6としてのITOTaO
2厚が3QQnm以上の場合で下部電極4と非線形抵抗
膜5の段差部でITOTaO2−バーハング状の成長を
生じ該ITO膜8のエツチング時にスパイクが発生し段
差部で上部電極6の断線欠陥を引き起こす。
2厚が3QQnm以上の場合で下部電極4と非線形抵抗
膜5の段差部でITOTaO2−バーハング状の成長を
生じ該ITO膜8のエツチング時にスパイクが発生し段
差部で上部電極6の断線欠陥を引き起こす。
本発明の目的は、このような課題を解決するために、該
MIM素子の最適な上部電極の膜厚を限定することであ
る。
MIM素子の最適な上部電極の膜厚を限定することであ
る。
上記の目的は、該MIM素子の上部電極の膜厚を8Qn
m〜250nmに設定することによって解決される。
m〜250nmに設定することによって解決される。
以下、本発明の実施例について第1図(al〜(elお
よび、第2図(a)を用いて説明する。
よび、第2図(a)を用いて説明する。
第1図(a)〜[elに本発明の実施例を、製造工程に
従って説明する。まず第1図(a)に示すように、ガラ
ス基板1上の全面にTa膜2をスパッタリング法により
膜厚150nm〜300nm形成する。
従って説明する。まず第1図(a)に示すように、ガラ
ス基板1上の全面にTa膜2をスパッタリング法により
膜厚150nm〜300nm形成する。
次に第1図(b)に示すように、フォトエツチング法に
よりTa膜2をエツチングしMIM素子の下部電極4と
配線6とを形成する。この下部電極4と配線6との平面
パターン形状を第2図(a)に示す。
よりTa膜2をエツチングしMIM素子の下部電極4と
配線6とを形成する。この下部電極4と配線6との平面
パターン形状を第2図(a)に示す。
次に第1図(C)に示すように、陽極酸化法により0、
1%のクエン酸浴を用いTa膜2表面に非線形抵抗膜5
として’ra、o、を5Qnmの厚さで形成する。次に
第1図(d)に示すように、スパッタリング法により上
部電極4と液晶駆動用電極5と兼ねるITOTaO22
00nm形成する。このときのスパッタリング条件は、 ガス種: Ar+02 (o、s%〜1.5%)ガス圧
: 2X10−’TorrX9XIO−3Torr基板
温度:250℃〜400°C 堆積速度: 5Qnm/min +++150nm/m
inターゲット:ITO酸化物ターゲット 次に第1図(e)に示すよう、に、後フォトエツチング
によ’)ITOTaO2ターンニングしM I M素子
の上部電極6と液晶駆動用電極7とを同時に形成する。
1%のクエン酸浴を用いTa膜2表面に非線形抵抗膜5
として’ra、o、を5Qnmの厚さで形成する。次に
第1図(d)に示すように、スパッタリング法により上
部電極4と液晶駆動用電極5と兼ねるITOTaO22
00nm形成する。このときのスパッタリング条件は、 ガス種: Ar+02 (o、s%〜1.5%)ガス圧
: 2X10−’TorrX9XIO−3Torr基板
温度:250℃〜400°C 堆積速度: 5Qnm/min +++150nm/m
inターゲット:ITO酸化物ターゲット 次に第1図(e)に示すよう、に、後フォトエツチング
によ’)ITOTaO2ターンニングしM I M素子
の上部電極6と液晶駆動用電極7とを同時に形成する。
この上部−電極6と液晶駆動用電極7との平面パターン
形状を第2図(a)に示す。
形状を第2図(a)に示す。
以上の説明で明らかなように、上記M I MのITO
膜の膜厚を80nm〜250nmと限定することにより
下部電極と非線形抵抗膜との段差部におけるクロスオー
バ一部分でのITO膜の段差被覆性を良好にし該ITO
膜の断線欠陥を減少することができる。したがって液晶
表示装置の表示品質が向上する。
膜の膜厚を80nm〜250nmと限定することにより
下部電極と非線形抵抗膜との段差部におけるクロスオー
バ一部分でのITO膜の段差被覆性を良好にし該ITO
膜の断線欠陥を減少することができる。したがって液晶
表示装置の表示品質が向上する。
第1図は本発明におけるアクティブマトリクス液晶表示
パネルの製造方法を工程順に示す断面図、第2図(al
、(blはアクティブマトリクス液晶表示パネルを示し
、第2図(a)は平面図、第2図(b)は断面図、第3
図(al、 (b)は従来のアクティブマトリクス液晶
表示パネルの課題を説明するための断面図である。 1・・・・・・ガラス基板、2・・・・・・Ta膜、6
・・・・・・配線、4・・・・・・下部電極、5・・・
・・・非線形抵抗膜、6・・・・・・上部電極、7・・
・・・・液晶駆動用電極、8・・・・・・ITO膜。 第2図 (G) (b) 第1図 第3図 (Q) (b)
パネルの製造方法を工程順に示す断面図、第2図(al
、(blはアクティブマトリクス液晶表示パネルを示し
、第2図(a)は平面図、第2図(b)は断面図、第3
図(al、 (b)は従来のアクティブマトリクス液晶
表示パネルの課題を説明するための断面図である。 1・・・・・・ガラス基板、2・・・・・・Ta膜、6
・・・・・・配線、4・・・・・・下部電極、5・・・
・・・非線形抵抗膜、6・・・・・・上部電極、7・・
・・・・液晶駆動用電極、8・・・・・・ITO膜。 第2図 (G) (b) 第1図 第3図 (Q) (b)
Claims (1)
- 基板上に金属層からなる下部電極を形成し、該下部電極
上に非線形抵抗膜を形成し、該非線形抵抗膜上に透明電
極からなる上部電極を形成したMIM素子を有するアク
ティブマトリクス液晶表示パネルの製造方法において、
前記上部電極の膜厚を80nm〜250nmで形成する
事を特徴とするアクティブマトリクス液晶表示パネルの
製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1185336A JPH0348825A (ja) | 1989-07-18 | 1989-07-18 | アクティブマトリクス液晶表示パネルの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1185336A JPH0348825A (ja) | 1989-07-18 | 1989-07-18 | アクティブマトリクス液晶表示パネルの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0348825A true JPH0348825A (ja) | 1991-03-01 |
Family
ID=16169021
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1185336A Pending JPH0348825A (ja) | 1989-07-18 | 1989-07-18 | アクティブマトリクス液晶表示パネルの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0348825A (ja) |
-
1989
- 1989-07-18 JP JP1185336A patent/JPH0348825A/ja active Pending
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